晶体光学实验,四,正交偏光镜下的晶体光学性质,一,干涉色级序特征的观察及矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定,正交偏光系统是在单偏光系统的基础上,把上偏光镜推入镜筒的偏光显微镜工作状态,在此系统下,上,下偏光镜振动方向相互垂直,并与目镜十字,第四节溶胶的光学性质,一溶胶的光散射现象,光通过分散系统时
正交镜间晶体光学性质Tag内容描述:
1、晶体光学实验,四,正交偏光镜下的晶体光学性质,一,干涉色级序特征的观察及矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定,正交偏光系统是在单偏光系统的基础上,把上偏光镜推入镜筒的偏光显微镜工作状态,在此系统下,上,下偏光镜振动方向相互垂直,并与目镜十字。
2、第四节溶胶的光学性质,一溶胶的光散射现象,光通过分散系统时基本现象,真溶液,粗分散,溶胶,透明,有色,补色,混浊,乳光,透射,吸收,反射,散射,吸收,取决于化学组成反射,粒径波长散射,粒径波长小分子粒径太小,散射光不明显,一溶胶的光散射现象。
3、第一节偏光显微镜及薄片制备,1,机械部分镜座,承受重力镜臂,装镜筒,可倾斜载物台,承载观察物,可转动,有0360度刻度及游标,固定螺丝,中央圆孔,固定弹簧夹2,光学部分反光镜,有平,凹两面,光线弱或用高倍物镜时用凹面下偏光镜,将自然光转变为。
4、第三节正交偏光镜下的晶体光学性质,一,正交偏光镜的装置及光学特点,装置,在单偏光镜的基础上,加上上偏光镜,并使上,下偏光的振动方向相互垂直,问题,1,如何确定上下偏光镜的振动方向是否垂直,2,正交偏光显微镜的有何光学特点,二,正交偏光镜下矿。
5、2整数定律,格子构造观点,晶体的晶棱和晶面对应于空间格子的行列和面网,面网交行列于结点上,晶轴上的轴单位就是行列上的结点间距,以结点间距a0,b0,c0为单位,晶面在晶轴上的截距系数之比一定为整数,Z,a1,a2,b1,b2,b3,b4,B。
6、晶体性质的测量与研究方法,一,光学性质测量1,折射率2,光学透过性3,电光性能4,光折变性质,5,介电参数的测量二,铁电性质电滞回线测量三,介电性质四,压电性质测量1,准静态法2,光学相干法3,谐振反谐振法五,热释电性质,晶体性质的测量与研。
7、实验四单偏光镜下的晶体光学性质一一矿物边缘贝克线糙面及突起2学时,验证性一预习内容:矿物的边缘贝克线糙面及突起特征,闪突起现象二目的要求:1 .进一步理解矿物边缘贝克线糙面突起及闪突起的含义;2 .根据矿物边缘糙面和贝克线移动方向来区分突起。
8、晶体光学基础,4,正交偏光镜下的晶体光学性质,单偏光镜下特征,正交偏光镜下特征,手标本,闪长岩,在正交偏光镜装置下,可以观察矿物的晶体光学性质包括,消光,消光位矿物的干涉色,测定矿物干涉色的级序补色法则的应用光率体切面半径方向和名称测定消光。
9、聚敛偏光系统下的晶体光学性质,聚敛偏光系统的装置及光学特点一轴晶干涉图二轴晶干涉图,A,P,A,P,灰,灰,灰,灰,A,P,A,P,b,a,第二节 一轴晶干涉图,图154 一轴晶垂直光轴切面的干涉图,一垂直光轴切面的干涉图,一图像特点,Ne。
10、第一篇光学材料,第一节概述第二节光学玻璃第三节光学晶体第四节光学塑料,第一节概述,材料,可以直接制造成成品的东西,一,材料的分类,1,按化学组成,金属材料,无机非金属材料,有机聚合物及复合材料,2,按用途,建筑材料,耐火材料,光学材料,电工。
11、岩矿综合鉴定,任课教师: 于介江 联系电话: 8502314,1,t课件,课 程 简 介,课程性质,术语解释:通过偏光显微镜来鉴定透射光下矿物的种属 结构构造岩石类型及相关成因分析的一门综合学科。 面向专业:岩石学矿物学矿床学构造地质学勘探。
12、4,正交偏光镜下晶体光学性质正交偏光镜组成,使用上,下偏光镜,正交偏光镜下晶体光学性质消光现象,干涉色,光率体轴名,双折射率,消光类型,延性符号,双晶,1,消光现象全消光,四次消光,2,干涉现象光的干涉条件,两束光振动频率相同,均同一平面内。
13、晶体性质的测量与研究方法,一,光学性质测量1,折射率2,光学透过性3,电光性能4,光折变性质,5,介电参数的测量二,铁电性质电滞回线测量三,介电性质四,压电性质测量1,准静态法2,光学相干法3,谐振反谐振法五,热释电性质,晶体性质的测量与研。
14、第四章正交镜间的晶体光学性质,主要内容,一,正交偏光镜的装置及光学特点二,正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位三,正交偏光镜间矿片的干涉现象四,干涉色及干涉色色谱表五,补色法则及补色器六,正交偏光镜间主要光学性质的观察与测定方法,一,装置及光。
15、第6章光的双折射与光调制,光学教案,赵建林编著,普通高等教育,十五,国家级规划教材,高等教育出版社,高等教育出版社,高等教育电子音像出版社,6光的双折射与光调制,主要内容,6,1晶体的双折射现象,6,4偏振光的干涉,6,2晶体光学器件,6。
16、晶体光学实验,四,正交偏光镜下的晶体光学性质,一,干涉色级序特征的观察及矿片上光率体椭圆半径方向及名称的测定,正交偏光系统是在单偏光系统的基础上,把上偏光镜推入镜筒的偏光显微镜工作状态,在此系统下,上,下偏光镜振动方向相互垂直,并与目镜十字。
17、第四章,二,矿片的消光现象及消光位,三,正交下矿片的干涉现象,四,干涉色及干涉色色谱表,一,正交偏光镜的装置及光学特点,正交偏光镜间的晶体光学性质,第一节,正交偏光镜的装置及光学特点,第四章,图4,1正交偏光镜的装置及光学特点,除用下偏光之。
18、第三节 正交偏光镜下的晶体光学性质,一.正交偏光镜的装置及光学特点,装置:在单偏光镜的基础上,加上上偏光镜,并使上下偏光的振动方向相互垂直。,问题:1.如何确定上下偏光镜的振动方向是否垂直2.正交偏光显微镜的有何光学特点,二.正交偏光镜下矿。
19、第一篇光学材料,第一节概述第二节光学玻璃第三节光学晶体第四节光学塑料,第一节概述,材料,可以直接制造成成品的东西,一,材料的分类,1,按化学组成,金属材料,无机非金属材料,有机聚合物及复合材料,2,按用途,建筑材料,耐火材料,光学材料,电工。