元素分析2X射线荧光分析和电子探针分析,朱永法2003年9月28日,材料分析化学,清华大学化学系表面材料组,2,X射线荧光光谱分析,基础知识 1923年建立X射线荧光分析方法; 1950 X射线荧光分析谱仪1980 全反射X射线荧光谱仪 应,第二篇电子显微分析第十二章电子探针显微分析,电子探针结构与
电子探针Tag内容描述:
1、元素分析2X射线荧光分析和电子探针分析,朱永法2003年9月28日,材料分析化学,清华大学化学系表面材料组,2,X射线荧光光谱分析,基础知识 1923年建立X射线荧光分析方法; 1950 X射线荧光分析谱仪1980 全反射X射线荧光谱仪 应。
2、第二篇电子显微分析第十二章电子探针显微分析,电子探针结构与工作原理电子探针的分析方法及应用,电子探针的功能,电子探针的功能,进行微区成分分析,它是电子光学和,射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器,其原理是用喜聚焦电子束入射样品。
3、第十三章电子探针显微分析,教学内容,1,电子探针仪的构造和工作原理2,波谱仪与能谱仪的比较3,电子探针仪的分析方法及其应用,重点掌握内容,电子探针仪的分析方法与应用,教学难点,定量分析的基本原理,电子探针,射线显微分析,简称电子探针显微分析。
4、常用元素分析方法,201908520421022 吕果,PART 01 原子吸收光谱,目录CONTENTS,PART 03 X射线荧光光谱,PART 05 X射线能谱分析,PART 02 原子发射光谱,PART 04 电子探针分析,原子吸收。
5、电子探针电子探针所谓电子探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面,用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小,因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。显然,如果将电子放大成像与X。
6、一些矿物的晶体化学式计算和电子探针数据中Fe2Fe3的计算,第 5 章,一些矿物的晶体化学式计算和电子探针数据中Fe2Fe3的计,参考文献:,1结晶岩热力学概论,马鸿文,高等教育出版社,20012 郑巧荣,1983.由电子探针分析值计算Fe。
7、一些矿物的晶体化学式计算和电子探针数据中Fe2Fe3的计算,第 5 章,一些矿物的晶体化学式计算和电子探针数据中Fe2Fe3的计,参考文献:,1结晶岩热力学概论,马鸿文,高等教育出版社,20012 郑巧荣,1983.由电子探针分析值计算Fe。
8、1,第十章扫描电子显微分析与电子探针,第一节扫描电子显微镜工作原理及构造一,工作原理二,构造与主要性能第二节像衬原理与应用一,像衬原理二,应用第三节电子探针,射线显微分析,EPMA,一,能谱仪二,波谱仪三,EPMA的基本工作方式,电子探针。
9、电子探针,射线显微分析,一,引言,电子探针,射线显微分析,简称电子探针显微分析,简称,它用一束聚焦得很细,的加速到,的电子束,轰击用光学显微镜选定的待分析试样上某个,点,一般直径为,利用试样受到轰击时发射的,射线的波长及强度,来确定分析区域。
10、电子探针,射线显微分析仪,概述,基本原理,仪器基本结构,定性定量分析方法,样品制备,定量分析的步骤及注意事项,概述,电子探针,射线显微分析仪,的简称为电子探针,电子探针利用,的高能电子束激发分析试样,通过电子束与试样相互作用产生的特征,射线。
11、扫描电镜和电子探针在材料科学中的应用,现代测试技术课题论文,指导老师,班级,姓名,目录,背景,工作原理,扫描电镜的工作原理,电子探针的工作原理,应用,扫描电镜的应用,电子探针的应用,参考资料,背景,扫描电子显微镜和电子探针由于其制样简单,放。
12、Pictures of SEM,注射针头的扫描电镜照片,Pictures of SEM,果蝇: 不同倍率的扫描电镜照片,Optical Microscope VS SEM,OM:景深小分辨率:200nm,SEM:景深大分辨率:1nm,第八章。
13、材料分析方法,哈尔滨工业大学威海材料科学与工程学院夏 龙13562127316,课程内容,电子显微分析SEMTEMX射线衍射分析热分析热膨胀热机械差热热重振动光谱红外拉曼光谱核磁共振NMR,材料牛人,王中林,王中林,物理学博士,美国物理学会。
14、第十章扫描电子显微镜,引言扫描电镜结构原理扫描电镜图象及衬度扫描电镜结果分析示例扫描电镜的主要特点,返回首页,扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为,与电子探针,的功能和结构基本相同,但一般不带波谱仪,它是用细聚焦的电子束轰击样品表面。
15、第十章 扫描电子显微镜,引言扫描电镜结构原理扫描电镜图象及衬度扫描电镜结果分析示例扫描电镜的主要特点,返回首页,扫描电子显微镜的简称为扫描电镜,英文缩写为SEM Scanning Electron Microscope。SEM与电子探针EP。
16、电子探针,1.1 EPMA 概述,电子探针X射线显微分析仪Electron probe Xray microanalyser , EPMA 的简称为电子探针。 电子探针利用0.5m1m的高能电子束激发分析试样,通过电子束与试样相互作用产生的。
17、第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析,第八章扫描电子显微镜与电子探针显微分析,内容提要,第一节电子束与固体样品相互作用时产生的物理信号第二节扫描电子显微镜的结构和工作原理第三节表面形貌衬度原理及其应用第四节原子序数衬度原理及其应用第五节电。
18、电子探针工作原理,电子探针Electron Probe MicroanalysisEPMA的主要功能是进行微区成分分析。其原理是:用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征X射线,分析特征X射线的波长或能量可知元素种类;分析特征X射线。
19、摘要1一显微分析方法11.1 电子探针显微分析11.2 离子探针显微分析11.3 低能电子衍射分析21.4 俄歇电子能谱分析21.5 场离子显微镜与原子探针31.6 扫描隧道显微镜3二电子探针显微分析原理42.1电子光学系统与观看52.2 。