02超声检测通用工艺规程NBT.docx

《02超声检测通用工艺规程NBT.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《02超声检测通用工艺规程NBT.docx（58页珍藏版）》请在三一办公上搜索。

1、*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标超声波检测通用工艺规程版本1题页次第1页/共58页1 适用范围1. 1本局部规定了承压设备承受A型脉冲反射式超声检测仪检测工件缺陷的超声检测方法和质量分级要求。1.2本局部适用于金属材料制承压设备用原材料或零部件和焊接接头的超声检测，也适用于金属材料制在用承压设备的超声检测。1.3本局部规定了承压设备厚度的超声测量方法。1 .4与承压设备有关的支承件和构造件的超声检测，也可参照本局部使用。2 编制依据NB/T47013.1-2023承压设备无损检测第1局部：通用要求NB/T47013.3-2023承压设备无损检测第3局部：超声检测3

2、 一般要求3.1 超声波检测人员1 .1.1从事承压设备超声波检测的人员，应依据国家特种设备无损检测人员考核的相关规定取得相应无损检测人员资格。3 .1.2超声检测人员应具有肯定的金属材料、设备制造安装、焊接及热处理等方面的根本学问，应生疏被检工件的材质、几何尺寸及透声性等，对检测中消灭的问题能做出分析、推断和处理。3.2检测设备和器材3.2.1仪器和探头产品质量合格证明超声检测仪器产品质量合格证中至少应给出预热时间、低电压报警或低电压自动关机电压、放射脉冲重复频率、有效输出阻抗、放射脉冲电压、放射脉冲上升时间、放射脉冲宽度（承受方波脉冲作为放射脉冲的）以及接收电路频带等主要性能参数；探头应给

3、出中心频率、带宽、电阻抗或静电容、相对脉冲回波灵敏度以及斜探头声束性能（包括探头前沿距离（人射点）、K值（折射角B等）等主要参数。3.2.2检测仪器、探头和组合性能3.2.2.1检测仪器承受A型脉冲反射式超声检测仪，其工作频率按YdB测量应至少包括O.5MHzIOMHZ频率范围，超声仪器各性能的测试条件和指标要求应满足NB/T47013.3-2023*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第2页/共58页附录A的要求并供给证明文件，测试方法按GB/T27664.1的规定。3.2.2.2探头圆形晶片直径一般不应大于40mm,方形晶片任一边长

4、一般不应大于40mm,其性能指标应符合NB/T47013.3-2023附录B的要求并供给证明文件，测试方法按GB/T27664.2的规定。3.2.2.3仪器和探头的组合性能3.2.2.3.1仪器和探头的组合性能包括水平线性、垂直线性、组合频率、灵敏度余量、盲区（仅限直探头）和远场区分力。3.2.2.3.2以下状况时应测定仪器和探头的组合性能：a）购置的超声检测仪器和（或）探头；b）仪器和探头在修理或更换主要部件后；C）检测人员有疑心时。3.2.2.3.3水平线性偏差不大于设，垂直线性偏差不大于5%o3. 2.2.3.4仪器和探头的组合频率与探头标称频率之间偏差不得大于10%。4. 2.2.3.

5、5仪器-直探头组合性能还应满足以下要求：a）灵敏度余量应不小于32dB；b）在基准灵敏度下，对于标称频率为5MHz的探头，盲区不大于10mm；对于标称频率为2.5MHz的探头，盲区不大于15mm；C）直探头远场区分力不小于20dBo5. 2.2.3.6仪器-斜探头组合性能还应满足以下要求：a）灵敏度余量应不小于42dB；b）斜探头远场区分力不小于12dB。3.2.2.3.7在到达所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于IOdB。3.2.2.3.8仪器和探头组合频率的测试方法按JB/T10062的规定，其他组合性能的测试方法参照JB/T9214的规定。3.2.3试块3.2.3.1标准试

6、块3.2.3.1.1标准试块是指具有规定的化学成分、外表粗糙度、热处理及几何外形的材*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第3页/共58页料块，用于评定和校准超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准的试块。本局部承受的标准试块为20号优质碳素构造钢制CSK-IA.DZ-I和DB-PZ20-2o3.2.3.1.2CSK-IA试块的具体外形、尺寸见本局部，DZ-I和DB-PZ20-2的具体外形和尺寸见JB/T9214o3.2.3.1.3标准试块的制造应满足JB/T8428的要求，制造商应供给产品质量合格证，并确保在一样测试条件下比较其所制造

7、的每一标准试块与国家标准样品或类似具备量值传递基准的标准试块上的同种反射体（面）时，其最大反射波幅差应小于等于2dBo3.2.3.2比照试块3.2.3.2.1比照试块是指与被检件或材料化学成分相像，含有意义明确参考反射体（反射体应承受机加工方式制作）的试块，用以调整超声检测设备的幅度和声程，以将所检出的缺陷信号与反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。3.2.3.2.2比照试块的外形尺寸应能代表被检工件的特征，试块厚度应与被检工件的厚度相对应。假设涉及到不同工件厚度对接接头的检测，试块厚度的选择应由较大工件厚度确定。3.2.3.2.3比照试块应承受与被检材料声学性能一样或相像的材料制成

8、，当承受直探头检测时，不得有大于或等于2mm平底孔当量直径的缺陷。3.2.3.2.4不同被检工件超声检测用比照试块人工反射体的外形、尺寸和数量应符合本局部相关章节的规定。3.2.3.2.5比照试块的尺寸精度在本局部有明确要求时应供给相应的证明文件，无明确要求时参照JB/T8428的规定。3.2.4耦合剂3.2.4.1耦合剂透声性应较好且不损伤检测外表，如机油、化学浆糊、甘油和水等。3.2.4.2耦合剂污染物含量的掌握3.2.4.2.1锲基合金上使用的耦合剂含硫量不应大于250mgL3.2.4.2.2奥氏体不锈钢或钛材上使用的耦合剂卤素（氯和氟）的总含量不应大于250mgLo3.2.5超声检测设

9、备和器材的校准、核查、运行核查和检查的要求3. 2.5.1校准、核查和运行核查应在标准试块上进展，应使探头主声束垂直对准反射*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第4页/共58页体的反射面，以获得稳定和最大的反射信号。4. 2.5.2校准或核查4.2.5.2.1每年至少对超声仪器和探头组合性能中的水平线性、垂直线性、组合频率、盲区（仅限直探头）、灵敏度余量、区分力以及仪器的衰减器精度，进展一次校准并记录，测试要求应满足3.2.2.3的规定。3.2.5.2.2每年至少对标准试块与比照试块的外表腐蚀与机械损伤，进展一次核查。3.2.5.3运

10、行核查3.2.5.3.1模拟超声检测仪每3个月或数字超声检测仪每6个月至少对仪器和探头组合性能中的水平线性和垂直线性，进展一次运行核查并记录，测试要求应满足3. 2.2.3的规定。3.2. 5.3.2每3个月至少对盲区（仅限直探头）、灵敏度余量和区分力进展一次运行核查并记录，测试要求应满足3.2.2.3的规定。3.2.5.4检查3.2.5.4.1每次检测前应检查仪器设备器材外观、线缆连接和开机信号显示等状况是否正常。3.2.5.4.2使用斜探头时，一检测前应测定人射点（前沿距离）和折射角（K值）。3.2.5.5校准、运行核查和检查时的留意事项校准、运行核查和检查时，应将影响仪器线性的掌握器（如

11、抑制或滤波开关等）均置于“关”的位置或处于最低水平上。3.3安全要求检测场所、环境及安全防护应符合NB/T47013.1的规定。3.4检测实施3.4. 4.1检测预备3.5. 1.l在承压设备的制造、安装及在用检验中，超声检测时机及检测比例的选择等应符合相关法规、标准及有关技术文件的规定。3.4. 4.1.2所确定的检测面应保证工件被检局部能得到充分检测。3.5. 1.3焊缝的外表质量应经外观检查合格。检测面（探头经过的区域）上全部影响检测的油漆、锈蚀、飞溅和污物等均应予以去除，其外表粗糙度应符合检测要求。外表*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规

12、程版本1页次第5页/共58页的不规章状态不应影响检测结果的有效性。3. 4.2扫查掩盖为确保检测时超声声束能扫查到工件的整个被检区域，探头的每次扫查掩盖应大于探头直径或宽度的15%或优先满足相应章节的检测掩盖要求。4. 4.3探头的移动速度探头的扫查速度一般不应超过150mmso当承受自动报警装置扫查时，扫查速度应通过比照试验进展确定。5. 4.4扫查灵敏度扫查灵敏度的设置应符合相关章节的规定。6. 4.5灵敏度补偿：a）耦合补偿:在检测和缺陷定量时，应对由比照试块与被检工件外表粗糙度不同引起的耦合损失进展补偿；b）衰减补偿:在检测和缺陷定量时，应对由比照试块与被检工件材质衰减不同引起的灵敏度

13、下降和缺陷定量误差进展补偿；C）曲面补偿:在检测和缺陷定量时，对检测面是曲面的工件，应对由工件和比照试块曲率半径不同引起的耦合损失进展补偿。7. 4.6仪器和探头系统的复核8. 4.6.1发生以下状况时应对系统进展复核：a）探头、藕合剂和仪器调整发生转变时；b）疑心扫描量程或扫查灵敏度有变化时；C）连续工作4h以上时；d）工作完毕时。3. 4.6.2扫描量程的复核假设任意一点在扫描线上的偏移量超过扫描线该点读数的10%或全扫描量程的5%,则扫描量程应重调整，并对上一次复核以来全部的检测部位进展复检。4. 4.6.3扫查灵敏度的复核复核时，在检测范围内如觉察扫查灵敏度或距离一波幅曲线上任一深度人

14、工反射体回波幅度下降2dB,则应对上一次复核以来全部的检测部位进展复检;如回波幅度*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第6页/共58页上升2dB,则应对全部的记录信号进展重评定。4承压设备用原材料或零部件的超声检测方法和质量分级4. 1范围本章规定了承压设备用原材料或零部件的超声检测方法和质量分级。4. 2承压设备用原材料或零部件的超声检测工艺文件原材料或零部件的超声检测工艺文件除了应满足NB/T47013.3-2023标准中4.3的要求之外，还应包括下所列的相关因素。表2原材料或零部件超声检测工艺规程涉及的相关因素序号相美因素的内容

15、1产l形式（板材管材俄件等）2雄浏阳机（如箱处理的或后）3检费I能用4质量的收等级4. 3承压设备用板材超声检测方法和质量分级4. 3.1范围5. 3.1.1适用于板厚6mm25Omm的碳素钢、低合金钢制承压设备用板材的超声检测方法和质量分级。5.3. 1.2铝及铝合金板材、钛及钛合金板材、银及银合金板材和铜及铜合金板材的超声检测方法参照本条执行，质量分级按本条。4.3.1.3奥氏体不锈钢和奥氏体-铁素体双相不锈钢板材超声检测方法可参照本条执行，质量分级按本条。4.3.2检测原则4.3.2.1板材一般承受直探头进展检测。4.3.2.2在检测过程中对缺陷有疑问或合同双方技术协议中有规定时，可承受

16、斜探头进展检测。4.3.2.3可选板材的任一轧制外表进展检测。假设检测人员认为需要或技术条件有要求时，也可选板材的上、下两轧制外表分别进展检测。4.3.3探头的选用4.3.3.1直探头选用应按下表的规定进展。*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第7页/共58页板厚(mm)承受探头标称频率(MHz)探头晶片尺寸(mm)6-20双晶直探头45圆形晶片直径中1030方形晶片边长10-3020-60双晶直探头或单晶直探头2560单晶直探头254.3.3.2当承受液浸法检测板厚小于等于20mm的板材时，也可选用单晶直探头进展检测。4.3.3.3

17、双晶直探头性能应符合附录C的要求。4.3.3.4斜探头的选用应按附录D的规定进展。4.3.4比照试块4.3.4.1用双晶直探头检测厚度不大于20mm的板材时，可以承受如以下图所示的阶梯平底试块。全部承4.3.4.2检测厚度大于20mm的板材时，比照试块外形和尺寸应符合下表和图的规定。比照试块人工反射体为中5mm平底孔，反射体个数至少3个。*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第8页/共58页表4承任设备用板材超声检测用对比试块单位为nun编号板材厚度，椅洲面剑平庇扎的距离S试块厚度r试块宽度/20-4010、20.304030240-6

18、015、30、456040360-1001，、30、45、60、80)00,404100-1501S,30、45.60、80,110、140)50605150-20015、30、45、60、蚁HOx140,180200606200-25015,30、45、60、80、110、140、皿23025060注I：板材厚馍大于40mm时，试块也可用厚代德。注2：为减轻单个试块尺寸和重髭,声学性能相同或相似的试块上的平底孔可加工在不同厚度道块;。4.3.5灵敏度确实定4.3.5.1板厚小于等于20mm时，用阶梯平底试块调整，也可用被检板材无缺陷完好部位调整，此时用与工件等厚部位试块或被检板材的第一次底波

19、调整到满刻度的50%,再提高IOdB作为基准灵敏度。4.3.5.2板厚大于20un时，按所用探头和仪器在功中5mm平底孔试块上绘制距离-波幅曲线，并以此曲线作为基准灵敏度。4.3.5.3扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dBo4.3.6检测4.3.6.1耦合方式可承受直接接触法或液浸法。4.3.6.2检测时应依据实际状况进展耦合补偿和衰减补偿。4.3.6.3扫查方式a）在板材边缘或剖口预定线两侧范围内应作100%扫查，扫查区域宽度见下表;*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第9页/共58页板材边爆成剖口颈定饯两侧区域宽度单位为mm板厚区

20、城宽度60-10075100100b)在板材中部区域，探头沿垂直于板材压延方向，间距不大于50mm的平行线进展扫查，或探头沿垂直和平行板材压延方向且间距不大于100nlnI格子线进展扫查。扫查示意图见以下图；c)依据合同、技术协议书或图样的要求，也可承受其他形式的扫查；d)双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直。4.3.6.4斜探头检测按附录D的规定进展。4.3.7缺陷的判定和定量4.3.7.1在检测基准灵敏度条件下，觉察以下两种状况之一即作为缺陷：a)缺陷第一次反射波(FI)波幅高于距离-波幅曲线；或用双晶探头检测板厚小于20mm板材时，缺陷第一次反射波(FI)波幅大于或等于

21、显示屏满刻度的50%；b)底面第一次反射波(BI)波幅低于显示屏满刻度的50%,即B1V50%。4.3.7.2缺陷的定量*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第10页/共58页4. 3.7.2.1双晶直探头检测时缺陷的定量：a）使用双晶直探头对缺陷进展定量时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直；b）板材厚度小于等于20mm时，移动探头使缺陷波下降到基准灵敏度条件下显示屏满刻度的50%,探头中心点即为缺陷的边界点；C）板材厚度大于20mm60mm时，移动探头使缺陷波下降到距离-波幅曲线，探头中心点即为缺陷的边界点；d）确定4.3.7.1

22、b）中缺陷的边界范围时，移动探头使底面第一次反射波上升到基准灵敏度条件下显示屏满刻度的50%或上升到距离-波幅曲线，此时探头中心点即为缺陷的边界点；e）缺陷边界范围确定后，用一边平行于板材压延方向矩形框包围缺陷，其长边作为缺陷的长度，矩形面积则为缺陷的指示面积。4.3.7.2.2单晶直探头检测时缺陷的定量使用单晶直探头除按4.3.7.2.lc）、d）、e）的方法对缺陷进展定量外，还应记录缺陷的反射波幅或当量平底孔直径。4.3.8缺陷尺寸的评定方法4.3.8.1用平行于板材压延方向矩形框包围缺陷，其长边作为该缺陷的指示长度。4. 3.8.2单个缺陷指示面积的评定规章a）一个缺陷按其指示的矩形面积

23、作为该缺陷的单个指示面积；b）多个缺陷其相邻间距小于相邻较小缺陷的指示长度时，按单个缺陷处理，缺陷指示面积为各缺陷面积之和。4.3.9板材质量分级4.3.9.1板材质量分级见表6和表70在具体进展质量分级时，表6和表7应独立使用。4.3.9.2在检测过程中，检测人员如确认板材中有白点、裂纹等缺陷存在时，应评为V级。4.3.9.3在板材中部检测区域，按最大允许单个缺陷指示面积和任一lmlm检测面积内缺陷最大允许个数确定质量等级。如整张板材中部检测面积小于lm1m,缺陷最大允许个数可按比例折算。*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标超声波检测通用工艺规程版本1题页次第11页

24、/共58页4.3.9.4在板材边缘或剖口预定线两侧检测区域，按最大允许单个缺陷指示长度、最大允许单个缺陷指示面积和任一Im检测长度内最大允许缺陷个数确定质量等级。如整张板材边缘检测长度小于Inb缺陷最大允许个数可按比例折算。表6承压设备用板材中部检测区域质室分级单位为nm等级最大允舟取个缺陷指示面枳S或当量平底孔直径在任一ImXlln椅测囹枳内燃略最大允许个数单个缺片指示面积或当量平底和直校评定能用量大允许个效I双晶直头检训时：双品电探头检潴时I20SX）10或单觎K探公检四时：Dtf.5+8dB成单加点探头检神时：5D5*8dB双晶H撮头检测时：SClOO双晶直探头枪IW时：WvSk100I

25、O或单晶JI探头检测时：。，S4dB或单晶直操义检测时：5v0W05t4dDIlISWlOOoIoowioai15IVS5000IO(X)SG500020V超过IV圾者注：使用单晶直獐头检洌，HiI定5.3.7.Ib）所示缺曾的质员分级（1级和U级）时，与双战直探头要求相同”表7承压设备用板材边缘或剖口预定线两例I检测区域质量分级单位为Uirn等域最大允许单个缺陷指示长度最大允许单个缺陷指示面积S成当Jl平蛹孔直径。在任一Im检测长度内或大允许缺陷个数单个缺陷指示长度r.或当过平底孔直径评定范第最大九诈个败J20双品直探3、枪侧时；S50双品克探头检恻时：10,G02或制品囱探头检测时：Q,4

26、8dB成中质直探头检IW时：H30双晶直探次检测时：SIM双曲2幅4崎恻附：5L303成单品宜探头检洲时：DW45+14dB或单晶直探头检Mmh3+JBD514dBUI$0SGOOo25LS05IVGIooSG2000501006VAflttlV级者注：使用色晶直探头检测井鹰定5.371b）所示缺陷的质量分缓（I级和II级）时，与双霞直探头要求相同。4.4承压设备用复合板超声检测方法和质量分级4. 4.1范围4.4. 1.1本条适用于基材厚度大于或等于6mm的承压设备用不锈钢一钢、钛一钢、铝一钢、银一钢及铜一钢复合板的超声检测和质量分级。4.4.1.2本条主要用于复合板基材与覆材界面结合状态的

27、超声检测。4.4.2检测原则*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第12页/共58页一般可从基材侧检测，也可选择从覆材侧进展检测。4.4.3探头选用承受2MHz5MHz的单晶直探头或双晶直探头，探头晶片有效直径应在为IOnIin25mm范围内。4.4.4灵敏度确实定4.4.4.1将探头置于复合板完全结合部位，调整第一次底面回波高度为显示屏满刻度的80%。以此作为基准灵敏度。4.4.4.2扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dB04.4.5检测4.4.5.1藕合方式藕合方式可承受直接接触法或液浸法。4.4.5.2扫查方式：a）在复合板边缘或剖

28、口预定线两侧范围内应作100%扫查，扫查区域宽度见表5；b）在复合板中部区域，探头沿垂直于基材压延方向，间距不大于50mm的平行线进展扫查，或探头沿垂直和平行基材压延方向且间距不大于100mm格子线进展扫查。扫查示意图见图3；C）依据合同、技术协议书或图样的要求，也可承受其他形式的扫查；d）双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直。4.4.6未结合区的测定第一次底面回波高度低于显示屏满刻度的5%,且明显有未结合缺陷回波存在时（回波高度25%）,该部位则为未结合缺陷区。移动探头，使第一次底面回波上升到显示屏满刻度的40%,此时探头中心点即作为未结合缺陷区边界点。4.4.7未结合的评

29、定方法4.4.7.1未结合指示长度的评定规章未结合边界范围确定后，用一边平行于板材压延方向矩形框包围该未结合，长边作为其指示长度。假设单个未结合的指示长度小于25mm时，可不作记录。4.4.7.2单个未结合面积的评定规章：a）一个未结合按其指示的矩形面积作为其该单个未结合面积；*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第13页/共58页b）多个未结合其相邻间距小于20mm时，按单个未结合处理，其面积为各个未结合面积之和。4.4.7.3未结合率的评定任一InIXhn检测面积内，按未结合区面积所占百分比来确定。4.4.8质量分级4.4.8.1在

30、复合板边缘或剖口预定线两侧作100%扫查的区域内，未结合的指示长度大于或等于25mm时，定级为IV级。4.4.8.2复合板质量分级按表8的规定。表8复合板超声检测质量分级等级单个末结合指示长度mm单个未结合面积cm未结合率保I000U50202m3521200744200225*100450/225075A502225O2250275*110550/33SO7550232$0/33250275110650/445075ASO24250/442301，、AUO775722751006025300/22300325120875733751006026300/39300323120975744751

31、006027300744300325*12010IO(V22100I2S7028400/22400425414。Il100H3100125中7029400/334()0425A14012100/44JOO125/7030400/44400425M013125/22)251308031500/22500525N15514125/331251308032500/33500525*1$515125/441251508033500/44SOO52515516150/22150i758517150/33150175*851815V44150175N85*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第

32、0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第16页/共58页05CS3对比试块10CS3对比试块尺寸单位为三试映序g孔径检恻距离/.I234$67S9I2510IS202330354523344.5.4.5工件检测面曲率半径小于等于250mm时，应承受曲面比照试块（试块曲率半径在工件曲率半径的0.7倍Ll倍范围内）调整基准灵敏度，或承受CS-4比照试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其外形和尺寸按图6所示。图6CS-4对比试块*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第17页/共58页4.5.4.6比照试块CS-2、CS-3、CS-4

33、制造要求等见JB/T8428和GB/T11259的规定。4.5.5灵敏度确实定4.5.5.1单晶直探头基准灵敏度确实定使用CS-2S-4试块，依次测试一组不同检测距离的2mm平底孔（至少3个），制作单晶直探头的距离一波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。当被检部位的厚度大于或等于探头的3倍近场区长度，且检测面与底面平行时，也可以承受底波计算法确定基准灵敏度。4.5.5.2双晶直探头基准灵敏度确实定使用CS-3试块，依次测试一组不同检测距离的中2mm平底孔（至少3个）。制作双晶直探头的距离一波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。4.5.5.3扫查灵敏度一般应比基准灵敏度高6dB04.5.6检测4.5.6.1

34、耦合方式耦合方式一般可承受直接接触法。4.5.6.2灵敏度补偿检测时应依据实际状况进展耦合补偿、衰减补偿和曲面补偿。4.5.6.3工件材质衰减系数的测定：a）在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调整仪器使第一次底面回波幅度（B）或第n次底面回波幅度（B）为满刻度的50%,记1n录此时仪器增益或衰减器的读数，再调整仪器增益或衰减器，使其次次底面回波幅度或第m次底面回波幅度（B或B）为满刻度的50%,两次增益或衰减器读数2n之差即为（B-B2）或（B-B）（不考虑地面反射损失）。1nmb）工件厚度小于3倍探头近场区长度（t3Nt,mn）按式（1）计算：=（B-B）-20

35、1g（mn）/2（m-n）t（1）nm式中：a衰减系数，dB/m（单程）；*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第18页/共58页(B-B)一两次底波增益或衰减器的读数之差，dB；nnt一工件检测厚度，mm；N一单晶直探头近场区长度，m；m、n底波反射次数。C)工件厚度大于等于3倍探头近场区长度(t23N)时，衰减系数按式(2)计算：=(B-B)-62t(2)12式中：(B-B)一两次底波增益或衰减器的读数之差，dB；1 2其余符号意义同b)od)工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。4. 5.6.4扫查方式5. 5.6.4

36、.1直探头检测：a)移动探头从两个相互垂直的方向在检测面上作100%扫查。主要检测方向如图7所示；b)双晶直探头扫查时，探头的移动方向应与探头的隔声层相垂直；C)依据合同、技术协议书或图样的要求，也可承受其他形式的扫查，如肯定间隔的平行线或格子线扫查。4.5.6.4.2斜探头检测斜探头检测应按NB/T47013.3-2023附录E的要求进展。4.5.7缺陷当量确实定4.5.7.1当被检缺陷的深度大于或等于所用探头的3倍近场区时，可承受AVG曲线或计算法确定缺陷的当量。对于3倍近场区内的缺陷，可承受距离一波幅曲线来确定缺陷的当量。也可承受其他等效方法来确定。*检测操作指导书编号*UT-02-20

37、23修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第19页/共58页说明：T应检测方向；装一参考检测方向。图7检测方向（垂直检测法）4.5.7.2当承受计算法确定缺陷当量时，一假设材质衰减系数超过4dBm,应进展修正。4.5.7.3当承受距离一波幅曲线来确定缺陷当量时犷假设比照试块与工件材质衰减系数差值超过4dBm,应进展修正。4.5.8质量分级等级评定4.5.8.1缺陷的质量分级见表IlO4.5.8.2当检测人员判定反射信号为白点、裂纹等危害性缺陷时，锻件的质量等级为V级。*检测操作指导书编号*UT-02-2023修改状态第0次修改标题超声波检测通用工艺规程版本1页次第20页/共58

38、页袤11锻件超声检测缺陷质量分级单位为mm等级IIIIIIIVV单个跳陷当量成仁宜根4-HdBS4+1248S04+IWH04+l8dB由象陷引起的瓜:放唧低盘6dB12dB24dB密集区缺帑当量直轻V”34dB.4-MdBAi4dB密集区缺陷而枳占检测总面积的百分比/%0320注1：山洪陷引起的底彼降但盘仅适用于声程大丁近场区K度的歌陪。注2：表中不向冷类的嵌陷分级应独立使用。注3,密辗K缺路面积指反射冰螂大于等于02当髭平底孔直径的密集区缺陷。4.6承压设备用钢螺栓坯件的超声检测方法和质分级4.6.1范围4.6.1.1本条适用于直径大于等于M36承压设备用碳钢和低合金钢螺栓坯件的超声检测方法和质量分级。4.6.1.2奥氏体不锈钢螺栓坯件的超声检测方法参照本条执行，质量分级按本条。4.6.2检测原则检测一般应安排在热处理后进展，检测面的外表粗糙度Ra6.3mo