第3章FPGA结构与配置.ppt
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1、第3章 FPGACPLD结构与应用,EDA技术实用教程,FPGA-Field Programmable Gate Array CPLD-Complex Programmable Logic Device,3.1 概 述,基本PLD器件的原理结构图,3.1.1 可编程逻辑器件的发展历程,70年代,80年代,90年代,PROM 和PLA 器件,改进的 PLA 器件,GAL器件,FPGA器件,EPLD 器件,CPLD器件,内嵌复杂功能模块的SoPC,3.1 概 述,3.1.2 可编程逻辑器件的分类,按集成度(PLD)分类,3.1 概 述,3.2 简单PLD原理,3.2.1 电路符号表示,常用逻辑门符
2、号与现有国标符号的对照,3.2.1 电路符号表示,图3-4PLD的互补缓冲器 图3-5 PLD的互补输入 图3-6 PLD中与阵列表示,图3-7 PLD中或阵列的表示 图3-8 阵列线连接表示,3.2 简单PLD原理,3.2.2 PROM,图3-9 PROM基本结构:,其逻辑函数是:,3.2 简单PLD原理,3.2.2 PROM,图3-10 PROM的逻辑阵列结构,逻辑函数表示:,3.2 简单PLD原理,3.2.2 PROM,图3-11 PROM表达的PLD图阵列,图3-12 用PROM完成半加器逻辑阵列,3.2 简单PLD原理,3.2.3 PLA,图3-13 PLA逻辑阵列示意图,3.2 简
3、单PLD原理,3.2.3 PLA,图3-14 PLA与 PROM的比较,3.2 简单PLD原理,3.2.4 PAL,图3-15PAL结构:,图3-16 PAL的常用表示:,3.2 简单PLD原理,3.2.4 PAL,图3-17 一种PAL16V8的部分结构图,3.2 简单PLD原理,3.2.5 GAL,图3-18 GAL16V8的结构图,3.2.5 GAL,图3-19寄存器输出结构,图3-20寄存器模式组合双向输出结构,3.2 简单PLD原理,(1)寄存器模式。,3.2.5 GAL,图3-21 组合输出双向结构,图3-22 复合型组合输出结构,3.2 简单PLD原理,(2)复合模式。,3.2.
4、5 GAL,图3-23 反馈输入结构,图3-24输出反馈结构,图3-25 简单模式输出结构,(3)简单模式。,3.2 简单PLD原理,3.3 CPLD结构与工作原理,图3-26 MAX7000系列的单个宏单元结构,1、逻辑阵列块(LAB),图3-27-MAX7128S的结构,3.3 CPLD结构与工作原理,3.3 CPLD结构与工作原理,2、宏单元,逻辑阵列,乘积项选择矩阵,可编程寄存器,3.3 CPLD结构与工作原理,3、扩展乘积项,图3-28 共享扩展乘积项结构,(1)共享扩展项,图3-29 并联扩展项馈送方式,(2)并联扩展项,3.3 CPLD结构与工作原理,3.3 CPLD结构与工作原
5、理,4、可编程连线阵列,图3-30 PIA信号布线到LAB的方式,5、I/O控制块,图3-31-EPM7128S器件的I/O控制块,3.3 CPLD结构与工作原理,3.4 FPGA结构与工作原理,3.4.1 查找表,图3-33 FPGA查找表单元内部结构,图3-32 FPGA查找表单元,图3-34 FLEX FPGA内部结构,3.4.2 FLEX10K系列器件,3.4.2 FLEX10K系列器件,(1)逻辑单元LE。,图3-35 LE(LC)结构图,(1)逻辑单元LE,图3-36 进位链连通LAB中的所有LE,快速加法器,比较器和计数器,3.4.2 FLEX10K系列器件,(1)逻辑单元LE,
6、图3-37 两种不同的级联方式,3.4.2 FLEX10K系列器件,(2)逻辑阵列LAB(Logic Array Block),图3-38 FLEX10K LAB的结构图,(3)快速通道(FastTrack),3.4.2 FLEX10K系列器件,FastTrack遍布于整个FLEX10K器件,是一系列水平和垂直走向的连续式布线通道。,FastTrack连接是由遍布整个器件的“行互连”和“列互线”组成的。,(4)I/O单元与专用输入端口,图3-39 IO单元结构图,(5)嵌入式阵列块EAB(Embedded Array Block),3.4.2 FLEX10K系列器件,图3-40 用EAB构成不
7、同结构的RAM和ROM,3.5.1 内部逻辑测试,3.5 FPGA/CPLD测试技术,3.5.2 JTAG边界扫描测试,图3-41 边界扫描电路结构,3.5.2 JTAG边界扫描测试,表3-1 边界扫描IO引脚功能,3.5.2 JTAG边界扫描测试,JTAG BST需要下列寄存器:,指令寄存器,旁路寄存器,边界扫描寄存器,用来决定是否进行测试或访问数据寄存器操作,这个1bit寄存器用来提供TDI和TDO的最小串行通道,由器件引脚上的所有边界扫描单元构成,3.5.2 JTAG边界扫描测试,图3-42 边界扫描数据移位方式,3.5.2 JTAG边界扫描测试,图3-43 JTAG BST系统内部结构
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