ICTAOI飞针程式制作.ppt

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1、VayoPro-Test Expert（测试专家）,上海望友信息科技有限公司,Vayo(Shanghai)Technology Co.,Ltd.,全球合作总监:Howard Liu邮箱:HowardL,望友公司简介,公司成立于2005年1月份 公司位于上海浦东先进制造技术创业园区（到浦东国际机场约20分钟车程）望友是一家专注于电子制造业的专业软件公司，目前已拥有7个自主版权软件产品望友的工程师主要来自全球性的领先电子制造企业，有着丰富的专业知识及行业背景曾于2009年获得政府创新基金奖励支持,VayoPro系列产品,VayoPro NPI信息化协同系统新产品导入过程管理&协同工作平台VayoP

2、ro 新产品导入过程必要应用软件VayoPro-DFM Expert:(可制造性分析)VayoPro-SMT Expert:(各种贴片机程序快速制作及转换、数据校验)Vayo-Flexa加速器:(Fuji Flexa编程加速器)VayoPro-Test Expert:(快速DFT分析、ICT/FP/AOI/X-Ray编程)VayoPro-Document Expert:(工位作业指导书制作)VayoPro-View Expert:(Test/SMT/QA/PE/IE等PCB板信息快速查询)VayoPro-AI Expert:(自动插件设备快速编程),*VayoPro系列软件兼容Windows

3、7.,部分参考客户,部分参考客户,全球范围代理与合作,代理伙伴:12 欧洲:4,东南亚及南亚:3,中国:4,美国:1设备或软件合作伙伴:7 Agilent,ViTrox,Fuji,Takaya,SinicTek,Panasonic,Eastwell,代理伙伴,合作伙伴,飞针测试程序快速制作,VayoPro-Test ExpertDFT分析、ICT/FP/AOI/X-ray快速编程,PCB CAD数据源,AOI/X-Ray快速编程,支持20种CAD智能识别类型数据校验,版本比较,PCB版本差异验证ECO/ECN测试夹具再利用,DFT/测试覆盖率分析,丰富的选针规则优化的测试覆盖率几秒钟产生DFT

4、报告,丰富的可测率报告,强大的拼板功能可与机器Library集成可扩展的输出,测试类型自动分类测试夹具数据分析优化的输出结果,ICT测试程序快速制作,全面的测试信息优化的测试输出几分钟产生结果,Nets/Part/Pin报告并联元器件报告其他报告,BOM分析处理,支持多种格式CAD/BOM校验智能提取值/误差,数据源分析,1,CAD导入,2,BOM分析处理,3,版本比较,支持20种CAD Cadence,Zuken,Altium/Protel,Mentor,PowerPCB,Viscadif,Orcad,P-cad,IPC-D-356,FATF,GenCam,ODB+,Gencad.智能识别C

5、AD文件类型,数据源分析：PCB CAD导入,支持多种BOM格式 Excel,text BOM/CAD融合校对 元器件数量不匹配 重复的料号 在BOM但不在CAD元器件 智能提取值/误差等数据 减少人工录入时间及错误,Excel格式BOM数据源,解析规则,解析报告,数据源分析：BOM分析处理,比较CAD版本差异 元器件差异报告 网络差异报告 测试点差异报告 验证ECN/ECO 最大化共用测试夹具,数据源分析：版本比较,数据源分析：软件界面,展现真实PCB 流程化操作导引 易学易用 交互化信息显示 查询和定位 高亮/闪烁,DFT/测试覆盖率分析,4,测试选针规则,5,结果查询及分析,6,强大的报

6、告,优先级规则 正反面规则 测试点及过孔规则 测试针数量规则 100/75/50 mil测试针 强制/条件下针规则 安全距离规则,灵活的规则设定：,DFT/测试覆盖率分析:测试选针规则,DFT/测试覆盖率分析：测试针准确性验证 阻焊层Gerber数据融合检查,Signal Layer,Mask Layer,Signal+Mask,NO Access,New Test Point,现状：PCB裸板制造工艺原因导致部分测试位置被阻焊层覆盖 测试点自动检查：铜箔是否暴露 自动建议新测试点位置：添加测试点(支持Agilent ABPT),*.目前业界仅望友软件提供此功能。,CAD数据,Gerber数据

7、,DFT/测试覆盖率分析：网络优化(Net Link),多个网络融合为一个网络融合条件：0欧姆电阻、开关、保险丝益处：提升测试覆盖率、减少测试针数量,R5:0ohm,Net 1,C1.1,TP1.1,R5.1,Net 2,C9.1,R5.2,NetLink_Net 1,C1.1,TP1.1,R5.1,C9.1,R5.2,DFT/测试覆盖率分析：结果查询及分析,Auto link,测试选针结果查询 查询方式按未选针原因按网络名/编号按测试针号 未选针原因分类铜箔暴露过小靠近元器件靠近板边靠近定位孔 与Layout交互显示位置,统计分析报告 网络/元器件/引脚分析报告,DFT/测试覆盖率分析：丰富

8、的报告输出,未测试网络/元件分析报告 并联分析报告 Excel、html等格式输出,DFT/测试覆盖率分析：丰富的报告输出,Layout与原理图互动查询,板故障快速诊断及维修,原理图交互查询,Interactive,7,ICT测试程序,8,飞针测试程序,9,AOI/X-Ray检测程序,测试程序快速制作,测试程序快速制作：ICT/MDA,ICT/MDA Tester:Agilent,Teradyne/GenRad,Spea,TRI,Checksum,MTS,JET,Hioki,IFR,SRC,测试夹具数据分析 测试类型定义自动分类 多种测试选针策略 智能提取值/误差等数据 计算并联元器件,智能提

9、取值/误差,节省30%50%在线Debug时间,ICT/MDA Tester:Agilent,Teradyne/GenRad,Spea,TRI,Checksum,MTS,JET,Hioki,IFR,SRC,测试夹具数据分析 测试类型定义自动分类 多种测试选针策略 智能提取值/误差等数据 计算并联元器件,测试针胶片图优化 针号显示间隔 针号绕线路径 区域分布视图,夹具数据输出 Nails数据 CNC钻孔数据 DXF针位图 Parts数据 载板数据,ICT测试程序快速制作：夹具数据分析,ICT快速编程：测试类型自动分类,Apply,元器件名称自动分类 自动匹配测试模式 支持用户自定义设置 支持多客

10、户/多设备设置并存 自动防错校验,测试程序快速制作：飞针测试,飞针设备：TAKAYA,SPEA,HIOKI,SEICA,Acculogic,支持各种测试模式 可配置输出结果 Outline/pin/sensor偏移设置 计算并联值 优化的测试程序/结果,节省80%程序制作时间,飞针测试编程：Outline/Pin/Sensor偏移设置,Outline/Pin/Sensor偏移微调 测试针位置自动偏移 自动产生open-check sensor位置数据,节省50%在线Debug时间,测试程序快速制作：AOI/X-ray,X-Ray&AOI:Agilent 5DX/SJ50,ViTrox V810

11、&V510,Omron,VI Technology,Orbotech,Viscom,TRI,Landrex,强大的拼板功能 可与设备Library集成 可扩展的输出,节省30%60%程序制作时间,AOI/X-ray快速编程：拼板,子母拼板 矩阵拼板 多角度拼板 阴阳拼板 不同产品拼板,方便，快捷,VayoPro-Test Expert：效率提升,快速DFT测试覆盖率分析最小化ICT夹具成本快速测试程序制作减少在线程序Debug调试时间降低人力成本提升NPI应对能力,VayoPro-Test Expert:价值小结,谢谢!,选择 望友,选择 价值!,Select Vayo,Select Value for you!,