环境同位素测试与分析.ppt
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1、第二部分 环境同位素测试与分析,2.1 同位素分析常用术语 Terminology,准确度:测量数据与“真值”的接近程度。Accuracy is a measure of how close analyzed data lie to the“true”composition.精确度:多次测量数据的标准偏差。Precision is normally measured by standard deviation.内精度外精度,准确度与精确度 Accuracy&Precision,标准偏差 Standard deviation,对数据的离散性进行评价的统计参数。对于大数据量分析,采用下式计算:对于
2、统计数小于20的数据,采用下式计算:,背景信号 Background signal,信号是指分析仪器对于样品中元素含量等有关信息的物理反映。所有的信号中均含有背景组成,即为无用分析信息的部分。背景信号的强弱取决于分析环境和仪器设备性能。,检出限 Detected Limitation,检出限:仪器获得在统计学意义上具一定置信度、并区分出背景信号的最低分析信号极限。检出限数值的确定与设置区别出样品信号和背景信号的置信度有关,通过对背景信号进行大数据量测量,将获得一个服从正态分布的误差随机集,可用下式表达:x sd。正态分布的特征可用一次测量落入某一分布区间的可能性来表示,其中:均值 1 sd的可
3、能性是84.14%均值 2 sd的可能性是97.72%均值 3 sd的可能性是99.87%,如果样品的测量信号高于背景信号的3倍标准偏差,则有99.87%的可能性认为信号不属于背景信号。这一界限属于确定检出限的方法之一,称为检出下限。检出下限附近进行的测量,其误差为无穷大,不能进行定量分析。因此,将高于背景信号6倍标准偏差的界限作为仪器进行定量分析的极限。,检出下限 Lower detected limitation,灵敏度 Sensitivity,灵敏度常用于表达仪器的检测极限,系指单位浓度的信号强度.若仪器对某元素具有高灵敏度,则表示该仪器同时对该元素具有低检出限。参见下面示意图:,相关术
4、语,飘移(Drift):仪器响应随时间发生变化的现象,反映了环境温度、湿度因素对电子电路和仪器金属部件(如磁铁)等产生了影响。噪声(Noise):仪器发生短暂不稳定的现象,原因为电子部件电子随机运动的结果。本底(Blank):来自反应试剂不纯和实验室环境污染的非样品元素含量。,质谱仪是在电磁场的作用下使带电粒子束按其质量/电荷比值的大小进行分离,并分别进行测量的大型复杂装置。工作原理为带电荷的粒子在磁场中运动时,将受到劳伦斯力的作用而发生圆周运动,其运动半径的大小与带电粒子的质/荷比的平方根成正比。,2.2 质谱基础 Principles of Mass Spectrometry,当质量为m电
5、荷为e的离子通过电势差为V的电场后,获得的动能为:当带相同电荷的不同质量的离子通过加速电场后他们将获得不同的动能,即不同质量的离子获得不同的飞出速度:以一定速度进入磁场的带电离子将以不同的半径作圆周运动:,带入v得:,2.2 质谱基础 Principles of Mass Spectrometry,质谱仪是对元素或化合物的同位素组成进行测量的专用仪器,主要由下列系统构成:样品导入系统:将分析样品依序导入仪器进行分析;电离系统:也称离子源,将被分析样品进行电离;分析器系统:将电离后的样品按其质量/电荷比值大小进行分离;接收器系统:将分离后的不同同位素分别用单个接收器顺序测量或用多个接收器同时进行
6、测量,即进行离子计数;真空系统:将仪器的离子源、分析器和接收器部件抽真空,以防止样品离子-分子间发生碰撞和相互干扰,提高分析数据的质量;收集系统:对离子信号进行放大和模-数转换,对原始数据进行统计处理;控制系统:现代质谱采用计算机系统,对仪器的工作状态、测量行为和数据处理方式等进行程序监督和控制。,2.2 质谱基础 Principles of Mass Spectrometry,样品导入Inlet,电离源区Source Region,质量分析器Mass analyzer,检测器Detector,数据系统Data System,真空系统Vacume System,样品引入,样品发生电离,同位素发
7、生分离,离子计数,数据收集处理,减少离子碰撞与相互干扰,同位素质谱基本组成结构示意图,2.2 质谱基础 Principles of Mass Spectrometry,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,Sample preparation involves the quantitative conversion or production of pure gas from solely the compound of interest;Introduction of the gas into the mass spectrometer;ioniza
8、tion to produce positively charged species;dispersion of different masses in a magnetic field;impaction of different masses on different collector cups,and measurement of the ratios of the isotopes in the ionized gas.,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,上世
9、纪40、50年代诞生了双进样通道、双检测器气源质谱仪。,Dual inlet system alternation of sample and reference gases,目前用于测定气体同位素比值的质谱仪都采用双进样系统,即一部分是供引进标准用的,另一部分是供待测样品用;其优点是便于把样品和标准进行比较,从而提高测量精度.,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,Example of CO2 in a dual inlet system,2.2.1 气源质谱 Gas S
10、ource Mass Spectrometry,连续流质谱仪,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,连续流质谱仪优点:样品的产率大大提高;能对微量气体(10-9mol)样品进行同位素比值测定;对样品性质要求降低与激光剥蚀系统连用可对固体样品进行微区同位素分析;缺点分析精度降低,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,气体稳定同位素比值质谱计IRMS Finnigan MAT 250,251,252,253 Finnigan Delta
11、 Plus xpVG5400测定各种样品中(气体、液体、固体)H/D、13C/12C、15N/14N、18O/16O、30Si/28Si、34S/32S和Ar、Kr、Xe同位素比值。,2.2.1 气源质谱 Gas Source Mass Spectrometry,MAT 253,EA,Gas Bench,Trace GC,同位素比值质谱仪MAT253,同位素测试前处理,2.2.2 固体源质谱仪 Solid Source Mass Spectrometry,Elements analyzed as solids(e.g.,strontium,lithium,boron,lead,etc.)are
12、 prepared by precipitating selected compounds on wire filaments,loading the filaments into the source of a thermal ionization(solid source)mass spectrometer(TIMS);ionizing the compounds to produce ion beam(negative or positive charged);measuring the abundances of selected isotopes in the gas on mult
13、iple collectors.,热电离质谱计(固体质谱计)TIMS Finnigan MAT 261,262 Thermo Finnigan Triton Ti测定各种样品中Fe、Cr、Sr、Pb同位素比值,2.2.2 固体源质谱仪 Solid Source Mass Spectrometry,表面热电离同位素比值质谱仪结构,2.2.2 固体源质谱仪 Solid Source Mass Spectrometry,同位素分离提纯,点带,2.2.2 固体源质谱仪 Solid Source Mass Spectrometry,Triton Ti,2.2.3 电感耦合等离子体质谱 Inductive
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