机构设计公差分析-SVV.ppt
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1、Prepared by:Johnny.qin Date:2018-Mar-22 Version:V1.0,机构设计公差分析培训教材,主要内容,第一部分:统计学应用于公差分析的背景 3第二部分:一般公差分析的理论 15第三部分:公差分析在诺基亚专案中的应用 29第四部分:特殊情态 54,统计学应用于公差分析的背景 这部分主要目的是介绍统计学应用于公差分析的背景,强调加工制造能力的重要性。,变异,下偏差,上偏差,目标,规格范围,加工制程的变异材料特性的不同设备或模具的错误工序错误/操作员的错误模具磨损标准错误,组装制程的变异工装夹具错误组装设备的精度,两种主要的变异类型,变异的控制,解决方案制成的
2、选择制程的控制(SPC)产品的检查技术的选择优化的设计公差分析,变异的控制从加工制造从产品设计,Aim高品质高良率低Low FFR,柱状图,柱状图能提供制程的分布形状,位置及区域的初步评估柱状图也是呈现变异几何的方法There may be outliers,变异的一般分布图,正态分布 normality distribution双峰分布(非正态分布)偏斜分布(非正态分布),99.9937%,-3,-4,-5,-6,+3,+4,+5,+6,99.73%,99.999943%,99.9999998%,正态分布的特点,-2,-1,+2,+1,变形点,标准差,(s or),数据的百分比,在给定的西格
3、玛()范围,95.46%,68.26%,平均值,(x or),正态分布的参数,平均值(x)分布的位置范围(R)最大值与最小值之间的距离Sensitive to outliers标准差(s)反映样本内各个变数与平均数差异大小的一个统计参数最常用的量测法,量化可变性变量(s2)标准差的平方,总体参数m=总体平均值s=总体标准差,总体参数与样本统计,总体现有的及将来会出现的所有单元或个体我们将永远都不可能知道的真实总体比如,所有的Nokia 9210 生产总量。,样本从总体提取的单元或个体的子集 用样本统计,我们可以尝试评估总体参数比如,Nokia 9210 在2001年41周生产的样本,样本统计x
4、=样本平均值s=样本标准差,Process variation 3s,制程性能指标 Ppk,参数Ppk 是制程性能指标sLT 是长期标准差LSL是规格的下限USL是规格的上限mean 是实际制程的平均值,USL-mean,LSL,Sample mean,Nominal value,mean-LSL,USL,Process variation 3s,Tolerance range,一般公差分析的理论这部分主要是说明怎样应用公差分析这个工具,去确保产品适合最终确定的产品功能和品质的要求的过程。,公差分析的优点,公差分析:验证设计是否达到预期的品质水平.带较少缺点的良率产品.预防生产重工和延误.降低
5、产品的返修率(降低成本).,怎么地方使用公差分析?,单个零件或组件出现公差堆积。在公差堆积中,用公差分析可以确定总的变异结果。在机构设计中,它是一个很重要的挑战。单个零件和组件的公差堆叠,35.00?,13.00 0.20,10.00 0.15,12.00 0.10,零件 4,堆叠公差分析过程,在堆叠公差时,有以下几种方法:手工.用电子数据表,比如Nokia Excel 模板.这在NOKIA是首选的方法!用公差分析软件,比如 VisVSA.这份教材重点是讲用NOKIA模板分析一个尺寸的堆叠。按组装要求,分为六步来分析。,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要
6、求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,一些产品要求的例子:装配要求换壳;无固定的配对组装(多套模具或模穴)功能要求电子方面;PWB与弹片的可靠接触结构方面;良好的滑动结构,翻盖结构,或机构装置品质要求外观;外壳与按键之间的间隙其他;良好的运动或一些奇怪的杂音,零件松动,第一步 确定组装要求,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,零件 3,零件 2,零件 1,零件 4,20.00 0.30,必要条件(Gap 0),15.00 0.25,10.00 0.15
7、,I,II,III,46.20,+0.20-0.60,B(d2),A(d1),C(d3),D(d4),+,IV,必要条件X(dGap)0,第二步 封闭尺寸链图,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,46.00 0.40,46.20,+0.20-0.60,45.60,+0.80-0.00,从设计角度看,上图所有尺寸标注方法,其功能是相同。按规则,设计者将使用双边公差钻孔是个例外,通常是实际的大于名义尺寸,第三步 转换名义尺寸,零件 4,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸
8、链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,名义值间隙是:,dGap=名义值间隙。正值是空隙,负值是干涉n=堆叠中独立尺寸的数量di=尺寸链中第i个尺寸的名义尺寸,dGap=-10.00-15.00-20.00+46.00=1.00,B(d2),A(d1),C(d3),D(d4),+,必要条件X(dGap)0,第四步 计算名义尺寸,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,怎样计算间隙的变异?一般应用比较多的公差分析模式是:极值法(Worst
9、Case),简称WC验证 100%性能简单并且最保守的手法用于零件数量少的情况用于产量不大的零件统计法(Root Sum of Squares),简称RSS统计手法,假设名义值在大批量加工零件的尺寸中心值用于较多的零件或尺寸堆叠用于产量达的零件RSS 方法是基于什么计算?请看后面的说明,第五步 公差分析方法的定义,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,1.确定组装要求,统计法(RSS)统计手法正态分布可以求和所有的变量.,第五步 方法的定义,统计手法,让我们用 WC 和 RSS来计算这些
10、变量,然后做个比较!,假设每个尺寸的 Ppk 指标是1.33并且制程是在中心.,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,Ttot=最大的预期间隙变量(对称公差).n=独立尺寸的堆叠数量.Ti=第i个尺寸对称公差.,极值法(WC)间隙变量是个体公差的总和.,第六步 计算变异,WC,Ttot=0.15+0.25+0.30+0.40=1.10 最小间隙 Xmin=dGap Ttot=1.00 1.10=0.10 最大间隙 Xmax=dGap+Ttot=1.00+1.10=2.10 增加 0.10 达到最小间隙的要
11、求(dGap 0).,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,统计法(RSS)间隙变量是个体公差的平方和再方根.,第六步 计算变异,RSS,最大间隙 Xmin=dGap Ttot=1.00 0.58=0.42 最小间隙 Xmax=dGap+Ttot=1.00+0.58=1.58 最小间隙的要求(dGap 0)完全达到,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,Ttot=最大的预期间隙变量
12、(对称公差).n=独立尺寸的堆叠数量.Ti=第i个尺寸对称公差.,第六步 计算变异,WC or RSS?,以上的计算结果WC:最小间隙 Xmin=0.10 mmRSS:最小间隙 Xmin=0.42 mm使用哪一个?,3.转换名义尺寸,将公差转成对称公差,2.建立封闭尺寸链图,1.确定组装要求,6.按要求计算变异,5.确定公差分析的方法,4.按要求计算名义尺寸,当每个堆叠尺寸的公差为 0.10时,通过WC和RSS方法计算组装公差,在WC 和 RSS方法之间百分比不同,WC 和 RSS 方法的假设,风险及+/-,So一些指导原则,什么时候当用 WC 和 RSS 方法,在堆叠中,如果少于4个尺寸的如
13、果对这个制造工艺了解不足够的在堆叠中,如果有4个或多于4个尺寸的只要有可能就尝试用它当对制造工艺非常了解(旧的类似零件),WC,RSS,Nokia 专案的公差分析这部分主要介绍在Nokia专案设计应用的公差分析表格,它可以给参与专案设计的设计者一些基本能力。,例 1 LCD 连接器的组装,PWB,LCD Spring Connector,LCD,UI Frame,Light Guide,LCD Foil,功能要求电子方面:PWB和LCD Foil 通过弹片连接器连接可靠。弹片可压缩最小极限(干涉量)是0.30 mm.在这个例子中,最大的压缩不是主要的考量因素。,1.确定组装要求,X-0.30
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