模拟电子技术基础 (2).ppt
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1、模拟电子技术基础,主讲:xxx,第一讲,绪 论,1.电子技术的现状与发展趋势,2.电子技术的应用范围,3.本课程与其它专业课的关系,4.电子技术基础学习特点,参考书:,模拟电子技术基础(第四版):清华大学童诗白、华成英主编,2.电子技术基础(模拟部分第四版):华中理工大学康华光主编,1.1 半导体的基本知识1.2 PN结1.3 半导体二极管,第一章 晶体二极管,1.1 半导体的基本知识,根据物体导电能力(电阻率)的不同,来划分导体、绝缘体和半导体。半导体的电阻率为10-3109 cm。典型的半导体有硅Si和锗Ge以及砷化镓GaAs等。,1.1.1 本征半导体及其导电性,本征半导体化学成分纯净的
2、半导体晶体。制造半导体器件的半导体材料的纯度要达到99.9999999%,常称为“九个9”。它在物理结构上呈单晶体形态。,(1)本征半导体的共价键结构,硅和锗是四价元素,在原子最外层轨道上的四个电子称为价电子。它们分别与周围的四个原子的价电子形成共价键。共价键中的价电子为这些原子所共有,并为它们所束缚,在空间形成排列有序的晶体。,这种结构的立体和平面示意图见图01.01。,(2)电子空穴对,当导体处于热力学温度0K时,导体中没有自由电子。当温度升高或受到光的照射时,价电子能量增高,有的价电子可以挣脱原子核的束缚,而参与导电,成为自由电子。,自由电子产生的同时,在其原来的共价键中就出现了一个空位
3、,原子的电中性被破坏,呈现出正电性,其正电量与电子的负电量相等,人们常称呈现正电性的这个空位为空穴。,这一现象称为本征激发,也称热激发。,可见因热激发而出现的自由电子和空穴是同时成对出现的,称为电子空穴对。游离的部分自由电子也可能回到空穴中去,称为复合,如图01.02所示。,本征激发和复合在一定温度下会达到动态平衡。,图01.02 本征激发和复合的过程(动画1-1),(3)空穴的移动,自由电子的定向运动形成了电子电流,空穴的定向运动也可形成空穴电流,它们的方向相反。只不过空穴的运动是靠相邻共价键中的价电子依次充填空穴来实现的,因此,空穴的导电能力不如自由电子(见图01.03的动画演示)。,(动
4、画1-2),图01.03 空穴在晶格中的移动,1.1.2 杂质半导体,(1)N型半导体(2)P型半导体,在本征半导体中掺入某些微量元素作为杂质,可使半导体的导电性发生显著变化。掺入的杂质主要是三价或五价元素。掺入杂质后的本征半导体称为杂质半导体。,(1)N型半导体,在本征半导体中掺入五价杂质元素,例如磷,可形成 N型半导体,也称电子型半导体。因五价杂质原子中只有四个价电子能与周围四个半导体原子中的价电子形成共价键,而多余的一个价电子因无共价键束缚而很容易形成自由电子。,在N型半导体中自由电子是多数载流子,它主要由杂质原子提供;空穴是少数载流子,由热激发形成。,提供自由电子的五价杂质原子因自由电
5、子脱离而带正电荷成为正离子,因此,五价杂质原子也被称为施主杂质。N型半导体的结构示意图如图01.04所示。,图01.04 N型半导体结构示意图,(2)P型半导体,本征半导体中掺入三价杂质元素,如硼、镓、铟等形成 P型半导体,也称为空穴型半导体。因三价杂质原子与硅原子形成共价键时,缺少一个价电子而在共价键中留下一个空穴。,P型半导体中空穴是多数载流子,主要由掺杂形成;电子是少数载流子,由热激发形成。,空穴很容易俘获电子,使杂质原子成为负离子。三价杂质 因而也称为受主杂质。P型半导体的结构示意图如图01.05所示。,图01.05 P型半导体的结构示意图,图01.05 P型半导体的结构示意图,1.1
6、.3 杂质对半导体导电性的影响,掺入杂 质对本征半导体的导电性有很大的影响,一些典型的数据如下:,以上三个浓度基本上依次相差106/cm3。,杂质半导体简化模型,1.2 PN结,1.2.1 PN结的形成,1.2.2 PN结的单向导电性,1.2.3 PN结的电容效应,PN结的形成,在一块本征半导体两侧通过扩散不同的杂质,分别形成 N 型半导体和 P 型半导体。此时将在N型半导体和 P 型半导体的结合面上形成如下物理过程:,因浓度差 多子的扩散运动由杂质离子形成空间电荷区,空间电荷区形成 内电场,内电场促使少子漂移,内电场阻止多子扩散,最后多子扩散和少子的漂移达到动态平衡。对于P型半导体和N型半导
7、体结合面,离子薄层形成的空间电荷区称为 P N 结,在空间电荷区,由于缺少多子,所以也称耗尽层。,图01.06 PN结的形成过程,(动画1-3),PN 结形成的过程可参阅图01.06。,PN结的单向导电性,如果外加电压使PN结中:P区的电位高于 N 区的电位,称为加正向电压,简称正偏;,PN结具有单向导电性,若外加电压使电流从 P 区流到 N 区,PN结呈低阻性,所以电流大;反之是高阻性,电流小。,P 区的电位低于 N 区的电位,称为加反向电压,简称反偏。,(1)PN结加正向电压时的导电情况,外加的正向电压有一部分降落在 PN 结区,方向与PN结内电场方向相反,削弱了内电场。内电场对多子扩散运
8、动的阻碍减弱,扩散电流加大。扩散电流远大于漂移电流,可忽略漂移电流的影响,PN 结呈现低阻性。,PN结加正向电压时的导电情况如图01.07,(动画1-4),图01.07 PN结加正向电压时的导电情况,(2)PN结加反向电压时的导电情况,外加的反向电压有一部分降落在PN结区,方向与PN结内电场方向相同,加强了内电场。内电场对多子扩散运动的阻碍增强,扩散电流大大减小。此时PN结区的少子在内电场的作用下形成的漂移电流大于扩散电流,可忽略扩散电流,由于漂移电流本身就很小,PN结呈现高阻性。,在一定温度条件下,由本征激发决定的少子浓度是一定的,故少子形成的漂移电流是恒定的,基本上与所加反向电压的大小无关
9、,这个电流也称为反向饱和电流。,PN结加反向电压时的导电情况如图01.08所示。,图 01.08 PN 结加反向电压时的导电情况,PN结外加正向电压时,呈现低电阻,具有较大的正向扩散电流;PN结加反向电压时,呈现高电阻,具有很小的反向漂移电流。由此可以得出结论:PN结具有单向导电性。,(动画1-5),图 01.08 PN结加反向电压时的导电情况,1.在杂质半导体中多子的数量与(a.掺杂浓度、b.温度)有关。,2.在杂质半导体中少子的数量与。(a.掺杂浓度、b.温度)有关。,3.当温度升高时,少子的数量。(a.减少、b.不变、c.增多),a,b,c,4.在外加电压的作用下,P 型半导体中的电流主
10、要是,N 型半导体中的电流主要是。(a.电子电流、b.空穴电流),b,a,思考题:,1.2.3 PN结的电容效应,PN结具有一定的电容效应,它由两方面的因素决定。一是势垒电容CB 二是扩散电容CD,(1)势垒电容CB,势垒电容是由空间电荷区离子薄层形成的。当外加电压使PN结上压降发生变化时,离子薄层的厚度也相应地随之改变,这相当PN结中存储的电荷量也随之变化,犹如电容的充放电。势垒电容的示意图见图01.09。,图 01.09 势垒电容示意图,扩散电容是由多子扩散后,在PN结的另一侧面积累而形成的。因 PN 结正偏时,由N区扩散到 P 区的电子,与外电源提供的空穴相复合,形成正向电流。刚扩散过来
11、的电子就堆积在 P 区内紧靠PN结的附近,形成一定的多子浓度梯度分布曲线。,(2)扩散电容CD,反之,由P区扩散到N区的空穴,在N区内也形成类似的浓度梯度分布曲线。扩散电容的示意图如图01.10所示。,图 01.10 扩散电容示意图,当外加正向电压不同时,扩散电流即外电路电流的大小也就不同。所以PN结两侧堆积的多子的浓度梯度分布也不相同,这就相当电容的充放电过程。势垒电容和扩散电容均是非线性电容。,半导体元件及其特性,1-1 半导体二极管,1-2 半导体三极管,1-1 半导体二极管,1PN结的形成 在半导体材料(硅、锗)中掺入不同杂质可以分别形成N型和P型两种半导体。N型半导体主要依靠自由电子
12、导电,称自由电子为多数载流子,而空穴数量远少于电子数量,称空穴为少数载流子。P型半导体主要靠空穴导电,称空穴为多数载流子,而自由电子远少于空穴的数量,称自由电子为少数载流子。,PN结的形成与特性,当P型半导体和N型半导体接触以后,由于交界两侧半导体类型不同,存在电子和空穴的浓度差。这样,P 区的空穴向N区扩散,N区的电子向P区扩散,如图 1.1.1(a)所示。由于扩散运动,在P 区和N区的接触面就产生正负离子层。N区失掉电子产生正离子,P区得到电子产生负离子。通常称这个正负离子层为PN结。在结的区一侧带负电,区一侧带正电。结便产生了内电场,内电场的方向从区指向区。内电场对扩散运动起到阻碍作用,
13、电子和空穴的扩散运动随着内电场的加强而逐步减弱,直至停止。在界面处形成稳定的空间电荷区。,2.PN结的特性 1)正向导通 给PN结加正向电压,即P区接正电源,N区接负电源,此时称PN结为正向偏置。这时PN结外加电场与内电场方向相反,当外电场大于内电场时,外加电场抵消内电场,使空间电荷区变窄,有利于多数载流子运动,形成正向电流。外加电场越强,正向电流越大,这意味着PN结的正向电阻变小。,正向导通,反向截止,2)反向截止 给PN结加反向电压,称PN结反向偏置,如图所示。这时外加电场与内电场方向相同,使内电场的作用增强,PN结变厚,多数载流子运动难于进行,有助于少数载流子运动,形成电流IR,少数载流
14、子很少,所以电流很小,接近于零,即PN结反向电阻很大。,综上所述,PN结具有单向导电性,加正向电压时,PN结电阻很小,电流IR较大,是多数载流子的扩散运动形成的;加反向电压时,PN结电阻很大,电流IR很小,是少数载流子运动形成的。,接在二极管P区的引出线称二极管的阳极,接在N区的引出线称二极管的阴极。二极管有许多类型。从工艺上分,有点接触型和面接触型;按用途分,有整流管、检波二极管、稳压二极管、光电二极管和开关二极管等。,二极管的结构和类型,1 二极管伏安特性 理论分析指出,半导体二极管电流I与端电压U之间的关系可表示为 I=IS(-1)此式称为理想二极管电流方程。式中,IS称为反向饱和电流,
15、UT称为温度的电压当量,常温下UT26 mV。实际的二极管伏安特性曲线如图所示。图中,实线对应硅材料二极管,虚线对应锗材料二极管。,二极管的特性及参数,1)正向特性 当二极管承受正向电压小于某一数值时,还不足以克服PN结内电场对多数载流子运动的阻挡作用,这一区段二极管正向电流IF很小,称为死区。死区电压的大小与二极管的材料有关,并受环境温度影响。通常,硅材料二极管的死区电压约为0.5 V,锗材料二极管的死区电压约为0.2V。当正向电压超过死区电压值时,外电场抵消了内电场,正向电流随外加电压的增加而明显增大,二极管正向电阻变得很小。当二极管完全导通后,正向压降基本维持不变,称为二极管正向导通压降
16、UF。一般硅管的UF为0.7V,锗管的UF为0.3V。,2)反向特性 当二极管承受反向电压时,外电场与内电场方向一致,只有少数载流子的漂移运动,形成的漏电流IR极小,一般硅管的IR为几微安以下,锗管IR较大,为几十到几百微安。这时二极管反向截止。当反向电压增大到某一数值时,反向电流将随反向电压的增加而急剧增大,这种现象称二极管反向击穿。击穿时对应的电压称为反向击穿电压。普通二极管发生反向击穿后,造成二极管的永久性损坏,失去单向导电性。,2 二极管的主要参数 二极管参数是反映二极管性能质量的指标。必须根据二极管的参数来合理选用二极管。二极管的主要参数有4项。1)最大整流电流IFM IFM是指二极
17、管长期工作时允许通过的最大正向平均电流值。工作时,管子通过的电流不应超过这个数值,否则将导致管子过热而损坏。,2)最高反向工作电压URM URM是指二极管不击穿所允许加的最高反向电压。超过此值二极管就有被反向击穿的危险。URM通常为反向击穿电压的1/22/3,以确保二极管安全工作。3)最大反向电流IRM IRM是指二极管在常温下承受最高反向工作电压URM时的反向漏电流,一般很小,但其受温度影响较大。当温度升高时,IRM显著增大。,4)最高工作频率fM fM是指保持二极管单向导通性能时,外加电压允许的最高频率。二极管工作频率与PN结的极间电容大小有关,容量越小,工作频率越高。,二极管是电子电路中
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