基本IC测试原理介绍.ppt
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1、List:Gray-Scale TestLCD Driver IC介绍Leakage testopen&short test,Gray Scale Test,Gray Scale Test,Gray Scale 测试目的以及原理Gary Scale 测试即灰阶测试,主要是在Input 输入数据Code 下使Output 输出不同色阶电压并判定各色阶电压是否在固定输出范围内的测试.灰阶测试可以保证屏幕上各像素点不会产生色差的状况,芯片Bit 数决定灰阶数6 Bit 芯片灰阶数量为 2*2*2*2*2*2=64阶,Gray Scale Test,灰阶数与Gamma Pin 间关系,Gray Sca
2、le Test,灰阶数与Gamma Pin 间关系,Gray Scale Test,数据Code输入 LCD driver 可视为将数据输入Code 通过Gamma Pin 编码输出对应电压的芯片,数据输入方式通过若干周期的数据输入对应至各Output Pin 脚位置 数据Code输入与Output的输出时序由EIO1,2以及CLK 决定,Gray Scale Test,测试Gray Scale Waveform波形 测试时由Input使Output输出同阶Code,采集各Output判断输出是否在规格内,Gray Scale Test,测试Gray Scale Waveform波形 每一阶会
3、采IC 所有Output的输出,绿色为测试数据,红色为H-Limit,黄色为L-Limit,Gray Scale Test,测试Gray Scale Waveform波形 各Output Pin输出电压状况也会细微的差异,所以为保证各像素点在同阶内不会有明显的色差,各Output Pin 的Devition也会做相关的测试,LCD Driver IC Introduction,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver 基本电路介绍,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver Function Intr
4、oduction,Gamma Pin 分正负极,主要是配合液晶分子翻转方向有关,IC 电源Pin 由电压源VDD和GND VSS 组成,由于IC各部分使用不同电路电源可能大于2根而是一组,Osel 决定芯片输出管脚数量为 384/360,R/L 决定输出的顺序,Single Pin 分正负极,主要Single Pin 使用的是差分信号输入,主要有RSDS,LVDS,Mini-LVDS,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver Function Introduction针对Source LCD Driver 我们可以直接把芯片看成将功能复杂D/A转
5、换器假设IC Work 在Osel=H,R/L=H的模式下,信号输入与输出入下图:,Source LCD Driver 对应至TFT-LCD 面板输出 Single Pin 直接设定各Dots 的透光率使屏幕产生刷新,每个Pixel由R,G,B三个Dot 组合而成,按此颗举例的LCD Driver IC,是工作在Output 384 模式下使用8ea Source Driver IC,而Output 360模式是For 宽屏使用,例如:14 宽屏1280*800 使用10ea Source Driver IC,LCD Driver IC Introduction,Gate LCD Driver
6、 基本电路介绍,LCD Driver IC Introduction,Gate LCD Driver Function IntroductionGate Driver 功能相对简单只是按时钟信号对各输出脚位做按顺序升压选通的功能,LCD Driver IC Introduction,Gate LCD Driver 对应至TFT-LCD 面板输出 Gate Driver 直接连接在纵向,Gate Driver Output 256Pin时,1024*768 屏幕使用的3ea Gate Driver,LCD Driver IC Introduction,Source&Gate Driver 配合T
7、FT-LCD 电路 Source Driver 负责Dot 色彩的选择,Gate Driver 选择刷新的哪一行,Driver IC 间时序的配合由LCD Control 输入时钟信号决定时序,此部分皆在IC 的Input Side 实现,LCD Driver IC Introduction,Leakage Test Method,Leakage Test Method,Leakage 定义:Leakage 通常指漏电流之现象,某种意义上与Short 的状况类似,也分单根Pin Leakage(对地或对电源Pin),也分Pin to Pin 的Leakage,只是Short 出现时基本上单Pi
8、n与Short 的部分不存在阻抗,但Leakage 指相连的两部分有一定阻抗的状况导致分流,Leakage 测试方法Input Pin Leakage:对电源Pin Leakage IIH,对地Pin Leakage IILInput Signal Pin Leakage:Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH,Pull-Down Pin 对地Pin Leakage IIH,GAMMA Leakage 测试是Pull Up/Down 两种测试方法的结合Output Pin Leakage:对电源Pin Leakage IOZH,对地Pin Leakage IOZL,Lea
9、kage Test Method,Input Pin Leakage Test(对电源Pin/对地/Pin to Pin),Leakage Test Method,Input Leakage 电路模拟(IIL)(对电源Pin/对地)IIL测试被测Pin 接地,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流)当被测Pin与电源Pin有阻抗且小于525K时电流小于-10uA,一般测试SPEC 为-10uA,Leakage Test Method,被测Pin无异常模拟电路,被测Pin与电源Pin出现阻抗模拟电路,Input Leakage 电路模拟(IIL)(Pin
10、 to Pin)被测Pin 接0V,其他 Input 接 5.25V=VDD,出现 Pin to Pin 的Leakage 时仍然会出现量测值-10uA的状况(阻抗小于525K状况),Leakage Test Method,Input Leakage 电路模拟(IIH)(对电源Pin/对地)IIL测试被测Pin 接 5.25V,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流)当被测Pin与地有阻抗且小于525K时电流小于-10uA,一般测试SPEC 为-10uA,Leakage Test Method,被测Pin无异常模拟电路,被测Pin与电源Pin出现阻抗模
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