常见模拟电路分析.ppt
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1、,半导体器件的基础知识,第一专题半导体器件的基础知识,7.1 半导体二极管,半导体基础知识,导 体:自然界中很容易导电的物质,例如金属。,绝缘体:电阻率很高的物质,几乎不导电,如橡皮、陶瓷、塑料和石英等。,半导体:导电特性处于导体和绝缘体之间的物质,例如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等,半导体的特点,当受外界热和光的作用时,它的导电能力明显变化。,往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使它的导电能力明显改变。,1.本征半导体,本征半导体的导电机理,纯净的半导体。如:硅和锗,最外层四个价电子,共价键结构,共价键共用电子对,+4表示除去价电子后的原子,共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为束缚
2、电子,常温下束缚电子很难脱离共价键成为自由电子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。,形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。,共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。,在热或光激发下,使一些价电子获得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为自由电子,同时共价键上留下一个空位,称为空穴。,空穴,束缚电子,自由电子,在其它力的作用下,空穴吸引临近的电子来填补,这样的结果相当于空穴的迁移,而空穴的迁移相当于正电荷的移动,因此可以认为空穴是带正电的载流子。,自由电子或空穴的运动形成电流,因热激发而出现的自由电子和空穴是同时成对出现的,称为电子空穴对。,本征
3、半导体的导电机理,本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即自由电子和空穴。,温度越高载流子的浓度越高本征半导体的导电能力越强。,本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。,归纳,2.杂质半导体,在本征半导体中掺入某些微量杂质,使杂质半导体某种载流子浓度大大增加。,1)N型半导体,多余电子,磷原子,在硅或锗晶体(四价)中掺入少量的五价元素磷,使自由电子浓度大大增加。,多数载流子(多子):电子。取决于掺杂浓度;,少数载流子(少子):空穴。取决于温度。,2)P型半导体,在硅或锗晶体(四价)中掺入少量的三价元素硼,使空穴浓度大大增加。,多数载流子(多子):空穴。取决于掺杂浓度;,少数载流子(少子):电子
4、。取决于温度。,空穴,硼原子,归纳,3、杂质半导体中起导电作用的主要是多子。,4、N型半导体中电子是多子,空穴是少子;P型半导体中空穴是多子,电子是少子。,1、杂质半导体中两种载流子浓度不同,分为多数载流子和少数载流子(简称多子、少子)。,2、杂质半导体中多数载流子的数量取决于掺杂浓度,少数载流子的数量取决于温度。,杂质半导体的导电机理,杂质半导体的示意表示法,空间电荷区,N区,P区,一、PN结的形成,在同一片半导体基片上,分别制造P型半导体和N型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了PN结。,7.1.1 PN结及其单向导电性,浓度差多子的扩散运动由杂质离子形成空间电荷区形成内电场
5、内电场阻止多子扩散,促使少子漂移多子的扩散和少子的漂移达到动态平衡,PN结正向偏置,P,N,+,_,二、PN结的单向导电性,导通,PN结反向偏置,N,P,+,_,截止,7.1.2 半导体二极管的基本结构,一、基本结构,PN结+管壳和引线,阳极,阴极,符号:,D,什么是半导体,2 载流子:半导体中,携带电荷参与导电的粒子。,自由电子:带负电荷空穴:带与自由电子等量的正电荷,均可运载电荷载流子,特性:在外电场作用下,载流子都可以做定向移动,形成电流。,1半导体:导电能力介于导体和绝缘体之间,且随着掺入杂质、输入电压(电流)、温度和光照条件的不同而发生很大变化,人们把这一类物质称为半导体。,1.1半
6、导体二极管,3N 型半导体:主要靠电子导电的半导体。,即:电子是多数载流子,空穴是少数载流子。,4P 型半导体:主要靠空穴导电的半导体。,PN 结,即:电子是多数载流子,空穴是少数载流子。,PN 结:经过特殊的工艺加工,将 P 型半导体和 N 型半导体紧密地结合在一起,则在两种半导体的交界面就会出现一个特殊的接触面,称为 PN 结。,PN 结具有单向导电特性。,1.1半导体二极管,(1)正向导通:电源正极接 P 型半导体,负极接 N 型半导体,电流大。,(2)反向截止:电源正极接 N 型半导体,负极接 P 型半导体,电流小。,结论:PN 结加正向电压时导通,加反向电压时截止,这种特性称为 PN
7、 结的单向导电性。,1.1半导体二极管,如果反向电流未超过允许值,反向电压撤除后,PN 结仍能恢复单向导电性。,反向击穿:PN 结两端外加的反向电压增加到一定值时,反向电流急剧增大,称为 PN 结的反向击穿。,热击穿:若反向电流增大并超过允许值,会使 PN 结烧坏,称为热击穿。,结电容:PN 结存在着电容,该电容为 PN 结的结电容。,1.1半导体二极管,半导体二极管,1半导体二极管的结构和符号,利用 PN 结的单向导电性,可以用来制造一种半导体器件 半导体二极管。,箭头表示正向导通电流的方向。,电路符号如图所示。,1.1半导体二极管,由于管芯结构不同,二极管又分为点接触型(如图 a)、面接触
8、型(如图 b)和平面型(如图 c)。,点接触型:PN 结接触面小,适宜在小电流状态下使用。,面接触型、平面型:PN 结接触面大,截流量大,适合于大电流场合中使用。,1.1半导体二极管,2二极管的特性,伏安特性:二极管的导电性能由加在二极管两端的电压和流过二极管的电流来决定,这两者之间的关系称为二极管的伏安特性。硅二极管的伏安特性曲线如图所示。,特性曲线,1.1半导体二极管,正向导通:当外加电压大于死区电压后,电流随电压增大而急剧增大,二极管导通。,死区:当正向电压较小时,正向电流极小,二极管呈现很大的电阻,如 OA 段,通常把这个范围称为死区。,死区电压:,导通电压:,结论:正偏时电阻小,具有
9、非线性。,(1)正向特性(二极管正极电压大于负极电压),1.1半导体二极管,反向击穿:若反向电压不断增大到一定数值时,反向电流就会突然增大,这种现象称为反向击穿。,反向饱和电流:当加反向电压时,二极管反向电流很小,而且在很大范围内不随反向电压的变化而变化,故称为反向饱和电流。,(2)反向特性(二极管负极电压大于正极电压),普通二极管不允许出现此种状态。,结论:反偏电阻大,存在电击穿现象。,二极管属于非线性器件,1.1半导体二极管,3半导体二极管的主要参数,(1)最大整流电流 IF:,二极管长时间工作时允许通过的最大直流电流。,二极管正常使用时允许加的最高反向电压。,使用时应注意流过二极管的正向
10、最大电流不能大于这个数值,否则可能损坏二极管。,(2)最高反向工作电压 VRM,使用中如果超过此值,二极管将有被击穿的危险。,1.1半导体二极管,半导体三极管的基本结构与分类,1结构及符号,三极:发射极 E、基极 B、集电极 C。,三区:发射区、基区、集电区。,1.2半导体三极管,PNP 型及 NPN 型三极管的内部结构及符号如图所示。,实际上发射极箭头方向就是发射结正向电流方向。,两结:发射结、集电结。,半导体三极管的结构和类型,三极管的构成是在一块半导体上用掺入不同杂质的方法制成两个紧挨着的PN结,并引出三个电极,如下图所示。三极管有三个区:发射区发射载流子的区域;基区载流子传输的区域;集
11、电区收集载流子的区域。各区引出的电极依次为发射极(极)、基极(极)和集电极(极)。发射区和基区在交界处形成发射结;基区和集电区在交界处形成集电结。根据半导体各区的类型不同,三极管可分为NPN型和PNP型两大类,如下图(a)、(b)所示。,三极管的组成与符号(a)NPN型;(b)PNP型,为使三极管具有电流放大作用,在制造过程中必须满足实现放大的内部结构条件,即:(1)发射区掺杂浓度远大于基区的掺杂浓度,以便于有足够的载流子供“发射”。(2)基区很薄,掺杂浓度很低,以减少载流子在基区的复合机会,这是三极管具有放大作用的关键所在。(3)集电区比发射区体积大且掺杂少,以利于收集载流子。由此可见,三极
12、管并非两个PN结的简单组合,不能用两个二极管来代替;在放大电路中也不可将发射极和集电极对调使用。,三极管的工作电压和基本连接方式,工作电压 三极管要实现放大作用必须满足的外部条件:发射结加正向电压,集电结加反向电压,即发射结正偏,集电结反偏。如下图所示,其中V为三极管,UCC为集电极电源电压,UBB为基极电源电压,两类管子外部电路所接电源极性正好相反,Rb为基极电阻,Rc为集电极电阻。若以发射极电压为参考电压,则三极管发射结正偏,集电结反偏这个外部条件也可用电压关系来表示:对于NPN型:UCUBUE;对于PNP型:UEUBUC。,三极管电源的接法(a)NPN型;(b)PNP型,基本连接方式,三
13、极管有三个电极,而在连成电路时必须由两个电极接输入回路,两个电极接输出回路,这样势必有一个电极作为输入和输出回路的公共端。根据公共端的不同,有三种基本连接方式。(1)共发射极接法(简称共射接法)。共射接法是以基极为输入端的一端,集电极为输出端的一端,发射极为公共端,如下图(a)所示。(2)共基极接法(简称共基接法)。共基接法是以发射极为输入端的一端,集电极为输出端的一端,基极为公共端,如下图(b)所示。(3)共集电极接法(简称共集接法)。共集接法是以基极为输入端的一端,发射极为输出端的一端,集电极为公共端,如下图(c)所示。图中“”表示公共端,又称接地端。无论采用哪种接法,都必须满足发射结正偏
14、,集电结反偏。,三极管电路的三种组态(a)共发射极接法;(b)共基极接法(c)共集电极接法,三极管的主要参数,1)电流放大倍数2)极间反向电流3)极限参数(1)集电极最大允许电流ICM(2)集电极最大允许功率损耗PCM。(3)反向击穿电压U(BR)CEO,U(BR)CBO,U(BR)EBO。,场效应管,场效应管(简称FET)是利用输入电压产生的电场效应来控制输出电流的,所以又称之为电压控制型器件。它工作时只有一种载流子(多数载流子)参与导电,故也叫单极型半导体三极管。因它具有很高的输入电阻,能满足高内阻信号源对放大电路的要求,所以是较理想的前置输入级器件。它还具有热稳定性好、功耗低、噪声低、制
15、造工艺简单、便于集成等优点,因而得到了广泛的应用。根据结构不同,场效应管可以分为结型场效应管(JFET)和绝缘栅型场效应管(IGFET)或称MOS型场效应管两大类。根据场效应管制造工艺和材料的不同,又可分为N型沟道场效应管和P型沟道场效应管。,结型场效应管结构和符号,结型场效应管(JFET)结构示意图如图(a)所示。,N沟道结型场效应管(a)结构示意图;(b)图形符号;(c)外形图,P 沟道结型场效应管(a)结构示意图;(b)图形符号,工作原理(以N沟道结型场效应管为例),场效应管工作时它的两个PN结始终要加反向电压。对于N沟道,各极间的外加电压变为UGS0,漏源之间加正向电压,即UDS0。当
16、G、S两极间电压UGS改变时,沟道两侧耗尽层的宽度也随着改变,由于沟道宽度的变化,导致沟道电阻值的改变,从而实现了利用电压UGS控制电流ID的目的。,场效应管的工作原理,UGS对导电沟道的影响(a)导电沟道最宽;(b)导电沟道变窄;(c)导电沟道夹断,绝缘栅型场效应管,在结型场效应管中,栅源间的输入电阻一般为10+610+9。由于PN结反偏时,总有一定的反向电流存,而且受温度的影响,因此,限制了结型场效应管输入电阻的进一步提高。而绝缘栅型场效应管的栅极与漏极、源极及沟道是绝缘的,输入电阻可高达10+9以上。由于这种场效应管是由金属(Metal),氧化物(Oxide)和半导体(Semicondu
17、ctor)组成的,故称MOS管。MOS管可分为N沟道和P沟道两种。按照工作方式不同可以分为增强型和耗尽型两类。,沟道增强型绝缘栅场效应管结构和符号,下图是N沟道增强型MOS管的示意图。MOS管以一块掺杂浓度较低的P型硅片做衬底,在衬底上通过扩散工艺形成两个高掺杂的N型区,并引出两个极作为源极S和漏极D;在P型硅表面制作一层很薄的二氧化硅(SiO2)绝缘层,在二氧化硅表面再喷上一层金属铝,引出栅极G。这种场效应管栅极、源极、漏极之间都是绝缘的,所以称之为绝缘栅场效应管。绝缘栅场效应管的图形符号如下图(b)、(c)所示,箭头方向表示沟道类型,箭头指向管内表示为N沟道MOS管(图(b),否则为P沟道
18、MOS管(图(c)。,MOS管的结构及其图形符号,下图是N沟道增强型MOS管的工作原理示意图,图(b)是相应的电路图。工作时栅源之间加正向电源电压UGS,漏源之间加正向电源电压UDS,并且源极与衬底连接,衬底是电路中最低的电位点。当UGS=0时,漏极与源极之间没有原始的导电沟道,漏极电流ID=0。这是因为当UGS=0时,漏极和衬底以及源极之间形成了两个反向串联的PN结,当UDS加正向电压时,漏极与衬底之间PN结反向偏置的缘故。,N沟道增强型MOS管工作原理(a)示意图;(b)电路图,当UGS0时,栅极与衬底之间产生了一个垂直于半导体表面、由栅极G指向衬底的电场。这个电场的作用是排斥P型衬底中的
19、空穴而吸引电子到表面层,当UGS增大到一定程度时,绝缘体和P型衬底的交界面附近积累了较多的电子,形成了N型薄层,称为N型反型层。反型层使漏极与源极之间成为一条由电子构成的导电沟道,当加上漏源电压UGS之后,就会有电流ID流过沟道。通常将刚刚出现漏极电流ID时所对应的栅源电压称为开启电压,用UGS(th)表示。,当UGSUGS(th)时,UGS增大、电场增强、沟道变宽、沟道电阻减小、ID增大;反之,UGS减小,沟道变窄,沟道电阻增大,ID减小。所以改变UGS的大小,就可以控制沟道电阻的大小,从而达到控制电流ID的大小,随着UGS的增强,导电性能也跟着增强,故称之为增强型。必须强调,这种管子当UG
20、SUGS(th)时,反型层(导电沟道)消失,ID=0。只有当UGSUGS(th)时,才能形成导电沟道,并有电流ID。,N沟道耗尽型MOS管 结构、符号和工作原理,N沟道耗尽型MOS管的结构如下图(a)所示,图形符号如下图(b)所示。N沟道耗尽型MOS管在制造时,在二氧化硅绝缘层中掺入了大量的正离子,这些正离子的存在,使得UGS=0时,就有垂直电场进入半导体,并吸引自由电子到半导体的表层而形成N型导电沟道。如果在栅源之间加负电压,UGS所产生的外电场就会削弱正离子所产生的电场,使得沟道变窄,电流ID减小;反之,电流ID增加。故这种管子的栅源电压UGS可以是正的,也可以是负的。改变UGS,就可以改
21、变沟道的宽窄,从而控制漏极电流ID。,N沟道耗尽型MOS管的结构和符号(a)结构;(b)图形符号,场效应管的主要参数及注意事项,主要参数,1)开启电压U GS(th)和夹断电压U GS(off)2)饱和漏极电流I DSS 3)低频跨导gm(又称低频互导)4)直流输入电阻RGS5)漏源击穿电压U(BR)DS6)栅源击穿电压U(BR)GS7)最大耗散功率PDM,注意事项,(1)在使用场效应管时,要注意漏源电压UDS、漏源电流ID、栅源电压UGS及耗散功率等值不能超过最大允许值。(2)场效应管从结构上看漏源两极是对称的,可以互相调用,但有些产品制作时已将衬底和源极在内部连在一起,这时漏源两极不能对换
22、用。(3)结型场效应管的栅源电压UGS不能加正向电压,因为它工作在反偏状态。通常各极在开路状态下保存。(4)绝缘栅型场效应管的栅源两极绝不允许悬空,因为栅源两极如果有感应电荷,就很难泄放,电荷积累会使电压升高,而使栅极绝缘层击穿,造成管子损坏。因此要在栅源间绝对保持直流通路,保存时务必用金属导线将三个电极短接起来。在焊接时,烙铁外壳必须接电源地端,并在烙铁断开电源后再焊接栅极,以避免交流感应将栅极击穿,并按S、D、G极的顺序焊好之后,再去掉各极的金属短接线。(5)注意各极电压的极性不能接错。,晶闸管,晶闸管又称可控硅,是一种大功率半导体可控元件。它主要用于整流、逆变、调压、开关四个方面,应用最
23、多的是晶闸管整流。它具有输出电压可调等特点。晶闸管的种类很多,有普通单向和双向晶闸管、可关断晶闸管、光控晶闸管等。,晶闸管的基本结构、性能及参数,晶闸管的基本结构,晶闸管的基本结构是由P1N1P2N2三个PN结四层半导体构成的,如下图所示。其中P1层引出电极A为阳极;N2层引出电极K为阴极;P2层引出电极G为控制极,其外型及符号如下图所示。,晶闸管结构,晶闸管的外型及符号,晶闸管的工作原理,把晶闸管的内部结构看成由PNP和NPN型两个晶体管连接而成,如下图所示。当在A、K两极间加上正向电压UAK时,由于J2反偏,故晶闸管不导通,在控制极上加一正向控制电压UGK后,产生控制电流IG,它流入V2管
24、的基极,并经过V2管电流放大得IC2=2IG;又因为IC2=IB1;所以IC1=12IG,IC1又流入V2管的基极再经放大形成正反馈,使V1和V2管迅速饱和导通。饱和压降约为1V左右,使阳极有一个很大的电流IA,电源电压UAK几乎全部加在负载电阻RL上。这就是晶闸管导通的原理。当晶闸管导通后,若去掉UGK,晶闸管仍维持导通。,晶闸管内部结构,要使晶闸管重新关断,只有使阳极电流小于某一值,使V1、V2管截止,这个电流称维持电流。当可控硅阳极和阴极之间加反向电压时,无论是否加UGK,晶闸管都不会导通。综上所述,晶闸管是一个可控制的单向开关元件,它的导通条件为:阳极到阴极之间加上阳极比阴极高的正偏电
25、压;晶闸管控制极要加门极比阴极电位高的触发电压。而关断条件为晶闸管阳极接电源负极,阴极接电源正极,或使晶闸管中电流减小到维持电流以下。晶闸管整个工作情况如下图所示。,单相半控桥式整流电路,晶闸管组成的半波电路,(1)按半导体基片材料不同:NPN 型和 PNP 型。,(2)按功率分:小功率管和大功率管。,(3)按工作频率分:低频管和高频管。,(4)按管芯所用半导体材料分:锗管和硅管。,(5)按结构工艺分:合金管和平面管。,(6)按用途分:放大管和开关管。,2分类,1.2半导体三极管,三极管常采用金属、玻璃或塑料封装。常用的外形及封装形式如图所示。,3外形及封装形式,1.2半导体三极管,1三极管各
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