集成电路测试概述.ppt
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1、集成电路测试概述,任课教师:屈艾文,集成电路测试的定义,集成电路测试是对集成电路或模块进行检测,通过测量对于集成电路的输出响应和预期输出比较,以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程,是验证设计、监控生产、保证质量、分析实效以及指导应用的重要手段。,集成电路测试的基本原理集成电路故障与测试集成电路测试过程集成电路测试分类集成电路测试的意义与作用半导体技术的发展对测试的影响,集成电路测试的基本模型,测试系统的基本任务:将测试输入应用于被测器件,并分析其输出的正确性。测试过程:测试系统生成输入定时波形信号施加到被测器件的原始输入管脚,然后从被测器件的原始输出管脚采样输出响应,最后经过分析处理得到
2、测试结果。,集成电路测试的基本原理集成电路故障与测试集成电路测试过程集成电路测试分类集成电路测试的意义与作用半导体技术的发展对测试的影响,集成电路的不正常状态,缺陷(defect)故障(fault)失效(failure),集成电路的不正常状态,缺陷(defect)故障(fault)失效(failure),VLSI芯片的一些典型缺陷有:工艺缺陷缺少接触窗口、寄生晶体管、氧化层崩溃等。材料缺陷大面积缺陷(裂纹、晶体不完整)、表面杂质等。寿命缺陷电介质崩溃、电迁移等。封装缺陷触点退化、密封泄露等。,集成电路的不正常状态,缺陷(defect)故障(fault)失效(failure),集成电路的缺陷导致
3、它的功能发生变化,集成电路的不正常状态,缺陷(defect)故障(fault)失效(failure),集成电路丧失了实施其特定规范要求的功能,故障和缺陷区别,缺陷会引发故障,故障是表象,相对稳定,并易于测试;缺陷相对隐蔽和微观,缺陷的查找与定位较难,集成电路使用者一般不直接研究缺陷,仅研究故障。集成电路的开发和生产者肯定不能满足只研究故障,还需要找到具体的缺陷(设计、物理或化学等),予以改进,排除故障。,故障的分类,根据故障性质,逻辑故障非逻辑故障,根据故障性质,逻辑故障非逻辑故障,元件输出短路、输入端开路、元件损坏以及竞态故障,根据故障性质,逻辑故障非逻辑故障,同步时序电路中的时钟故障和电源
4、的失效,根据故障的时间间隔,永久性故障间歇性故障,故障产生的错误逻辑值,固定值故障可变值故障,根据模拟系统的故障概念,硬故障:永久性的损坏故障 软故障:器件参数的变化。,故障检测的基本任务:根据输入激励量和输出响应量来判断集成电路状态的故障情况。,故障检测和故障诊断的首要问题,测试图形的生成测试生成过程要能迅速准确地得到测试码,并且能判断测试码的有效性,还要保证测试码尽量简单,必须讨论测试码与测试图形的各种生成方法和集成电路的各类故障模型。,集成电路测试的基本原理集成电路故障与测试集成电路测试过程集成电路测试分类集成电路测试的意义与作用半导体技术的发展对测试的影响,集成电路测试的过程,测试设备
5、测试接口测试程序数据分析,集成电路测试的过程,测试设备测试接口测试程序数据分析,考虑被测器件的技术指标和规范,费用(美分/美秒、可靠性、服务能力、软件编程难易程度等,集成电路测试的过程,测试设备测试接口测试程序数据分析,合理地选择测试插座(Socket)和设计制作测试负载板(Loadboard),集成电路测试的过程,测试设备测试接口测试程序数据分析,测试程序软件包含着控制测试设备的指令序列,如上电、向输入引脚施加时钟和向量、检测输出引脚、将输出信号与预先存储好的预期响应进行比较等,集成电路测试的过程,测试设备测试接口测试程序数据分析,测试程序的编制要考虑因素:器件的类型物理特性工艺功能、参数环
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