电容屏产品IC测试方案使用介绍.ppt

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1、各种IC测试方案使用介绍,各种IC测试方案使用介绍,目的：提升PE及DQE等人员对Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案产品异常处理能力及异常处理效率。,内容介绍：Synaptics&Focaltech&Cypress&Goodix方案使用过程中测试出现的异常问题点，注意事项及常见测试异常解析。,Synaptics 方案产品使用介绍,Synaptics 方案产品使用介绍,Synaptics 方案测试软件安装环境说明Synaptics 方案测试pin脚定义Synaptics 方案测试软件的使用，界面及测试项目介绍四.Synaptics 方案测试异常分析处理,目录

2、：,一.Synaptics 方案测试软件安装环境说明,测试软件安装时对电脑有一定的要求：1.软件安装时尽量安装在非C盘中，避免部分电脑识别文件路径出问题或者容易感染病毒，导致不能使用；2.针对新思方案，测试用的电脑最好具有NET版本为“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Synaptics 方案产品使用介绍,二.Synaptics 方案测试pin角定义,新思产品pin角定义与转接板连接时按照上图进行,Synaptics 方案产品使用介绍,14Pin 15Pin 16Pin,三.Synaptics 方案测试软件的界面

3、，使用及测试项目介绍,3-1.测试软件界面介绍；,Synaptics 方案产品使用介绍,1）打开测试文件；2）连接或者断开测试板；3）断开连接时查看IC等信息；4）刷新作用；5）测试按钮；6）其他功能。,3-2.测试软件使用；,Synaptics 方案产品使用介绍,1）点击 打开测试文件；2）点击 测试按钮开始测试；,26：FW信息确认；27：客户端内部区分机型及区分TP生产厂家测试项目；30：测试工具版本及IC 型号信息；23：中断脚测试；3：屏体容值测试；7：Rx与Rx短路测试；10：Tx与GND短路测试；5：Tx与Tx短路测试；12：整屏电容均匀性测试（一致性测试）；29：复位脚测试；3

4、5:1.8V电源脚测试（IOVDD）,Synaptics 方案产品使用介绍,3-3.测试项目介绍；,四.Synaptics 方案测试异常分析处理,Synaptics 方案产品使用介绍,4-1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试项目对应的后面记录详细结果的按钮进行定位异常通道，如下红色框中所示；,4-2.其他异常处理,4-2-1.测试板连接后，如下信息栏显示“Not found”-说 明测试工具没有连接在电脑上,4-2-2.测试界面下方显示如下图所示的信息时说明：1)产品没有连接上或者连接错误；2)产品与测试板之间连接线异常。,Synaptics 方案产品使用介绍,4-2-3.如果

5、出现attention测试项目失败的话，可能原因INT脚开路；如果出现Reset测试项目失败的话，可能原因复位脚开路。,Focaltech 方案产品使用介绍,Focaltech 方案产品使用介绍,Focaltech方案连接方式Focaltech方案测试界面介绍Focaltech方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义 四.Focaltech方案测试软件产品异常分析,目录：,Focaltech 方案产品使用介绍,敦泰方案接线方法与新思接线相同按照图纸管脚和测试Connect管脚一一对应即可，示意图如下：,一.Focaltech方案连接方式,Focaltech 方案产品使用介绍,二.Focal

6、tech方案测试界面介绍,1,5,3,4,2,6,1.设置于加载配置文件，并选择测试模式；2.显示配置文件名和FW文件名；3.执行测试；4.显示测试进度及测试结果；5.显示每一测试项的测试状态；6.查看测试详细信息。,Focaltech 方案产品使用介绍,三.Focaltech方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义,1.Rawdata：代表电容原始值，一般设定值在12500到16500之间，我们默认的调试范围维持在15000左右。2.differ：代表电容的变化量，此值的范围视屏体而定。3.Ci：代表电容补偿，即为了让整屏的Rawdata维持在均匀的数据，而需要电容补偿来实现，一般理论设

7、定的范围为5到250之间。4.Delta Ci：代表Ci的差值，Delta 代表偏差。5.CB值与上面的Ci值意思相同，都代表电容补偿，Delta CB上面的Delta Ci意思相同，代表CB的差值。,FT6X36系利,Focaltech 方案产品使用介绍,四.Focaltech方案测试软件产品异常分析,1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试显示结果的按钮进行定位异常通道，如第15页中“6”所示,1,步骤：点击上面步骤1中的“message”-选择TestResult#1查看详细数据-图3所示。,2,3,Focaltech 方案产品使用介绍,四.Focaltech方案测试软件产品

8、异常分析,4-1.测试时当出现某个测试项目出现数据异常时，点击测试显示结果的按钮进行定位异常通道，如第15页中“6”所示:,1,步骤：点击上面步骤1中的“message”-选择TestResult#1查看详细数据-图3所示。,2,3,Focaltech 方案产品使用介绍,4-2.其他异常处理,4-2-1.没有连接主板或者主板电源未打开,4-2-2.没有连接FPC或者FPC没有被正确读取,Cypress方案产品使用介绍,Cypress 方案产品使用介绍,Cypress 方案测试软件安装环境说明二.Cypress方案测试pin脚定义三.Cypress 方案测试软件的使用，界面及测试项目介绍四.Cy

9、press方案常见测试异常解析,目录：,一.Cypress 方案测试软件安装环境说明,测试软件安装要求：1.软件安装时安装文件保存路径(C盘)方式一般采用默认即可；2.针对赛普拉斯方案，测试用的电脑系统版本为“NET Framework 3.5”或者3.5以上版本，例如：“dotNetFx40_Full_x86_x64”。,Cypress 方案产品使用介绍,二.Cypress方案测试pin脚定义及接线如下,Cypress 方案产品使用介绍,测试主板与PIN脚定义要一一对应,三.Cypress方案测试软件的界面，使用及测试项目介绍,3-1.进入工程模式后软件测试平台介绍,Cypress 方案产品

10、使用介绍,1）打开文件/保存文件；2）从TTHE导入；3）执行 跳过编程；4）执行测试操作；5）停止测试操作；6）连续测试。,3-2.进入工程模式后软件测试项目介绍,Cypress 方案产品使用介绍,1.TP测试时IC芯片电压范围控制；2.TP测试时IC芯片电流范围控制；3.VDDA线状态测试；4.复位引脚测试；5.触摸屏ID，固件版本以及CFG_VER控制；6.TP短路测试；7.互电容以及自电容原始数据测试。,3-3.测试软件使用,Cypress 方案产品使用介绍,1）点击 打开测试文件；2）点击 测试按钮开始测试；,Cypress方案产品使用介绍,四.Cypress方案常见测试异常解析,4

11、-1.测试时当显示“设备通讯故障”，不良原因为测试主板与TP未连接上或者TP connect异常，测试如下所示：,Cypress方案产品使用介绍,4-2.测试时当显示CONFIG_VER TEST失效，不良原因为Firmware版本为旧固件，测试使用的是新的Firmware固件，解决的办法为将产品升级至新Firmware即可，失效测试如下所示：,Cypress方案产品使用介绍,4-3.测试时当显示CM（互电容原始值）或者CP(自电容原始值)失效，可以通过打开产品测试时保存的数据（文件格式为.csv）来分析异常的通道位置，操作步骤如下：,Goodix方案产品使用介绍,Goodix 方案产品使用介

12、绍,Goodix方案连接方式Goodix方案测试界面介绍Goodix 方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义Goodix方案常见测试异常解析,目录：,Goodix方案产品使用介绍,汇顶方案接线方法与敦泰接线相同按照图纸管脚和测试Connect管脚一一对应即可，示意图如下：,一.Goodix方案连接方式,Goodix 方案产品使用介绍,二.Goodix方案测试界面介绍,1.文件选项用于导入测试配置文件，工具里面的系统选项用于选择测试的IC芯片型号；2.连接TP后，点击刷新显示测试产品IC的芯片型号及FW版本号；3.手动测试控制及数据保存；4.显示测试进度及测试结果；5.手动画线描点以及按键

13、测试。,Goodix 方案产品使用介绍,三.Goodix 方案测试软件测试项目介绍及各个项目代表的含义,1.TP整屏原始值最大和最小值测试控制；2.TP单个节点和周围相邻节点之间的数据偏差测试控制；3.复位引脚测试；4.按键原始值最大和最小值测试控制；5.Sensor ID和TP短路测试；6.TP固件版本号检测；7.通道间以及通道与地之间的短路阻抗测试。,Goodix方案产品使用介绍,四.Goodix方案常见测试异常解析,4-1.测试时显示CFG检查出错或IIC检查出错，不良原因可能为测试主板与TP连接异常或者TP connect异常，测试如下所示：,Goodix方案产品使用介绍,4-2.测试时显示测试失败（对应下面最大或者最小值以及相邻偏差异常），按照下面1,2,3步骤检查异常的通道分析，测试如下所示：,Goodix方案产品使用介绍,4-3.测试显示结果为电流偏大（Current电流数据为红色）时，初步分析用数字万用表检测FPC元器件是否有损坏，以及IC是否有虚焊或者烧坏等；4-4.测试显示结果为通道间短路以及通道与GND短路，初步分析可以根据各类情况用数字万用表测量通道间阻抗，FPC本身通道间以及通道和GND之间的阻抗值。,各种IC测试方案使用介绍,Thanks!,