测试系统的抗干扰.ppt
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1、第9章 测试系统的抗干扰技术,第9章,测试系统的抗干扰技术,第9章 测试系统的抗干扰技术,学习目标,学习重点,本章主要学习电磁干扰及其抑制的有关内容。学完本章后,应了解电子测试系统干扰的类型、主要来源及耦合方式,在此基础上对抑制干扰的屏蔽技术、接地技术、浮置技术等措施要有一定的掌握。,1.电磁干扰的耦合方式。2.抑制电磁干扰的主要技术措施。,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.1 干扰的类型及来源,干扰和噪声:由某些内部或外部因素产生的叠加在有用信号之上的无用成分(电压或电流)。,按干扰的来源分,干扰的分类:,按干扰进入测试系统的方式分,外部干扰 内部干扰,差模干扰 共模干扰,第9章 测试系统的
2、抗干扰技术,9.1.1 外部干扰和内部干扰,1.外部干扰,自然干扰,2.内部干扰,测量电路内部各种元器件的噪声所引起的干扰。,各种自然现象如闪电、温度等变化产生的干扰。,人为干扰,主要指各种电气设备运行时所产生的电磁干扰。,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.1.2 差模干扰和共模干扰,1.差模干扰,差模干扰等效电路,第9章 测试系统的抗干扰技术,差模干扰作用示意图,第9章 测试系统的抗干扰技术,2.共模干扰,共模干扰等效电路,对称,不对称,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.2 干扰的耦合方式,干扰三要素:干扰源、干扰耦合通道、被干扰对象。,9.2.1 静电耦合(电容性耦合),若,则,第9章 测
3、试系统的抗干扰技术,9.2.2 磁场耦合(互感性耦合),第9章 测试系统的抗干扰技术,9.2.3 漏电流耦合,因电路内部元件之间绝缘不理想而使相互之间存在漏电阻而产生漏电流。,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.2.4 共阻抗耦合,共阻抗耦合干扰的产生是因为两个或两个以上的电路中存在共同的阻抗。当一个电路的电流在共阻抗产生电压降时,该电压降就会叠加在其它电路上,成为它们的干扰电压,干扰电压的大小与干扰源的电流大小和共阻抗的大小成正比。,通过电源内阻的共阻抗耦合干扰,通过公共地线的共阻抗耦合干扰,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.3 干扰抑制技术,抑制干扰的技术途径:,消除或抑制干扰源,阻断干扰传
4、输通道,提高被干扰对象的抗干扰能力,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.3.1 屏蔽技术,1.静电屏蔽,静电屏蔽可以有效地抑制各种电场干扰。,第9章 测试系统的抗干扰技术,2.电磁屏蔽,利用涡电流产生的反磁场抑制高频电磁场的干扰。,第9章 测试系统的抗干扰技术,3.磁屏蔽,采用高磁导率材料做屏蔽罩可有效抑制低频磁干扰。,第9章 测试系统的抗干扰技术,4.驱动屏蔽,通过等电位驱动抑制因分布电容引起的静电耦合干扰。,第9章 测试系统的抗干扰技术,9.3.2 接地技术,1.一点接地原则,系统的信号地线、交流电源地线和安全保护地线应连在一起,并通过一公共点接地,否则会因接地点之间的电位差而产生共模干扰。
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