光纤通信课件第八章.ppt
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1、1,第8章光纤通信实训,2,本章内容和重点,本章内容 2M塞绳的制作及光纤通信系统的认识。光纤损耗及光纤长度的测量。光端机电性能及光性能参数的测试。光纤通信系统误码和抖动性能的测试。光纤通信系统的维护和故障处理。本章重点 OTDR的使用与光纤损耗及光纤长度的测量。数字传输分析仪的使用。光端机光性能参数的测试。光纤通信系统误码和抖动性能的测试。光纤通信系统的维护和故障处理。,第6章 SDH技术,3,学习本章目的和要求,熟练进行2M塞绳制作。熟悉光纤通信系统。熟练使用OTDR测量光纤损耗及光纤长度。熟练使用数字传输分析仪、光功率计和光衰耗器等常用仪表。熟练使用仪表测量光端机电性能及光性能参数。熟练
2、使用仪表进行光纤通信系统误码和抖动性能的测试。掌握光纤通信系统电路调度的原则和方法。掌握光纤通信系统故障处理的基本方法。,第6章 SDH技术,4,8.1 2M塞绳的制作,介绍光纤通信系统中常用的2M塞绳的制作方法、过程及技术要求。8.1.1 学习目的(1)掌握2M塞绳的制作方法及过程;(2)掌握2M塞绳制作的技术要求。8.1.2 工具与器材准备 同轴线、120/75欧姆同轴头、专用压接钳、尖头烙铁和万用表。,5,8.1.3 具体操作步骤,(1)选择与同轴头相匹配的同轴线。(2)拧开同轴头配件,将套管套到同轴线上。(3)开剥同轴线:依据同轴头的长度和要求,剥除同轴线的外层,其开剥长度与同轴头的连
3、接长度相一致,如图8-1所示。注意尽量使屏蔽层保持完好。,图8-1 同轴线的开剥长度,6,8.1.3 具体操作步骤,(4)剥除同轴线内芯的绝缘层,露出内芯,其长度与同轴头的连接长度一致,如图8-2所示。,图8-2 同轴线绝缘层的开剥长度,7,8.1.3 具体操作步骤,(5)将同轴线的内芯插入同轴头的内芯中,要求插到同轴头内芯的底部。(6)用烙铁将同轴线的内芯和同轴头内芯的连接处焊牢,要求焊点光滑,有光泽,如图8-3所示。,图8-3 焊接,8,8.1.3 具体操作步骤,(7)装配屏蔽层:使屏蔽层均匀地分布在同轴头末端的四周,套上套管,用专用压接钳压紧套管,使同轴头的末端与屏蔽层接触牢靠,如图8-
4、4所示。(8)用相同的方法做好同轴线的另一端同轴头。(9)用万用表测量电气是否连通,同时检查屏蔽层和内芯是否出现短路现象。(10)将同轴头剩余的部件装好,2M塞绳制作完毕。,图8-4 屏蔽层安装,9,8.2 用背向散射法测量光纤的衰减和长度,光时域反射仪OTDR(Optical Time Domain Reflectometer),是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射所产生的背向散射而制成的精密的光电一体化仪表。OTDR用于光缆线路的施工、维护之中,可以进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。8.2.1 学习目的(1)掌握用背向散射法测量光纤衰减和光纤长度的原理;(2)掌握光时
5、域反射仪的工作原理和使用方法;(3)掌握用背向散射法测量光纤衰减和光纤长度的方法和操作步骤。,10,8.2.2 OTDR的原理与使用,1OTDR工作原理 瑞利散射:当光线在光纤中传播时,由于光纤中存在着分子级大小的结构上的不均匀,光线的一部分能量会改变其原有传播方向向四周散射,这种现象被称为瑞利散射。其强度与波长的4次方(4)成反比,其中又有一部分散射光线和原来的传播方向相反,被称为背向散射,如图8-5所示。,图8-5 瑞利散射和背向反射,11,8.2.2 OTDR的原理与使用,菲涅尔反射:当光线由一种媒质进入另一种媒质时,会产生的一种反射。其反射强度与两种媒质的相对折射率的平方成正比。如图8
6、-6所示,一束能量为P0的光,由媒质1(折射率为nl)进入媒质2(折射率为n2)产生的反射信号为P1,则(8-1),图8-6 菲涅尔反射,12,8.2.2 OTDR的原理与使用,OTDR利用光纤的上述特性进行工作,原理框图如图8-7。,图8-7 OTDR原理框图,13,8.2.2 OTDR的原理与使用,当光纤的一端注入一个功率为P0的窄脉冲在光纤传输时,距输入端距离为L的A点经背向散射回到输入端的光功率为(8-2)其中,S:光纤背向散射系数;:光纤传输衰减常数。光信号由注入端进入光纤到达A点经背向散射回到注入端的时间t和L之间的关系为(8-3)其中,c:光在真空中的传播速度(3105km/s)
7、。n l:光纤纤芯折射率。t:一束光由注入端起到回到该点的时间。,14,8.2.2 OTDR的原理与使用,可见,只要测出光信号返回时间及其对应的光功率就可算出光纤的长度,并由式(8-4)进行光纤衰减计算。在图8-7中,光纤中B点经散射返回到始端的光功率为(8-4)则AB间光纤的衰减为(8-5)根据上述原理,由光纤一端注入一个很窄的光脉冲,以在该端接收背向散射信号,并对数处理后,所得结果作为纵坐标,以信号回到该点的时间先后为横坐标(实际仪表显示采取长度L=ct/2n),显示该光纤的背向散射曲线,如图8-8所示。,15,8.2.2 OTDR的原理与使用,图8-8 OTDR的典型背向散射特性曲线,1
8、6,8.2.2 OTDR的原理与使用,OA段:为盲区,其长度和注入光脉冲宽度成正比。AB、BC、CD段:均匀光纤。B点:光纤的熔接接头产生的下降台阶。C点:光纤的活动连接器接头产生的菲涅尔反射的下降台阶或由光纤裂缝产生的局部菲涅尔反射。D点:光纤末端由于光纤与空气之间的折射率差而产生的菲涅尔反射。在曲线中只要读出两点的电平差就是该点间的光纤衰减;水平两点间的差即为该两点间的距离;下降台阶的高度即表征了光纤的接头衰减。上述结果仪表均可直接读出,并可得到光纤的衰减常数,根据光在光纤中传输的速度与时间的关系,可测出光纤长度。,17,8.2.2 OTDR的原理与使用,2OTDR的主要参数(1)动态范围
9、 当被测光纤过长时,测试曲线就会出现如图8-9所示的情况。仪表实际可以测量的光纤最大长度为(8-6)式中:D称为OTDR的动态范围,即:初始背向散射电平与噪声电平的差值(dB)定义为动态范围,为光纤的衰减常数。由分析可知:对衰减一定的光纤,仪表的动态范围越大,可测量光纤长度越长,反之越短;对同一动态范围的仪表,光纤衰减越小,可测长度越长,反之越短。OTDR的动态范围并不是越大越好。,18,8.2.2 OTDR的原理与使用,图8-9 OTDR动态范围示意图,19,8.2.2 OTDR的原理与使用,(2)盲区 盲区是指:由于光纤和仪表耦合时存在空隙,由此产生的菲涅尔反射远大于背向散射,致使放大器饱
10、和,而掩盖了背向散射信号,致使仪表无法测量那段光纤长度,如图8-10所示。,图8-10 OTDR盲区定义示意图,注:实际工程测量时,常加入一段“过渡光纤”来减小盲区对测量结果的影响。,20,8.2.2 OTDR的原理与使用,(3)测量精度 是指因仪表方面的因素对长度测量结果的影响,有:第一是仪表折射率的设置。由于OTDR是依据测量时间,利用公式L=ct/2n来计算光纤长度的。为保证测量结果的准确性,每次测量之前必须根据光纤实际折射率值对仪表参数进行设置,但因它们之间总存在误差,导致测量结果产生误差。第二是仪表内部作为时钟的晶振频率的准确性和稳定度。因所测得时间的准确度受时钟影响,所以时钟影响会
11、给长度测量带来一定的误差。第三是仪表在进行数据处理时采样的间隔。取样点越多,取样间隔越小,实际曲线和显示曲线就越接近,误差就越小。,21,8.2.2 OTDR的原理与使用,3OTDR的使用方法(以HP8147为例加以说明)(1)HP8147面板及功能键说明 硬功能键 硬功能键由缩放键、改动旋钮、打印键、存储键轨迹/事件键、开始/停止键和自动测试键组成,其前面板示意图如图8-11。缩放键:用于改变垂直和水平方向上显示的幅度。游标键:使游标在ABCABA间滚动激活。全景键:显示整条曲线。局部键(又叫游标区域):激活以游标为中心的区域,对曲线进行放大。如果游标AB被激活时,显示区域为AB之间的区域。
12、,22,8.2.2 OTDR的原理与使用,图8-11 HP8147前面板示意图,23,8.2.2 OTDR的原理与使用,改动旋钮:与缩放键配合使用时可以改变游标的位置。自动键:可使仪表进入自动模式,连按两次可使OTDR的优化模式为标准模式。存储键:将OTDR测试的曲线存储到指定的磁盘(软盘或硬盘)中。轨迹/事件键:可改变主显示区的显示内容为轨迹或事件表。开始/停止键:用于OTDR的测试开始与停止。,24,8.2.2 OTDR的原理与使用,软功能键 软功能键包括测量软功能键(F1F6)和菜单软功能键两部分。菜单软功能键有3层显示方式,习惯上经常用1/3、2/3、3/3菜单表示。1/3:由设置、分
13、析、文件、查看和配置组成。2/3:由开始位置、区间、脉宽、波长和平均时间组成。3/3:由概览、最优化、折射率(IOR)、垂直偏移和文件名(或空白)组成。对应相应的软功能键,可激活一系列相对应的菜单。每组功能键由5组菜单组成,每个菜单又有多项选择,某些选项上还需进一步选择。这些选项都以实心的右箭头来标识。,25,8.2.2 OTDR的原理与使用,(2)HP8147参数设定 根据被测光纤的长度、传输波长和折射率来设定OTDR的测试参数。需要设置的参数主要有测量参数、光纤参数、前面板连接和事件门限4类。测量参数 测量参数包括起始位置、测试区间、脉冲模式、优化模式、测量模式和平均时间参数。起始位置:设
14、定测量的起始位置。测试区间:设定测量的距离。脉冲宽度:设定测量所用脉冲宽度,如不知具体脉冲宽度,可以用自动测试方法获得相应的测量结果。HP8147的脉冲宽度有10ns、30ns、100ns、300ns、1s、3s和10s等。,26,8.2.2 OTDR的原理与使用,波长:设定测量时所用波长,这与OTDR所配模块有关。HP8147的测试波长有两挡,即1 310nm和1 550nm。工作模式:主要指仪表是以自动或手动方式工作。最优化:根据测试需求选择不同的优化模式。HP8147允许用户根据需要选择4种优化模式,即标准模式、分辨率优化模式、动态范围优化模式和线性优化模式。标准模式是仪表自动选择模式;
15、当希望可测距离尽可能长时应选择动态范围优化模式;当用户对一段短距离光纤进行测量时,测试结果中的分辨率十分重要,此时可采用分辨率优化模式;当希望对光纤上某点进行相对测量时应选择线性优化模式。,27,8.2.2 OTDR的原理与使用,测量模式设定:根据测试要求选择测试模式分为平均、刷新、回损和连续(又叫CW)方式。平均时间设定:平均时间一般为30秒3分种,推荐在1分钟左右为好。光纤参数:包括折射率和散射系数。折射率设定:可选择整体和部分折射率设定。,28,8.2.2 OTDR的原理与使用,参数的设置方法 参数设置有两种方式:一种用2/3和3/3中的相关单项设置;另一种方式为选择3/3中的概览项,统
16、一对光纤的测试参数、光纤参数、前面板连接器和事件门限进行设置。以统一设置方式为例说明。统一设置参数概览显示如图8-12所示。,29,8.2.2 OTDR的原理与使用,图8-12 统一设置参数概览示意图,30,8.2.2 OTDR的原理与使用,参数设置的步骤如下。首先选择3/3菜单,再选择其中的概览项,在显示屏上将显示如图8-12所示的画面。旋转改动旋钮,光标跟随移动。当移动到设置点时按下改动旋钮,再次旋转改动旋钮改变数据,调整好后按下改动旋钮确认,该参数设置完毕。按此方法设置完所有应设置的参数。按确认软功能键,确认所设参数。此时概览菜单消失,刚才所设参数被记录,至此参数设置结束。如果按取消键,
17、刚才所设参数作废,仪表将采用最近一次所设的有效参数。,31,8.2.3 仪表、工具与器材准备,OTDR测量光纤衰减常数和长度所需的仪表、工具与器材有:OTDR一台 被测光纤(光缆)V沟连接器 过渡光纤,32,8.2.4 具体操作步骤,用OTDR测量光纤(光缆)的衰减常数和长度的测量系统如图8-13所示。,图8-13 光纤(光缆)的衰减常数和长度的测量系统,其测量步骤如下。(1)按图8-13连接OTDR和被测光纤(光缆)。(2)开启OTDR的电源,按照节介绍的OTDR使用方法进行设置。,33,8.2.4 具体操作步骤,(3)参数设置:按照被测光纤(光缆)的折射率设置OTDR的折射率值,选取合适的
18、脉冲宽度。(4)测试键(按下测试键,输出指示灯亮、测试完毕指示灯灭,曲线稳定)。(5)存曲线(起文件名、确认、储存测试结果)。(6)曲线分析。确定游标 读取AB间的距离即为光缆的纤长 读取衰减常数,34,8.3 光纤通信设备的参观与认识,光纤通信系统是由光发送机、光接收机、光纤(或光缆)和各种耦合器件等组成的信息传输系统。,8.3.1 学习目的(1)熟悉和掌握光纤通信设备的组成;(2)掌握光纤通信系统的信号流程。,8.3.2 系统准备 参观与认识光纤通信设备所需的设备为:电信分公司光纤传输机房运行的光纤通信系统或学校模拟运行的光纤通信系统。,35,8.3.3 具体过程,(1)对照光纤通信系统(
19、图8-14所示是一个34M的数字光纤通信系统),说明光纤通信系统的组成,每一部分的位置、作用及光纤通信系统的信号流程。(2)光纤通信系统由传输设备和传输线路组成。传输设备和传输线路通过活动连接器相连接(指出活动连接器的位置)。(3)光端机在系统中的位置介于电端机和传输线路之间。光端机主要有光发送机、光接收机及辅助部分组成。(4)另外,光纤通信设备中的辅助部分有公务、监控、告警、输入分配、倒换、区间通信和电源等。,36,8.3.3 具体过程,图8-14 光纤通信系统框图,37,8.4 光端机电性能参数测试,光端机的电性能参数,主要包括输入口参数和输出口脉冲波形的测试。8.4.1 学习目的(1)掌
20、握光端机输入口允许衰减、抗干扰能力及容许码速偏移的测试方法和步骤。(2)掌握光端机输出脉冲波形的测试方法和步骤。8.4.2 仪表原理与使用 本节使用的仪表的原理与使用方法见后面几节。,38,8.4.3 测量原理,1输入口允许衰减和抗干扰能力测试(1)指标要求 输入口应能正确接收经过衰减的信号,这种特性用允许衰减范围表示,具体要求如表8-1所示。表8-1输入口允许衰减和抗干扰能力指标,39,8.4.3 测量原理,(2)测试原理 输入口允许衰减和抗干扰能力测试原理框图如图8-15所示。,图8-15 输入口允许衰减和抗干扰能力测试原理框图,40,8.4.3 测量原理,2输入口容许码速偏移测试 当输入
21、信号的码速或时钟频率在该范围内变化时,系统能正常工作,不会发生误码。建议容许的指标要求如表8-2所示。,表8-2 测试信号,输入口容许码速偏移测试框图与图8-15相同。,41,8.4.3 测量原理,3输出口脉冲波形测试(1)脉冲波形样板 光端机输出口的脉冲波形应符合ITU-T的G.703建议中给定的波形样板,建议的脉冲波形样板如图8-16、图8-17和图8-18所示,不同比特率的数字输出口的指标要求见表8-3。实际测试出的脉冲波形在样板图中斜线范围内就认为符合要求。,42,8.4.3 测量原理,图8-16 2 048kbit/s和 8 448kbit/s接口脉冲样板图,43,8.4.3 测量原
22、理,图8-17 34 368kbit/s接口脉冲样板图,44,8.4.3 测量原理,图8-18 139 264kbit/s接口脉冲样板图,45,8.4.3 测量原理,表8-3 不同比特率的光端输出口的指标要求,46,8.4.3 测量原理,表8-3 不同比特率的光端输出口的指标要求,47,8.4.3 测量原理,(2)测试原理 输出口脉冲波形测试框图如图8-19所示。示波器一般采用高频宽带示波器,具体要求如表8-4所示。,示波器与光端机输出口的连接方式与码速有关,具体如图8-19所示。对于2 048kbit/s接口,有75不平衡阻抗和120平衡阻抗两种,示波器的连接方式稍有不同。120平衡输出口用
23、图8-19(a)中的配置,75不平衡输出口和其他比特率的75不平衡输出口用图8-19(b)或(c)中的配置,在PDH中一般多用(b)配置;(c)配置用于比特率较高的输出口。,48,8.4.3 测量原理,表8-4对示波器和探头的要求,49,8.4.3 测量原理,图8-19 输出口脉冲波形测试框图及与示波器连接方式图,50,8.4.4 仪表、工具准备,光端机电性能参数测试所需的仪表、工具有:被测系统 数字传输分析仪 示波器 探头 衰减器,51,8.4.5 具体操作步骤,1输入口允许衰减和抗干扰能力测试(1)时钟源和图案发生器发送标称比特率、码型和长度的伪随机信号。(2)调整干扰支路衰减器,使信号/
24、干扰比等于表8-1中的要求值,连接电缆的衰减接近0dB时,误码检测器应检测不到任何误码。(3)在外时钟源速率有偏差(在表8-1的容差范围内),连接电缆衰减增大的不利条件下,误码检测器应检测不到任何误码。,52,8.4.5 具体操作步骤,2输入口容许码速偏移测试 测试时,先调高或调低码型发生器的时钟频率,使在误码检测仪上观察到误码,然后向相反的方向调整,使之刚好不出现误码。此时,码型发生器的最高码速(或频率),或最低码速(或频率)与标准码速(或频率)之差,即为正负方向的最大容许码速或时钟频率偏差。,53,8.4.5 具体操作步骤,3输出口脉冲波形测试(1)按图8-19接好电路,码型发送器发送规定
25、比特率、码型和长度的伪随机测试信号。(2)将测试负载阻抗(75或120)或者75/50阻抗变换衰减器的75侧接到被测光端机的输出口上。(3)校准零基线,方法是将示波器输入端短路(即不给示波器送信号),将水平扫描线调到屏幕的适当位置(样板的标称0V线)处。(4)再将被测信号送入示波器,从屏幕上读出表8-3中的各参数,经简单处理,应满足表内的相应指标要求。139 264 kbit/s输出口,示波器是用交流(AC)耦合方式。CMI码的幅度中线和示波器的零基线之差不超过范围0.05V。,54,8.5 光端机平均发送光功率和消光比的测试,8.5.1 学习目的(1)掌握光功率计的原理与使用方法;(2)掌握
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- 光纤通信 课件 第八
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