电阻式传感器白.ppt
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1、,第四章 电阻应变式传感器,绪论 4.1 电阻应变式传感器的工作原理 4.2 电阻应变片的种类,材料,参数 4.3 电阻应变片的动态响应特性 4.4 电阻应变片的温度误差及补偿 4.5 信号调节电路及电阻应变仪 4.6 电阻应变式传感器应用,弓形小载荷传感器,应变式称重组件,应变片图,测定金属结构应变量的应变计,绪 论1,电阻应变式传感器是应用最广泛的传感器,历史悠久,其金属电阻应变效应是1856年发现的,1936年制成第一个应变片。1938年美国麻省理工学院发明了粘贴式电阻应变计,至今已有60余年,在这60年中,由于科学技术,材料科学,工艺技术及半导体工艺集成电路技术等新技术的发展,促进了电
2、阻应变计的进步。50年代中期,发明了箔式应变计,半导体应变计。60年代出现了薄膜应变计及扩散硅半导体应变计。80年代又出现了厚膜应变计。这些都为电阻应变式传感器的发展提供了良好的物质原理。,绪 论2,优点:a 精度高,测量范围广.b 频率响应特性较好 c 结构简单,尺寸小,重量轻.d 可在高(低)温、高速、高压、强烈振动、强 磁场 及核辐射和化学腐蚀等恶劣条件下正常工作.e 易于实现小型化、固态化 f 价格低廉,品种多样,便于选择,缺点:具有非线性,输出信号微弱,抗干扰能力较差,因此信号线需要采取屏蔽措施;只能测量一点或应变栅范围内的平均应变,不能显示应力场中应力梯度的变化等;不能用于过高温度
3、场合下的测量。,应用范围:适应于动态和静态测量,测多种非电量。电阻应变片 转换电路 被 测 量 电阻阻值变化 电 信 号 非电量 R 电量,绪 论3,4.1 电阻应变片的工作原理,4.1.1金属电阻的应变效应,4.1.2 电阻应变片的结构及测试原理,4.1.3 电阻应变片的横向效应,4.1.1金属电阻的应变效应金属丝在外力作用下发生机械变形,该变形会引起金属电阻阻值的变化,这种现象称为金属的电阻应变效应。,4.1 电阻应变片的工作原理1,L,L+dL,2r,2(r-dr),:电阻系数l:金属导线长度A:金属导线截面积,当电阻丝受到拉力F时,将伸长dL,截面积将减小dA。电阻率,因晶格发生形变等
4、改变d,这些量引起的电阻改变dR,对其全微分得:,由材料力学可知,径向和轴向之间的关系为:-金属材料的泊松系数,4.1 电阻应变片的工作原理2,dA/A=2dr/r,K 为金属丝灵敏系数,即表示金属丝单位变形时,电阻相对变化的大小,它受两个因素影响:K由两部分组成:前一部分是(1+2),由材料的几何尺寸变化引起;d/后一部分为 由材料的电阻率变化引起(称“压阻效应”)x,,定义:,可得电阻的相对变化与轴向(线)应变的关系,4.1 电阻应变片的工作原理3,4.1 电阻应变片的工作原理4,栅长,栅宽,对金属材料来说,主要以(1+2)影响较大,K一般实验求得,一般金属0.3,因此(1+2)1.6,一
5、般注明标称灵敏度弹性范围在1.7-3.61内.4.1.2 电阻应变片的结构及测试原理电阻丝应变片一般用直径为0.025的高电阻率的电阻丝绕制而成,将电阻丝排列成栅网状(称敏感栅),并粘贴在绝缘的基片上两端焊接引线而成。,当用应变片测量时,将其粘贴在被测量对象表面上,当被对象受力变形时,应变片的敏感栅随之变形,电阻值改变 R,根据 得到x,由=Ex 得到 值。E为材料的弹性模量。为试件应力.还需要通过转换电路(电桥),转换为电流电压。,4.1 电阻应变片的工作原理5,4.1.3 电阻应变片的横向效应 在直线段上金属丝受单向力拉伸时,任一端都感受相同的应变,但当弯成敏感栅之后,直线段上金属丝感受轴
6、向拉应变x,但在原弧段上,轴向感受的应变是由+x 变到-y,所以原弧部分的电阻变化小于直线段电阻变化,产生负的电阻变化,从而降低应变片的灵敏系数,该现象称为横向效应。在设计时,应尽量减小横向效应的影响,如用箔式应变片,原弧部分尺寸大些。目前已有许多方法来减小横向效应。,b,O,l,r,r,dl,d,0,图为 应变片敏感栅半圆弧部分的形状。沿轴向应变为,沿横向应变为r。,4.1 电阻应变片的工作原理6,4.1 电阻应变片的工作原理7,若敏感栅有n根纵栅,每根长为l,半径为r,在轴向应变作用下,全部纵栅的变形视为L1半圆弧横栅同时受到和r的作用,在任一微小段长度d l=r d上的应变可由材料力学公
7、式求得 每个圆弧形横栅的变形量l为纵栅为n根的应变片共有n-1个半圆弧横栅,全部横栅的变形量为,L1=n l,4.1 电阻应变片的工作原理8,应变片敏感栅的总变形为敏感栅栅丝的总长为L,敏感栅的灵敏系数为KS,则电阻相对变化为令 则 可见,敏感栅电阻的相对变化分别是和r作用的结果。,4.1 电阻应变片的工作原理9,当r=0时,可得轴向灵敏度系数同样,当=0时,可得横向灵敏度系数横向灵敏系数与轴向灵敏系数之比值,称为横向效应系数H。即 由上式可见,r愈小,l愈大,则H愈小。即敏感栅越窄、基长越长的应变片,其横向效应引起的误差越小。,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数,4.2.1 电阻应变的种类
8、,4.2.2 应变片的主要参数,4.2.1 电阻应变的种类 金属丝式应变片 绕制敏感栅式,制作简单,性质稳定,价格便宜。金属箔式应变片用照相制版并光刻腐蚀的方法,将金属箔材料制在绝缘基底上制成各种图形,如应变花。(第64页)金属薄膜应变片 用薄膜技术制作,一般用真空蒸发 或溅射方法在衬底上形成绝缘层,然后制作金属薄膜电阻,最后加 保护层。可制成各种形状。,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数1,半导体应变片 体型半导体应变片 弹性体为金属 分类 薄膜型半导体应变片 弹性体为硅片 扩散硅型半导体应变片 弹性体为硅片 半导体应变片是目前使用较多的一种应变片,它是根据半导体材料受力后,电阻率会发变化
9、,也就是所谓的“压阻效应”,也称为压阻式传感器。,对半导体材料,对金属材料,电阻相对变化量,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数2,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数3,由于E一般都比(1+2)大几十倍甚至上百倍,因此引起半导体材料电阻相对变化的主要原因是压阻效应,所以上式可近似写成 式中 压阻系数;E弹性模量;应力;应变。上式表明压阻传感器的工作原理是基于压阻效应,分类:厚膜陶瓷型 厚膜金属型方法:(丝网印刷,烧结)两者弹性体不同 厚膜应变片是用厚膜技术制作,是80年代开发出来的,它是在陶瓷或金属弹性体上制作厚膜电阻而成,利用了厚膜电阻受力后,阻值会发生变化的应变效应。,厚膜应变片,4.2
10、 电阻应变片的种类,材料和参数4,各 种 电 阻 应 变 对 照 表,4.2.2 应变片的主要参数 应变电阻值:60,1K,120最多 事实上不同种类的应变片,阻值不同60-10K绝缘电阻:大于1010灵敏系数:金属1.7-3.6,半导体100,厚膜 10单位为单位应变的电阻的相对变化值允许电流:金属静态25mA,动态75-100mA应变极限:在一定温度下,指示应变和真实应变值的相对差值不超过一定数值时的最大真实 应变数值,一般规定10%。,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数5,应变片的应变极限,z,4.2 电阻应变片的种类,材料和参数6,机械滞后:应变片粘贴在被测试件上,当温度恒定时,其加
11、载特性与卸载特性不重合,即为机械滞后.,零漂:一定温度下无机械应变时,指示应变随时间的变化。蠕变:一定温度下并承受一定机械应变时,指示应变随时间的变 化。,4.3 电阻应变片的动态响应特性,4.3.1应变波的传播过程,4.3.2 应变计的可测频率估算,电阻应变片在测量较高的动态应变时,也就是应变大小和方向随时间而改变时,应考虑其动态特性。动态应变是以应变波的形式在试件中传播的。常以输入阶跃和正弦两种信号来研究输出量的响应特性。4.3.1应变波的传播过程 应变波经过试件或弹性元件材料,粘合层等最后传播到应变片上,其响应电阻的变化量。整个传播过程可分为:应变波在试件材料中传播 应变波在粘合层和应变
12、片基层中的传播(可忽略不计)应变波在应变片线栅长度(基长)的传播,4.3 电阻应变片的动态响应特性1,4.3.2 应变计的可测频率估算 在传播过程中,影响应变片频率响应特性的主要因素是应变片的基长和应变波在试件材料中的传播速度。所以,可测频率或称截止频率可按下面三种情况估算:,4.3 电阻应变片的动态响应特性2,应变波为正弦波 应变片为阶跃波其他,4.3 电阻应变片的动态响应特性3,A.应变波为正弦波 当被测应变值随时间变化的频率很高时,需考虑应变片的动态特性。因应变片基底和粘贴胶层很薄,构件的应变波传到应变片的时间很短(估计约0.2s),故只需考虑应变沿应变片轴向传播时的动态响应。设一频率为
13、 f 的正弦应变波在构件中以速度 v 沿应变片栅长方向传播,在某一瞬时 t,应变量沿构件分布如图所示。,应变片对应变波的动态响应,4.3 电阻应变片的动态响应特性4,设应变波波长为,则有=v/f。应变片栅长为l0,瞬时t时应变波沿构件分布为 应变片测得的应变为栅长l0 范围内的平均应变p,即,4.3 电阻应变片的动态响应特性5,平均应变p的相对误差为,由上式可见,相对误差的大小只决定于 栅长与正弦应变波的波长的比值,表中给出了为1/10和1/20时的数值。,4.3 电阻应变片的动态响应特性6,由表可知,应变片栅长与正弦应变波的波长之比愈小,相对误差愈小。当选中的应变片栅长为应变波长的(1/10
14、1/20)时,将小于2%。因为式中 应变波在试件中的传播速度;f应变片的可测频率。取,则若已知应变波在某材料内传播速度,由上式可计算出栅长为L0的应变片粘贴在某种材料上的可测动态应变最高频率。,4.3 电阻应变片的动态响应特性7,B.应变波为阶跃波若以输出10%上升到90%的时间作为上升时间tk,则tk.lv,可测频率f=0.35/tk f=0.35v/0.8l0=0.44v/l0,4.4 电阻应变片的温度误差及其补偿,4.4.1 温度误差及产生原因,4.4.2 温度补偿方法,温度误差产生的原因,应变计的温度误差:(热输出)由于环境温度改变而带来的误差,称为应变计的温度误差。,4.4.1 温度
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