功率场效应晶体管、16绝缘栅双极型晶体管.ppt
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1、第一章 电力半导体器件,1.0 电力电子器件 概述1.1 功率二极管 1.2 晶闸管 1.3 可关断晶闸管(GTO)1.4 电力晶体管(GTR)1.5 功率场效应晶体管(P-MOSFET)1.6 绝缘栅双极型晶体管(IGBT)1.7 电力电子器件散热、串并联及缓冲保护,1.5 功率场效应晶体管全控型,P-MOSFET的结构与工作原理 P-MOSFET的基本特性 P-MOSFET的主要参数 P-MOSFET的安全工作区 P-MOSFET的门极驱动电路,1.5 功率场效应晶体管全控型,分为结型和绝缘栅型通常主要指绝缘栅型中的MOS型(Metal Oxide Semiconductor FET)简称
2、功率MOSFET(Power MOSFET)结型电力场效应晶体管一般称作静电感应晶体管(Static Induction TransistorSIT),特点用栅极电压来控制漏极电流驱动电路简单,需要的驱动功率小。(绝缘栅、电压控制器件)开关速度快,工作频率高。(只有多数载流子,无少数载流子积蓄效应)安全区宽,热稳定性优于GTR。(没有类似GTR的二次击穿)电流容量小,耐压低,一般只适用于功率不超过10kW的电力电子装置。,功率场效应晶体管(Power Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor),1.5.1 P-MOSFET的结构和工作原
3、理,P-MOSFET的种类按导电沟道可分为P沟道和N沟道。耗尽型当栅极电压为零时漏源极之间就存在导电沟道。增强型对于N(P)沟道器件,栅极电压大于(小于)零时才存在导电沟道。功率MOSFET主要是N沟道增强型。,功率MOSFET的芯片内部结构,漏极,栅极,源极,芯片照片,断面,1.5.1 P-MOSFET的结构和工作原理,P-MOSFET的结构,是单极型、全控型晶体管。导电机理与小功率MOS管相同,但结构上有较大区别。采用多元集成结构,不同的生产厂家采用了不同设计。,图1-19 功率MOSFET的结构和电气图形符号,漏极,源极,栅极,外延漂移层,衬底,SiO2绝缘层,1.5.1 P-MOSFE
4、T的结构和工作原理,小功率MOS管是横向导电器件。功率MOSFET大都采用垂直导电结构,又称为VMOSFET(Vertical MOSFET)。按垂直导电结构的差异,分为利用V型槽实现垂直导电的VVMOSFET和具有垂直导电双扩散MOS结构的VDMOSFET(Vertical Double-diffused MOSFET)。这里主要以VDMOS器件为例进行讨论。,P-MOSFET的结构,1.5.1 P-MOSFET的结构和工作原理,截止:漏源极间加正电源,栅源极间电压为零。P基区与N漂移区之间形成的PN结J1反偏,漏源极之间无电流流过。,P-MOSFET的工作原理,导电:在栅源极间加正电压UG
5、S则栅极上的正电压将其下面的P基区中的空穴推开,而将(少子)电子吸引到栅极下的P基区的表面,当UGS大于UT时,P型半导体反型成N型,成为反型层,该反型层形成N沟道而使PN结J1消失,漏极和源极导电。UGS数值越大,P-MOSFET导电能力越强,ID也就越大。,1.5.2 P-MOSFET的基本特性,(1)转移特性(Transfer Characteristic)漏极电流ID和栅源间电压UGS的关系称为MOSFET的转移特性。ID较大(小)时,ID与UGS的关系近似(非)线性,曲线的斜率(微变量之比)定义为跨导Gfs。,图1-20 功率MOSFET的转移特性,1)静态特性,1.5.2 P-MO
6、SFET的基本特性,(2)输出特性漏极电流ID和漏源间电压UDS的关系称为MOSFET的输出特性,即漏极伏安特性。分为四个区:非饱和区(可变电阻区)、饱和区(恒流区)、击穿区(雪崩区)、截止区(UGS低于开启电压),10,20,30,50,40,0,10,20,30,50,40,饱和区,非,饱,和,区,截止区,U,DS,/,V,U,GS,=,U,T,=3V,U,GS,=4V,U,GS,=5V,U,GS,=6V,U,GS,=7V,U,GS,=8V,I,D,/,A,图1-20 P-MOSFET的输出特性,1)静态特性,击穿区,工作在开关状态,即在截止区和非饱和区之间来回转换。漏源极之间有寄生二极管
7、,漏源极间加反向电压时器件导通。通态电阻,具有正温度系数的直流电阻,对器件并联时的均流有利。,1.5.2 P-MOSFET的基本特性,开通过程开通延迟时间td(on)上升时间tr开通时间ton开通延迟时间与上升时间之和 ton td(on)tr关断过程关断延迟时间td(off)下降时间tf关断时间toff关断延迟时间和下降时间之和toff td(off)tf,a,),b,),图1-21 P-MOSFET的开关过程a)开关特性测试电路 b)开关过程波形up脉冲信号源,Rs信号源内阻,RG栅极电阻,RL负载电阻,RF检测漏极电流,2)动态特性,P-MOSFET元件极间电容的等效电路,从中可以求得器
8、件的:输入电容:CinCGSCGD。输出电容:CoutCGDCDS。反馈电容:CrCGD。正是Cin在开关过程中需要进行充、放电,影响了开关速度。同时也可看出,静态时虽栅极电流很小,驱动功率小,但动态时由于电容充放电电流有一定强度,故动态驱动仍需一定的栅极功率。开关频率越高,栅极驱动功率也越大。,1.5.2 P-MOSFET的基本特性,MOSFET的开关速度和Cin充放电有很大关系。P-MOSFET是多数载流子器件,不存在少数载流子特有的存贮效应,因此开关时间很短,典型值为20ns,影响开关速度的主要是器件极间电容。可降低信号源驱动电路内阻Rs减小Ci 充、放电时间常数,加快开关速度。不存在少
9、子储存效应,关断过程非常迅速。开关时间在10100ns之间,工作频率可达100kHz以上,是主要电力电子器件中最高的。场控器件,静态时几乎不需输入电流。但在开关过程中需对输入电容充放电,仍需一定的驱动功率。开关频率越高,所需要的驱动功率越大。,MOSFET的开关速度,1.5.3 P-MOSFET的主要参数,除跨导Gfs、开启电压UT以及td(on)、tr、td(off)和tf之外还有:,P-MOSFET电压定额,(1)漏极电压UDS,(2)漏极直流电流ID和漏极脉冲电流幅值IDM,P-MOSFET电流定额,表征P-MOSFET的电流容量,(3)栅源电压UGS,UGS20V将导致绝缘层击穿。,(
10、4)极间电容,极间电容CGS、CGD和CDS。前两者由MOS结构的绝缘层形成的,其电容量的大小由栅极的几何形状和绝缘层的厚度决定;后者由PN结构成,其数值大小由沟道面积和有关结的反偏程度决定。,1.5.3 P-MOSFET的主要参数,指在确定的栅源电压UGS下,P-MOSFET处于恒流区时的直流电阻,是影响最大输出功率的重要参数。,(5)通态电阻Ron,(6)漏源击穿电压BUDS,该电压决定了P-MOSFET的最高工作电压,(7)栅源击穿电压BUGS,该电压表征了功率MOSFET栅源之间能承受的最高电压。,功率MOSFET具有电流负温度效应,没有二次击穿问题,具有非常宽的安全工作区,特别是在高
11、电压范围内,但是功率MOSFET的通态电阻比较大,所以在低压部分不仅受最大电流的限制,还要受到自身功耗的限制。,图 正向偏置安全工作区,P-MOSFET的安全工作区,由以下四条边界限定:漏-源通态电阻Ron;最大漏极电流IDM;极限功耗PCM;极限漏-源电压UDSM。,正向偏置安全工作区(FBSOA)正向偏置安全工作区由四条边界极限所包围的区域。漏源通态电阻线,最大漏极电流线,最大功耗限制线和最大漏源电压线,开关安全工作区(SSOA)开关安全工作区(SSOA)表示器件工作的极限范围。在功率MOSFET换流过程中,当器件体内反并联二级管从导通状态进入反向恢复期时,如果漏极电压上升过大,则很容易造
12、成器件损坏。二极管反向恢复期内漏源极的电压上升率称为二极管恢复耐量,二极管恢复耐量是功率MOSFET可靠性的一个重要参数。换向安全工作区(CSOA),P-MOSFET的安全工作区,P-MOSFET的门极驱动电路,(1)功率MOSFET驱动电路的共性问题 驱动电路应简单、可靠。也需要考虑保护、隔离等问题。驱动电路的负载为容性负载。按驱动电路与栅极的连接方式可分为直接驱动与隔离驱动。,(2)功率MOSFET对栅极驱动电路的要求保证功率MOSFET可靠开通和关断,触发脉冲前、后沿要求陡峭。减小驱动电路的输出电阻,提高功率MOSFET的开关速度。触发脉冲电压应高于管子的开启电压,为了防止误导通,在功率
13、MOSFET截止时,能提供负的栅源电压。功率MOSFET开关时所需的驱动电流为栅极电容的充、放电电流。,P-MOSFET的门极驱动电路,驱动电路应实现主电路与控制电路之间的隔离,避免功率电路对控制信号造成干扰。驱动电路应能提供适当的保护功能,使得功率管可靠工作,如低压锁存保护、过电流保护、过热保护及驱动电压箝位保护等。驱动电源必须并联旁路电容,它不仅滤除噪声,也用于给负载提供瞬时电流,加快功率MOSFET的开关速度。,P-MOSFET的门极驱动电路,(3)P-MOSFET驱动电路的驱动方式 直接驱动 TTL驱动电路,1.5.5 P-MOSFET的门极驱动电路,隔离驱动电路,1.5.5 P-MO
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