光电导探测器.ppt
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1、第四章 光电导探测器,光电子技术,1.定义光照变化引起半导体材料电导变化的现象称光电导效应。(内光电效应,photoconductive PC)当光照射到半导体材料时,材料吸收光子的能量,引起载流子浓度增大,因而导致材料电导率增大。电导率的改变通过电量测量来获得。,4-1 光电导探测器的工作原理,一、光电导效应,-光电导器件工作的物理基础,存在于大多数半导体中,金属中不存在(大量自由电子),2半导体的暗电导率 半导体的电导率定义,暗电导无光照的电导,3光辐射改变半导体的电导率,光子,激发(电-空对),产生载流子增量nP光生载流子,光激发,nP g,1)本征光电导,只有光子能量h大于材料禁带宽度
2、Eg 的入射光才能激发出电子空穴对,使材料产生光电导效应的现象,故探测器能吸收光波长为,为截止波长,2)非本征光电导,杂质型光电导效应:对于型半导体,当入射光子的能量等于或大于杂质电离能i时,将施主能级上的电子激发到导带而成为导电电子,在外电场的作用下,形成光电流。本征型用于可见光长波段,杂质型用于红外波段。,4光电导计算,Al体积n寿命N每秒产生的电子空穴对数,光电导,5光电导电流增益(G)定义,其中,长度为L的光电导体在两端加上电压V后,由光照产生的载流子在电场作用下在输出回路形成的光电流与光生载流子在内部形成的初生光电流之比,6.光电导弛豫过程光电导材料从光照开始到获得稳定的光电流是要经
3、过一定时间的。同样光照停止后光电流也是逐渐消失的。这些现象称为弛豫过程或惰性。对光电导体受矩形脉冲光照时,常有上升时间常数r和下降时间常数f来描述弛豫过程的长短。r表示光生载流子浓度从零增长到稳态值63%时所需的时间,f表示从停光前稳态值衰减到37%时所需的时间。,6.光电导弛豫过程,弛豫特性限制了器件对调制频率高的光功率的响应,7.光电导的光谱分布,利用具有光电导效应的材料(如硅、锗等本征半导体与杂质半导体,硫化镉、硒化镉、氧化铅等)可以制成电导随入射光度量变化器件,称为光电导器件或光敏电阻。根据半导体材料的分类,将光敏电阻分为两种类型本征型半导体光敏电阻和掺杂型半导体光敏电阻。,二、光电导
4、探测器,1、本征型半导体光敏电阻,只有当入射光子的能量h等于或大于半导体材料的禁带宽度Eg时才能激发电子空穴对,在外加的电场作用下形成光电流。这种本征光电导效应可用来检测可见光和近红外辐射。,2、掺杂型半导体光敏电阻,如n型半导体,光子的能量只要大于杂质的电离能就能把施主杂质能级上的的电子激发到导带而形成导电电子,在外加电场的作用下形成光电流。这种效应可以检测波长较长的辐射。主要用于超过5微米的波段。,光敏电阻具有体积小,坚固耐用,价格低廉,光谱响应范围宽等优点。,三、光电导探测器的工作原理,下图所示为光敏电阻的原理图与光敏电阻的符号,在均匀的具有光电导效应的半导体材料的两端加上电极便构成光敏
5、电阻。,1.光电导探测器的光电流,n型半导体光敏电阻,VA为外加偏压,RL为负载电阻,设入射的光功率为,漂移面电流密度,漂移速度 v=nE=nVA/L,光电导探测器输出的总光电流,光电导探测器在高为dx的长方体微元每秒钟单位体积产生的光生自由电子数,产生率,n型半导体光敏电阻自由电子的寿命0,复合率,稳态后,产生率=复合率,令有效量子效率,光电导探测器内增益等于载流子平均寿命0与载流子在探测器两极间的渡越时间d之比。,G=1,0=d,每产生一个光电子对外回路电流正好提供一个电子的电荷量e。,G1,0d,每产生一个光电子对外回路电流的贡献小于一个电子的电荷量e。,G1,0d,每产生一个光电子对外
6、回路电流的贡献大于一个电子的电荷量e。,光敏电阻两端加电压(直流或交流)。无光照时,阻值(暗电阻)很大,电流(暗电流)很小;光照时,光生载流子迅速增加,阻值(亮电阻)急剧减少。在外场作用下,光生载流子沿一定方向运动,形成光电流(亮电流)。,2.光电导探测器的工作模式及等效电路,光电导:亮电导和暗电导之差;g光=gL-gd,光电流:亮电流和暗电流之差;I光=IL-Id,2.1 基本偏置电路,设在某照度Ev下,光敏电阻的阻值为Rd,电导为g,流过负载电阻RL的电流为IL,用微变量表示,而,dRd=d(1/g)=(-1/g2)dg dg=Ip/u0 因此,加在光敏电阻上的电压为Rd与RL对电压VA的
7、分压,即U0=Rd/(Rd+RL)UA,因此,流过负载电阻的电流微变量与光电流的关系为,Ip,Rd,RL,直流微变等效电路,du0,探测器上的偏置电压与Rd无关U0=VA,基本恒定,流过RL输出的电流信号为,2.2 短路电流ISC,恒压偏置电路(RLRd),2.3 开路电压VOC,恒流偏置电路(RLRd),工作过程中流过探测器的电流基本恒定,IL=VA/RL+Rd,输出的电压信号,输出电压,Rd=RL即为负载匹配工作状态的工作条件,2.4 负载匹配时探测器输出电压,4-2 光电导探测器的性能参数,Gn称为光电导探测器中电子增益系数Gp称为光电导探测器中空穴增益系数,长度为L的光电导体在两端加上
8、电压V后,由光照产生的载流子在电场作用下在输出回路形成的光电流与光生载流子在内部形成的初生光电流之比,一、光电导电流增益(G)定义,在半导体中,电子和空穴的寿命是相同的,总的光电导增益G为,令,tdr为载流子渡越极间距离L所需要的有效渡越时间,增益、带宽矛盾,光敏电阻结构,一块半导体材料两端加上电极,两端面接上电极引线,封装在带有窗口的金属或塑料外壳内,光敏电阻的基本结构,梳状电极-光敏面做成蛇形(较大的受光表面,减小电极之间的距离-减小载流子的有效极间渡越时间,提高灵敏度),二、光电导探测器的噪声,光敏电阻的主要噪声有热噪声、产生复合和低频噪声(或称1/f噪声)。,电流灵敏度,三、响应率,电
9、压灵敏度,光敏电阻的光电导灵敏度,gp-光敏电阻的光电导(西门子S,-1),E-照度(勒克斯lx),Sg-S/lx(S.m2/W),光电特性,图为硫化镉光敏电阻的光电特性。强光照射时,光电特性为非线性。,在实用范围内,有如下关系:,式中 I p光电流;U 加于光敏电阻的电压;E光敏电阻上的照度;K 材料决定的比例系数;a 电压指数,一般近于1;b 照度指数。,IpKU a E b,弱光时,b=1-光电流与光照度的线性关系,四、光谱特性,-相对电流灵敏度与波长的关系曲线,-灵敏度范围、峰值波长位置、各波长下灵敏度的相对关系,整个可见光区域,峰值波长:515600nm,-与人眼有关的仪器(照相机、
10、照度计、光度计),五、温度特性,光敏电阻的性质受温度的影响较大,随着温度的升高灵敏度要下降。图示硫化镉的光电流与温度的关系。不同的材料其温度特性也不一样,温度升高,光敏电阻在黑暗时的电流增大,导致在光照时电流增加不多,则I减小,灵敏度降低,温度还影响光谱特性、峰值响应波长等等一些因素。,六、频率响应及响应时间,-非平衡载流子的产生与复合有一个时间过程(影响光敏电阻对变化光照的响应),-频率响应,R0-器件在零频时的响应度;=2f为信号的调制圆频率;f为调制频率;为响应时间,相对输出随光调制频率的增加而减小,七、前历效应,中态前历效应数值越小越好。,前历效应分为短态前历效应和中态前历效应,短态前
11、历效应数值越大,灵敏度越高;通常在黑暗中放置的时间越短,短态前历效应越显著。,光敏电阻的使用要点,用于模拟量时,只有在弱光照射下光电流与入射辐射通量成线性关系,用于光度量测试仪器时,必须对光谱特性曲线进行修正,保证其与人眼的光谱光视效率曲线相符合,冷却灵敏面-提高长波区灵敏度(光谱特性与温度有关,温度低时,灵敏范围和峰值波长都向长波方向移动),不适于在高温下使用(温度特性复杂),要求带宽-牺牲灵敏度(频带宽度比较窄),动态设计-前历效应,1、Hg1-xCdxTe光电导探测器件,Hg1-xCdxTe系列光电导探测器件是目前所有红外探测器中性能最优良最有前途的探测器件,尤其是对于48m大气窗口波段
12、辐射的探测更为重要。Hg1-xCdxTe系列光电导体是由HgTe和CdTe两种材料的晶体混合制造的,其中x标明CdTe元素含量的组分。在制造混合晶体时选用不同CdTe的组分x,可以得到不同的禁带宽度Eg,便可以制造出不同波长响应范围的Hg1-xCdxTe探测器件。一般组分x的变化范围为0.180.4,长波长的变化范围为130m。,4-3 实用光电导探测器,2、InSb光电导探测器,InSb光敏电阻是35m光谱范围内的主要探测器件之一。,InSb材料不仅适用于制造单元探测器件,也适宜制造阵列红外探测器件。,InSb光敏电阻在室温下的长波长可达7.5m,峰值波长在6m附近,比探测率D*约为1101
13、1cmHzW-1。当温度降低到77K(液氮)时,其长波长由7.5m缩短到5.5m,峰值波长也将移至5m,恰为大气的窗口范围,峰值比探测率D*升高到21011cmHzW-1。,3、CdS光敏电阻,CdS光敏电阻是最常见的光敏电阻,它的光谱响应特性最接近人眼光谱光视效率,它在可见光波段范围内的灵敏度最高,因此,被广泛地应用于灯光的自动控制,照相机的自动测光等。,CdS光敏电阻的峰值响应波长为0.52m,CdSe光敏电阻为0.72m,一般调整S和Se的比例,可使Cd(S,Se)光敏电阻的峰值响应波长大致控制在0.520.72m范围内。,4、PbS光敏电阻,PbS光敏电阻是近红外波段最灵敏的光电导器件
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