计算机维修技术第3版第05章内存系统结构与故障维修.ppt
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1、计算机维修技术 第3版教学课件 易建勋 编著清华大学出版社2013年8月,本课件随教材免费赠送给读者,读者可自由播放、复制、分发本课件,也可对课件内容进行修改。课件中部分图片来自因特网公开的技术资料,这些图片的版权属于原作者。感谢在因特网上提供技术资料的企业和个人。本课件不得用于任何商业用途。课件版权属于作者和清华大学出版社,其他任何单位和个人都不得对本课件进行销售或修改后销售。作者:易建勋2013年8月,作者声明,第5章 内存系统结构与故障维修,5.1 存储器类型与组成5.1.1 存储器的基本类型5.1.2 内存条的组成形式5.1.3 存储单元工作原理5.1.4 内存芯片阵列结构5.1.5
2、内存的读写与刷新5.2 内存条的基本结构5.2.1 内存条的容量5.2.2 Unb-DIMM内存条基本结构5.2.3 SO-DIMM内存条基本结构5.2.4 Reg-DIMM内存条基本结构,5.3 内存主要技术性能5.3.1 内存条接口形式与信号5.3.2 内存主要技术参数5.3.3 DDR3内存设计技术5.3.4 双通道内存技术5.4 内存故障分析与处理5.4.1 内存数据出错校验5.4.2 内存条信号测试点5.4.3 内存常见故障分析5.4.4 内存故障维修案例,5.1 存储器类型与组成,5.1.1 存储器的基本类型,1存储器的分类 DRAM:DRR3/DDR4 内存 SRAM:CPU内部
3、Cache存储器 半导体:闪存(SSD/U盘)外存 磁介质:HDD 光介质:CD-RAM/DVD/BD,主讲:易建勋,第6页 共70页,5.1.1 存储器的基本类型,2存储器的材料内存内存材料:半导体芯片;内存类型:DRAM,SRAM;内存特性:可以进行随机读写操作;断电后会丢失其中的数据。外存性能要求:容量大,价格便宜,断电后数据不丢失。内存类型:半导体:电子硬盘,U盘,存储卡等;磁介质:硬盘;光介质:CD-ROM,DVD-ROM,BD-ROM等。,【补充】存储器的层次结构,5.1.1 存储器的基本类型,【补充】常用存储器性能比较,注:1A=最慢/最低/最差;5A=最快/最高/最好,5.1.
4、1 存储器的基本类型,3JEDEC内存技术标准内存技术标准由JEDEC(联合电子设备工程委员会)制定。JEDEC内存技术标准(1)电气参数:内存芯片的时钟长度、发送、载入、终止等信号的电气参数;内存芯片的类型、工作频率、传输带宽等。(2)机械参数:线路最大和最小长度;线路宽度和线路之间的间距;印制电路板的层数等。(3)电磁兼容:对内存抑制电磁干扰提出了要求。,5.1.1 存储器的基本类型,4内存技术的市场发展内存以DRAM芯片应用最为广泛。,5.1.1 存储器的基本类型,内存的发展过程,5.1.1 存储器的基本类型,内存的发展过程,5.1.2 内存条的组成形式,1内存条的组成形式内存条组成:D
5、RAM(动态随机存储器)芯片;SPD(内存序列检测)芯片;PCB(印制电路板);贴片电阻、贴片电容、金手指、散热片等。内存条的区别不同技术标准的内存条,它们在外观上并没有太大区别,但是它们的工作电压不同,引脚数量不同,定位卡口位置不同,互相不能兼容。,5.1.2 内存条的组成形式,内存条组成形式,定位卡口,金手指,PCB,内存芯片,电阻电容,SPD,5.1.2 内存条的组成形式,【补充】安装在主板上的内存条,5.1.2 内存条的组成形式,【补充】内存条金手指金手指镀金厚度为:0.4m1.3m;据测试,0.4m的镀金厚度可插拔200次;1.3m的镀层可插拔2000次左右。,金手指,5.1.2 内
6、存条的组成形式,【补充】内存条安装方式,拉开固定卡,对准卡口,插入内存条,5.1.2 内存条的组成形式,2SPD芯片的基本功能SPD芯片结构采用8引脚EEPROM芯片,TSOP封装,容量256字节,工作频率100kHz,型号多为:24LC01B、24C02A、24WC02J等。SPD记录内容内存条类型,工作频率,芯片容量,工作电压,操作时序(如CL、tRCD、tRP、tRAS等),等其他参数。SPD主要功能协助内存控制器调整内存参数,使内存达到最佳性能。开机时,BIOS读取SPD中的内存参数,内存控制器根据SPD参数自动配置相应的内存时序。用户也可以手工调整部分内存控制参数。,5.1.2 内存
7、条的组成形式,【补充】内存时钟频率获取,5.1.2 内存条的组成形式,【补充】内存工作频率和电压的变化,5.1.3 存储单元工作原理,1内存条基本结构内存条上一般有4/8/16个内存芯片;每个内存芯片内部有2/4/8/16个逻辑存储阵列组(Bank);每个逻辑存储阵列组有几千万个存储单元(Cell);这些存储单元的组合体称为“存储阵列”。,5.1.3 存储单元工作原理,内存条基本结构,5.1.3 存储单元工作原理,2DRAM存储单元(Cell)工作原理(1)DRAM存储单元电路结构。1个存储单元由1个晶体管和1个电容组成。优点:电路结构简单,集成度高,容量大;缺点:速度慢。,5.1.3 存储单
8、元工作原理,(2)存储单元的充电与放电。晶体管M控制数据输入线D到存储电容C之间的电流通断;当晶体管接通(ON)时,数据线到存储电容之间是连通的;当晶体管断开(OFF)时,数据线到存储电容之间不能连通。可见晶体管M控制着电容C的充电和放电。,晶体管接通状态(ON),晶体管断开状态(OFF),5.1.3 存储单元工作原理,(3)电容的功能电容C的功能是保存数据。电容中有电荷时,存储器为逻辑“1”;电容中没有电荷时,存储器为逻辑“0”。(4)数据读写当WL=1时,晶体管M处于接通(ON)状态,允许在数据线D进行读或写操作。读是一种放电操作;写是一种充电操作。(5)数据保持当WL=0时,晶体管M处于
9、断开(OFF)状态,数据线D不允许写入或读出,存储单元保持原来状态。,5.1.3 存储单元工作原理,(6)存储单元的刷新存储单元中,电容C失去电荷的速度非常快。动态刷新是周期性的对存储单元进行读出、放大、回写操作。断电时,刷新电路不能工作,存储单元中的数据全部丢失。DDR内存的规定刷新周期为64ms。,5.1.3 存储单元工作原理,【补充】DRAM类似一个水桶中的浮动开关。水在高位时为“1”;水在低位时为“0”;但是水桶总是漏水。,5.1.3 存储单元工作原理,【补充】DRAM半导体电路图,5.1.3 存储单元工作原理,【补充】DRAM芯片存储阵列DRAM内存芯片制程工艺达到了22nm线宽(2
10、012年)。,5.1.3 存储单元工作原理,3SRAM存储单元(Cell)工作原理SRAM工作原理当开关C接通时,相当于逻辑“1”状态;当开关C关闭时,相当于逻辑“0”状态。SRAM不需要刷新电路。SRAM存储单元组成一个SRAM存储单元由6个晶体管组成;存储一个字节需要8个存储单元;也就是说保存一个字节的数据需要48个晶体管。,5.1.3 存储单元工作原理,SRAM存储单元结构,5.1.3 存储单元工作原理,SRAM芯片半导体电路(放大),5.1.3 存储单元工作原理,【补充】SRAM不需要周期性刷新;因此SRAM功率消耗比DRAM低;CPU内部的Cache采用SRAM作为存储单元;DRAM
11、与SRAM的性能差别在缩小。SRAM是对晶体管锁存器进行读写;DRAM是对存储器电容进行读写。SDRAM属于DRAM,它不是SRAM。,5.1.4 内存芯片阵列结构,1逻辑存储阵列组(Bank)内存芯片结构:采用“存储阵列”(Bank)结构。存储阵列寻址:先指定存储块(Bank);再指定行号和列号,就可以准确找到存储单元。,5.1.4 内存芯片阵列结构,Bank的大小由于技术和成本等原因,不能做一个全内存容量的Bank;单一的Bank将会造成严重的寻址冲突。DDR1内存芯片中的Bank为2或4个;DDR2内存芯片中的Bank为4或8个;DDR3中Bank为8或16个。,5.1.4 内存芯片阵列
12、结构,2物理存储阵列组(Rank)内存总线位宽CPU内部寄存器和前端总线为64位;如果内存系统一次传输64位数据,CPU就不需要等待;内存控制器(北桥或CPU内)位宽为64位。计算机最大内存北桥芯片内部带有内存控制器,因此内存的一些重要参数也由芯片组决定。如主板的最大内容容量,单条内存容量等。32位系统的最大物理寻址能力支持到4GB内存。64位CPU可以使用大内存,但是需要主板和操作系统的支持。部分64位CPU集成了内存控制器,因此支持最大内存容量也就由CPU、主板和操作系统来决定。,5.1.4 内存芯片阵列结构,物理阵列(Rank)64位位宽的一组内存芯片存储单元称为1个Rank。内存芯片的
13、位宽较小,需要用多个芯片构成一个内存条。,1个Rank,1个Bank,5.4.2 内存条信号测试点,内存,【补充】内存总线布线,5.1.5 内存的读写与刷新,1内存数据的读取过程首先进行列地址选定(CAS);准备数据I/O通道,将数据输出到内存总线上。从CAS与读命令发出,到第一次数据输出的时间定义为CL(列地址选通潜伏期)。存储单元的电容很小,读取的信号要经过放大才能识别。一个Bank对应一个读出放大器(S-AMP)通道。WE#有效时为写入命令;WE#无效时就是读取命令。读操作形式有:顺序读,随机读,突发读,读-写,读-预充电,读-状态中止等。,5.1.5 内存的读写与刷新,读操作DRAM的
14、读操作是一个放电过程;状态为“1”的电容在读操作后,会因为放电而变为逻辑“0”;为了保证数据的可靠性,需要对存储单元原有数据进行重写;重写任务由读出放大器(S-AMP)完成。读操作时,读出放大器会保持数据的逻辑状态,再次读取同一数据时,它直接发送,不用再进行新的寻址。,5.1.5 内存的读写与刷新,2内存数据的写入过程DRAM写操作是一个充电过程。写操作与读过程基本相同;只是在列寻址时,WE#为有效状态;行寻址与列寻址的时序与读操作一样。写操作的形式有:写-写、随机写、突发写、写到读、写到预充电、写固定长度或全页等。,5.1.5 内存的读写与刷新,3内存系统的刷新过程存储单元中,电容的电荷会慢
15、慢泄漏;DDR2内存的充电时间为60ns左右;DDR3内存的充电时间为36ns左右。充电过程中,存储单元不能被访问。定时对存储单元进行充电称为“动态刷新”;在技术上实现存储单元的动态刷新并不困难。目前公认的标准刷新时间间隔是64ms。,5.2 内存条的基本结构,5.2.1 内存条的容量,1内存芯片技术规格内存芯片容量采用“MW”的形式表示,M表示1个数据I/O接口的最大存储容量,单位bit;W表示内存芯片输入/输出位宽。【例5-3】:64Mbit8,表示内存芯片在1个I/O接口的存储容量为64Mbit,内存芯片有8个这样的数据I/O接口,1个内存芯片总存储容量为64Mbit8=512Mbit。
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- 计算机 维修 技术 05 内存 系统 结构 故障
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