集成电路原理与设计补充.ppt
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1、2023/9/16,1,集成电路设计原理,巢湖学院陈初侠,The Principles of Integrated Circuit Design,2023/9/16,2,课程介绍,课程任务课程教学内容及安排教材及参考书成绩考核办法,第一章,2023/9/16,3,课程任务,本课程的任务是:在巩固电子类专业基础课(电路分析、数电、模电)及相关专业课程(半导体物理、半导体工艺原理、微电子器件)的前提下,学习并掌握IC的基本单元结构、工作原理及其电学特性以及集成电路工艺及其进展,能利用MOS器件构建数字集成电路并根据不同设计要求(面积,速度,功耗和可靠性),进行电路分析和优化设计的能力。,返回,20
2、23/9/16,4,课程教学内容及安排,总学时:64学时(课堂教学64学时)课堂教学内容:第一章:绪论(2课时)第二章:集成电路制作工艺(8课时)第三章:集成电路中的器件及模型(8课时)第四章:数字集成电路的基本单元电路(20课时)第五章:数字集成电路中的基本模块(8课时)第六章:COMS集成电路的I/O设计(4课时)第七章:MOS存储器(6课时)第八章:集成电路的设计方法和版图设计(4课时),返回,2023/9/16,5,教材及参考书,教材:甘学温,赵宝瑛等著,集成电路原理与设计,北京大学出版社,2006。,参考书目:Jan M.Rabaey等著,周润德等译,数字集成电路:电路、系统与设计(
3、第2版),电子工业出版社,2004年;Sung-Mo Kang等著,王志功等译,CMOS数字集成电路分析与设计(第3版),电子工业出版社,2004年。,2023/9/16,6,参考书目:R.Jacob Baker等著,陈中建译,CMOS电路设计、布局与仿真,机械工业出版社,2006年;Neil H.E.Weste,David Harris等著,CMOS大规模集成电路设计(英文版 第3版),影印本,机械工业出版社,2005年。,返回,2023/9/16,7,成绩考核办法,考核方式平时(上课、作业等情况)理论笔试(考试)总成绩 总成绩=0.7笔试成绩 0.3平时成绩(考勤+作业),返回,2023/
4、9/16,8,第一章 绪 论,1.1 集成电路的重要作用1.2 集成电路及其分类1.3 描述集成电路工艺技术水平的五个技术指标1.4 集成电路设计与制造的主要流程框架1.5 集成电路的发展历史1.6 集成电路的发展规律1.7 未来的发展和挑战1.8 我国微电子的发展概况,课程介绍,2023/9/16,9,实现社会信息化的网络及其关键部件不管是各种计算机和/或通讯机,它们的基础都是微电子(集成电路)。,1.1 集成电路的重要作用,2023/9/16,10,集成电路的战略地位首先表现在当代国民经济的“食物链”关系,进入信息化社会的判据:半导体产值占工农业总产值的0.5%,2023/9/16,11,
5、据美国半导体协会(SIA)预测,2012年,2023/9/16,12,其次,统计数据表明,发达国家在发展过程中都有一条规律集成电路(IC)产值的增长率(RIC)高于电子工业产值的增长率(REI)电子工业产值的增长率又高于GDP的增长率(RGDP)一般有一个近似的关系 RIC1.52REI REI3RGDP,2023/9/16,13,世界GDP增长与世界集成电路产业增长情况比较(资料来源:ICE商业部),抓住集成电路产业,就能促进GDP高速增长,2023/9/16,14,我国台湾地区,60年代后期人均GDP200-300美元(1967年为267美元),70-80年代大力发展集成电路产业,90年代
6、IT业高速发展,97年人均GDP=13559美元,返回,2023/9/16,15,1.2 集成电路及其分类,1.什么是集成电路?Integrated Circuit,缩写IC 通过一系列特定的加工工艺,将晶体管、二极管等有源器件和电阻、电容等无源器件,按照一定的电路互连,“集成”在一块半导体单晶片(如硅或砷化镓)上,封装在一个外壳内,执行特定电路或系统功能的微型结构。,2023/9/16,16,几个概念,微电子学:Microelectronics一门学科,一门研究集成电路设计、制造、测试、封装等全过程的学科 半导体:Semiconductor内涵及外延均与微电子类似,是早期的叫法 集成电路IC
7、(Integrate Circuit):一类元器件的统称,该类器件广泛应用于电子信息产业,几乎所有的电子产品均由集成电路装配而成 芯片:chip/die没有封装的集成电路,但通常也与集成电路混用,作为集成电路的又一个名称 集成系统芯片SoC(System on a Chip):微电子学和集成电路技术发展的产物,指在单芯片上实现系统级的功能,2023/9/16,17,2.集成电路的分类,2023/9/16,18,按器件结构类型分类,双极集成电路:主要由双极晶体管构成只含NPN型晶体管的双极集成电路(数字电路)含NPN型及PNP型晶体管的双极集成电路(模拟电路)金属-氧化物-半导体(MOS)集成电
8、路:主要由MOS晶体管(单极晶体管)构成NMOSPMOSCMOS(互补MOS)双极-MOS(Bi-MOS)集成电路:同时包括双极和MOS晶体管的集成电路为Bi-MOS集成电路,综合了双极和MOS器件两者的优点,但制作工艺复杂,优点是速度高、驱动能力强,缺点是功耗较大、集成度较低,功耗低、集成度高,随着特征尺寸的缩小,速度也可以很高,2023/9/16,19,按集成电路规模分类,集成度:每块集成电路芯片中包含的元器件数目 小规模集成电路(Small Scale IC,SSI)中规模集成电路(Medium Scale IC,MSI)大规模集成电路(Large Scale IC,LSI)超大规模集成
9、电路(Very Large Scale IC,VLSI)特大规模集成电路(Ultra Large Scale IC,ULSI)巨大规模集成电路(Gigantic Scale IC,GSI)尽管英语中有VLSI,ULSl和GSI之分,但VLSI使用最频繁,其含义往往包括了ULSI和GSI。中文中把VLSI译为超大规模集成,更是包含了ULSI和GSI的意义。,2023/9/16,20,规摸大小通常按集成度或每个芯片的门数来划分,如下表所示(以逻辑IC为例)。集成电路规模的划分,此外,还有按其他标准的一些IC分类,如按电路功能和所处理信号的不同,可分数字或逻辑IC(Digital/Logic IC)
10、、模拟IC(Analog IC)和数模混合IC(Digital-Analog Mixed IC);根据所采用晶体管的不同,又可分为双极型IC和MOS型IC。,返回,2023/9/16,21,1.3 描述集成电路工艺技术水平 的五个技术指标,1.集成度(Integration Level)2.特征尺寸(Feature Size)3.晶片直径(Wafer Diameter)4.芯片面积(Chip Area)5.封装(Package),2023/9/16,22,1.集成度(Integration Level)是以一个IC芯片所包含的元件(晶体管或门/数)来衡量,(包括有源和无源元件)。随着集成度的提
11、高,使IC及使用IC的电子设备的功能增强、速度和可靠性提高、功耗降低、体积和重量减小、产品成本下降,从而提高了性能/价格比,不断扩大其应用领域,因此集成度是IC技术进步的标志。为了提高集成度采取了增大芯片面积、缩小器件特征尺寸、改进电路及结构设计等措施。为节省芯片面积普遍采用了多层布线结构,现已达到7层布线。晶片集成(Wafer Scale Integration-WSI)和三维集成技术也正在研究开发。自IC问世以来,集成度不断提高,现正迈向巨大规模集成(Giga Scale Integration-GSl)。从电子系统的角度来看,集成度的提高使IC进入系统集成或片上系统(SoC)的时代。,返
12、回,2023/9/16,23,特征尺寸从4m70nm的成比例减少的线条,2.特征尺寸(Feature Size)/(Critical Dimension)特征尺寸定义为器件中最小线条宽度(对MOS器件而言,通常指器件栅电极所决定的沟道几何长度),也可定义为最小线条宽度与线条间距之和的一半。减小特征尺寸是提高集成度、改进器件性能的关键。特征尺寸的减小主要取决于光刻技术的改进。集成电路的特征尺寸向深亚微米发展,目前的规模化生产是0.18m、0.15 m、0.13m工艺,Intel目前将大部分芯片生产制成转换到0.09 m。下图自左到方给出的是宽度从4m70nm按比例画出的线条。由此,我们对特征尺寸
13、的按比例缩小有一个直观的印象。,返回,2023/9/16,24,尺寸从2寸12寸成比例增加的晶圆,3.晶片直径(Wafer Diameter)为了提高集成度,可适当增大芯片面积。然而,芯片面积的增大导致每个圆片内包含的芯片数减少,从而使生产效率降低,成本高。采用更大直径的晶片可解决这一问题。晶圆的尺寸增加,当前的主流晶圆的尺寸为8吋,正在向12吋晶圆迈进。下图自左到右给出的是从2吋12吋按比例画出的圆。由此,我们对晶圆尺寸的增加有一个直观的印象。,返回,2023/9/16,25,通过下图以人的脸面相对照,我们可以对一个12吋晶圆的大小建立一个直观的印象。一个12吋晶圆与人脸大小的对比,2023
14、/9/16,26,4.芯片面积(Chip Area)随着集成度的提高,每芯片所包含的晶体管数不断增多,平均芯片面积也随之增大。芯片面积的增大也带来一系列新的问题。如大芯片封装技术、成品率以及由于每个大圆片所含芯片数减少而引起的生产效率降低等。但后一问题可通过增大晶片直径来解决。5.封装(Package)IC的封装最初采用插孔封装THP(through-hole package)形式。为适应电子设备高密度组装的要求,表面安装封装(SMP)技术迅速发展起来。在电子设备中使用SMP的优点是能节省空间、改进性能和降低成本,因SMP不仅体积小而且可安装在印制电路板的两面,使电路板的费用降低60,并使性能
15、得到改进。,返回,2023/9/16,27,1.4 集成电路设计与制造的主要流程 框架,2023/9/16,28,Production Process Flow,晶圆片多探针测试,坏的芯片打标记,IC制造有以下5个过程,硅晶圆片,晶圆处理制程,打字、最后测试,封装,布满芯片的硅晶圆片,2023/9/16,29,集成电路的设计过程:设计创意+仿真验证,集成电路芯片设计过程框架,2023/9/16,30,硅单晶片与加工好的硅片,2023/9/16,31,集成电路芯片的显微照片(44mm),2023/9/16,32,64M SDRAM(华虹NEC生产)芯片面积5.899.7=57mm2,1个IC中含
16、有1.34亿只晶体管,2023/9/16,33,集成电路的内部单元,2023/9/16,34,封装好的集成电路,返回,2023/9/16,35,1.5 集成电路的发展历史,1.晶体管的发明 1946年1月,Bell实验室正式成立半导体研究小组,W.Schokley肖克莱,J.Bardeen巴丁、W.H.Brattain布拉顿。Bardeen提出了表面态理论,Schokley给出了实现放大器的基本设想,Brattain设计了实验。1947年12月23日,第一次观测到了具有放大作用的晶体管,2023/9/16,36,2023/9/16,37,二战结束时,诸多半导体方面的研究成果为晶体管的发明作好了
17、理论及实践上的准备。1946年1月,依据战略发展思想,Bell实验室成立了固体物理研究组及冶金组,开展固体物理方面的研究工作。在系统的研究过程中,肖克莱根据肖特基的整流理论,预言通过“场效应”原理,可以实现放大器,然而实验结果与理论预言相差很多。经过周密的分析,巴丁提出表面态理论,开辟了新的研究思路,兼之对电子运动规律的不断探索,经过多次实验,于1947年12月实验观测到点接触型晶体管放大现象。第二年1月肖克莱提出结型晶体管理论,并于1952年制备出结型锗晶体管,从此拉开了人类社会步入电子时代的序幕。,2023/9/16,38,1956年诺贝尔物理学奖授予美国加利福尼亚州景山(Mountain
18、 View)贝克曼仪器公司半导体实验室的肖克莱(William Shockley,19101989)、美国伊利诺斯州乌尔班那伊利诺斯大学的巴丁(John Bardeen,19081991)和美国纽约州缪勒海尔(Murray Hill)贝尔电话实验室的布拉顿(Walter Brattain,19021987),以表彰他们在1947年12月23日 发明第一个对半导体的研究和NPN点接触式Ge晶体管效应的发现。,2023/9/16,39,世界上第一个Ge点接触型PNP晶体管,2023/9/16,40,2.集成电路的发明,1952年5月,英国科学家G.W.A.Dummer达默 第一次提出了集成电路的设
19、想。1958年以德克萨斯仪器公司的科学家基尔比(Clair Kilby)为首的研究小组研制出了世界上第一块集成电路,并于1959年公布了该结果,2023/9/16,41,1958年第一块集成电路:TI公司的Kilby,12个器件,Ge晶片,获得2000年Nobel物理奖,2023/9/16,42,1958年发明第一块简单IC的美国TI公司Jack S.Kilby 杰克基尔比、美国加利福尼亚大学的赫伯特克勒默和俄罗斯圣彼得堡约飞物理技术学院的泽罗斯阿尔费罗夫一起获得2000年Nobel物理奖,以表彰他们为现代信息技术的所作出的基础性贡献,特别是他们发明的IC、激光二极管和异质晶体管。,赫伯特克勒
20、默 杰克基尔比 泽罗斯阿尔费罗夫,2023/9/16,43,青年基尔比,第一块集成电路,集成电路草图,1958年9月12日,TI公司的Jack S.Kilby在德州仪器半导体实验室展示了一个构造较为简单的设备。第一次将所有有源和无源元器件都集合到只有一个曲别针大小(不足1/2英寸见方)的半导体材料上。这块集成电路共集成了十二个元件(两个晶体管、两个电容和八个电阻)。Kilby本人也因此与赫伯特克勒默和俄罗斯的泽罗斯阿尔费罗夫一起荣获2000年度诺贝尔物理学奖。,Ge 衬底上的混合集成电路,美国专利号3138743,2023/9/16,44,1959年 美国仙童/飞兆公司(Fairchilds)
21、的R.Noicy诺依斯开发出用于IC的Si平面工艺技术,从而推动了IC制造业的大发展。,1959年仙童公司制造的IC,年轻时代的诺伊斯,2023/9/16,45,60年代 TTL、ECL出现并得到广泛应用。1966年 MOS LSI发明(集成度高,功耗低)70年代 MOS LSI得到大发展(出现集成化微处理器,存储器)VLSI,典型产品64K DRAM,16位 MPU 80年代 VLSI出现,使IC进入了崭新的阶段(其标志为特征尺寸小于2m,集成度105个元件/片)典型产品4M DRAM(集成度 8106,芯片面积91mm2,特征尺寸0.8m,晶片直径150mm),于89年开始商业化生产,95
22、年达到生产顶峰。,3.集成电路发展简史,2023/9/16,46,90年代 ASIC、ULSI和巨大规模集成GSI等代表更高技术水平的IC不断涌现,并成为IC应用的主流产品。1 G DRAM(集成度2.2109,芯片面积700mm2,特征尺寸0.18m,晶片直径200mm),2000年开始商业化生产,2004年达到生产顶峰。集成电路的规模不断提高,CPU(P4)己超过4000万晶体管,DRAM已达Gb规模。集成电路的速度不断提高,采用0.13m CMOS工艺实现的CPU主时钟已超过2GHz,实现的超高速数字电路速率已超过10Gb/s,射频电路的最高工作频率已超过6GHz。,2023/9/16,
23、47,21世纪 集成电路复杂度不断增加,系统芯片或称芯片系统SoC(System-on-Chip)成为开发目标、纳米器件与电路等领域的研究已展开。英特尔曾于2003年11月底展示了首个能工作的65纳米制程的硅片,Intel2004 年8月宣布,他们已经采用65纳米,生产出了70Mbit的SRAM。并计划于2005年正式进入商业化生产阶段。使用65纳米制程生产的芯片中门电路的数目是90纳米制程的1/3。SRAM(静态存储器)将用于高速的存储设备,处理器中非常重要的缓存就是采用SRAM。,返回,2023/9/16,48,1.摩尔定律定义:集成电路中的晶体管数目(也就是集成度)大约每18个月翻一番。
24、,1.6 集成电路的发展规律,Moores Law:The number of transistors per integrated circuit would double every 18 month.,2023/9/16,49,摩尔分析了集成电路迅速发展的原因,他指出集成度的提高主要是三方面的贡献:特征尺寸不断缩小,大约每3年缩小1.41倍;芯片面积不断增大,大约每3年增大1.5倍;器件和电路结构的改进。19591975年IC集成度提高64K倍器件尺寸缩小使IC集成度增长32倍芯片面积增大使IC集成度增长20倍器件和电路结构的改进使IC集成度增长100倍,2023/9/16,50,摩尔定
25、律的验证,2023/9/16,51,摩尔定律的前景,摩尔定律问世40年了。人们不无惊奇地看到半导体芯片制造工艺水平以一种令人目眩的速度提高。目前,Intel的微处理器芯片Pentium 4的主频已高达2G(即1 2000M),2011年则要推出含有10亿个晶体管、每秒可执行1千亿条指令的芯片。人们不禁要问:这种令人难以置信的发展速度会无止境地持续下去吗?不需要复杂的逻辑推理就可以知道:芯片上元件的几何尺寸总不可能无限制地缩小下去,这就意味着,总有一天,芯片单位面积上可集成的元件数量会达到极限。问题只是这一极限是多少,以及何时达到这一极限。业界已有专家预计,芯片性能的增长速度将在今后几年趋缓。一
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