质量管理-统计过程控制.ppt
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1、质 量 管 理,主讲:,第四章 统计过程控制,质 量 管 理,本 章 主 要 内 容,4.1质量变异及其统计规律4.2统计过程控制概述4.3过程能力分析4.4控制图,4.1质量变异及其统计规律,本 节 主 要 内 容,一、什么是质量变异?二、质量变异的原因三、质量变异的分类四、质量变异的统计规律五、抽样分布与中心极限定理六、质量变异与过程状态,4.1质量变异及其统计规律,一、什么是质量变异?在生产制造过程中,能生产出绝对相同的两件产品吗?生产实践证明,无论用多么精密的设备和工具,多么高超的操作技术,甚至由同一工人,在同一设备上,用相同的工具、相同材料来生产同种产品,其加工后的产品质量特性(如:
2、重量、尺寸等)总是有差异,这种差异就称为质量变异或质量波动。公差制度实际上就是对这个事实的客观承认。,4.1质量变异及其统计规律,二、质量变异的原因(为什么会出现质量变异现象?)(一)按原因的不同来源分类P38可分为:操作人员(Man)、设备(Machine)、原材料(Material)、操作方法(Method)、环境(Environment)人、机、料、法、环,简称 4M1E;有的还把测量(Measurement)加上,简称 5M1E。ISO9000 族国际标准则分得更细,除去上述因素外还加上计算机软件,辅助材料与水、电、公用设施等,反映了时代的进步。,4.1质量变异及其统计规律,(二)按原
3、因的影响大小与作用性质分类 P321.偶然原因(偶然因素、随机因素)偶然因素具有4个特点:影响微小;始终存在;逐件不同;不易消除。偶然因素的例子很多,如机床开动时的轻微振动、原材料的微小差异、操作的微小差别等。随着科技的进步,有些偶然因素的影响可以设法减少,甚至基本消除。但从整体来看是不可能完全加以消除的。因此,该因素引起产品质量的变异与波动是不可避免的,故对于该因素不必予以特别处理。,4.1质量变异及其统计规律,(二)按原因的影响大小与作用性质分类(续上)2.异常原因(异常因素、系统因素)异常因素也有4个特点:影响较大;有时存在;一系列产品受到同一方向的影响;易于消除或削弱。异常因素的例子也
4、很多,如由于固定螺母松动造成机床的较大振动,刀具的严重磨损,违反规程的错误操作等。异常因素对产品质量影响较大,可造成质量过大的异常波动,以致产品质量不合格,因此,在生产过程中异常因素是注意的对象。只要发现产品质量有异常波动,就应尽快找出其异常因素,加以排除,并采取措施使之不再出现。,4.1质量变异及其统计规律,三、质量变异的分类(一)正常变异(正常波动)正常变异是指由偶然原因(偶然因素、随机因素)引起的质量变异。一般不予特别处理。(二)异常变异(异常波动)异常变异是指由异常原因(异常因素、系统因素)引起的质量变异。应特别关注,一旦发现,应加以排除。,在实际生产制造过程中,正常变异与异常变异总是
5、交织在一起的,如何加以区分?(很重要的一项工作),4.1质量变异及其统计规律,四、质量变异的统计规律,4.1质量变异及其统计规律,四、质量变异的统计规律,4.1质量变异及其统计规律,四、质量变异的统计规律在生产正常的情况下(只有正常变异),对产品质量的变异经过大量调查分析后,可以应用概率论与数理统计方法,来精确地找出质量变异的幅度,以及不同大小的变异幅度出现的可能性,即找出产品质量的统计分布。这就是产品质量变异的统计规律。(通过做直方图也可以简单直观地显示质量变异的规律性。)质量变异的统计规律主要有两大类情况。(一)计数值数据下的质量变异规律(统计分布)(二)计量值数据下的质量变异规律(统计分
6、布),4.1质量变异及其统计规律,(一)计数值数据下的质量变异规律(统计分布)计数值数据是指那些不能连续取值的、只能以整数计算的数据,又称为离散型数据。还可再分为计点型数据和计件型数据。常见的统计分布形式有:超几何分布;二项分布;泊松分布。,4.1质量变异及其统计规律,超几何分布超几何分布的研究对象是有限总体无放回抽样。超几何分布概率计算公式为:,其中:,4.1质量变异及其统计规律,二项分布二项分布的研究对象是总体无限有放回抽样。主要用于具有计件值特征的质量特性值分布规律的研究。根据概率论与数理统计推断的基本原理,当N10n时,可以用二项分布逼近超几何分布。根据贝努利定理,二次分布的概率计算公
7、式为:,其中:,4.1质量变异及其统计规律,4.1质量变异及其统计规律,泊松分布泊松分布研究的对象是具有计点值特征的质量特性值,例如布匹上出现的疵点的规律、机床发生故障的规律。当二项分布的n很大而p很小时,泊松分布可作为二项分布的近似。泊松分布的概率计算公式为:,其中:参数为随机变量x出现的平均数;e为自然对数的底,等于2.71828。,泊松分布的均值与方差分别为:,4.1质量变异及其统计规律,4.1质量变异及其统计规律,(二)计量值数据下的质量变异规律(统计分布)计量值数据是指可以连续取值的数据数据,又称为连续型数据。常见的统计分布形式是:正态分布。正态分布是应用最广泛的一种统计分布。可作为
8、二项分布与泊松分布的近似。,4.1质量变异及其统计规律,设x为一随机变量,若x的概率密度函数为:,则称x服从正态分布。,由于正态分布广为使用,常常采用一个专门记号 xN(,2)表示x是正态分布的,其参数为均值与方差2。,正态分布,4.1质量变异及其统计规律,正态分布曲线呈钟型,以x=为对称轴,左右对称。描述了正态分布数据的集中趋势。它也是正态分布的位置参数。,标准差描述了正态分布数据的离散程度。它也是正态分布的形状参数,值越大,曲线越扁平,值越小,曲线越瘦高。,4.1质量变异及其统计规律,正态分布的“3原理”,4.1质量变异及其统计规律,五、抽样分布与中心极限定理统计量(statistic)是
9、用来描述样本特征的概括性数字度量,它是根据样本数据计算出来的一些量,是样本的函数,不依赖任何未知参数。常用统计量:样本均值(x)、样本标准差(s)、样本比例(p)等。统计量的分布称为抽样分布。抽样分布提供了样本统计量长远而稳定的信息,是进行推断的理论基础,也是抽样推断科学性的重要依据。,4.1质量变异及其统计规律,中心极限定理,一个任意分布的总体当样本容量足够大时(n30),样本均值的抽样分布逐渐趋于正态分布。,从均值为,方差为 2的一个任意总体中抽取容量为n的样本,当n充分大时,样本均值的抽样分布近似服从均值为、方差为2/n的正态分布。,4.1质量变异及其统计规律,六、质量变异与过程状态当过
10、程仅受偶然原因(偶然因素、随机因素)影响时,会有正常变异,这种情况下,我们认为过程处于统计控制状态(简称受控状态)或稳定状态;当过程中存在异常原因(异常因素、系统因素)的影响时,会出现异常变异,这种情况下,我们认为过程处于统计失控状态(简称失控状态)或不稳定状态。,4.1质量变异及其统计规律,4.2统计过程控制概述,本 节 主 要 内 容,一、过程、过程控制、统计过程控制二、SPC的起源与发展三、SPC的特点四、SPC的两大任务,4.2统计过程控制概述,一、过程、过程控制、统计过程控制(一)过程过程:“一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动。”(ISO9000:2000)设计过程、制造
11、过程、服务过程、管理过程等。,4.2统计过程控制概述,(二)过程控制简单地说,过程控制(Process Control)就是维持过程处于稳定状态的活动。,输入,4.2统计过程控制概述,(三)统计过程控制统计过程控制(Statistical Process Control,简称SPC),是一种借助数理统计方法的过程控制工具。SPC是利用质量变异的统计规律性对过程进行分析控制的。应用它可以对过程进行分析评价,根据反馈信息及时发现异常因素、系统因素出现的征兆,并采取措施消除其影响,使过程维持在仅受偶然因素、随机因素影响的受控状态,以达到控制质量的目的。,4.2统计过程控制概述,二、SPC的起源与发展
12、SPC最早是由美国贝尔实验室专家休哈特于上世纪20年代提出。迄今为止,SPC的基本原理同休哈特提出的原理并无本质上的区别。目前在欧美包括国内的港台地区,SPC在制造企业中已基本普及运用。鉴于SPC在质量管理中的重要性,国际标准化组织(ISO)也将其作为ISO9000族质量体系认证的一个重要要素。同时,它也是6Sigma 质量管理的核心手段。,4.2统计过程控制概述,三、SPC的特点1.SPC强调预防,防患于未然是SPC的宗旨;2.SPC是全系统的,全过程的,强调全员参与,不是只依靠少数质量管理人员;3.SPC强调用科学方法(主要是统计技术,尤其是控制图理论)来保证全过程的预防;4.可判断过程异
13、常并及时告警;5.最终发展为SPD(Statistical Process Diagnosis,统计过程诊断),SPD既有告警功能,又有诊断功能;,4.2统计过程控制概述,四、SPC的两大任务一是判断过程运行状态是否稳定,可利用控制图进行测定和监控;二是判断稳定的过程能力是否满足技术要求,可通过程能力分析(计算过程能力指数)来实现。,SPC可以对波动进行预测和控制,但并不能消除波动。,4.3过程能力分析,本 节 主 要 内 容,一、过程能力的概念二、过程能力指数的概念三、过程能力指数的计算四、过程不合格品率的计算五、过程能力的判定六、提高过程能力指数的途径,4.3过程能力分析,一、过程能力的概
14、念,4.3过程能力分析,一、过程能力的概念过程能力(process capability)或称为工序能力,是指过程处于受控或稳定状态下的实际加工能力。通俗地说,它是过程稳定地生产合格产品的能力,即满足产品质量要求的能力。如何衡量(度量)过程能力?(定量分析)当过程处于受控或稳定状态时,可以用该过程产品质量特性值的变异或波动幅度来描述过程能力。(为什么?具体如何表示?),4.3过程能力分析,假定两个工序分别生产同一种产品:某种齿轮。抽取20个产品,测量其直径,数据如下。(单位:mm),第一个工序:20.2 19.8 19.7 20.1 20.3 19.5 20.4 20.0 19.9 19.7
15、20.1 20.2 19.8 20.0 19.6 20.5 19.5 20.1 19.9 19.9,第二个工序:20.2 19.0 19.1 20.7 20.0 19.5 21.0 20.0 19.1 19.7 20.9 20.2 19.8 19.0 19.6 20.9 19.0 20.1 19.1 19.9,第一个工序的标准差=0.284第二个工序的标准差=0.675,4.3过程能力分析,具体而言,当过程处于受控或稳定状态时,产品质量特性值一般服从正态分布。根据正态分布的“3原理”,在3的范围内包含了99.73%的质量特性值,即几乎包含了所有的产品。因此可以以3,即6来定量表示过程能力。以6
16、来表示过程能力可以较好地兼顾全面性和经济性两个方面。(为什么?用4,即8表示或 5,即10表示可以吗?)(99.994%99.999945%)记过程能力为B,则B=6。,4.3过程能力分析,显然,在B=6中,是一个关键参数,越大,过程能力越低;越小,过程越高。如下图所示。,因此,提高过程能力的重要途径之一就是尽量减小,使质量特性值的离散程度变小,在实际中也就是提高加工的精度。如何减小?P151过程能力是5M1E因素的综合反映,因此,控制或提高过程能力就应当从这几个方面着手。,4.3过程能力分析,由上述内容可知,过程能力B=6有两个前提条件:一是质量特性值必须服从正态分布;二是控制的结果是产品的
17、合格品率能够达到99.73%。因此,上述过程能力的概念只适用于一般的工序。对于粗加工或精密加工等特殊工序,则不一定适用,如果机械地套用在B=6衡量过程能力,可能会产生较大的偏差。,4.3过程能力分析,二、过程能力指数的概念仅仅知道“自己的能力有多大”行吗?“能力”与“要求”结合起来分析才有更深刻的意义,4.3过程能力分析,过程能力指数表示过程能力满足产品技术标准的程度。一般记做CP。(技术标准是指加工过程中产品必须达到的质量要求,通常用标准、公差(容差)等来衡量,一般用符号T表示。)过程能力指数CP可以用下式来表示:,CP的大小反映了什么?,4.3过程能力分析,三、过程能力指数的计算(一)计量
18、值过程能力指数的计算1.双侧公差而且分布中心和标准中心M重合的情况下CP值的计算。如下图所示。,4.3过程能力分析,此时CP 值的计算为:,可以用抽取样本的实测值计算出样本标准偏差S来估计。这时,式中,TU为质量标准上限,TL为质量标准下限,即T=TUTL。,(参教材例5.1),4.3过程能力分析,标准中心M可以算出来,没有给出分布中心,按二者重合情况计算。,4.3过程能力分析,另一例子:某螺栓外径的设计要求为100.025mm,现在从生产现场随机抽取样本,测得=10mm,S=0.005mm,试求过程能力指数。,解:公差中心M为:,所以,分布中心和公差中心M重合,则,4.3过程能力分析,2.双
19、侧公差但分布中心和标准中心M不重合的情况下,要对Cp值进行修正,因为当质量特性分布中心和标准中心M不重合时,如图5.2 所示。虽然分布标准差未变,CP也没变,但却出现了过程能力不足的现象。,4.3过程能力分析,又,,所以,,4.3过程能力分析,从上述公式可知:当恰好位于标准中心时,|M|=0,则K=0,这就是分布中心与标准中心重合的理想状态。当恰好位于标准上限或下限时,即=T或=TL 时,则K=1。当位于标准界限之外时,即T/2,则K1。所以K值越小越好,K=0 是理想状态。,4.3过程能力分析,因为分布中心和标准中心M不重合,所以实际有效的标准范围就不能完全利用。若偏移量为,则分布中心右侧的
20、过程能力指数为:,分布中心左侧的过程能力指数为:,4.3过程能力分析,左侧过程能力的增加值补偿不了右侧过程能力的损失,所以在有偏移值时,只能以两者中较小值来计算过程能力指数。这个过程能力指数称为修正过程能力指数,记作CPK。,由于,因此,当K=0时,CPK=CP,即偏移量为0,修正过程能力指数就是一般的过程能力指数。当K1 时,CPK=0,这时CP实际上也已为0。,4.3过程能力分析,例5.2 设零件的尺寸要求(技术标准)300.023mm,随机抽样后计算样本特性值为=29.997mm,CP=1.095,求Cpk。解:已知,所以,4.3过程能力分析,另外一例:某过程加工的零件尺寸要求为300.
21、022mm,加工数量100件的一批零件后,计算=29.996mm,S=0.005mm,试求过程能力指数。,解:,4.3过程能力分析,3.单侧公差情况下CP值的计算。技术要求以不大于或不小于某一标准值的形式表示,这种质量标准就是单侧公差。灯管寿命2000小时(只规定下限标准)数值越大越好某产品铅含量200ppm(只规定上限标准)数值越小越好在只给定单侧标准的情况下,特性值的分布中心与标准的距离就决定了过程能力的大小。为了经济地利用过程能力,并把不合格品率控制在0.3%左右,按3分布的原理,在单侧标准的情况下就可用3作为计算CP 值的基础。,4.3过程能力分析,只规定上限标准时,如图5.3 所示,
22、过程能力指数为:,注意:当TU 时,则认为CP=0,这时可能出现的不合格率高达50%100%。,4.3过程能力分析,只规定下限标准时,如图5.4 所示,过程能力指数为,注意:当TL 时,则认为CP=0,这时可能出现的不合格率同样为50%100%。,4.3过程能力分析,例5.3 某一产品含某一杂质要求最高不能超过12.2 毫克,样本标准偏差S为0.038,X为12.1,求过程能力指数。解:,4.3过程能力分析,另一例:某厂生产的节能灯管寿命要求不能低于2500小时,现在随机抽取100根灯管进行检测得,=2750小时,S=75小时,试求过程能力指数。,解:,4.3过程能力分析,(二)计件值过程能力
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