无机非金属材料基础PPT课件第一二章缺陷固溶体.ppt
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1、第一章晶体结构缺陷,内容提要,回顾与展望第一节 晶体结构缺陷的类型第二节 缺陷化学反应表示法第三节 热缺陷浓度计算第四节 非化学计量化合物第五节 位错第六节 面缺陷,回顾与展望,上学期所讲,晶体结构在三维空间遵循严格的周期性,但仅在绝对零度才可能出现。即理想晶体。实际晶体存在各种尺度上的结构不完整性。正是由于缺陷的存在,才使晶体表现出各种性质,使材料加工使用过程中的各种性能得以有效控制和改变,使材料性能的改善和复合材料的制备得以实现。,晶体材料所固有的电、磁、声、光、热和力学性能,材料加工使用中所表现出来的行为大都具有结构敏感性,晶体缺陷则是研究晶体结构敏感性的关键问题和研究材料质量的核心内容
2、。了解掌握各种缺陷的成因、特点及其变化规律,对于材料工艺过程的控制,材料性能的改善,新型结构和功能材料的设计、研究与开发具有非常重要的意义。,总述 1、缺陷产生的原因热振动、杂质2、缺陷定义实际晶体与理想晶体相比有一定程度的偏离或不完美性,把这种结构发生偏离的区域叫缺陷。3、研究缺陷的意义导电、半导体、发色(色心)、发光、扩散、烧结、固相反应(材料科学的基础)4、缺陷分类点缺陷、线缺陷、面缺陷,第一节 晶体结构缺陷的类型,1.点缺陷(零维缺陷)缺陷尺寸处于原子大小的数量级上,即三维方向上缺陷的尺寸都很小。包括:空位(vacancy)间隙质点(interstitial particle)杂质质点
3、(foreign particle)。(点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关),2.线缺陷(一维缺陷),指在一维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列所产生的缺陷,即缺陷尺寸在一维方向较长,另外二维方向上很短。如各种位错(dislocation)。线缺陷的产生及运动与材料的韧性、脆性密切相关。,3.面缺陷,面缺陷又称为二维缺陷,是指在二维方向上偏离理想晶体中的周期性、规则性排列而产生的缺陷,即缺陷尺寸在二维方向上延伸,在第三维方向上很小。如晶界、表面、堆积层错、镶嵌结构等。面缺陷的取向及分布与材料的断裂韧性有关。,4.体缺陷,三维缺陷,局部在三维空间偏离理想晶体的周期
4、性而产生的缺陷。第二相粒子团、空位团等 体缺陷与物系的分相、偏聚等过程有关。,点缺陷主要有以下两种分类方法 一、根据对理想晶体偏离的几何位置及成分来分,有三类,2.空 位,1.填 隙 原 子,3.杂 质 原 子,正常结点位置没有被质点占据,称为空位。,质点进入间隙位置成为填隙原子。,杂质原子进入晶格(结晶过程中混入或加入,一般不大于1,)。,进入,间隙位置间隙杂质原子正常结点取代(置换)杂质原子。,固溶体,图2-1 晶体中的点缺陷,(a)空位,(b)杂质质点,(c)间隙质点,二、根据产生缺陷的原因分类,热 缺 陷,杂 质 缺 陷,非化学计量结构缺陷,1、热缺陷:当晶体的温度高于绝对0K时,由于
5、晶格内原子热运动,使一部分能量较大的原子离开平衡位置(产生空位或间隙质点)造成的缺陷。热缺陷亦称为本征缺陷。(1)Frankel缺陷 晶格热振动,能量大的原子离开平衡位置,挤到晶格的间隙,形成间隙原子,而原来位置上形成空位。,Frankel缺陷的产生,形成条件结构中空隙较大,或阴阳离子半径相差较大,如CaF2、AgBr。,萤石晶体,Ca2+可以离开原位进入间隙,此间隙为八个F形成的立方体空隙,较大半径的阴离子形成较大间隙,阳离子半径较小,可进入间隙中。,Frenkel缺陷的特点是:间隙原子和空位成对出现缺陷产生前后,晶体体积不变,从能量角度分析,(2)Schottky缺陷,如果正常格点上的原子
6、,在热起伏过程中获得能量离开平衡位且迁移到晶体的表面,在晶体内正常格点上留下一套空位,这就是肖特基缺陷,Schottky缺陷的特点是:空位成套出现;晶体的体积增加。例如NaCl晶体中,产生一个Na+空位时,同时要产生一个Cl-空位。,Schottky缺陷的产生,flash,形成条件结构比较紧密,没有较大空隙,阴阳离子半径相差比较小,如NaCl、MgO。如NaCl,Na+本来就存在于所有八面体孔隙中,四面体孔隙小,不可能容纳,只能迁移到表面。,gMg+Oo=VMg+Vo+Mgsurf+Osurf0=VMg+Vo,Schottky缺陷形成的能量小于Frankel 缺陷形成的能量因此对于大多数晶体来
7、说,Schottky 缺陷是主要的。这两种缺陷的产生都是由于原子的热运动,所以缺陷浓度与温度有关。,两种缺陷在能量上的比较,2 杂质缺陷(组成缺陷或非本征缺陷)概念杂质原子进入晶体而产生的缺陷。原子进入晶体的数量一般小于0.1%。,杂质原子进入晶体后,因与原有的原子性质不同,故它不仅破坏了原有晶体的规则排列,而且在杂质原子周围的周期势场引起改变,因此形成一种缺陷,种类间隙杂质、置换杂质特点杂质缺陷的浓度与温度关系不 大,主要决定于溶解度。存在的原因 本身存在 有目的加入(改善晶体的某种性能),白宝石-Al2O3中掺入Cr2O3后得到红宝石激光器,Cr3+取代了Al3+形成缺陷,成发光中心。,3
8、 非化学计量结构缺陷 存在于非化学计量化合物中的结构缺陷,化合物化学组成与周围环境气氛有关;不同种类的离子或原子数之比不能用简单整数表示。如:Fe1-xO、Zn1+xO等。,第二节 缺陷化学反应表示法,用一个主要符号表明缺陷的种类 用一个下标表示缺陷位置 用一个上标表示缺陷的有效电荷 如“.”表示有效正电荷“/”表示有效负电荷;“”表示有效零电荷。,1.常用缺陷表示方法(克罗格-明克符号),用MX离子晶体为例(M2;X2):1.空位:VM 表示M原子占有的位置,在M原子移走后出现的空位;VX 表示X原子占有的位置,在X原子移走后出现的空位。,把离子化合物看作完全由离子构成(这里不考虑化学键性质
9、),则在 NaCl晶体中,如果取走一个Na+晶格中多了一个e,因此VNa 必然和这个e/相联系,形成带电的空位,写作,同样,如果取出一个Cl,即相当于取走一个Cl原子加一个e,那么氯空位上就留下一个电子空穴(h.)即,(2)填隙原子:用下标“i”表示 Mi 表示M原子进入间隙位置;Xi 表示X原子进入间隙位置。(3)置换原子(错放位置、错位原子、溶质原子、杂质原子)MX 表示M原子占据了X原子正常所处的平衡位置。LM 表示溶质L占据了M的位置。例如 Ca取代了MgO晶格中的Mg写作CaMg。Ca若填隙在MgO晶格中写作Cai。,(4)自由电子及电子空穴:有些情况下,价电子并不一定属于某个特定位
10、置的原子,在光、电、热的作用下可以在晶体中运动.这样的电子与空穴称为自由电子和电子空穴,分别用e和h表示。,(5)带电缺陷 包括离子空位以及由于不等价离子之间的替代而产生的带电缺陷。不同价离子之间取代如Ca2+取代Na+Ca Na Ca2+取代Zr4+Ca”Zr,(6)缔合中心 在晶体中除了单个缺陷外,有可能出现邻近两个缺陷互相缔合,把发生 缔合的缺陷用小括号表示,也称复合缺陷。在离子晶体中带相反电荷的点缺陷之间,存在一种有利于缔合的库仑引力。如:在NaCl晶体中,,二、书写点缺陷反应式的规则(1)位置关系:晶体中各种格点数的固有比例关系必须保持不变。例如在-Al203中,A1格点与O格点数之
11、比在反应前后,都必须是2:3。,K:Cl=2:2,2、位置增殖(包括负增殖)能引起位置变化的缺陷:空位(VM)、置换杂质原子(不等价)(MX、XM)、表面位置(Ms)等。在正常格点上,会引起位置变化。:形成Schottky缺陷时增加了位置数目。:当表面原子迁移到内部与空位复合时,则减少 了位置数目(MM、XX)。不发生位置增殖的缺陷:e/,h.,Mi,Xi,Li等。他们不在正常格点上,不引起位置变化。,3、质量平衡 反应式左边出现的原子、离子,也必须以同样数量出现在反应式右边。注意空位的质量为零;电子缺陷也要保持质量守衡。,4、电中性 缺陷反应两边总的有效电荷必须相等。5、表面位置 当一个M原
12、子从晶体内部迁移到表面时,用符号MS表示。S 表示表面位置。在缺陷化学反应中表面位置一般不特别表示。,(1)缺陷符号 缺陷的有效电荷是相对于基质晶体的结点位置而言的,用“.”、“/”、“”表示正、负(有效电荷)及电中性。,杂质离子K+与占据的位置上的原Na+同价,所以不带电荷。,Na+在NaCl晶体正常位置上(应是Na+占据的点阵位置,不带有效电荷,也不存在缺陷。,小结,K的空位,对原来结点位置而言,少了一个正电荷,所以空位带一个有效负电荷。,杂质Ca2+取代Zr4+位置,与原来的Zr4+比,少2个正电荷,即带2个负有效电荷。,杂质离子Ca2+取代Na+位置,比原来Na+高+1价电荷,因此与这
13、个位置上应有的+1电价比,缺陷带1个有效正电荷。,表示 Cl-的空位,对原结点位置而言,少了一个负电荷,所以空位带一个有效正电荷。,(2)每种缺陷都可以看作是一种物质,离子空位与点阵空位也是物质,不是什么都没有。空位是一个零粒子。,缺陷反应实例,写出MgO形成肖特基缺陷的反应方程式解 MgO形成肖特基缺陷时,表面的Mg2+和O2+离子迁移到表面新的位置,在晶体内部留下空位,用方程式表示为:,gMg+Oo=VMg+Vo+Mgsurf+Osurf右边的表面位置和左边的正常位置无本质区别,消掉,用零表示无缺陷状态,简化为:0=VMg+Vo,写出AgBr形成弗伦克尔缺陷的反应方程式解 AgBr中半径小
14、的Ag+离子进入晶格间隙,在其格点上留下空位,方程式为:AgAgAgi+VAg 提示:一般规律是,当晶体中剩余空隙较小时,如NaCl型结构,易产生肖特基缺陷;反之如萤石型结构产生弗伦克尔缺陷。,3 写缺陷反应举例(1)CaCl2溶解在KCl中,表示KCl作为溶剂。以上三种写法均符合缺陷反应规则。实际上(11)比较合理。,(2)MgO溶解到Al2O3晶格中,(15较不合理。因为Mg2+进入间隙位置不易发生。,规 律,低价正离子占据高价正离子位置时,该位置带有负电荷。为了保持电中性,会产生负离子空位或间隙正离子。高价正离子占据低价正离子位置时,该位置带有正电荷。为了保持电中性,会产生正离子空位或间
15、隙负离子。,练习 写出下列缺陷反应式:(1)MgCl2固溶在LiCl晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)(2)SrO固溶在Li2O晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)(3)Al2O3固溶在MgO晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)(4)YF3固溶在CaF2晶体中(产生正离子空位,生成置换型SS)(5)CaO固溶在ZrO2晶体中(产生负离子空位,生成置换型SS),若是单质晶体形成热缺陷浓度计算为:,若是MX二元离子晶体的Schottky缺陷,因同时出现正离子 空位和负离子空位,热缺陷浓度计算为:,第三节 热缺陷浓度计算,缺陷的产生和回复是动态平衡,可看作是一种化 学平衡。1、Fran
16、ker缺陷:如AgBr晶体中,当缺陷浓度很小时,,因为填隙原子与空位成对出现,故有,(又)弗仑克尔缺陷浓度的计算AgBr晶体形成弗仑克尔缺陷的反应方程式为:AgAg平衡常数K为:式中 AgAg1。又Gf=kTlnKf,则式中 k为玻耳兹曼常数;G为形成一个弗仑克尔缺陷的自由焓变,),2,exp(,.,kT,Gf,V,Ag,Ag,i,D,-,=,=,若缺陷浓度n/N中N取1mol,则上式改为式中:R为气体常数;G为形成1mol弗仑克尔缺陷的自由焓变,设完整晶体的总质点数为N,在绝对温度T时,形成n个热缺陷,用n/N表示热缺陷的分数,即热缺陷浓度。,n/N=,2、Schottky缺陷:例:MgO晶
17、体,0,2,1,K,V,V,V,V,K,V,V,O,Mg,V,V,O,Mg,s,O,Mg,O,Mg,s,O,Mg,s,s,O,Mg,O,Mg,=,=,=,+,+,+,+,+,简写:,又Gf=kTlnKf,=,V,V,O,Mg,=,MX2型晶体肖特基缺陷浓度的计算CaF2晶体形成肖特基缺陷反应方程式为:动态平衡 G=RTlnK 又O=1,则,影响热缺陷浓度的因素,1、温度的影响 热缺陷浓度随温度的升高呈指数增加。2、缺陷形成能的影响 温度不变,缺陷浓度随缺陷形成能的 升高而下降。一般来说,在离子晶体中形成肖特基缺陷所需的能量比形成弗伦克尔缺陷需要的能量少。,不同温度下的缺陷浓度表,4-4。,Es
18、=6eV=61.60210-19=9.61210-19J,T=25时,0.01 0.02 0.01,0.0110-9,杂质缺陷占优势。,810-9,定义:把原子或离子的比例不成简单整数比或固定 的比例关系的 化合物称为非化学计量化合物。实质:同一种元素的高价态与低价态离子之间的置 换型固溶体。例:方铁矿只有一个近似的组成Fe0.95O,它的结 构中总是有阳离子空位存在,为保持结构电 中性,每形成一个,必须有2个Fe2+转变 为Fe3+。,第四节 非化学计量化合物(Nonstoichiometric Compounds),非化学计量化合物的特点,1)非化学计量化合物产生及缺陷浓度与气氛性质、压力
19、有关;2)可以看作是高价化合物与低价化合物的固溶体;3)非化学计量化合物都是半导体。,半导体材料分为两大类:一是掺杂半导体,如Si、Ge中掺杂B、P,Si中掺P为n型半导体;二是非化学计量化合物半导体,又分为金属离子过剩(n型)(包括负离子缺位和间隙正离子)和负离子过剩(p型)(正离子缺位和间隙负离子),非化学计量化合物可分为四种类型:,阳离子填隙型,阴离子间隙型,阳离子空位型,阴离子缺位型,一、由于负离子缺位,使金属离子过剩,Ti02、ZrO2会产生这种缺陷,分子式可写为TiO2-x,ZrO2-x,产生原因是环境中缺氧,晶格中的氧逸出到大气中,使晶体中出现了氧空位。,缺陷反应方程式应如下:,
20、又 TiTi+e=TiTi,等价于,TiO2晶体在缺O2条件下,在晶体中会出现氧空位。缺氧的TiO2可以看作Ti4+和 Ti3+氧化物的SS,缺陷反应为:,Ti4+e Ti3+,电子e并不固定在一个特定的Ti4+上,可把e看作在负离子空位周围。因为 是带正电的,在电场作用下e可以 迁移,形成电子导电,易形成色心。(NaCl在Na蒸汽下加热呈黄色),是三价钛位于四价钛的位置上,这种离子变价现象总是和电子缺陷相联系的.,氧分压与空位浓度关系,这说明氧空位的浓度和氧分压的1/6次方成反比。,1)TiO2的非化学计量对氧压力敏感,在还原气氛中才能形成TiO2-x。烧结时,氧分压不足会导致V O 升高,
21、得到灰黑色的TiO2-x,n型半导体。TiO2材料如金红石质电容器在烧结时对氧分压是十分敏感的,如在强氧化气氛中烧结,获得金黄色介质材料。2)电导率随氧分压升高而降低。,TiO2-x结构缺陷示意图(I),为什么TiO2-x是一种n型半导体?,TiO2-x结构缺陷在氧空位上捕获两个电子,成为一种色心。色心上的电子能吸收一定波长的光,使氧化钛从黄色变成蓝色直至灰黑色。,色心、色心的产生及恢复“色心”是由于电子补偿而引起的一种缺陷。某些晶体,如果有x射线,射线,中子或电子辐照,往往会产生颜色。由于辐照破坏晶格,产生了各种类型的点缺陷。为在缺陷区域保持电中性,过剩的电子或过剩正电荷(电子空穴)就处在缺
22、陷的位置上。在点缺陷上的电荷,具有一系列分离的允许能级。这些允许能级相当于在可见光谱区域的光子能级,能吸收一定波长的光,使材料呈现某种颜色。把这种经过辐照而变色的晶体加热,能使缺陷扩散掉,使辐照破坏得到修复,晶体失去颜色。,二、由于间隙正离子,使金属离子过剩,Zn1+xO和Cdl+xO属于这种类型。过剩的金属离子进入间隙位置,带正电,为了保持电中性,等价的电子被束缚在间隙位置金属离子的周围,这也是一种色心。例如ZnO在锌蒸汽中加热,颜色会逐渐加深,就是形成这种缺陷的缘故。,ZnO Zni+2e+1/2O2或 Zn(g)=Zni+2e间隙锌离子的浓度与锌蒸汽的关系为:Zni PZn1/3Zn(g
23、)=Zni+e(单电荷间隙型)Zni PZn1/2,Znie2,PZn,K=,Zn完全电离,双电荷间隙模型,3、阴离子间隙型,很少,只有UO2+x可以看作U3O8(2UO3.UO2)在UO2中的SS。由于结构中有间隙阴离子,为保持电中性,结构中出现电子空穴,反应式为:,同样,也不局限于特定的正离子,它在电场下运动,所以是P型半导体。(即原有的U离子得到两个正电,电价升高),为了保持电中性在正离子空位周围捕获,是P型半导体。缺陷反应为:,4、阳离子空位型 如Fe1xO,Cu2xO,Fe1-xO也可以看作是Fe2O3在FeO中的固溶体,为了保持电中性,二个Fe2+被二个Fe3+和一个空位所代替,综
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