《光纤通信技术教学资料》第4章第1节.ppt

《《光纤通信技术教学资料》第4章第1节.ppt》由会员分享，可在线阅读，更多相关《《光纤通信技术教学资料》第4章第1节.ppt（27页珍藏版）》请在三一办公上搜索。

1、1,第4章 光检测器与光接收机,2,光接收机是光纤通信系统的重要组成部分，其作用是：将光信号转换回电信号，恢复光载波所携带的原信号。光接收机通常由光检测器、前置放大器、主放大器和滤波器等组成，在数字光接收机中，还要增加判决、时钟提取和自动增益控制(AGC)等电路。本章介绍:1、光接收机总体介绍 2、光检测器原理、结构与特性；,第4章 光检测器与光接收机,3,3、讨论接收机前端的噪声特性、模拟及数字接收机的性能，如信噪比或误码率、接收灵敏度等；4、分析各种接收机前置放大器特性及典型应用电路；5、介绍数字接收机重要指标：误码率和接收灵敏度。,4,光电检测器(光电二极管或雪崩光电二极管)对光信号解调

2、，将光信号转换为电信号。,图4.1 直接检测数字光接收机框图,光电检测器的输出电流信号很小，必须由低噪声前置放大器进行放大。光电检测器和前置放大器构成光接收机前端，其性能是决定接收灵敏度的主要因素。,5,主放大器与均衡滤波器构成接收机的线性通道，对信号进行高增益放大与整形，提高信噪比，减少误码率。,判决器和时钟恢复电路对信号进行再生。如果在发送端进行了线路编码，在接收端则应有相应的译码电路。,光接收机性能优劣的主要技术标志是：接收灵敏度、误码率或信噪比、带宽和动态范围 降低输入端噪声、提高灵敏度、降低误码率是光接收机理论的中心问题。,6,4.1 光电二极管 光电二极管光检测器是两种半导体光电二

3、极管：PIN 光电二极管 APD 雪崩光电二极管,4.1.1 光检测器的物理基础 当入射到检测器上的光子能量（hv）等于或大于半导体材料的带隙宽度时，价带中的电子吸收了光子能量而跃迁到导带，产生自由的电子空穴对。在外电路中产生电流，即光生电流IP：,（）,式中，R为光检测器的响应度，单位为A/W。,7,1.量子效率 光电二极管的量子效率 表示入射光子转换成光电子的效率，它定义为单位时间内产生的电子数与入射光子数之比，即,(4.1.2),8,(4.1.3),式中为m，可见响应度随波长增加而增大。但光子能量hv低于带隙能量Eg时，上式失效，0。,2.响应度,量子效率与波长的关系起因于半导体材料的吸

4、收系数()。当入射光通过宽度为w的平板半导体材料时，透射光功率：Pt=exp(-w)Pin 吸收光功率：Pab=Pin-Pt=1-exp(-w)Pin。由于每个被吸收的光子产生一电子-空穴对，则量子效率又可表示为,9,(4.1.4),式中：Pab为吸收功率，Pin为入射光功率；(入)为材料的吸收系数，其大小与材料性质有关，且是波长的函数。显然，=0时，=0；w1时，1,光检测器有两种基本类型：光电导检测器和光电压检测器。图4.2所示具有欧姆接触的同质结半导体平板是一种简单的光电导检测器。半导体材料的电导率很低，当没有入射光时，电流很小；当入射光照射时，产生了电子空穴，增大了电导率，并使电流与入

5、射光功率成比例增大。,10,图4.2 光电导检测器,光电压检测器基于无光照射时阻止电流流动的内建电场工作，由吸收光产生的电子空穴对越过内建电场，形成电流流动。,11,反偏PN结是一种简单的光电压检测器，具有高灵敏度和快速响应速率，在光波系统得到普遍应用。,图4.4 PN光电二极管的工作原理（a）,通常，一反偏 PN 结由一个称为耗尽区的区域组成。由于反向电压作用，区内完全没有自由载流子，但有一个高的内建电场阻止电子从N区流到P区(空穴从P区流到N区)。,12,当有光照射PN结的一边，如图4.4所示P侧，就通过吸收光而产生了电子空穴对，并在高的内建电场作用下，耗尽区内产生的电子空穴分别向相反的方

6、向加速，漂移到N侧和P侧，产生了比例于照射光功率的电流流动。,图4.4PN光电二极管的工作原理(a)反偏PN结及其耗尽区；(b)PN结内的光功率变化；(c)能带图及由耗尽区内外漂移和扩散导致的载流子运动。,13,这样，一个反偏PN结就构成了光电检测器，并称为PN光电二极管。对这种简单的光电二极管作一些改进，就可使这种光电二极管的性能得到很大的提高。现有两种改进方案已在光波系统中得到广泛应用：一种称为PIN光电二极管；另一种称为雪崩光电二极管(APD)。下面分别对这三类（PN、PIN、APD）光电二极管进行讨论。,14,4.1.2 PN光电二极管 如图4.4所示，入射光从 P侧进入，在耗尽区内、

7、外被吸收，在耗尽区内产生的电子空穴对，并在内建场的作用下分别向两侧运动，产生光电流，其值为,由光功率输入转换为光电流输出，有一时间迟后，其值主要决定了载流子通过耗尽区的渡越时间：tr=w/vs 其中，w为耗尽区宽度，vs为平均漂移速度，典型值为w10m,vs=cm/s,tr100ps，很小，因而PN光电二极管能检测1Gb/s的数字光脉冲。光波系统应用要求光照射产生光电流的响应时间越短越好。,15,PN光电二极管的限制因素是在产生的光电流中存在扩散分量，它与耗尽区外的光吸收有关。,例如，在P区产生的电子漂移到N区以后先扩散到耗尽区边界，在N区产生的空穴也扩散到耗尽区边界，扩散运动比漂移运动慢得多

8、，这部分载流子作扩散运动的时延将使检测器输出电流脉冲后沿的拖尾加长，影响光电二极管的响应速度。,当缩短P区和N区的宽度，增加耗尽区的宽度，使大部分入射光功率在耗尽区吸收，也可降低扩散的影响。,16,图4.5考虑漂移和扩散运动时PN光电二极管对矩形光脉冲的响应,图4.5显示，扩散分量的存在将导致光电二极管瞬态响应的失真。,17,图4.4 PN光电二极管的工作原理,(4-1-2 PIN光电二极管的工作原理动画示意图),4.1.3 PIN光电二极管,在pn结的中间插入一层本征半导体材料：增大耗尽层的宽度 w 减小载流子扩散运动的影响 提高响应速度。这种结构称为PIN光电二极管。,（4-1-1PIN光

9、电二极管结构及场强分布动画示意图),18,通过插入中间层增大耗尽层宽度w，达到了减小扩散分量的目的，而且也有利于提高响应度 R 和量子效率。但是过大的耗尽区宽度将延长载流子通过耗尽区的漂移时间，导致响应变慢，因此要根据具体情况合理折衷选取。采用双异质结设计能显著提高PIN光电二极管的性能，类似于半导体激光器，I层夹在另一种半导体的P层和N层中间，其带隙的选取使光仅在中间I层吸收。通常用于光波系统的 PIN 光电二极管采用InGaAs作为中间层，用InP 作为 P 层和 N 层的覆盖层，图4.6(b)给出了这种InGaAs PIN光电二极管的结构。,19,图4.6 PIN光电二极管的工作原理(a

10、)PIN光电二极管及在反偏时各层的场分布；(b)InGaAs PIN光电二极管的结构。,20,在中间 InGaAs 层，在 1.31.6m范围内有很强的吸收,由于光子仅在耗尽区内吸收，完全消除了扩散分量，采用几微米厚的 InGaAs,量子效率可接近100%,这种 InGaAs 光电二极管广泛用于 1.3 和 1.5m 的光接收机中。,图4.6 PIN光电二极管的工作原理,21,雪崩光电二极管(APD)结构如图6.7所示，该管结构设计上能承受高反向偏压，在PN结内部形成一高电场区(3105Vcm)，入射光功率产生的电子空穴经过高场区时不断被加速而获得很高的能量，这些高能量的电子或空穴在运动过程中

11、与价带中的束缚电子碰撞，使晶格中的原子电离，产生新的电子空穴对。新产生的电子空穴受到同样加速运动，又与原子碰撞电离，产生电子空穴对，称为二次电子空穴对。如此重复，使载流子和反向电流迅速增大，这个物理过程与光电倍增管类似，称为雪崩倍增效应。,4.1.4 APD雪崩光电二极管,22,(4-1-3 雪崩光电二极管光电转换原理动画示意图),图4.7 APD光电二极管的工作原理(a)APD光电二极管及在反偏时各层的场分布；(b)拉通型APD结构。,23,雪崩过程倍增了一次光电流，使之得到放大，可用倍增增益 M 表示定义倍增增益为 MIeI0 式中，I0为一次光电流，Ie 为倍增输出电流的平均值。APD与

12、PIN光电二极管的不同主要表现在增加了一个附加层，以实现碰撞电离产生二次电子空穴对，在反偏时夹在I层和N层间的P层中存在高电场。该层称为倍增区或增益区，耗尽层仍为I层，起产生一次电子空穴的作用。,24,电流增益或倍增因子 M 定义为,(4.1.9),式中，kA=h/e，碰撞电离系数；h与e 分别为空穴和电子碰撞电离系数。,由于光生电流的倍增增益，因而APD光电二极管的响应度亦增加M倍，即,（）,25,为了使载流子获得高能量以产生雪崩效应，雪崩区需建立高电场，因此APD工作时的偏置电压较高，达几百伏。例如，对于Si材料，在0.85m附近，为了获得高的量子效率，耗尽层厚达3050m。要在这么宽的区域内建立雪崩效应，偏置电压高达500V以上，这对使用十分不利。为了降低偏置电压，须设法使雪崩过程仅发生在很薄的区域内，即仅在该区域内才有雪崩所需的高电场(3 105Vcm)，其余区域的电场则较低(约1104Vcm)。,26,按这种设想设计的APD就是所谓拉通(reachthrough)型或RAPD。这种APD的工作电压约200V，其中50V降在倍增区。,图6.9 Si-RAPD结构示意图及电场分布,（4-1-4雪崩光电二极管RAM-APD的结构）,27,表4.1 两种典型光电二极管的主要参数,