运算放大器测试原理培训.ppt
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1、半导体集成运算放大器测试方法基本原理,培训课程系列一,测试方法基本原理是依据中华人民共和国标准GB 3442-86讲授内容:1、总的要求 2、参数测试输入失调电压VIO输入失调电流IIO 输入偏置电流IIB静态功耗PD开环电压增益AVD共模抑制比K CMR电源电压抑制比KSVR开环差模输入电阻RID开环输出电阻ROS,输出峰-峰电压VOPP 最大共模输入电压VICM 最大差模输入电压VIDM 最大输出电流I OM 输出短路电流I OS 通道分离度CSR 等效输入噪声电压VN 开环带宽fBW 全功率带宽fBWP 返回,总的要求:无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细
2、规范的规定;测试期间,应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定;测试期间,施于被测器件的电源的内阻在讯号频率下应基本为零;电源电压的偏差应在规定值的正负1%以内。在被测器件线性工作区测试时,交流小讯号幅度的逐渐减少,不应引起参数值的变化。被测器件与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电源。测试期间,被测器件应连接器件详细规范规定的辅助电路和补偿网络。测试期间,被测器件应避免出现自激现象。若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时,这些测试的时间间隔应尽可能短。采用辅助放大器(A)与被测器件(DUT)构
3、成闭合环路的方法测试时,基本测试原理图如图一所示。,(图一),辅助放大器应满足下列要求:A、开环增益大于60dB;B、输入失调电流和输入偏置电流应很小;C、动态范围足够大。环路元件满足下列要求:A、满足下列表达式 RI.IIBVIO;R RID;R.IIB VIO;ROS RF RID;R1=R2;RL R1。其中,IIB 是被测器件的输入偏置电流;VIO是被测器件的输入失调电压;RID是被测器件的开环差模输入电阻;ROS是辅助放大器的开环输出电阻。B、RF/RI值决定了测试精度,但须保证辅助放大器在线性区工作。返回,输入失调电压VIO定义:使输出电压为零(或规定值)时,两输入端间所加的直流补
4、偿电压。测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。c、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。d、在辅助放大器A的输出端测得电压VLO。由下式计算求出VIO:VIO=RI/(RI+RF).VLO 注意事项 RI、RF应满足下列要求:IIO.RI.RF/(RI+RF)VIO;RF.VIOVOPP。其中,IIO是被测器件的输入失调电流;VOPP是辅助放大器的输出峰-峰电压。RI和RF的精度决定了测试精度。(返回),输入失调电流IIO 定义:使输出电压为零(或规定值)时,流入两输入端的电流之差。测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测
5、器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。c、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。d、开关K1,K2闭合,在辅助放大器A的输出端测得电压VL0。e、开关K1,K2断开,在辅助放大器A的输出端测得电压VL1。由下式计算求出IIO:IIO=RI/(RI+RF).(VL1-VL0)/R 注意事项 R、RI、RF应满足下列要求:IIO.R VIO IIO.RI.RF/(RI+RF)VIO;RI和RF的精度决定了测试精度(返回),输入偏置电流IIB 定义:使输出电压为零(或规定值)时,流入两输入端电流的平均值。测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规
6、定的电压。c、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。d、开关K1断开,K2闭合,在辅助放大器A的输出端测得电压VL2。e、开关K1闭合,K2断开,在辅助放大器A的输出端测得电压VL3。由下式计算求出IIO:IIB=RI/(RI+RF).(VL2-VL3)/2R 注意事项 R、RI、RF应满足下列要求:IIO.R VIO IIO.RI.RF/(RI+RF)VIO;RI和RF的精度决定了测试精度(返回),静态功耗PD定义:输入端无信号且输出端无负载时,器件所消耗的电源功率。测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。c、开关K4置“地”(或规定
7、的参考电压)。d、在电源端V+及V分别测得I+及I。由下式计算求出PD:PD=V+.I+V.I 注意事项 RI的精度决定了测试精度(返回),开环电压增益AVD定义:器件开环时,输出电压变化与差模输入电压变化之比。测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。c、方法A直流测试法。1、开关K4置“1”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL4。2、开关K4置“2”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL5。由下式计算求出AVD:AVD=(VS+-IS-)/(VL4-VL5).(RI+RF)/R1 或 AVD=20Lg(VS+-IS-)/|VL4-VL5
8、|.(RI+RF)/R1(dB)d、方法B交流测试法。开关K4置“3”,在辅助放大器A的输出端测得电压V0。由下式计算求出AVD:AVD=(VS/V0).(RI+RF)/R1 或 AVD=20Lg(VS/V0).(RI+RF)/R1(dB)注意事项 a、(VS+-IS-)VOPP;,VS VOPP 其中,VOPP是被测器件输出峰-峰电压。b、交流信号的频率应足够低。C、RI、RF、R1和R2的精度决定了测试精度。(返回),共模抑制比KCMR定义:差模电压增益与共模电压增益之比。测试原理图 KCMR的共模输入法测试原理图,KCMR的变电源法测试原理图,测试程序 方法1共模输入法:a、在规定的环境
9、温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。C、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。d、方法A直流测试法。1、输入端施加规定的直流共模信号电压VIC+,在辅助放大器A的输出端测得电压VL6。2、输入端施加规定的直流共模信号电压VIC-,在辅助放大器A的输出端测得电压VL7。由下式计算求出KCMR:KCMR=(VIC+-VIC-)/(VL6-VL7).(RI+RF)/RI 或 KCMR=20Lg(VIC+-VIC-)/(VL6-VL7).(RI+RF)/R1(dB)e、方法B交流测试法。输入端施加规定的交流共模信号电压VIC,在辅助放大器A的输 出端测得电压V0。由下式计算求出
10、KCMR:KCMR=(VIC/VO).(RI+RF)/RI 或 KCMR=20Lg(VIC/VO).(RI+RF)/RI(dB),方法2变电源法:a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、方法A直流测试法(VIC为直流电压)1、电源端施加规定的电压V+VIC 和V-+VIC。2、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。3、在辅助放大器A的输出端测得电压VO。由下式计算求出KCMR:KCMR=VIC/VO.(RI+RF)/RI 或 KCMR=20Lg|VIC|/|VO|.(RI+RF)/RI(dB)C、方法B交流测试法(VIC为交流电压)。1、电源端施加规定的电压V+VIC 和V-+V
11、IC。2、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。3、在辅助放大器A的输出端测得电压VO。由下式计算求出KCMR:KCMR=VIC/VO.(RI+RF)/RI 或 KCMR=20Lg(VIC/VO).(RI+RF)/RI(dB)注意事项:a、采用方法1共模输入法测试时:,VIC VICM 其中,VICM是被测器件的最大共模输入电压。b、采用方法2变电源法测试时:VIC 0.5VOPP 其中,VOPP是被测器件的输出峰-峰电压。C、交流共模信号的频率应足够低。,(返回),电源电压抑制比KSVR定义:电源的单位电压变化所引起的输入失调电压的变化率。测试原理图 KSVR的测试原理图,测试程序 a、在规
12、定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、开关K4置“地”(或规定的参考电压)。c、开关K置“1”,在辅助放大器A的输出端测得电压VL8。d、开关K置“2”(即正、负电源电压绝对值同时增大V),在 辅助放大器A的输出端测得电压VL9。由下式计算求出KSVR:KSVR=(VL9-VL8)/2 V.RI/(RI+RF)e、开关K置“3”(即正、负电源电压绝对值同时减小V),在 辅助放大器A的输出端测得电压VL10。由下式计算求出KSVR:KSVR=(VL10-VL8)/2 V.RI/(RI+RF)f、正电源电压变化V,负电源电压为V-,在辅助放大器A的输 出端测得电压VL9。由下式计算求出KS
13、VR+:KSVR+=(VL9-VL8)/V.RI/(RI+RF),g、负电源电压变化V,正电源电压为V+,在辅助放大器A的输 出端测得电压VL10。由下式计算求出KSVR-:KSVR-=(VL10-VL8)/V.RI/(RI+RF)注意事项 如果辅助放大器A的电源电压也随之变化,则要求其KSVR值比被 测器件的KSVR值至少高一个数量级。,(返回),开环差模输入电阻RID定义:差模输入电压变化与对应的输入电流变化之比。测试原理图 RID的测试原理图,测试程序 a、在规定的环境温度下,将被测器件接入测试系统中。b、电源端施加规定的电压。c、开关K1、K4闭合,在辅助放大器A的输出端测得电压VL1
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