电气设备绝缘预防性试验.ppt

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1、第二篇 电气设备绝缘试验,电气设备进行绝缘试验的必要性：电力系统的规模、容量不断地扩大，停电造成的损失越来越严重。我国电力短缺，这就需要提高发电设备可靠性，使其满负荷运转，增加发电量。绝缘往往是电力系统中的薄弱环节，绝缘故障通常是引发电力系统事故的首要原因。电介质理论仍远未完善，须借助于各种绝缘试验来检验和掌握绝缘的状态和性能。,绝缘试验分为非破坏性试验和破坏性试验两大类。破坏性试验检验绝缘的电气强度，如耐压试验和击穿试验，具有破坏性的特征，所加的试验电压很高，以考验绝缘耐受各种过压的能力，试验过程有可能给被试绝缘带来不可逆转的局部损伤或整体损坏。非破坏性试验检测绝缘除电气强度以外的其他电气性

2、能，是在较低的电压下或用其他不损伤绝缘的方法进行的，具有非破坏的性质。绝缘预防性试验的目的是什么？绝缘故障大多因内部存在缺陷而引起，我们通过测量电气特性的变化来发现隐藏着的缺陷。,绝缘缺陷类型 集中性缺陷：绝缘子瓷体内的裂缝、发电机定子绝缘因挤压磨损出现的局部破损、电缆绝缘层内存在的气泡等 分散性缺陷：电机、变压器等设备的内绝缘受潮、老化、变质等。,常见试验项目：测量绝缘电阻，吸收比，泄漏电 流，介质损耗角正切，局部放电，电压分布等。,数字式局部放电测试系统,第一节 绝缘的老化 什么叫绝缘的老化？绝缘老化的原因有哪些 电介质的热老化 电介质的电老化,什么叫绝缘的老化？电气设备的绝缘在长期运行过

3、程中会发生一系列物理变化和化学变化，致使其电气、机械及其他性能逐渐劣化，这种现象统称为绝缘的老化。老化的原因有哪些？热、电、机械力、水分、氧化、各种射线、微生物等因素的作用。一、电介质的热老化什么是电介质的热老化？在高温的作用下，电介质在短时间内就会发生明显的劣化；即使温度不太高，但如作用时间很长，绝缘性能也会发生不可逆的劣化，这就是电介质的热老化。温度越高，绝缘老化得越快，寿命越短。,热老化规则：热老化8规则：对A级绝缘介质，如果它们的工作温度超过规定值8时，寿命约缩短一半。相应的对B级绝缘和H级绝缘则分别适用10和12规则。固体介质的热老化过程 受热带电粒子热运动加剧载流子增多载流子迁移电

4、导和极化损耗增大介质损耗增大介质温升加速老化 液体介质的热老化过程 油温升高氧化加速油裂解分解出多种能溶于油的微量气体绝缘破坏,二、电介质的电老化 什么是电老化？电老化系指在外加高电压或强电场作用下的老化。介质电老化的主要原因是什么？介质中出现局部放电。局部放电引起固体介质腐蚀、老化、损坏的原因有：放电产生的带电粒子不断撞击绝缘引起破坏。破坏高分子的结构，造成裂解；放电能量中有一部分转化为热能，不易散出，引起热裂解，气隙膨胀使材料开裂、分层；在局部放电区，强烈的粒子复合产生高能辐射线，引起材料分解；气隙中如含有氧和氮，放电可产生臭氧和硝酸，是强烈的氧化剂和腐蚀剂，能使材料发生化学破坏。,第二节

5、 绝缘电阻、吸收比、泄漏电流的测量 绝缘电阻 最基本的综合性特性参数。组合绝缘和层式结构，在直流电压下均有明显的吸收现象，使外电路中有一个随时间而衰减的吸收电流。吸收比 检验绝缘是否严重受潮或存在局部缺陷。泄漏电流 所加直流电压高得多，能发现用兆欧表所不能显示的某些缺陷。,一、双层介质的吸收现象 为了分析方便，改用电阻R1和R2代替电导G1和G2。（R11/G1,R2=1/G2),讨论因吸收现象而出现的过渡过程 一般取开关S合闸作为时间t的起点，在t=0+的极短时间内，层间电压分布为达到稳态时t，层间电压改为按电阻分配,稳态电流将为电导电流 由于存在吸收现象，在这个过程中的层间电压变化为,流过

6、双层介质的电流为i如选用第一个方程式，则 式中第一个分量为电导电流，第二个分量为吸收电流。不难看出：当绝缘严重受潮或出现导电性缺陷时，阻值R1、R2或者二者之和显著减小，大大增加，而 迅速衰减。,二、绝缘电阻和吸收比的测量 绝缘电阻的表达式在工程应用上的表达方便，把介质处在吸收过程时的U/i也称为绝缘电阻R，在吸收电流分量尚未衰减完毕时，呈现的电阻值是不断变化的，即,吸收和泄漏电流及绝缘电阻的变化曲线,测量绝缘电阻时，其值是不断变化的；t无穷时刻，R等于两层介质绝缘电阻的串联值。通常所说的绝缘电阻均指吸收电流 衰减完毕后的稳态电阻值。受潮时，绝缘电阻显著降低，显著增大，迅速衰减。因此，能揭示绝

7、缘整体受潮、局部严重受潮、存在贯穿性缺陷等情况。但有局限性。对于某些大型被试品，用测“吸收比”的方法来替代 定义吸收比K1：为加压60秒时的绝缘电阻R60与15秒 时电阻R15之比值,在一般情况下，R60已经接近于稳态绝缘电阻，吸收之比恒大于1，且K1值越大表示吸收现象越显著、绝缘的性能越好。一旦绝缘受潮，电导电流分量将显著增大，吸收电流衰减很快，在t=15s时，已衰减很多，因而K1值减小，其极限值为1。由于吸收比是同一试品在两个不同时刻的绝缘电阻的比值，所以排除了绝缘结构体积尺寸的影响。一般以K1作为设备绝缘状态良好的标准亦不尽适，有些变压器的K1虽大于1.3，但 R 值却很低；有些K1 小

8、于1.3，但R值却很高。所以应将R值和K1值结合起来考虑，方能作出比较准确的判断。,大容量电气设备中，吸收现象延续很长时间，吸收比不能很好地反映绝缘的真实状态，用极化指数K2再判断。某些集中性缺陷已相当严重，以致在耐压试验时被击穿，但在此前测得的绝缘电阻、吸收比、极化指数却并不低，因为缺陷未贯穿绝缘。可见仅凭上述试验结果判断绝缘状态是不够的。,绝缘状态的判定若绝缘内部有集中性导电通道，或绝缘严重受潮，则电阻R1、R2会显著降低，泄漏电流大大增加，时间常数大为减小，吸收电流迅速衰减。即使绝缘部分受潮，只要R1与R2中的一个数值降低，值也会大为减小，吸收电流仍会迅速衰减，仍可造成吸收比K1（及极化

9、指数K2，下同）的下降。当K11或接近于1，则设备基本丧失绝缘能力。,不同绝缘状态下的绝缘电阻的变化曲线,图1 兆欧表实图 图2 测试接线图 如图1、图2所示。被测绝缘电阻接到L和E接线柱之间时，指针的停留位置由电流线圈电流和电压线圈电流的比值决定。流过电压线圈的电流大小由分压电阻RV确定，而电流线圈的电流由被测绝缘电阻的大小确定。保护环G装在L接线柱的外圈，它与L接线柱绝缘，并接至手摇发电机的负极。保护环G的作用是排除由于导线绝缘层表面漏电电流和L，E接线柱间漏电电流,所引起的误差。当天气潮湿时测量其他电气设备时（电气设备引出线瓷套表面会凝结一层极薄的水膜），使用保护环G以避免被测设备表面漏

10、电影响测量结果。4）试验步骤试验前要选择合适电压等级的绝缘电阻兆欧表，然后检查兆欧表是否正常。方法是：将兆欧表放在水平位置，将表的L端子与E端子开路，摇动把手到额定转速(一般120rmin)此时指针应指向“”；用线短接L端子与E端子，轻摇把手，指针应指“0”(注意轻摇以免打坏表针)。以恒定速度转动摇表把手(平均120rmin)，摇表指针渐逐上升，在摇表达额定转速后，分别读取15s和60s的电阻值并记录于试验数据表格表1中。,表1 试验数据表,图为手摇式兆欧表测量电力电缆绝缘电阻的接线图。,兆欧表有三个接线端子：线路端子（L）、接地端子（E）和保护（屏蔽）端子（G）。被试绝缘接在端子L和E之间，

11、而保护端子G的作用是使绝缘表面泄漏电流不要流过线圈LA，测得的绝缘体积电阻不受绝缘表面状态的影响。,绝缘电阻的测量定义：工程上常用兆欧表(摇表)进行测量，以加压60s后读数为试品的绝缘电阻。原理：电压线圈与电流线圈中电流在磁场中产生转动力矩，在力矩差作用下，旋转到平衡为止。指针偏角与绝缘电阻关系：,绝缘电阻的测量定义：工程上常用兆欧表(摇表)进行测量，以加压60s后读数为试品的绝缘电阻。原理：电压线圈与电流线圈中电流在磁场中产生转动力矩，在力矩差作用下，旋转到平衡为止。指针偏角与绝缘电阻关系：,三、泄漏电流的测量泄露电流的大小反映绝缘电阻值，但有一些特点：加在试品上的直流电压比兆欧表的工作电压

12、高得多,故能发现兆欧表所不能发现的试品中一些尚未完全贯通的集中性缺陷。施加在试品上的直流电压是逐渐增大的，这样就可以在升压过程中监视泄漏电流的增长动向。在电压升到规定的试验电压值后，要保持1min再读出最后的泄漏电流值。当绝缘良好时，泄漏电流应保持稳定，且其值很小。,测量结果分析 测试时逐渐升高电压，并同时读取微安表（mA）数值和毫安表（A）的数值，并将其绘制成曲线进行分析。这里被测的直流试验电压由直流微安表的指示值和高阻器的电阻值Rv得到。图5是发电机泄漏电流变化曲线，图中：1绝缘性能良好2整体受潮3存在集中性缺陷4在0.5Us附近泄漏电流迅速上升，表明在运行电压下有击穿的危险。,发电机泄露

13、电流变化曲线,3 测试的有效性 比兆欧表更有效的发现一些尚未完全贯通的集中性缺陷（如局部开裂、内部受潮、绝缘油劣化、绝缘纸沿面碳化等）。,泄漏电流试验接线图如图所示微安表直读法（两种接法）,测量电力变压器主绝缘泄漏电流的接线 T1调压器；T2高压试验变压器；D高压硅堆 R保护电阻；C稳压电容；T被试变压器V-高压静电电压表,(1)被试品一极接地,泄露电流用接在被试品高压侧或低压侧的微安表来测量。如果被试品的一极固定接地，且接地线不易解开时，微安表可接在高压侧，这一情况下，微安表及其接往被试品的高压线均应加等电位屏蔽，使这部分对地杂散电流（泄露电流、电晕电流）不流过微安表，以减小测量误差。,如果

14、被试品的两极都可以做到不直接接地时，微安表就可以接在被试品低压侧和大地之间。回路高压部分对外界物体的杂散电流入地时都不会流过微安表，故不必设屏蔽。,(2)被试品不接地,注意：测量泄漏电流用的微安表需用并联放电管V进行保护。微安表是很灵敏和脆弱的仪表，当流过微安表的电流超过某一定值时，电阻R 1上的压降将引起V的放电而达到保护微安表的目的。,第三节 介质损耗角正切的测量由前面可知：介质的功率损耗 与介质损耗正切 成正比，所以 是绝缘品质的重要指标，测量 是判断电气设备绝缘的一项灵敏有效的方法。能反映绝缘的整体性缺陷（如全面老化）和小电容试品中的严重局部缺陷。测量 不能灵敏地反映大容量发电机、变压

15、器和电力电缆（它们的电容量都很大）绝缘中的局部性缺陷，这时应尽可能的将这些设别分解成几个部分，然后分别测量它们的。的测量最常用的是高压电流平衡电桥（西林电桥）。,一、西林电桥基本原理 其中被试品的等值电容和电阻分别为CX和Rx；高压臂：一个是代表试品的Z1；另一个是无损耗的标准电容CN，它以阻抗Z2作为代表。低压臂：一个处在桥箱体内，一个是可调无感电阻R3；另一个是无感电阻R4和可调电容C4的并联回路。前者以Z3来代表，后者以Z4来代表。保护：放电管V P为交流检流计。,在交流电压 U的作用下，调节R3 和 C4，使电桥达到平衡，即通过检流计P的电流为零，因而 可得（4-15）由式（4-15）

16、可写出（4-16）,式中,可求得试品电容CX和等值电阻RX介质并联等值电路的介质损耗角正切（4-20）,因为，如取，并取C4 的单位为uF，则式（4-20）化简为试品电容,西林电桥反接线原理 在实验室内：通常测试材料及小设备，被试品是对地绝缘的现场试验中：有许多一端接地的试品，如敷设在地下的电缆及摆在地面的重大电气设备，要改成对地绝缘是不可能的，只能改变电桥回路的接地点。这样就产生了一种反接法的西林电桥 被试品的一极往往是固定接地的，应改用反接线。电桥平衡的过程与正接线时无异，所不同者在于各个调节元件、检流计和屏蔽网均处于高电位，故必须保证足够的绝缘水平和采取可靠的保护措施。,二、测量的影响因

17、素（1）外界电磁场的干扰影响 干扰包括高压电源和试验现场高压带电体引起的电场干扰。在现场测试条件下，电桥往往处于一个相当显著的交变磁场中，这时电桥接线内也会感应出一个干扰电势，对电桥的平衡产生影响，也将导致测量误差。消除干扰的方法：金属屏蔽网和屏蔽电缆（2）温度的影响 一般说来 随温度的增高而增大。现场试验时的绝缘温度不是一定的，为了便于比较，应将各种温度下测得的 值换算到20时的值。,（3)试验电压的影响 一般说来，良好的绝缘在额定范围内，其 值几乎保持不变，如图中的曲线1所示。如果绝缘内部存在空气隙或气泡时，当所加电压大到能引起气泡电离或发生局部放电时，值即开始随U的升高而迅速增大，电压回

18、落时电离要比电压上升时更强一些，因而会出现闭环状曲线，如曲线2所示。如果绝缘受潮，则电压较低时的 就相当大，电压升高时 更将急剧增大；电压回落时，要比电压上升时更大一些，因而形成不闭合的分叉曲线，如曲线3所示，主要原因是介质的温度因发热而提高了。,4）试品电容量的影响：对于电容量较小的试品，测量能有效的发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。但对电容量较大的试品，测量只能发现整体分布性缺陷，此时要把它分解成几个彼此绝缘部分的被试品，分别测量各部分的 值，能有效的发现缺陷。5）试品表面泄漏的影响：由于试品表面泄漏电阻总是与试品等值电阻 相并联，所以会影响 值。为了排除或减小这种影响，在测试前应先清楚

19、绝缘表面的积污和水分，必要时还可以在绝缘表面上装设屏蔽极。,第四节 局部放电的测量 绝缘中的局部放电是引起电介质老化的重要原因之一。测定电气设备在不同电压下的局部放电强度和发展趋势，就能判断绝缘内是否存在局部缺陷以及介质老化的速度和目前的状态。局部放电的基本概念，表征局部放电的重要参数。局部放电检测方法综述。脉冲电流法的测量原理。,局部放电的概念：简称为PD-Partial Discharge，指由于电气设备内部绝缘里面存在的弱点，在一定外施电压下发生的局部的重复击穿和熄灭现象局部放电的危害：这种局部放电发生在一个或几个绝缘内部的气隙或气泡之中，因为在这个很小的空间内电场强度很大。它的放电能量

20、很小，所以它的存在并不影响电气设备的短时绝缘强度。但如一个电气设备在运行电压下长期存在局部放电现象，这些微弱的放电能量和由此产生的一些不良效应，如不良化合物的产生，就可以慢慢地损坏绝缘，日积月累，最后可导致整个绝缘被击穿，发生电气设备的突发性故障,一、局部放电基本概念 绝缘内部气隙局部放电的等值电路如图4-9所示。,局部放电的三电容模型以三个电容来表征介质内部存在缺陷时的局部放电的机理Cg：气泡的电容；Cb：和Cg相串联部分的介质电容；Ca：其余完好部分介质的电容；Z：对应于气隙放电脉冲频率的电源阻抗整个系统的总电容为C=Ca+CgCb/(Cb+Cg)气泡很小，Cg比Cb大，Ca比Cg大很多电

21、极间加上交流电压U，则Cg上的电压为Ug，Ug=UCb/(Cg+Cb),Ug随外加电压U升高，Ug到达Cg的放电电压Us时，Cg气隙发生火花放电。于是Cg上的电压一下子从Us迅速下降到熄灭电压Ur，然后火花熄灭，完成一次局部放电。Ur叫做残余电压，它可以接近为零值，也可以为小于Us（均绝对值）的其它值。图4-11表示一次局部放电从开始到终结的过程，在此期间，出现一个对应的局部放电电流脉冲。这一放电过程时间很短，约为10-8s,可认为瞬间完成。气隙每放电一次，其电压瞬时下降Ug=UsUr。,放电过程示意图外部电压u、空间电荷q、气隙电压uc的时间变化图,当Cg放电时，放电总电容Cg应为 Cg=C

22、g+CaCb/(Ca+Cb)Cg上的电压变化为(UsUr)，故一次脉冲放出的电荷qr应为 qr=(UsUr)Cg+CaCb/(Ca+Cb)当Ca Cb qr(Cg+Cb)(UsUr)qr为真实放电量，但很难确定。,气隙放电引起的压降(UsUr)将按反比分配在Ca和Cb上，因而Ca上的电压变动为：Ua=Cb(UsUr)/(Ca+Cb)这意味着，当气隙放电时，试品两端的电压会下降Ua。这相当于试品放掉电荷q q=(Ca+Cb)Ua=Cb(UsUr)因为Ca Cb，所以q CaUa q称为视在放电量，通常以它作为衡量局部放电强度的一个重要参数。q既是发生局部放电时试品电容Ca放掉的电荷，也是电容Cb

23、上的电荷增量（=CbUg）q=qrCb/(Cg+Cb)由于Cg Cb,所以视在放电量q比真实放电量qr小得多，但它们之间存在比例关系，所以q值就能相对地反映qr的大小。,表征局部放电的其他重要参数放电重复率N：亦称脉冲重复率，它是在选定的时间间隔内测得的每秒钟发生放电脉冲的平均次数，它表示局部放电的频度。可以通过实验求得如果每半周期内的放电次数为n，则N=2fn=100n放电能量 指一次局部放电所消耗的能量。式中视在放电量q和出现局部放电时的外加电压值Ui(亦称局部放电起始电压)都是可以测得的。其他参数 平均放电电流、放电的均方率、放电功率、局部放电起始电压和局部放电熄灭电压等。,表征局部放电

24、的重要参数：放电重复率放电能量式中气隙中出现局放时外施电压为Ui，则 令Ur=0，则,二、局部放电检测方法综述 局部放电的检测方法很多具体分为电气检测和非电检测两大类。大多数情况下，非电检测法往往不够灵敏，大多限于定性检测，即只能判断是否存在局部放电，而不能作定量的分析；目前应用得比较广泛和成功的是电气检测法，特别是测量绝缘内部气隙发生局部放电时的电脉冲，它不仅可以灵敏地检测出是否存在局部放电，还可判定放电强弱程度。,（一）非电检测法1.噪声检测法介质中发生局部放电时，其瞬时释放的能量将放电源周围的介质加热使其蒸发，效果就像一个小爆炸。此时放电源如同一个声源，向外发出声波。由于放电持续时间很短

25、，所发射的声波频谱很宽，覆盖面从数十赫到数十兆赫。(人耳可听到声音频率20-20000Hz),光检测法 采用光纤传感器，局部放电产生的声波压迫使得光纤性质改变，导致光纤输出信号改变，从而可以测得放电。光测法只能测试表面放电和电晕放电，在现场中光测法基本上没有直接应用。将光纤技术和声测法相结合提出了声-光测法。化学分析法 通过检查电气设备油样内所含的气体组成的含量来判断设备内部的隐藏缺陷膜纸绝缘介质中，常用高性能液体色谱分析法（HPLC）判断介质老化情况。在电力变压器中，油色谱分析（DGA）方法是一 种简单、经济、有效的变压器在线监测方法。,（二）电气检测法 脉冲电流法 测量视在放电量。当发生局

26、部放电时，试品两端会出现一个几乎是瞬时的电压变化，在检测回路中引起一高频脉冲电流，将它变成电压脉冲后就可以用示波器等测量其波形或幅值，由于其大小与放电量成正比，通过校准就能得出视在放电量。(测PD所形成的脉冲电流大小以判断绝缘PD的强弱程度)介质损耗法 利用西林电桥 测出介质的 关系曲线，曲线突然升高处的相对应的电压E0即为局部放电起始电压 Ui。,三、脉冲电流法的测量原理三种回路的基本目的都是使在一定电压作用下的被试品Cx中产生的局部放电电流脉冲流经检测阻抗Zm，然后把Zm上的电压或Zm及Zm的电压差加以放大后送到测量仪器M上去，所测得的脉冲电压峰值与试品的视在放电量成正比，只要经过适当的校

27、准，就能直接读出视在放电量q之值。Z为阻塞阻抗（低通滤波器），只允许工频电流通过而阻塞高频电流，阻止高压电源中的高频分量对测试回路产生干扰，也防止局部脉冲分流流到电源中。,试品通过Ck后与检测阻抗并联的回路,试品与检测阻抗相串联的回路,电桥平衡回路,直测法并联测试回路适用于被试品一端接地的情况，将测量阻抗Zm与耦合电容Ck串联后，并联到被试品Cx两端。串联测试回路适用于被试品两端均对地绝缘的情况，Zm直接与Cx串联，由于变压器绕组对高频脉冲有很大的感抗，阻塞高频脉冲电流的流通，所以必须另加耦合电容Ck，给脉冲电流提供低阻抗的通道。Ck必须无局部放电。Cx值不是很大时，最好还应使Cx值不小于Ck

28、。不难看出，两者对高频脉冲电流的回路是相同的，都是串联地流经Cx、Ck和Zm三个元件；理论上，两者的灵敏度也是相同的但实用上，并联测试回路的优点为：（1）允许被试品一端接地；（2）对Cx值较大的被试品，可以避免较大的工频电容电流 流过Zm;（3）万一被试品Cx被击穿时，不会危及人身和测试系统。由于局部放电测试时所加电压一般均高于绝缘的正常工作电压，所以测试时，被试品被击穿的可能性是存在的。,平衡法 桥式测试回路属于平衡法，此时试品Cx和耦合电容Ck的低压端均对地绝缘，检测阻抗分成Zm及Zm,分别接在Cx 和Ck的低压端与地之间。此时测量仪器M测得的是Zm及Zm上的电压差。它与直测法的区别在于检

29、测阻抗和接地点的布置，但它的抗干扰性能好，这是因为桥路平衡时，外部干扰源在Zm和Zm产生的干扰信号基本上相互抵消，工频信号也可相互抵消；只有当试品Cx发生局部放电时，平衡被破坏，通过检测电路即可测出此不平衡脉冲电压。,在测量仪器上所测得的局部放电脉冲值是与试验的局部放电视在电荷量q成比例的，他们之间的具体比例关系与测量回路和放大器等都有关，要从指示值来算得视在放电电荷q是有困难的，只能通过试验来确定，亦即PD的测量仪器必须进行实验校正。,脉冲电流法的校准电路,小结,局部放电的检测已成为确定产品质量和进行绝缘预防性试验的重要项目之一。试验内容包括测量视在放电量、放电重复率、局部放电起始电压和熄灭

30、电压、放电的具体部位。表征局部放电的参数主要有：视在放电量、放电重复率、放电能量等。伴随局部放电会出现多种现象：包括电、光、噪声、气压变化、化学变化等。局部放电的检测方法很多，包括非电检测和电气检测两大类。主要介绍了脉冲电流法的测量原理。,第五节 电压分布的测量 在工作电压的作用下，沿着绝缘结构的表面会有一定的电压分布。表面比较清洁时，其分布规律取决于绝缘结构本身的电容和杂散电容 表面染污受潮时，分布规律取决于表面电导。通过测量绝缘表面上的电压分布亦能发现某些绝缘缺陷。测量电压分布最适用于那些由一系列元件串联组成的绝缘结构。,悬式绝缘子,以表面比较清洁的悬式绝缘子为例，分析电压分布状况,它不但

31、取决于绝缘子本身的电容，而且也受到各元件对地电位物体（铁塔、架空地线、大地等）及高压导线之间的杂散电容的影响。,其中C为每片绝缘子的本体电容，其值一般为40-55pF;C1为各元件对地电容，C2 为各元件与高压导线之间的电容。平均取C14-5pF,C2 0.5-1pF。C1的影响是造成一定的分流，使最靠近高压导线的那片绝缘子(编号为1)流过的电流最大，因而分到的电压也最大，其余各片上的电压依次减小。C2的影响则正好相反，使最靠近接地端的那片绝缘子（编号为n）流过的电流最大，因而电压也最高，其余各片上的电压依次减小。由于C1 C2，所以 C1的影响更大。,假如不存在杂散电容C1 和C2的影响，沿

32、串的电压分布应是均匀的，每片绝缘子上的电压（式中n为绝缘子片数）。为使绝缘子串上的电压分布均匀一些，可采用：在绝缘子串与导线连接处装设均压金具，它能增大C2 值，有利于补偿 C1 的影响，所以能有效地改善沿串电压分布。什么是劣化绝缘子或零值绝缘子？若某一片绝缘子的实测电压低于标准值的一半时，可认定该片为劣化绝缘子。,第六节 绝缘状态的综合判断 种种非破坏性试验项目，各具功能，也各有局限性。必须将各项试验结果联系起来进行综合分析。当有个别试验项目不合格时，宜用“三比较”办法来处理：与同类型设备比较,因为同类设备在同样的条件下所得的试验结果应大致相同，若差别悬殊就可能存在问题。在同一设备的三相试验结果之间进行比较，若有一相结果相差达50%以上时，该相很可能存在缺 陷。与该设备技术档案中的历年试验所得数据作较，若性能指标有明显下降的情况，即应警惕出现新缺陷的可能。,