模拟电子技术三极管详解.ppt
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1、半导体三极管,第 2 章,2.1双极型半导体三极管,2.2单极型半导体三极管,2.3半导体三极管电路的基本分析方法,2.4半导体三极管的测试与应用,半导体三极管,第 2 章,2.1双极型半导体三极管,2.1.1 晶体三极管,2.1.2 晶体三极管的特性曲线,2.1.3 晶体三极管的主要参数,(Semiconductor Transistor),第 2 章半导体三极管,2.1.1 晶体三极管,一、结构、符号和分类,发射极 E,基极 B,集电极 C,发射结,集电结,基区,发射区,集电区,emitter,base,collector,NPN 型,PNP 型,分类:按材料分:硅管、锗管按结构分:NPN
2、、PNP按使用频率分:低频管、高频管按功率分:小功率管 1 W,二、电流放大原理,1.三极管放大的条件,内部条件,发射区掺杂浓度高,基区薄且掺杂浓度低,集电结面积大,外部条件,发射结正偏集电结反偏,2.满足放大条件的三种电路,共发射极,共集电极,共基极,实现电路,第 2 章半导体三极管,3.三极管内部载流子的传输过程,1)发射区向基区注入多子电子,形成发射极电流 IE。,I CN,多数向 BC 结方向扩散形成 ICN。,IE,少数与空穴复合,形成 IBN。,I BN,基区空穴来源,基极电源提供(IB),集电区少子漂移(ICBO),I CBO,IB,IBN IB+ICBO,即:,IB=IBN I
3、CBO,3)集电区收集扩散过来的载流子形成集电极电流 IC,IC,I C=ICN+ICBO,2)电子到达基区后,(基区空穴运动因浓度低而忽略),三极管内载流子运动,第 2 章半导体三极管,4.三极管的电流分配关系,当管子制成后,发射区载流子浓度、基区宽度、集电结面积等确定,故电流的比例关系确定,即:,IB=I BN ICBO,IC=ICN+ICBO,IE=IC+IB,穿透电流,第 2 章半导体三极管,2.1.2 晶体三极管的特性曲线,一、输入特性,输入回路,输出回路,与二极管特性相似,特性基本重合(电流分配关系确定),特性右移(因集电结开始吸引电子),导通电压 UBE(on),硅管:(0.6
4、0.8)V,锗管:(0.2 0.3)V,取 0.7 V,取 0.2 V,第 2 章半导体三极管,二、输出特性,截止区:IB 0 IC=ICEO 0条件:两个结反偏,2.放大区:,3.饱和区:,uCE u BE,uCB=uCE u BE 0,条件:两个结正偏,特点:IC IB,临界饱和时:uCE=uBE,深度饱和时:,0.3 V(硅管),UCE(SAT)=,0.1 V(锗管),放大区,截止区,饱和区,条件:发射结正偏 集电结反偏特点:水平、等间隔,ICEO,输 出 特 性,第 2 章半导体三极管,三、温度对特性曲线的影响,1.温度升高,输入特性曲线向左移。,温度每升高 1C,UBE(2 2.5)
5、mV。,温度每升高 10C,ICBO 约增大 1 倍。,2.温度升高,输出特性曲线向上移。,T1,T2,温度每升高 1C,(0.5 1)%。,输出特性曲线间距增大。,O,第 2 章半导体三极管,2.1.3 晶体三极管的主要参数,一、电流放大系数,1.共发射极电流放大系数,直流电流放大系数,交流电流放大系数,一般为几十 几百,2.共基极电流放大系数,1 一般在 0.98 以上。,Q,二、极间反向饱和电流,CB 极间反向饱和电流 ICBO,,CE 极间反向饱和电流 ICEO。,第 2 章半导体三极管,三、极限参数,1.ICM 集电极最大允许电流,超过时 值明显降低。,U(BR)CBO 发射极开路时
6、 C、B 极间反向击穿电压。,2.PCM 集电极最大允许功率损耗,PC=iC uCE。,3.U(BR)CEO 基极开路时 C、E 极间反向击穿电压。,U(BR)EBO 集电极极开路时 E、B 极间反向击穿电压。,U(BR)CBO,U(BR)CEO,U(BR)EBO,(P34)已知:ICM=20 mA,PCM=100 mW,U(BR)CEO=20 V,当 UCE=10 V 时,IC mA当 UCE=1 V,则 IC mA当 IC=2 mA,则 UCE V,10,20,20,第 2 章半导体三极管,2.2单极型半导体三极管,引言,2.2.2 结型场效应管,2.2.3 场效应管的主要参数,2.2.1
7、 MOS 场效应管,第 2 章半导体三极管,引 言,场效应管 FET(Field Effect Transistor),类型:,结型 JFET(Junction Field Effect Transistor),绝缘栅型 IGFET(Insulated Gate FET),特点:,1.单极性器件(一种载流子导电),3.工艺简单、易集成、功耗小、体积小、成本低,2.输入电阻高(107 1015,IGFET 可高达 1015),第 2 章半导体三极管,一、增强型 N 沟道 MOSFET(Mental Oxide Semi FET),2.2.1 MOS 场效应管,1.结构与符号,P 型衬底,(掺杂浓
8、度低),用扩散的方法制作两个 N 区,在硅片表面生一层薄 SiO2 绝缘层,用金属铝引出源极 S 和漏极 D,在绝缘层上喷金属铝引出栅极 G,S 源极 Source,G 栅极 Gate,D 漏极 Drain,MOSFET结构,第 2 章半导体三极管,2.工作原理,1)uGS 对导电沟道的影响(uDS=0),a.当 UGS=0,DS 间为两个背对背的 PN 结;,b.当 0 UGS UGS(th)(开启电压)时,GB 间的垂直电 场吸引 P 区中电子形成离子区(耗尽层);,c.当 uGS UGS(th)时,衬底中电子被吸引到表面,形 成导电沟道。uGS 越大沟道越厚。,反型层(沟道),第 2 章
9、半导体三极管,2)uDS 对 iD的影响(uGS UGS(th),DS 间的电位差使沟道呈楔形,uDS,靠近漏极端的沟道厚度变薄。,预夹断(UGD=UGS(th):漏极附近反型层消失。,预夹断发生之前:uDS iD。,预夹断发生之后:uDS iD 不变。,MOS工作原理,第 2 章半导体三极管,3.转移特性曲线,UDS=10 V,UGS(th),当 uGS UGS(th)时:,uGS=2UGS(th)时的 iD 值,4.输出特性曲线,可变电阻区,uDS uGS UGS(th),uDS iD,直到预夹断,饱和(放大区),uDS,iD 不变,uDS 加在耗尽层上,沟道电阻不变,截止区,uGS UG
10、S(th)全夹断 iD=0,开启电压,截止区,饱和区,可变电阻区,放大区,恒流区,O,O,第 2 章半导体三极管,二、耗尽型 N 沟道 MOSFET,Sio2 绝缘层中掺入正离子在 uGS=0 时已形成沟道;在 DS 间加正电压时形成 iD,,uGS UGS(off)时,全夹断。,输出特性,转移特性,IDSS,UGS(off),夹断电压,饱和漏极电流,当 uGS UGS(off)时,,O,第 2 章半导体三极管,三、P 沟道 MOSFET,增强型,耗尽型,第 2 章半导体三极管,2.2.2 结型场效应管,1.结构与符号,JFET结构,N 沟道 JFET,P 沟道 JFET,第 2 章半导体三极
11、管,2.工作原理,uGS 0,uDS 0,此时 uGD=UGS(off);,沟道楔型,耗尽层刚相碰时称预夹断。,预夹断,当 uDS,预夹断点下移。,3.转移特性和输出特性,UGS(off),当 UGS(off)uGS 0 时,JFET工作原理,O,O,第 2 章半导体三极管,N 沟道增强型,P 沟道增强型,N 沟道耗尽型,P 沟道耗尽型,IDSS,N 沟道结型,P 沟道结型,FET 符号、特性的比较,第 2 章半导体三极管,2.2.3 场效应管的主要参数,开启电压 UGS(th)(增强型)夹断电压 UGS(off)(耗尽型),指 uDS=某值,使漏极电流 iD 为某一小电流时的 uGS 值。,
12、UGS(th),2.饱和漏极电流 IDSS,耗尽型场效应管,当 uGS=0 时所对应的漏极电流。,3.直流输入电阻 RGS,指漏源间短路时,栅、源间加反向电压呈现的直流电阻。,JFET:RGS 107,MOSFET:RGS=109 1015,第 2 章半导体三极管,4.低频跨导 gm,反映了uGS 对 iD 的控制能力,单位 S(西门子)。一般为几毫西(mS),PDM=uDS iD,受温度限制。,5.漏源动态电阻 rds,6.最大漏极功耗 PDM,O,第 2 章半导体三极管,2.3半导体三极管的基本分析方法,引 言,2.3.2 交流分析,2.3.1 直流分析,第 2 章半导体三极管,引言,基本
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