基于激光散斑的表面粗糙度测量系统设计.docx
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1、0缘徽新华埠厮ANHUIXINHUAIrNIVBRSiTY本科毕业论文(设计)(题目:基于激光散斑的表面粗糙度测量系统设计)姓名:崔文广学号:0942056108专业:自动化院系:电子通信工程学院指导老师:吴小昊职称学历:讲师/硕士完成时间:2013年05月教务处制安徽新华学院本科毕业论文(设计)承诺书本人依据毕业论文(设计)进度安排主动开展试验(调查)探讨活动,实事求是地做好试验(调查)记录,所呈交的毕业论文(设计)是我个人在导师指导下进行的探讨工作与取得的探讨成果。据我所知,除文中特殊加以标注引用参考文献资料外,论文(设计)中全部数据均为自己探讨成果,不包含其他人已经发表或撰写过的探讨成果
2、。与我一同工作的同志对本探讨所做的工作已在论文中作了明确说明并表示谢意。毕业论文(设计)作者签名:日期:基于激光散斑的表面粗超度测量系统设计摘要表面粗糙度,是指加工表面具有的较小间距和微小峰谷不平度。其两波峰或两波谷之间的距离(波距)很小(在Imln以下),用肉眼是难以区分的,因此它属于微观几何形态误差。表面粗糙度越小,则表面越光滑。表面粗糙度的大小,对机械零件的运用性能有很大的影响。散斑现象普遍存在于光学成像的过程中,很早以前牛顿就说明过恒星闪耀而行星不闪耀的现象。由于激光的高度相干性,激光散斑的现象就更加明显。最初人们主要探讨如何减弱散斑的影响。在探讨的过程中发觉散斑携带了光束和光束所通过
3、的物体的很多信息,于是产生了很多的应用。例如用散斑的对比度测量反射表面的粗糙度,利用散斑的动态状况测量物体运动的速度,利用散斑进行光学信息处理、甚至利用散斑验光等等。激光散斑可以用曝光的方法进行测量,但最新的测量方法是利用CCD和计算机技术,因为用此技术避开了显影和定影的过程,可以实现实时测量的目的,在科研和生产过程中得到日益广泛的应用,因此是值得在教学试验中推广的一个试验。本试验的目的是让学生初步了解激光散斑的特性,学习有关散斑光强分布和散射体表面位移的实时测量方法:相关函数法,通过本试验还可以了解激光光束的基本特点以与CCD光电数据采集系统。这些都是当代科研和教化技术中很有用的基本技术和学
4、问。软件设计中运用了VisualC+6.O与MATLAB7.O的混合编程,通过MATLAB引擎,visualC+6.O可以自由调用MATLAB7.0,使二者充分发挥各自由科研中的优势,并可充分利用网络资源。本文依据提出的测量方法,设计了一套测量试验系统,试验结果表明,该系统结构简洁,对测量条件和环境要求不高,且具有非接触测量,速度较快,精确率较高等优点。关键词:散斑,表面粗糙度Abstract绪论表面粗糙度是加工表面上具有的较小间距和峰谷所组成的微观几何形态特性,它是互换性探讨的问题之一。表面粗糙度一般是由所采纳的加工方法和其它因素所形成的,例如在加工过程中刀具与零件表面间的摩擦、切屑分别时表
5、面层金属的塑性变形以与工艺系统中的高频振动等。由于采纳的加工方法和所用的工件材料的不同,被加工表面留下的痕迹的深浅、疏密、形态和纹理等都有所差别。表面粗糙度与机械零件的协作性质、耐磨性、疲惫强度、接触刚度、振动和噪声等有亲密关系,对机械产品的运用寿命和牢靠性有重要影响。对于很多加工零件,表面粗糙度已成为检验零件是否达标的首要技术参数,因此表面粗糙度测量的探讨始终是科学技术探讨的重点之一。随着现代工业生产和科学技术的发展,特殊是尖端科技的发展,对表面粗糙度的测量提出了越来越高的要求,要求超精密加工的机电产品元器件也越来越多,不仅有传统的光学零件、超精密加工块规等,而且有现代IT中广泛采纳之大规模
6、集成电路的各种芯片,计算机用的磁盘、光盘;核聚变用的激光反射镜;导弹制导系统用的激光反射镜;导航用的陀螺仪腔体;气浮和静电陀螺仪的球状支承;造卫星姿态限制用的过半球体;卫星、航天器上各种仪器仪表用的真空无润滑轴承;全球定位系统(GPS)*1电子对抗技术中用的碑化线半导体大规模集成电路;红外夜视设备、大型天文望远镜和太空望远镜中用的球面和非球面光学透镜,以与多种军、民运用的高新科技产品中的精密零部件等。并且在很多领域,为爱护环境节约资源,都要求在加工现场100%检测加工零件的表面粗糙度,因此具有快速性,无破坏性等优点的在线测量方法成为目前表面粗糙度探讨的重点。传统的表面粗糙度测量的方法主要为触针
7、法,其有了悠久的历史,已经得到了相当程度的发展,但由于其测量原理的缺陷,此法有一些不行避开的缺点:对加工表面有划痕,损坏被测表面;由于触针半径的限制,无法检测微小的表面缺陷,对微小的表面缺陷做了滤波。因此在某些方面已不能满意现代工业生产的要求。随着现代光学技术,激光技术的不断发展和应用,表面粗糙度测量的技术较接触法也有了长足的进步,尤其近年来飞速发展的计算机技术更是帮助人们不断的改进旧的表面粗糙度测量方法,提出新的测量手段。本文结合激光散斑技术旨在探究一种快速的、适合的表面粗糙度检测方法。1表面粗糙度测量介绍1.1表面粗糙度测量技术分类随着科学技术的发展,在很多领域都涉与到工件的表面粗糙度测量
8、,随之而来对表面粗糙度测量的精度要求也越来越高,人们也提出了很多新的测量方法。表面粗糙度测量的方法分类多种多样,我们这里依据最常用的一一接触式和非接触式将目前存在的表面粗糙度测量方法进行分类,如图所示:二维触针式轮廓仪(接触式Y1.三维触针式轮廓仪I非接触上轮廓技术I光学式、参数技术图IT表面粗糙度测量方法在表面粗糙度测量方法中运用最多、发展最成熟的是触针式轮廓仪,它具有测量直观、高精度、高牢靠性、多参数、能给出被测表面二维或三维轮廓等优点。目前在表面粗糙度测量领域中起主导作用,其中最为闻名的是轮廓仪。它们一般采纳金刚石探针扫描被测表面。其优点是:测量范围大、辨别率高、测量结果稳定牢靠、重复性
9、好。此外它还作为其它形貌测量技术的比对方法。目前正在对触针的形态、大小、接触力、触针动态特性以与仪器智能化等方面加以不断完善。但触针式轮廓仪也有其自身缺点:接触性,尖锐的触针易于划伤被测表面,触针也有被损坏的危急;速度慢,为保证触针与被测面的牢靠接触,测量速度不能太快;对工作环境要求严格,不能在有振动、冲击的生产环境下工作。近年来,随着对软质材料表面粗糙度、超精表面粗糙度测量的深化探讨,尤其是在很多生产环境下希望对加工表面进行100%检查时,触针式轮廓法己不能满意人们对表面粗糙度测量技术的要求。在非接触式表面粗糙度测量方法中,除了光学方法之外,人们还探讨了其它的方法。如电容法、气动法、紫外线法
10、等。但他们通用性较差。目前所探讨的大多数方法还只处在试验阶段,且只能进行相对测量与参数测量。光学方法是人们探讨的最多的非接触式测量方法,很多光学技术已被人们用于表面粗糙度的测量。国外,光学测量方法在高精度测量方面己经取得了很大的进步:1984年,英国国家物理试验室MJDowizs采纳双折射晶体作成聚焦物镜,研制胜利了双焦轮廓仪。这种光学轮廓仪能得到特别高的辨别率,但参考光斑尺寸太小,测量时易引起误差。1986年,瑞典皇家理工学院PrakSh等人应用准直参考光束获得了直径较大的参考光斑,解决了参考光斑过小的问题。1990年,英国伦敦高校Biegeii等独创的光学轮廓仪垂直辨别率达到0.3nmo为
11、满意国内超精加工零件表面粗糙度的检测要求。国内很多科研单位都在探讨精密表面的非接触测量方法和仪器,并己经取得了一些突破性进展。1986年,成都科技高校周肇飞教授研制胜利了同轴激光轮廓仪,解决了大参考光斑与高辨别率的冲突。1990年,清华高校的古丽蓉等人采纳声光调制外差干涉仪测量磁盘表面,取得了Inm的辨别率,测量范围为+309m。上海交通高校光纤技术探讨所在这方面也做了不少探讨,做出了利用光学外差法检测超光滑表面粗糙度测量系统。清华高校精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点试验室的梁噪、李达成也研制出了在线测量表面粗糙度的共光路激光外差干涉仪,取得了纳米级的辨别率IlOlo但同时以上的光学轮廓仪
12、也存在明显的不足之处:L表面相位易发生变更;2.对倾斜敏感;3.量程小;4.定标困难等。应用时还有漂移和扰动识别等问题须要解决。利用光学方法测量表面形貌时须要配备一套结构困难的高精度机械扫描机构,其测量辨别率同时还受机械振动、电路噪声与机械扫描机构运动误差的影响,测量速度慢,光学系统的调整时间较长。显微成像法测量表面粗糙度直观、精确、测量速度快,取样面积大,同时又可实时无损伤的测量。这种方法目前可分为干涉显微镜、扫描电子显微镜法、光子隧道显微镜法、原子力显微镜法和扫描隧道显微镜法,其一般是利用电子显微镜干脆得到被测表面的微观形貌,它得到了比较多、比较全面的表面微观信息,但无论从价格上还是从体积
13、上来看,目前这种方法还都只适用于试验室内的探讨工作。散射法是近年来探讨比较多的一种很有发展前途的测量方法。目前国内外对这种方法探讨的人也越来越多:成都科技高校的王世华、周肇飞,国防科技高校的杨开勇、蔡明等,都探讨了利用光散射特征值测量表面粗糙度的方法,并设计了相应的系统。中国科学院长春光学精密机械探讨所陈波、李福田等依据软X射线标量散射理论,给出了一种用软X射线全积分散射检测超光滑表面粗糙度RMS值的方法。散射法测量表面粗糙度的最优点是快速和无破坏性,并且简洁实现在线测量,缺点是目前的公式推导多是标量散射理论,而不是矢量散射理论,因此理论计算和实测结果有肯定的偏差,这种方法的测量范围较窄。把散
14、斑技术应用到测量领域现在己成为越来越多的人的探讨课题。国内清华高校精密仪器与机械学系的雏建斌,王文和香港城市高校机械制造工程系的温诗铸探讨探讨了暗区比测量法,江苏工学院的刘映栋和王亚伟探讨了散斑相干法,探讨了双光束夹角的变更对测量方法的影响。哈尔滨工业高校的强锡富、赵学增等结合计算机视觉技术,利用散斑法探讨了表面粗糙度的在线测量技术。香港城市高校的学者利用散斑暗区对比法探讨了动态测量物体表面粗糙度的可能性。国外学者对散斑法进行的探讨进来比较活跃:1993年,RoyalInstOfTechnology的Persson,Ulf在散斑法测量表面粗糙度方面作了大量的工作,他探讨分析了散斑图像,散斑对比
15、法和双光束照耀时的散斑统计规律1201oSaitamaUniv的Kadono,Hirofumi设计了一套散斑对比增加装置,探讨了其与粗糙度的关系。1999年,UniVerCityOfBremen的GOCh.G利用不同波长的双光束激光照耀物体的表面,探讨了一套在线测量装置。DublinInstofTechnology的Leonard,LisaC.和CentdeInvestigacionesOpticas(CIOp)的Russo也探讨了散斑对比法。1.2表面粗糙度测量技术的发展趋势现代科学技术已能生产出光学镜面、计算机光盘、磁盘、超大规模集成电路等这样超精表面器件,某些零件不光须要满意民用的要求,
16、甚至还要满意现代军事的要求和航空业的要求。这使得对表面粗糙度测量技术提出比以往更高的要求,特殊是纳米技术产生之后,检测精度己从毫米、微米精度发展到了纳米精度。并且为了节约资源很多产品还须要在生产过程中百分之百的实时在线检测,这就迫使表面测量技术在总体上朝着高精度、高辨别率、智能化、便利快捷以与在线检测方向发展。在测量方法探讨方面,将会长期存在多种方法并驾齐驱的局面,以适合各种材料、量程、速度以与场所的检测要求。并且随着新理论、新技术不断突破,将会涌现出很多新的测量方法,甚至多种新方法联合运用,使始终在表面粗糙度测量探讨中存在的难点问题得到解决。表面粗糙度测量的发展趋势还体现在观念上的变更,以往
17、的检测与加工被看成是一个单向过程,认为测量参数仅仅是用来评定加工质量和加工工艺的手段。而今后的表面粗糙度测量技术不仅仅作为一种评价工具,更要通过它所检测的表面微观形貌去指导加工,确立加工手段、加工工艺与加工表面质量之间的关系,依此来改进加工手段并优化工艺参数,从而得到更符合运用性能的表面。1 .表面粗糙度三个参数的定义,这是表面粗糙度测量的基础;1.4 表面粗糙度的定义和基本概念在探讨散斑图像与表面粗糙度关系之前,我们简洁介绍一下有关表面粗糙度的学问,从而对表面粗糙度的定义、表面粗糙度的测量基准、表面粗糙度测量中应遵循的原则以与表面粗糙度评定的参数的定义等有一个较为全面的了解和相识。这些基本定
18、义是设计试验系统和编制计算机数据处理程序的理论依据。1.5 .1表面粗糙度的概念表面粗糙度是反映零件表面微观几何形态误差的一个重要指标,它主要是由于在加工过程中刀具和零件表面之间的摩擦,切削分别时的塑性变形和金属撕裂,以与工艺系统中存在的高频振动等缘由所形成的。表面粗糙度不包括由机床几何精度方面的误差等所引起的表面宏观几何形态误差,也不包括在加工过程中由机床、刀具、工具系统的强迫振动等所引起的介于宏观和微观几何形态误差之间的水纹度,以与气孔、沙眼等。形态误差、水纹度和粗糙度这三类表面几何形态偏差在一个表面上并非孤立存在,大多数加工表面常受其综合影响。事实上,三者只有分级的不同,没有原则上的区分
19、。1.4.2表面粗糙度与形态误差、表面波度的关系从几何结构的形式来分析,它们之间的差别与不平度的间距有关,因而有人提出以间距大小来区分:间距小于InUn的属于表面粗糙度;间距在1.1Ornnl范围内按表面水纹度处理;间距超过IOnun的为形态误差。另一种看法是用起伏不平的间距和幅度的比值来划分:其比值小于50的算作表面粗糙度;当比值范围为50-1000时属于表面水纹度范畴;当比值大于IOoo时则按形态误差处理。1.6 表面粗糙度的测量基准采纳什么原则和方法给定基准线,曾有过不同的看法,比较有影响的有两种:一种是以中线为基准线评定轮廓参数的中线基准制(又称M制),另一种是以包络线为基准线评定轮廓
20、参数的包络线基准制(又称E制)。世界上大多数国家(包括我国)都采纳中线制评定轮廓表面粗糙度,国际标准也采纳中线制。中线制就是以“中线”为基准线评定表面轮廓曲线的计算制。轮廓中线就是志向的几何轮廓,它是一条为求得表面粗糙度数值而定的假想基准线。轮廓的最小二乘中线是指具有几何轮廓形态并划分轮廓的基准线,在取样长度内使轮廓线上各点的轮廓偏距地平方和为最小。用最小二乘法将实际的表面形态模拟成理论的几何表面是常用的一种方法,这样得到的基准线是唯一的。由于中线是作为基准线的,基准线的形态与截面几何轮廓形态相同,所以中线不肯定是一条直线,可以是个圆弧或其它的曲线,依截面的几何轮廓的形态而定。1.7 表面粗糙
21、度测量中的一些术语1.8 .1测量方向表面粗糙度的数值,是在垂直于被测表面的法向截面上给定的。由于测量时,垂直于几何表面剖切的法向剖面可以有很多,当取样长度肯定时,若沿如图所示的不同的法向剖面分别进行测量,则由于其方向不同、波距不同,表面粗糙度的测量值也不同。图中A线垂直于加工痕迹方向,按A线方向测量,表面粗糙度测量值最大;C线平行于加工痕迹方向,按C线方向进行测量,表面粗糙度测量值最小;按B线方向测量,其测量值在最大值和最小值之间。ABCZvwI.II./_JLJ_Jrpr图2.1测量方向因此,对于一般切削加工的表面,应当在垂直于加工痕迹的方向上进行测量。假如不能明显地确定出被测表面加工痕迹
22、的方向时,则应通过在几个不同方向上的测试结果来确定。1.6.2取样长度表面粗糙度测量应在肯定的取样长度上进行,国家标准GB10031.83中明确规定了取样长度的概念。取样长度是用于判别具有表面粗糙度特征的一段基准线长度。规定和选择这段长度是为了限制和减弱表面水纹度对表面粗糙度测量结果的影响。它实质上是以几何手段达到滤波的目的,故亦称为几何滤波。1.6.3评定长度在取样长度确定后,由于零部件表面各处的表面粗糙度不行能完全匀称一样,在一个取样长度内测得的表面粗糙度参数值可能基本接近也可能相差甚多,因此假如只用一个取样长度进行表面粗糙度的评定往往没有足够的代表性。所以必需选取具有几个取样长度的一个合
23、适的最小表面段长度,这就是评定长度。实际测量时,在确定测量精度的前提下,需选取相宜的取样长度,和评定长度,并且取样长度和评定长度有肯定的取值关系。在国家标准GBl031.83的附录B中,举荐在一般状况下测量时,评定长度砌等于5个连续的取样长度l(ln=51)。假如被测表面匀称性很好,测量时也可以选用小于5个取样长度的评定长度值,而匀称性较差的表面则应选用大于5个取样长度的评定长度。1.7评价表面粗糙度的主要参数在国际标准GB350583中有关表面粗糙度的评定参数共有27个,分为三大类:与微观不平度高度有关的参数、与微观不平度间距有关的参数、与微观不平度形态有关的参数。这里,我们只介绍目前常用的
24、六个参数。1.7.1与微观不平度高度有关的表面粗糙度参数在被测表面的法向截面上,对实际的轮廓曲线峰谷间的高度(轮廓波形的幅值)做出定量的评价,是我国和世界各国广泛应用的评定表面粗糙度的主要方法。1 .轮廓算术平均偏差Ra2 .轮廓微观不平度十点高度RZ3 .轮廓最大高度Ry4 .轮廓均方根偏差Rq1.7.2与微观不平度间距有关的参数在一条凹凸不平的表面轮廓曲线上评定表面粗糙度,除了用微观不平度的高度参数反映表面特征的主要因素以外,还应考虑轮廓峰(谷)间距有关的信息,一般认为加工纹路的细密度对推断一个表面在负荷下受摩擦的特性以与其它一些功能亦有重要意义。为此,产生了反映轮廓在水平方向的间距和轮廓
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