计算机组成原理实验.ppt
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1、2023/8/17,1,计算机组成原理 实验,实验教材:计算机组成原理实验指导书,2023/8/17,2,实验1 运算器实验,实验3 数据通路实验,实验2 存储器实验,实验目录,实验4 微程序控制实验,实验5 基本模型机的设计与实现,2023/8/17,3,实验一 运算器实验,实验目的和要求 实验设备 实验内容 实验步骤 实验注意事项,2023/8/17,4,1.1 实验目的和要求,熟悉实验装置学习算术逻辑单元电路的构成及其工作原理,掌握运算器实验的数据传送通路的结构及不同实验状态下的各运算数据的流程。验证运算功能发生器(74LS181)的组合功能 按指定的数据完成几种指定的算术和逻辑运算,2
2、023/8/17,5,1.2 实验设备,JYS-4计算机组成原理教学实验装置排线、导线若干,2023/8/17,6,JYS-4硬件系统 布局图,2023/8/17,7,1.3 实验内容,1)熟悉算术逻辑运算单元电路实验原理算术逻辑运算单元电路的结构使用2片74LS181以并串连形式构成8位字长ALU,ALU输出经过三态门同数据总线相连。运算器的两输入端的数据分别由两个锁存器锁存,锁存器输入与数据总线相连,数据开关用来给出参与运算的数据,通过三态门和数据总线相连,数据显示灯与数据总线相连,用来显示数据总线内容。实验过程中,ALU根据不同运算控制信号对2个锁存器中的二进制数进行算术或逻辑运算。运算
3、结果经三态门送到数据总线。,2023/8/17,8,1.3 实验内容,1)熟悉算术逻辑运算单元电路实验原理算术逻辑运算单元电路的主要控制信号 算术逻辑单元电路中用到的控制信号主要有T4、S0、S1、S2、S3、Cn、M、LDDR1、LDDR2、SW-B、ALU-B。在实际应用中,只需将“W/R UNIT”的T4接至“STATE UNIT”的微动开关KK2的输出端,按动微动开关,即可获得实验所需的单脉冲,其中Cn、SW-B、ALU-B为低电平有效,它们是分别控制运算器进位、数据开关至数据总线的三态门以及运算器输出至数据总线三态门的控制信号。,2023/8/17,9,1.3 实验内容,1)熟悉算术
4、逻辑运算单元电路实验原理算术逻辑运算单元电路的主要控制信号 LDDR1、LDDR2为高电平有效,它们分别是运算器的“A寄存器”和“B寄存器”数据锁存控制信号,有效时当有T4脉冲来临便接收数据,无效时便锁存数据。S0、S1、S2、S3以及M和Cn是运算器的运算功能控制信号,其状态与功能见74LS181功能表。,2023/8/17,10,SN74181型ALU逻辑图及在正逻辑下功能表功能表中“加”表示算术加,“+”表示逻辑加,2023/8/17,11,2023/8/17,12,1.3 实验内容,2)运算器实验原理图,2023/8/17,13,1.4 实验步骤,0)打开实验装置,熟悉实验装置各部分结
5、构和功能;练习正确的插拔线方法。,2023/8/17,14,1.4 实验步骤,1)按要求打开实验装置,把上述原理图中用到的单元电路及控制信号与实验装置上各单元电路和相关信号控制开关等实物相对照,熟悉应用和操作对象。本次实验用到的所有数据开关和控制开关如果不在初始状态,则要先将其打到初始状态(即断开状态),在本装置中,开关断开,其输出均为高电平状态(开关指示灯灭),2023/8/17,15,1.4 实验步骤,2)按图2-2连接线路,连接完毕后要进行仔细检查,确保无误后方可通电实验,2023/8/17,16,1.4 实验步骤,3)用二进制数据开关向DR1(寄存器A)和DR2(寄存器B)置运算数据,
6、步骤如下:再次查看开关单元ALU-B开关是否处于初始状态不在初始状态则打到初始状态(ALU-B=1),关闭ALU输出的三态门。接通WS-B开关,打开数据输入单元的三态门。分别向寄存器A和寄存器B置数,操作流程如图关闭数据输入三态门,即断开SW-B开关(SW-B=1),2023/8/17,17,1.4 实验步骤,3)用二进制数据开关向DR1(寄存器A)和DR2(寄存器B)置运算数据,2023/8/17,18,1.4 实验步骤,4)验证寄存器A(DR1)和寄存器B(DR2)中数据的正确性,步骤如下:关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0)。当S3S0、初始状态时,
7、控制开关均在断开状态,ALU输出寄存器A的数据,对照总线指示灯数据。只接通S2和S0控制开关(S2=0,S0=0),其余开关状态不变,ALU输出寄存器B的数据,对照总线指示灯数据。如果两个寄存器显示数据与置入数据一致,表明实验装置所用到单元电路、实验接线和操作都正确。否则必有实验环节发生错误,必须认真检查分析,找出出错原因。后续实验必须在上述结果正确无误的基础方可进行。,2023/8/17,19,1.4 实验步骤,5)验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能(正逻辑),在给定寄存器A(DR1=X)和寄存器B(DR2=Y)数据的情况下,改变运算器的功能,观察运算器的输出,把相关功能下的输出结果
8、填入表2-2,并做出理论分析和比较,验证实验的正确性。,2023/8/17,20,表2-2 运算器实验数据记录表,2023/8/17,21,1.5 实验注意事项,1)全部接好线并检查无误方可通电,严禁带电插拔排线;2)每组实验数据不能完全相同,做好实验数据记录;3)根据实验内容写出实验报告;,2023/8/17,22,实验一 运算器实验,实验二 进位运算和移位运算实验,实验四 数据通路实验,实验三 存储器实验,实验目录,2023/8/17,23,实验二 进位运算和移位运算实验,实验目的和要求 实验设备 实验内容 实验步骤 实验注意事项,2023/8/17,24,2.1 实验目的和要求,验证待进
9、位控制的算术运算功能发生器的进位功能 验证移位控制的组合功能,2023/8/17,25,2.2 实验设备,JYS-4计算机组成原理教学实验装置排线、导线若干,2023/8/17,26,2.3 实验内容,1)进位计算实验原理进位控制单元电路是在算术逻辑运算单元基础上增加进位控制部分形成的单元电路,其作用是验证运算器在进行运算的过程中是否产生进位,并将结果用指示灯显示出来进位控制单元电路结构原理如图3-1,进位控制单元电路以算术逻辑运算单元电路为基础,具有算术逻辑运算单元所有控制信号,为控制进位锁存器,增加了AR控制信号,当该信号处于低电平,同时发送T4信号,ALU进位被锁存在锁存器中 进位控制单
10、元电路的数据通路,2023/8/17,27,图3-1进位控制单元电路结构原理图,2023/8/17,28,2.3 实验内容,2)移位运算实验原理移位运算单元电路是运算器单元电路中负责完成二进制数的逻辑左移、逻辑右移、算术左移、算术右移的器件及其移动控制操作电路来实现的 移位运算结构如图3-3,使用一片74LS299作为移位发生器,其八位输入/输出端以排针方式和总线单元电路连接。299-B信号控制使能端,T4时序为时钟脉冲,实验时将读写单元的T4接至状态单元的KK2脉冲发生器,由S0 S1 M信号控制功能状态,其列表3-1通过控制信号,改变单元功能。每使用一次T4信号,产生一次移位运算,2023
11、/8/17,29,表3-1 移位控制功能表,2023/8/17,30,图3-3移位运算结构图,2023/8/17,31,2.4 实验步骤,1)进位计算实验步骤1按图3-2连接试验线路,连接完毕仔细检查无误后通电,2023/8/17,32,2.4 实验步骤,1)进位计算实验步骤2从输入单元电路向寄存器A和寄存器B置数,步骤为:关闭ALU输出三态门,开启输入三态门,要向DR1寄存器中输入01010101,先将数据开关置01010101,将LDDR1置1,LDDR2置0,按KK2发送T4脉冲,数据01010101便送入寄存器A中。再将数据开关置10101010,将LDDR1置0,LDDR2置1,按K
12、K2发送T4脉冲,数据10101010便送入寄存器B中。,2023/8/17,33,2.4 实验步骤,1)进位计算实验步骤3进位标志位清零,清零的方法是,将S3 S2 S1 S0 M的状态置为0 0 0 0 0,AR状态置为0(要注意的是清零时DR1寄存器中的数不能等于FF)。然后按动微动开关KK2。,2023/8/17,34,2.4 实验步骤,1)进位计算实验步骤4验证带进位运算及进位锁存功能,实验使用加法运算来验证。首先向DR1、DR2置数,并将进位标志位清零。然后使ALU-B=0,S3 S2 S1 S0 M状态为 1 0 0 1 0,此时将数据显示灯上显示的数据位DR1、DR2加当前进位
13、标志位,这个结果是否产生进位,则要按动微动开关KK2,若进位标志灯亮,表示无进位;反之,则表示有进位。,2023/8/17,35,2.4 实验步骤,2)移位运算实验步骤1按图3-4连接线路,将“W/R UNIT”的T4接至“STATE UNIT”的KK2。ALU UNIT的AUJ1连接至BUS UNIT再接到INPUT UNIT的SWJ3,299-B S1 S0 M接到SWITCH UNIT相应接口。连接完毕检查无误后接通电源。,2023/8/17,36,2.4 实验步骤,2)移位运算实验步骤2置数:将数据输入单元的数据开关置成01101011状态,然后将SW-B置为0。要置数时将S0置成1,
14、S1置成1,此时74LS299处于装数状态,按动微动开关KK2发送T4信号,数据装入后再将SW-B置为1。移位操作:参照表3-1改变S0 S1 M 299-B 状态,按动微动开关KK2,就可观察移位结果。在实验过程中,每按动一次KK2键,显示灯显示数据就移动一位。,2023/8/17,37,2.5 实验注意事项,1)全部接好线并检查无误方可通电,严禁带电插拔排线;2)每组实验数据不能完全相同,做好实验数据记录;3)根据实验内容写出实验报告;,2023/8/17,38,实验一 运算器实验,实验二 进位运算和移位运算实验,实验四 数据通路实验,实验三 存储器实验,实验目录,2023/8/17,39
15、,实验三 存储器实验,实验目的和要求 实验设备 实验内容 实验步骤 实验注意事项,2023/8/17,40,3.1 实验目的和要求,掌握静态随机存储器(6116)的工作原理及数据的读写方法,2023/8/17,41,3.2 实验设备,JYS-4计算机组成原理教学实验装置排线、导线若干示波器一台,2023/8/17,42,3.3 实验内容,1)存储器实验原理实验所用的静态存储器原理如图4-1,存储器由一片6116(2K*8)构成,其数据线接至数据总线,地址线由地址锁存器给出。数据开关经三态门连至数据总线,分时给出地址和数据。因地址寄存器为8位,接入6116的地址A7-A0,而高三位A8-A10接
16、地,所以其实际容量为256字节。6116有3个控制线:CE(片选),OE(读控制),WE(写控制),2023/8/17,43,3.3 实验内容,1)存储器实验原理当片选信号有效(CE=0)时,OE=0时进行读操作(本电路中,OE接地,只要片选信号CE=0有效,不在写状态就在读状态),CE=0,WE=1时进行写操作,其写时间与T3脉冲宽度一致。实验时将T3脉冲接至时序电路模块的TS3插孔中,其脉宽可调,其他电平控制信号由“SWITCH UNIT”单元的二进制开关模拟,其中SW-B为低电平有效,LDAR为高效电平有效,2023/8/17,44,3.3 实验内容,2)实验原理图,2023/8/17,
17、45,3.4 实验步骤,1)形成时钟脉信号T3,操作步骤如下 接通电源,接入示波器方波信号源输出孔H24,调节电位器W1,使H24端输出实验期望频率方波。将时序电路模块的和H23排针相连。将时序电路模块“STOP”开关置为“RUN”状态,“STEP”开关置为“EXEC”状态,按动微动开关START,T3输出连续方波信号,调节电位器W,用示波器观察,使T3输出实验要求脉冲信号。当“STOP”开关置为“RUN”状态,“STEP”开关置为“STEP”状态时,每按动一次微动开关START,则T3输出一个单脉冲,其脉冲宽度与连续方式相同。关闭电源。,2023/8/17,46,3.4 实验步骤,2)按图4
18、-2连接实验线路,检查无误后接通电源,2023/8/17,47,3.4 实验步骤,3)存储器的00,01,02,03,04地址单元中分别写入数据11,12,13,14,15,操作步骤如下,2023/8/17,48,3.4 实验步骤,4)将存储器的00,01,02,03,04地址单元数据读出,观察上述各单元内容是否与前面写入一致,操作步骤如下(以从0号单元读出数据为例),2023/8/17,49,3.5 实验注意事项,1)全部接好线并检查无误方可通电,严禁带电插拔排线;2)每组实验数据不能完全相同,做好实验数据记录;3)根据实验内容写出实验报告;,2023/8/17,50,实验一 运算器实验,实
19、验二 进位运算和移位运算实验,实验四 数据通路实验,实验三 存储器实验,实验目录,2023/8/17,51,实验四 数据通路实验,实验目的和要求 实验设备 实验内容 实验步骤 实验注意事项,2023/8/17,52,4.1 实验目的和要求,在JYS-4实验装置上模拟计算机最基本的工作过程,打通“键盘”、“CPU”、“RAM”之间的数据通路。掌握计算机的数据通路组成及其工作原理,2023/8/17,53,4.2 实验设备,JYS-4计算机组成原理教学实验装置排线、导线若干,2023/8/17,54,4.3 实验内容,1)数据通路实验原理该实验实际是上述实验一与实验三的综合实验。把JYS-4实验装
20、置上的INPUT DEVICE、SWITCH UNIT、SIGNAL UNIT、STATE UNIT、ALU UNIT、MAIN MEM、ADDRESS UNIT、BUS UNIT、W/R UNIT、OUTPUT DEVICE等单元电路连接起来,构成一个最基本的计算机系统,以模拟计算机的实际工作过程。电路构成也是运算器实验和存储器实验电路的综合,如图5-1,2023/8/17,55,图5-1数据通路实验原理图,2023/8/17,56,4.3 实验内容,1)数据通路实验原理在本装置开关单元里,LDDR1与CE、LDDR2与WE分别共用一个控制开关,在前面实验中,这两个开关不矛盾。但本实验里,这
21、四个控制信号都用到,因而产生矛盾,为解决这个问题,规定在本实验接线时,保持图2-2接线不变,将图4-2中存储器单元的片选信号(CE)输入端连接至开关单元里的AR控制端,同时将写存储器控制信号(WE)输入端连接至开关单元里的SWA输。如有其他信号冲突,可用类似办法解决,2023/8/17,57,4.4 实验步骤,1)接线前的准备、实验电路的接线程序参见实验一和实验三。2)从输入单元电路输入四个八位二进制数据,并存入存储器单元(四个数据及四个存放数据的内存单元地址由各组定义,但要求不能与其它组定义的数据相同),2023/8/17,58,4.4 实验步骤,3)从内存单元取出两组八位二进制分别送入DR
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