【教学课件】第8章半导体传感器.ppt
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1、第8章 半导体传感器,8.1 半导体温度传感器8.2 半导体湿度传感器 8.3 半导体气体传感器 8.4 半导体磁敏传感器,8.1 半导体温度传感器,8.1.1 接触型半导体传感器 1.半导体热敏电阻 1)半导体热敏电阻的主要参数及其特性 热敏电阻是一种对热敏感的电阻元件,一般用半导体材料做成,属体型元件。它的主要特点如下:(1)灵敏度高,其电阻温度系数要比金属大10100倍以上,能检测出10-6温度变化。,(2)小型,元件尺寸可做到直径为0.2mm,能够测出一般温度计无法测量的空隙、腔体、内孔、生物体血管等处的温度。(3)使用方便,电阻值可在0.1100k之间任意选择。半导体热敏电阻的工作原
2、理一般用量子跃迁观点进行分析。由于热运动(譬如温度升高),越来越多载流子克服禁带宽度(或电离能)引起导电,这种热跃迁使半导体载流子浓度和迁移率发生变化,根据电阻率公式可知元件电阻值发生变化。,热敏电阻的主要参数有:标称阻值RH 在环境温度为(250.2)时测得的阻值,也称冷电阻,单位为。电阻温度系数t 热敏电阻的温度每变化1时,阻值的相对变化率,单位为%/。如不作特别说明,是指20时的温度系数。,(8.1),式中,R为温度为T(K)时的阻值。,时间常数 它是指热敏电阻从温度为T0的介质中突然移入温度为T的介质中,热敏电阻的温度升高T=0.63(T-T0)所需的时间,单位为s。它表征热敏电阻加热
3、或冷却的速度。散热系数H 它是指热敏电阻自身发热使其温度比环境温度高出1所需的功率,单位为W/或mW/。它取决于热敏电阻的形状、封装形式以及周围介质的种类。,最高工作温度Tm 它是指热敏电阻长期连续工作所允许的最高温度,在该温度下,热敏电阻性能参数的变化应符合技术条件的规定。热敏电阻主要有三种类型,即正温度系数型(PositiveTemperatureCoefficient)(简称PTC型)、负温度系数型(NegativeTemperatureCoefficient)(简称NTC型)和临界温度系数型(CriticalTemperatureResistor)(简称CTR型)。它们的电阻特性如图8
4、.1所示。,图8.1 半导体热敏电阻的温度特性,正温度系数(PTC)型热敏电阻是由在BaTiO3和SrTiO3为主的成分中加入少量Y2O3和Mn2O3构成的烧结体。其特性曲线是随温度升高而阻值增大,其色标标记为红色。开关型正温度系数热敏电阻在居里点附近阻值发生突变,有斜率最大的区段,通过成分配比和添加剂的改变,可使其斜率最大的区段处在不同的温度范围里,例如加入适量铅其居里温度升高;若将铅换成锶,其居里温度下降。,如果用V、Ge、W、P等的氧化物在弱还原气氛中形成半玻璃状烧结体,还可以制成临界型(CTR)热敏电阻,它是负温度系数型,但在某个温度范围里阻值急剧下降,曲线斜率在此区段特别陡峭,灵敏度
5、极高,其色标标记为白色。此特性可用于自动控温和报警电路中。负温度系数(NTC)型半导体热敏电阻研究最早,生产最成熟,是应用最广泛的热敏电阻之一,通常是一种氧化物的复合烧结体,特别适合于-100300C之间的温度测量,其色标标记为绿色。其阻值与温度的关系为,(8.2),式中,R为温度T时的阻值,单位为;T为温度,单位是K;A,B为取决于材质和结构的常数,其中A的量纲为,B的量纲为K。由上面的关系式不难得到下式,(8.3),式中,R为任意温度T时热敏电阻的阻值,T为任意温度K,R0为标准温度T0K时的阻值,B称为负温度材料系数也称为B常数。,(8.3)式是经验公式,实验表明,无论是用氧化物还是用单
6、晶做成的热敏电阻,在不太宽的温度范围内(小于400)都能用上式描述。这里应该指出,B常数不是固定值,是温度T的函数,即B=f(T),不同厂家生产的热敏电阻B值都不一样,从公式(8.3)可求出B常数,(8.4),如果被测温度比较低,而且不需要很高的精度时,一般把B看成一个常数,求出温度或热敏电阻的阻值。这时计算温度的公式为,(8.5),根据(8.2)式,我们可以求出热敏电阻的温度系数为,(8.6),图8.2 B常数的温度特性,热敏电阻的温度系数随温度减小而增大,所以低温时热敏电阻温度系数大,所以灵敏度高,故热敏电阻常用于低温(-100300C)测量。在稳态情况下,热敏电阻上的电压和通过的电流之间
7、的关系,称为伏安特性。热敏电阻的典型伏安特性如图8.3所示。从图中可见,在小电流情况下,电压降和电流成正比,这一工作区是线性区,这一区域适合温度测量。随电流增加,电压上升变缓,曲线呈非线性,这一工作区是非线性正阻区。当电流超过一定值以后,曲线向下弯曲出现负阻特性,称为负阻区。,图8.3 热敏电阻的伏安特性,流过热敏电阻的电流与时间的关系,称为安时特性,如图8.4所示。它表示热敏电阻在不同电压下,电流达到稳定最大值所需要的时间。对于一般结构的热敏电阻,其值均在0.51s之间。,图8.4 热敏电阻的安时特性,NTC型热敏电阻主要由Mn、Co、Ni、Fe等金属的氧化物烧结而成,通过不同材质组合,能得
8、到不同的电阻值R0及不同的温度特性。目前半导体热敏电阻还存在一定缺陷,主要是互换性和稳定性还不够理想,虽然近几年有明显改善,但仍比不上金属热电阻,其次是它的非线性严重,且不能在高温下使用,因而限制了其应用领域。,2)热敏电阻温度传感器 热敏电阻测温的基本电路 为了取得热敏电阻的阻值和温度成比例的电信号,需要考虑它的直线性和自身加热问题。图8.5表示热敏电阻的基本联接电路。对于负温度系数的热敏电阻(NTC型)当温度上升时,热敏电阻的阻值变小,输出电压Uout上升。在0100C温度范围内有如下关系:,(8.7),图 8.5,从公式(8.3)可知,温度和热敏电阻的阻值之间有非线性特性。为了改善它的直
9、线性,适当调整Rs值,使得特性曲线通过0C、50C、100C三个温度点。从Uout(50)2=Uout(0)+Uout(100)的关系,利用各点热敏电阻的阻值可求出Rs值,(8.8),如果热敏电阻的三个温度点的阻值各为 RTh0=30.0k;RTh50=4.356k;RTh100=1.017k 代入公式(8.8)后得到Rs=3.322k。图8.6为图8.5所示电路的温度和输出功率特性。其中特性百分比表示不同温度下,电源输出功率与100C时输出功率的百分比。另外,考虑到自身加热问题,由于加在热敏电阻上的电功率和阻值变化的关系为,(8.9),图8.6 温度和输出功率特性,图8.7 温度与自身加热电
10、功率的特性,为了在较宽的范围内实现线性化,可采用模拟电路参数设定法:把热敏电阻传感器接入图8.8所示电路中的RT位置上,则电路输出电压为,将(8.3)式代入上式得,图 8.8,联立以上各式及(8.3)式((改写为,解得,在设计电路参数时,若选择,可使上式分母中前三项的代数和等于零,则有,即得到了输出电压Uo与被测温度T成线性的关系式。,图8.9 线性化电路,利用两个热敏电阻,求出其温度差的电路 测量温度差的电路是充分利用热敏电阻高灵敏度的一个例子。在温度测量中,测量温度的绝对值一般能测量到0.1C左右的精度,要测到0.01C的高精度是很困难的。但是,如果在具有两个热敏电阻的桥式电路中,在同一温
11、度下,调整电桥平衡,当两个热敏电阻所处环境温度不同,测量温度差时,精度可以大大提高。,图8.10示出这种求温度差的电路图。图(a)电路的测温范围较小,而且两个热敏电阻的B常数应该一致,但灵敏度高;图(b)电路的测温范围较大,而且对B常数一致性的要求也不严格,因为它们可以用Rs来适当调整。,图8.10 求温度差的桥式电路,2.PN结型热敏器件 利用半导体二极管、晶体管、可控硅等的伏安特性与温度的关系可做出温敏器件。它与热敏电阻一样具有体积小、反应快的优点。此外,线性较好且价格低廉,在不少仪表里用来进行温度补偿。特别适合对电子仪器或家用电器的过热保护,也常用于简单的温度显示和控制。不过由于PN结受
12、耐热性能和特性范围的限制,只能用来测量150C以下的温度。,分立元件型PN结温度传感器也存在互换性和稳定性不够理想的缺点,集成化PN结温度传感器则把感温部分、放大部分和补偿部分封装在同一管壳里,性能比较一致而且使用方便。1)晶体二极管PN结热敏器件 根据半导体器件原理,流经晶体二极管PN结的正向电流ID与PN结上的正向压降UD有如下关系,(8.10),式中,q为电子电荷量,k为玻耳兹曼常数,T为绝对温度,Is为反向饱和电流。它可写为,(8.11),式中,qUg0为半导体材料的禁带宽度;B和为两个常数,其数值与器件的结构和工艺有关。将(8.10)式取对数并考虑到(8.11)式,得,对上式两边取导
13、数,得到PN结正向压降对温度的变化率为,从以上二式得到温度灵敏度为,(8.12),硅二极管正向电压的温度特性如图8.11所示。显而易见,在40300K之间有良好的线性。当正向电流一定时,二极管的种类不同,其温度特性也不同,正向电流变化时,温度特性也随之变化。二极管测温电路如图8.12所示。利用二极管VD、R1、R2、R3和RW组成一电桥电路,再用运算放大器把电桥输出电信号放大并起到阻抗变换作用,可提高信号的质量。,图8.11 硅二极管正向电压的温度特性,图8.12 二极管测温电路,2)晶体三极管温度传感器 根据晶体管原理,处于正向工作状态的晶体三极管,其发射极电流和发射结电压能很好地符合下面关
14、系,式中,IE为发射极电流,UBE为发射结压降,Ise为发射结的反向饱和电流。因为在室温时,kT/q=36mV左右,因此,在一般发射结正向偏置的条件下,都能满足UBEkT/q的条件,这时上式可以近似为,(8.13),对上式取对数,得,(8.14),令,=常数,则,(8.15),由上式可知,温度T与发射结压降UBE有对应关系,我们可根据这一关系通过测量UBE来测量温度T值,且在温度不太高的情况下,两者近似成线性关系,其灵敏度为,常数,图8.13为硅半导体晶体管的基极发射极间电压UBE和集电极电流IC关系的温度特性。图8.14为晶体管温度传感器用作电子体温计的原理图及其输出特性。在050C的范围内
15、,输出电压变化为0-1V,测温精度不低于0.05C。,图8.13 UBE与IC的温度特性,图8.14 晶体管体温计原理图及测温输出特性,3)可控硅热敏开关 结型热敏器件另一种类型是利用可控硅元件的热开关特性制成的可控硅热敏开关,是一种无触点热开关元件。当元件处于关态时,流过阳极与阴极之间的电流ID为,式中,IG为流过阳极与栅接触电阻的旁路选通电流;a1为空穴电流增长率,a2为电子电流增长率,IC0为集电极截止电流。,当截止电压一定时,随温度的上升,热激电子空穴对成指数增加,使IC0增大,a1和a2也增大。当温度达到一定值,使a1+a2=1时,元件即由截止状态转换为导通状态。图8.15为可控硅热
16、敏开关元件的开关电压与开关温度之间的关系特性。可控硅热敏开关元件具有温度传感和开关两种特性,开关温度可通过调整栅极电阻上的外加电压进行控制,导通状态具有自保持能力,并能通过较大电流。,图8.15 可控硅热敏开关元件的温度特性,图8.16为可控硅热敏开关元件(TThy)用于控温的原理图。在设定温度下处于关闭状态,设定温度由VR调整。由于RC电路的相移作用,流经C1,R1,R2的电流相位较电源电压超前,故可控硅管(SCR)V从电源的零相位开始导通,并向负载提供半波电功率。当温度超过设定温度时,可控硅热敏开关(TThy)导通致使可控硅管(SCR)V截止,从而达到控温作用。,图8.16 可控硅热敏开关
17、元件用于控温的原理图,图8.17 全波式温控电路,表8.1 可控硅热敏开关的应用范围,3.集成(IC)温度传感器 集成电路(IC)温度传感器是近期开发的,把温度传感器与后续的放大器等用集成化技术制作在同一基片上而成的,集传感与放大为一体的功能器件。这种传感器,输出特性的线性关系好,测量精度也比较高,使用起来方便,越来越受到人们的重视。它的缺点是灵敏度较低。,IC传感器的基本特性如下:(1)可测得线性输出电流(1A/C)。(2)检测温度范围广(-55150C)。(3)测量精度为1C。(4)无调整时也可使用。(5)直线性很好,满量程非线性偏离:0.5C。(6)使用电源范围广(+4+30V)。,IC
18、温度传感器的设计原理是,对于集电极电流比一定的两个晶体管,其UBE之差UBE与温度有关。由(8.14)式知,发射结压降与发射极电流IE及反向饱和电流Ise有关,两个晶体管的发射结正向压降分别为,则两个晶体管发射结压降差,(8.16),(8.16)式表明UBE与绝对温度T成正比。选择特性相同的两个晶体管,则Ise1=Ise2,两个晶体管的电流放大系数也应相同,当两个晶体管的集电极电流分别为IC1、IC2时,(8.17),UBE经后级放大器放大后,可使传感器的输出随温度产生10mV/的变化量。IC温度传感器按输出方式可分为电压输出型和电流输出型。图8.18为电压输出型IC温度传感器原理图。图中V1
19、、V2为集电极电流分别为I1、I2的两个性能相同的晶体管。图8.19为放大器的原理框图。,图8.18 电压输出型IC温度传感器原理图,图8.19 电压输出型IC温度传感器放大器的原理框图,图8.20 电流输出型IC温度传感器原理图,电流输出型IC温度传感器原理图如图8.20所示。从图中不难看出:UBE1=UBE2;IC3=IC4 C设计时,取V3发射极面积为V4发射极面积的8倍,于是根据式(8.17)得电阻R上的电压输出为,图中集电极电流由UT/R决定,电路中流过的电流为流过R的电流的2倍。取R=358,则可获得灵敏度为1A/K的温度传感器。,IC温度传感器的一大特点是应用起来很方便。图8.2
20、1表示最简单的绝对温度计(开耳芬温度计)。如果把它的刻度换算成摄氏、华氏温度刻度时就可以做成各种温度计了。图8.22表示用串联电路时测量低温度的电路图。图8.23表示用并联电路时测量平均温度值的电路图。,图8.21 开耳芬温度计,图8.22 低温测量温度计,图8.23 测量平均温度的电路图,4.半导体光纤温度传感器 光纤的特征是对电、磁及其他辐射的抗干扰性好,而且细、轻、能量损失少。因此,利用光纤做的传感器,在恶劣的环境下也能正常工作。图8.24表示各种半导体禁带宽度的温度特性,从图中可看出,半导体的禁带宽度Eg随温度T增加近似线性地减小。因此,半导体吸收边波长g(g=ch/EG,式中,c为光
21、速,h为普朗克常数)随温度增加而向长波长方向位移,如图8.25所示。利用半导体材料的光吸收与温度的关系,可以构成透射式光纤温度传感器。,图8.24 各种半导体禁带宽度的温度特性,图8.25 半导体材料的吸收特性,图8.26(a)为测量原理图。在输入光纤和输出光纤之间夹一片厚度约零点几毫米的半导体材料,并用不锈钢管加以固定,如图8.26(b)所示。,图8.26 半导体吸收式光纤温度传感器的测温原理图,选择适当的半导体发光二极管LED,使其光谱范围正好落在吸收边的区域。半导体材料的光吸收,随着吸收边波长变短而急剧增加,直到光几乎不能透过半导体。相反,波长比g长的光,半导体透过率就高。由此可见,半导
22、体透射光强随温度的增加而减少。用光电探测器检测出透射光强的变化,并转换成相应的电信号,便能测量出温度。为了进一步提高传感器的稳定性及抗干扰能力,并提高测量精度,可采用以下两种方法。,1)双光纤参考基准通道法 其结构框图如图8.27所示。光源采用GaAlAs-LED,半导体吸收材料CdTe或GaAs作为测量元件。探测器选用Si-PIN发光二极管。从图中可看出,此方案与前一方案的区别在于增加了一条参考光纤及相应的探测器。由于采用了参考光纤和除法器,消除了干扰,提高了测量精度。这种温度计测温范围为-40120C,精度为1C。,2)双光源参考基准通道法 图8.28为测温示意图。发光二极管LED(AlG
23、aAs,1=0.88m;InGaAsP,2=1.27m)交替地发出光脉冲,经耦合器送入光纤探头,每个光脉冲的宽度为10ms。半导体GdTe(或GaAs)对一只LED发射波长为1的光的吸收与温度有关,而对另一只LED发出的波长为2的光几乎不吸收,这样可以作为参考光,经Ge-APD光电探测器送入采样保持电路,得到正比于脉冲幅值的直流信号,最后采用除法器获得温度信号。该温度计测温范围为-10300C,精度为1C。,图8.27 双光纤参考基准通道法原理框图,图8.28 双光源参考基准通道法原理框图,8.1.2 非接触型半导体温度传感器 温度为T的物体对外辐射的能量E与波长的关系,可用普朗克定律描述,即
24、,(8.18),式中,T为物体在温度T之下的发射率(也称为“黑度系数”,当T=1时物体为绝对黑体);C1为第一辐射常数(第一普朗克常数),C1=3.741810-16 Wm2;C2为第二辐射常数(第二普朗克常数),C2=1.438810-2 mK。,根据斯特藩-玻耳兹曼定律,将上式在波长自0到无穷大进行积分,当T=1时可得物体的辐射能,(8.19),此处,b是黑体的斯特藩-玻耳兹曼常数,b=5.710-8Wm-2K-4;Tb是黑体的温度。,一般物体都不是“黑体”,其发射率T不可能等于1,而且普通物体的发射率不仅和温度有关且和波长有关,即T=T(T),其值很难求得。虽然如此,辐射测温方法可避免与
25、高温被测体接触,测温不破坏温度场,测温范围宽,精度高,反应速度快,即可测近距离小目标的温度,又可测远距离大面积目标的温度。辐射能与温度的关系通常用实验确定。,黑体的辐射规律之中,还有维恩位移定律,即辐射能量的最大值所对应的波长m随温度的升高向短波方向移动,用公式表达为,(8.20),利用以上各项特性构成的传感器,必须由透镜或反射镜将物体的辐射能会聚起来,再由热敏元件转换成电信号。常用的热敏元件有热电堆、热敏或光敏电阻、光电池或热释电元件。,透镜对辐射光谱有一定的选择性,例如光学玻璃只能透过0.32.7m的波长,石英玻璃只能透过0.34.5m的波长。热敏元件,尤其是光敏元件也对光谱有选择性。这样
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