SPC培訓講義.ppt
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1、SPC培訓講義,第一章:認識SPC第二章:基本統計概念第三章:SPC管制圖類別第四章:SPC管制圖第五章:制程能力分析第六章:SPC總結第七章:SIX SIGMA介紹,第一章:認識SPC,一.什么是SPC SPC-Statistical Process Control 工业革命以后,随着生产力的进一步发展,大规模生产的形成,如何控制大批量产品质量 成为一个突出问题,单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求,必须改进质量管理方式。于是,英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。1924年,美国的休哈特博士提出将3Sigma原理运用于生产过程当中,并发表了著名的
2、“控制图法”,对过程变量进行控制,为统计质量管理奠定了理论和方法基础。统计过程控制,是企业提高质量管理水平的有效方法。它利用数理统计原理,通过检测数据的收集和分析,可以达到“事前预防”的效果,从而有效控制生产过程、不断改进品质。与全面质量管理相同,强调全员参与,而不是只依靠少数质量管理人员。,二.SPC的作用:1、确保制程持续稳定、可预测。2、提高产品质量、生产能力、降低成本。3、为制程分析提供依据。4、区分变差的特殊原因和普通原因,作为采取局部措施或对系统采取措施的指南。三.SPC的焦點製程(Process)Quality,是指產品的品質。換言之,它是著重買賣雙方可共同評斷與鑑定的一種既成事
3、實.而在SPC的想法上,則是希望將努力的方向更進一步的放在品質的源頭製程(Process)上.因為製程的起伏變化才是造成品質變異(Variation)的主要根源.,四.SPC的推行步驟:,確立製造流程、製造流程解析,決定管制項目,實施標準化,管制圖的運用,Cpk1.33,問題分析解決,製程的繼續管制,制程能力分析,Cpk1.33,問題分析解決,制程條件變動時,統計制程管制【SPC】統計製程管制之目的係持續改善產品與服務的價值,達到顧客滿意。製程能力調查【Ca、Cp、Cpk】管制圖的運用,作業方式/資源混用方式,人員設備材料方法環境,產品或服務,顧 客,辨識變化的需求與期望,統計方法,製程的聲音
4、,輸入,製程/系統,輸出,顧客的聲音,製程回饋管制系統模式,SPC 興起的背景 SPC 的迷思 SPC 的焦點 SPC 的思考 SPC 的診斷,SPC 背景說明,對品質常有的錯誤觀念,大多數的品質問題是錯在作業人員容許少數的不良,意外的瑕疵是無可避免的品質是品管部門的責任只重視品質檢驗,檢驗人員需負責解決瑕疵品SPC只是在現場掛管制圖,對品質的正確觀念,85%的品質問題是管理人員所要擔負的,管理者態度的偏差,更勝過作業人員的懶散第一次就把事情做好,並且將後工程視為顧客,才能真正做到零缺點品質品質和公司每一個人都有關品質檢驗是可以解決問題但卻無法消除問題SPC是讓品質保證的系統持續運轉不斷改善製
5、程,以提昇品質與生產力,SPC 興起的背景,SPC 興起是宣告經驗掛帥時代的結束 手工藝的產業:SPC 無用武之地經驗取勝 當經驗可以整理,再加上設備、制程或系統時,那 SPC 時機的導入,就自然成熟了。SPC 興起是宣告品質公共認證時代的來臨 1980年以前,客戶大都以自己的資源與方法,來認定某些合格的供應商,造成買賣雙方的浪費。1980年以後,GMP及ISO 9000的興起,因為重視產品生產的制程與系統,故更須有賴 SPC 來監控制程與系統的一致性。,SPC 的迷思,迷思一:有管制圖就是在推動 SPC?這是產品品質(Q),還是制程參數(P)管制圖?這張管制圖是否有意義?它所管制的參數,真的
6、對產品品質有舉足輕重的影響嗎?管制界限訂的有意義嗎?這張管制圖,是否受到應有的重視?是否已遵照規定,實施追蹤與研判?,SPC 的迷思,迷思二:有了Cpk/Ppk 等計算就是在推動 SPC?Cpk/Ppk 有定期審查嗎?是否已用 Cpk/Ppk 作訂單分派給不同生產線,作為生產的依據?,SPC 的迷思,迷思三:有了可控制的制程參數(Process Parameter),就是 SPC?為什麼挑出這些制程參數?這些制程參數的控制條件,是如何決定的?這些制程參數與產品品質之間,有因果關係可循嗎?,SPC 的焦點 制程(Process),SPC 與傳統 SQC 的最大不同點,就是由 Q P 的轉變 SQ
7、C:強調 Quality 產品的品質,換言之,它是著重於買賣雙方可共同評斷、鑑定的一種既成事實。SPC:則是希望將努力的方向更進一步的放在品質的源頭 制程(Process)上。因為制程的起伏變化,才是造成品質變異(Variation)的主要根源。,SPC 的焦點 制程(Process),品質變異的大小,也才是決定產品優劣的關鍵,制程起伏條件,品質異常,產品優劣,因,因,果,果,SPC 的思考,制程參數,制程,SPC 的思考,步驟一:深入掌握因果模式 制程參數(因)/品質貢獻率(果)分析 柏拉圖分析步驟二:設定主要參數的控制範圍 以迴歸分析方法或實驗設計來分析,SPC 的思考,步驟三:建立制程控
8、制方法 控制頻率 樣本抽取方法 樣本量測方法步驟四:抽取成品來印證原始系統是否仍然正常運轉?,SPC 的診斷,品質是否更穩定?良品率是否提高?制程是否更流暢?成本是否更低廉?異常是否更快能被偵測到?品管員是否逐漸在減少?,統計制程管制的定義非機遇原因變異機遇原因變異制程控制與制程能力制程改善循環,制程變異,統計制程管制的定義,經由制程中去收集資料,而加以統計分析,從分析中得以發覺制程的變異,並經由問題分析以找出異常原因,立即採取改善措施,使制程恢復正常。並藉由制程能力分析與標準化,以不斷提昇制程能力。,制程控制的需要,檢測 容忍浪費 允許將時間和材料投入到生產不一定有用的產品或服務中預防 避免
9、浪費 第一次就把工作做對,變異機遇原因與非機遇原因,為了使變異的表示簡化,通常分成下列二種:機遇原因的變異 制程中變異因素是在統計的管制狀態下受控。隨著時間的推移,具有穩定的且可重複的分佈 制程中的許多全距的原因。非機遇原因的變異 制程中不常發生,但造成制程變異的原因。所造成之分佈與時間的關係,是不穩定且不無法預期的。,散布举例,非機遇原因,过程 A 显示受控散布过程B 显示不受控散布,因為生產制程中每一件成品都不同,因此如果製程很穩定,則生產產品的品質特性的分布將形成一種固定形狀,稱為分佈。一般分佈有下列之不同情形:,.或是以上這些的不同組合,如果制程中,只有機遇原因的變異存在,則其成品將形
10、成依各很穩定的分佈,而且是可以預測的,如果制程中,有非機遇原因的變異存在,則其成品將為不穩定的分佈,而且無法預測的,範圍,時間,可預測,範圍,時間,無法預測,大量之微小原因所引起原料在一定範圍內之微小變異機械之微小振動儀器測定時,不十分精確之做法依據作業標準執行作業的變化實際上,要除去制程上之機遇原因,是件非常不經濟之處置,一個或少數幾個較大原因所引起使用規格外的原物料新手之操作人員不完全之機械調整未依據作業標準執行作業所制訂之作業標準不合理非機遇原因之變異,不但可以找出其原因,並且除去這些原因之處置,在經濟觀點上來說,是正確的,機遇原因,非機遇原因,非機遇原因的變異,簡單的統計分析可發現,如
11、管制圖,直接負責制程的人員去改善,局部措施改善對策,局部措施改善非機遇原因,牽涉到消除產生變異的非機遇原因 可由製程人員直接加以改善 大約可以解決15%之制程上的問題,系統措施 改善機遇原因,共同原因的變異,製程能力分析可發現,如Ca,Cp,Cpk,及管制圖上點的變化,管理當局參與及製程人員合作去改善,系統改善對策,必須改善造成變異的機遇原因經常需要管理階層的努力與對策大約可以解決85%之制程上的問題,Time 1,Time 2,Time 3,Time 4,称为 短期(st)我们的潜在能力-能做得最好的情况所有6 sigma公司用 报告 价值不高的多数,顯示散佈原因,組內變異(Within),
12、組間變異(Between),能力对实绩,过程实绩:全部散布包括 Shifts 和 Short Term(Pp&Ppk),能力:只有随机的或 短期的散布(Cp&Cpk),制程控制與制程能力,首先應通過檢查,消除全距所產生之非機遇原因,使制程處於受控的狀態接下來,就可依顧客的要求(規格),來評定制程能力,以使顧客滿意,這就是持續改善的基礎。,在管制規格內,Cpk 1.33,範圍,時間,受控(消除了非機遇原因),範圍,時間,制程控制,不受控(存在了非機遇原因),受控,能力符合要求(機遇原因造成的變異已減少),制程能力,規格上限,規格下限,範圍,受控,能力不符合要求(機遇原因造成的變異太大),制程改善
13、循環,P,D,A,C,P,D,A,C,P,D,A,C,1.分析制程,2.維護制程,3.改善制程,1.分析制程:本制程應該做什麼?會出現什麼問題?本制程會有哪些變化?我們已經知道本制程的什麼全距(全距)?哪些參數受全距(全距)的影響最大?本制程正在做些什麼?本制程是否在生產廢品及需要返工的產品?本制程生產的產品是否處於受控狀態?本制程是否有能力?本制程是否可靠?,2.維護(控制)制程:制程是動態的,並且會隨時間而變化。監控制程的能力指數 查出非機遇原因的變異,並採取有效的措施3.改善制程:使制程穩定,並以維持制程的能力指數 充分理解機遇原因造成的變異 減少機遇原因造成變異的發生,第二章:基本統計
14、概念,2,2,1.N=母體數(批量數):指母體(批量)數多少的個數.(例:共了50個數,N=50)2.n=樣本數(抽樣數):指樣本(抽樣)多少的個數.(例:抽了7個樣品,n=7)3.X=平均數:所有數的平均值,計算公式:X=(X1+X2+Xn)/n n=樣本數,X1,X2.表示各個數值 例有數值:1.5 1.6 1.7 1.55 1.65 X=(1.5+1.6+1.7+1.55+1.65)/5=1.64.R=全距:該組最大值-最小值的得數,計算公式:R=MAX(該組最大值)-MIN(該組最小值)例有數值:1.5 1.6 1.7 1.55 1.65 R=1.7-1.5=0.2,2,5.方差=s=
15、,6.標準差 1.母體標准差=S=2.樣本標准差=s=,(Xi-X),n,(Xi-X),2,n-1,部份計算公式,(Xi-X),n-1,2,2,2,7.中位數 M,該組數據數值大小的中間一位,若該組數是偶數,取中間兩個數的合進行平均,例如 A:1 3 4 5 8 M=X=4 B:2 2.5 3 4 7 7.5 M=X=(3+4)/2=3.58.Xbar-R常數表,=R/d2,9.制程中心沒有偏移良品率表,10.制程中心偏移1.5良品率表,正態分佈概率,第三章:管制圖類別,1.計量型數據 所謂計量型數據,就是均由量具實際量測出來的數據,如長度.重量.電流值.尺寸等具有連續性的數據.2.計數型數據
16、 所謂計數型數據,就是均屬於以單位個數或次數來計算的數據,如不良數.不良率.缺點數.缺點率等.3.SPC管制圖种類,计量值管制图之优缺点,优点:用于制程之管制,甚灵敏,很容易调查事故发生的原因,因此可以预测将发生之不良状况;能及时并正确地找出不良原因,可使品质稳定,为最优良之管制工具.,缺点:在制造过程中,需要经常抽样并予以测定以及计算,后需点上管制图,较为麻烦而费时间.,计数值管制图之优缺点,优点:只在生产完成后,才抽取样本,将区分为良品与不良品,所需数据能以简单方法获得之.对于工厂整个品质情况了解非常方便.,缺点:只靠此种管制图,有时无法寻求不良之真正原因,而不能及时采取处理措施,而延误时
17、机.,管制圖之繪制流程,搜集數據,繪制解析用管制圖,穩定狀態?,繪制直方圖 分布 層別研究,滿足規格?制程能力研究,管制用管制圖,Yes,消除非機遇原因,No,滿足,減少機遇原因4M、1E 分析,不滿足,提升製程能力,Z-value,管制圖 制程控制的工具,1.收集:收集資料並畫在圖上2.控制:監控是否超出管制上、下限 非機遇原因 計算所收集的資料,作為分析之用 觀察全距的變化3.分析與改善:依所計算之結果,評估制程能力指數 監控在受控狀態資料的變化,確定機遇原因全距 的變化,並採取措施 必要時,可修改管制上、下限,持續不斷的改善,解析用管制圖,管制用管制圖,第四章:SPC管制圖,結合本公司實
18、際情況,本教材只講解P chart,U chart,Xbar R chart 三种管制圖,一.P chart不良率管制圖(要20組以上,檢驗數可不相同)1.收集數據如下:,2.計算CL=P=di/ni=(5+6+6+7)/(200+230+220+.210)=0.025373.計算UCL與LCL(本例各檢驗數均在檢驗數總平均數+25%之內)UCL=P+3*P*(1-P)/ni=0.02537+3*0.02537*(1-0.02537)/n=0.05792 LCL=P-3*P*(1-P)/ni=0.02537-3*0.02537*(1-0.02537)/n=-0.00718=0 注:ni表示第i
19、組之檢驗數,本例為:200,230,220,但如所有檢驗均在檢 驗數總總平均數+25%之內,該ni則可用n代替(若否則做出的圖下頁圖2).n=(n1+n2+n3+.)/K(K=檢驗組數)該例 n=(200+230+220+.210)/20=203 當管制下限計算出來是負數時,必須將其改為“0”,圖1,圖2,二.C chart缺點數管制圖(要20組以上,檢驗數需相同)1.收集數據如下:,2.計算CL=C=(C1+C2+C3+.Ck)/k k=組數 CL=C=(5+6+9+.4)/12=6.41673.計算UCL=C+3*C=6.4167+3*6.4167=14.0164.計算LCL=C-3*C=
20、6.4167-3*6.4167=0,5.圖示,三.U chart單位缺點數管制圖(要20組以上,檢驗數可不相同)1.收集數據如下:,2.計算CL=U=(C1+C2+C3+.Ci)/(N1+N2+N3+.Ni)CL=U=(23+19+18+17)/(400+375+365+410)=0.04947 3.計算UCL=U+3*U/Ni 4.計算LCU=U-3*U/Ni,注:如所有N均在N的+25%之內,則Ni=N本例Ni=N(因為所有Ni均在N+25%內)若否則做出圖如下下頁圖2,N=(400+375+365+410)/15=405.67UCL=U+3*U/N=0.04947+3*0.04947/4
21、05.67=0.08242LCL=U-3*U/N=0.04947-3*0.04947/405.67=0.01651,圖1,圖1,四.X-R chart(一般要有25子組以上的數據才有分析價值)1.收集數據如下:50+10,2.計算總體平均值,X=,X1+X2+X3+.Xi,K,=XCL K:表示組數,該例K=20,X=XCL=(50.8+50.0+50.6+)/20=50.26,3.計算全距平均值 R=(R1+R2+R3+Ri)/K=RCL K:表示組數,該例K=20 R=RCL=(5+6+4+.6)/20=5.1,4.計算管制上下限 XUCL=X+A2R 平均數管制上限 XCL=X 平均數中
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