x射线光电子能谱分析案例.ppt
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1、X射线光电子能谱分析X-ray Photoelectron Spectroscopy,表面分析技术(Surface Analysis)是对材料外层(the Outer-Most Layers of Materials(100nm)的研究的技术,X-ray Beam,X-ray penetration depth 1mm.Electrons can be excited in this entire volume.,X-ray excitation area 1x1 cm2.Electrons are emitted from this entire area,Electrons are ext
2、racted only from a narrow solid angle.,1 mm2,10 nm,主 要 内 容,XPS的基本原理光电子能谱仪实验技术 X射线光电子能谱的应用,8.1 XPS的基本原理,XPS是由瑞典Uppsala大学的K.Siegbahn及其同事历经近20年的潜心研究于60年代中期研制开发出的一种新型表面分析仪器和方法。鉴于K.Siegbahn教授对发展XPS领域做出的重大贡献,他被授予1981年诺贝尔物理学奖。XPS现象基于爱因斯坦于1905年揭示的光电效应,爱因斯坦由于这方面的工作被授予1921年诺贝尔物理学奖;X射线是由德国物理学家伦琴(Wilhelm Conrad
3、 Rntgen,l845-1923)于1895年发现的,他由此获得了1901年首届诺贝尔物理学奖。,X射线光电子能谱(XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy)是一种基于光电效应的电子能谱,它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子,通过对这些电子进行能量分析而获得的一种能谱。这种能谱最初是被用来进行化学分析,因此它还有一个名称,即化学分析电子能谱(ESCA,全称为Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),X射线物理,X射线起源于轫致辐射,可被认为是光电效应的逆过程,既:电子损失动能 产生光子(X射线),
4、因为原子的质量至少是电子质量的 2000 倍,我们可以把反冲原子的能量忽略不计。,8.1 XPS的基本原理,8.1.1 光电效应 1.光电效应 具有足够能量的入射光子(h)同样品相互作用时,光子把它的全部能量转移给原子、分子或固体的某一束缚电子,使之电离。,X射线激发光电子的原理,8.1 XPS的基本原理,电子能谱法:光致电离;A+h A+*+e,单色X射线也可激发多种核内电子或不同能级上的电子,产生由一系列峰组成的电子能谱图,每个峰对应于一个原子能级(s、p、d、f);,8.1 XPS的基本原理,8.1 XPS的基本原理,光子的一部分能量用来克服轨道电子结合能(EB),余下的能量便成为发射光
5、电子(e-)所具有的动能(EK),这就是光电效应。用公式表示为:Ek=h-EB Ws 结合能(EB):电子克服原子核束缚和周围电子的作 用,到达费米能级所需要的能量。,8.1 XPS的基本原理,费米(Fermi)能级:能带中充满电子的最高能级;逸出功Ws:固体样品中电子由费米能级跃迁到自由电 子能级所需要的能量。电子弛豫:内层电子被电离后,造成原来体系的平衡势 场的破坏,使形成的离子处于激发态,其 余轨道电子结构将重新调整。这种电子结 构的重新调整,称为电子弛豫。,8.1 XPS的基本原理,8.1.2 XPS谱图分析中原子能级的表示方法 XPS谱图分析中原子能级的表示用两个数字和一个小字母表示
6、。例如:3d5/2 第一个数字3代表主量子数(n),小写字母代表角量子数;右下角的分数代表内量子数j l为角量子数,l=0,1,2,3,8.1 XPS的基本原理,注意:在XPS谱图中自旋轨道偶合作用的结果,使l不等于0(非s轨道)的电子在XPS谱图上出现双峰,而S轨道上的电子没有发生能级分裂,所以在XPS谱图中只有一个峰。,8.1 XPS的基本原理,8.1.3 化学位移1.定义 由于化合物结构的变化和元素氧化状态的变化引起谱峰有规律的位移称为化学位移2.化学位移现象起因及规律(1)原因 内层电子一方面受到原子核强烈的库仑作用而具有一定的结合能,另一方面又受到外层电子的屏蔽作用。因而元素的价态改
7、变或周围元素的电负性改变,则内层电子的结合能改变。,8.1 XPS的基本原理,(2)规律 当元素的价态增加,电子受原子核的库伦作用增加,结合能增加;当外层电子密度减少时,屏蔽作用将减弱,内层电子的结合能增加;反之则结合能将减少。,8.1 XPS的基本原理,与元素电负性的关系 三氟乙酸乙酯 电负性:FOCH 4个碳元素所处化学环境不同;,8.1 XPS的基本原理,与氧化态关系,8.2 光电子能谱仪实验技术,8.2.1 光电子能谱仪的结构 电子能谱仪主要由激发源、电子能量分析器、探测电子的监测器和真空系统等几个部分组成。,8.2 光电子能谱仪实验技术,电子能谱仪通常采用的激发源有三种:X射线源、真
8、空紫外灯和电子枪。商品谱仪中将这些激发源组装在同一个样品室中,成为一个多种功能的综合能谱仪。,电子能谱常用激发源,8.2 光电子能谱仪实验技术,XPS采用能量为10001500ev 的射线源,能激发内层电子。各种元素内层电子的结合能是有特征性的,因此可以用来鉴别化学元素;UPS采用 1641ev的真空光电子作激发源。与X射线相比能量较低,只能使原子的价电子电离,用于研究价电子和能带结构的特征。AES大都用电子作激发源,因为电子激发得到的俄歇电子谱强度较大。,8.2 光电子能谱仪实验技术,1射线激发源2.电子能量分析器半球型电子能量分析器筒镜式电子能量分析器3.检测器4.真空系统,8.2 光电子
9、能谱仪实验技术,1射线激发源 XPS中最常用的X射线源主要由灯丝、栅极和阳极靶构成。X射线源的主要指标是强度和线宽,一般采用K线,因为它是X射线发射谱中强度最大的。在X射线光电子能谱中最重要的两个X射线源是Mg和Al的特征K射线.,8.2 光电子能谱仪实验技术,双阳极X射线源示意图,要获得高分辨谱图和减少伴峰的干扰,可以采用射线单色器来实现。即用球面弯曲的石英晶体制成,能够使来自X射线源的光线产生衍射和“聚焦”,从而去掉伴线等,并降低能量宽度,提高谱仪的分辨率。,8.2 光电子能谱仪实验技术,2.电子能量分析器(1)作用:探测样品发射出来的不同能量电子的相对强度。它必须在高真空条件下工作,压力
10、要低于10-5帕,以便尽量减少电子与分析器中残余气体分子碰撞的几率。(2)类型,8.2 光电子能谱仪实验技术,半球型电子能量分析器 改变两球面间的电位差,不同能量的电子依次通过分析器,分辨率高;,8.2 光电子能谱仪实验技术,分辨率-光电子能谱的半高宽即绝对分辨率 Ek-通过分析器电子的额动能 W-狭缝宽度,8.2 光电子能谱仪实验技术,筒镜式电子能量分析器 同轴圆筒,外筒接负压、内筒接地,两筒之间形成静电场;灵敏度高、分辨率低;,8.2 光电子能谱仪实验技术,3.检测器 用电子倍增器检测电子数目。电子倍增器是一种采用连续倍增电极表面的静电器件,内壁具有二次发射性能。电子进入器件后在通道内连续
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