《程序发展流程》PPT课件.ppt

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1、3070程序发展流程,Prepared by:ATE Project Team 2009-12-01,3070测试程序开发流程概述,1：CAD file 转换,2:Board 文件的电路板信息输入以及测试测试信息的定义,3：IPG Test Consultant自动生成测试程序的文件,4：制作夹具,5：用经过确认的好板调试程序,6：发布到生产线并长期维护,7：ECO变跟,Process,Files,Tools,ECO,board,testability.rpt,Fixture Files,Individual Test Files,config,testplan,Translate CAD,1

2、,Generate Test&Fixture files,3,Build&Verify test Fixture,4,Turn-On/Debug all Tests,5,Release to Production&Long Term Support,6,Describe board&system,2,Custom libraries,board_xy,Collect the files needed,0,Test Development Flowchart,Setp.0 Files Needed for Development,BOM,Schematic,LibraryBSDL,Config,

3、Test Strategy,原始资料和物品,程序发展前所需资料和物品：1：CAD file and BOM 2:Schematics(电路图）3：config file(机台配置文件）4：Golden Board 5：Custom library(准备library)6：BSDL file(for boundary scan)7:TDF file(for XOR tree)8:Test Strategy规划,CAD,datasheet,Step.1 Translate CAD,Translate CAD into Agilent 3070 Board Format,Fixture house

4、free serviceAgilent CAD format translatorTranslate BOM into board file,CAD file,Translation tool,board,board_xy,夹具厂商会用专门的转换软件将CAD file Translation 3070 board format,即board file和board_ xy file,Step 2:Define Test Strategy,Digital deviceDigital Library TestJetBoundary Scan NAND treePower Supply Fixture

5、 Size&Type,规划测试方案：1：制定出针对IC,BGA,LED,晶振,connector等器件的测试策略,如:digital测试，testjet测试，boundary Scan测试，NAND tree 和XOR tree测试等 2：power sequence 3：Fixture 的大小和类型等的规划！,Step.3 Describe Board&System,1：首先将CAD file转出的board file和board_xy file做语法check,看有无语法错误，会用到的指令为：check board“board”和check boardxy“board_xy”,Check

6、board“board”,Check boardxy“board_xy”,Step.3 Describe Board&System,2:在check board和board_xy file后，如果没有error和warning后，就可以用将board和 board_xy载入到board consultant中,Board consultant,Step.3 Describe Board&System,View/Edit Physical Board Data Edit Board Outline Enter Board Tooling Holes,Edit Board Outline让我们可以

7、修改板子的外框形状,Enter Board Tooling Holes让我们可以随自己的需要选择合适的Tooling Houles,Step.3 Describe Board&System,View/Edit Board Description Enter Capacitor Enter Resistor Enter Inductor Enter FET Enter Pin Library Enter Transistor Enter Internal Devices,可以对每个元器件做编辑和定义测试类型和上下限的设定和fail时希望show出的错误信息等，特别是定义IC的测试信息时，要注意：

8、1:part number一定要和library实际文件名保持一致，2：testjet 设定为auto,Step.3 Describe Board&System,View/Edit Test System Data Enter Power Node Data Enter Fixed Node Data Enter Board-Level Disables/Conditions Enter IPG Global Options Enter Family Options Enter Fixture Options Enter GP-Relay Connections Enter Board Kee

9、pout Areas Enter Groups Enter Extra Probing Locations,Power node定义我们上电的点,Fixed node定义我们待测板上电源点和逻辑状态不能改变的点,IPG测试选项设定,Family options逻辑电平设定,Fixture 设定,Step.3 Describe Board&System,Compile&VerifyCompile“config”fileVerify fixture typeVerify configuration sizeShow device using Agilent TestjetVerify Bottom

10、 Keepouts for Agilent TestjetVerify Node Probing AccessVerify Power Node Probing AccessVerify Ground Node Probing Access,对前面的设定进行verify的动作和最后的确认,Compile config对机台配置文件进行编译,根据提示依次确认测试信息的准确性,Step.3 Describe Board&System,View/Edit Library DataEnter Library PathsDisplay Device Library InstructionsDisplay

11、 Part Library InstructionsDisplay Safeguard File Instructions,编辑library,对没有library的Device需要手写，会用到的Tool有：Setup Editor和Part Description Editor,这两个工具是我们写library会经常用到的,一般我们会在程序当前目录下新建一custom_lib,将写好的 library放在此目录下面，而且还应创建一个非常重要的safeguard文件，其中包含所有IC的part number,safeguard文件的作用是对被测IC以外的IC进行保护，防止ICT在on powe

12、r 测试过程中将IC烧坏，最大限度保护IC,注意：在编写Library时应尽可能的包含Disable信息,Step.3 Describe Board&System,Compile&Verify Save Board Files Compile Modified Libraries Compile Modified Safeguard Files Verify Missing Libraries Verify Disable Methods Exisit Verify Boundary-scan chains,这个部分主要是对Device的library进行编译和确认，有无library缺失情况

13、，还有关于Boundary Scan library的写法等,Step.3 Describe Board&System,最后Verify和编译，这一步骤是对我们前面所做动作的一个检验，它是将板子设定和Library设定综合对照来进行verify和编译,Final Compile&VerifySave Board FilesCompile“board”File Compile“board_xy”File Show IPG device summary Verify IPG Device Disable Results Verify Safeguard Inhibit Result,这两者必须完全

14、匹配才能编译成功，board 编译成功可以说程序发展已经完成一半了，compile board是3070发展程序非常重要也是最困难的一个步骤,Step.3 Describe Board&System,Testability ReportNumber of Devices-Analog-DigitalNumber of ICs-Library test,(library missing?)-Testjet test,Connect CheckNode Information-inaccessible nodes-critical nodes More Reviews,最后run Testability report,可测试报告，他会告诉我们如果按照这样的设定run出来的程序质量高不高，还有没有可以改善的地方等！,