CVD化学与薄膜工艺.ppt
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1、化学气相淀积与薄膜工艺Chemical Vapor Deposition&Thin Film Technology,孟广耀Tel:3603234 Fax:3607627中国科学技术大学 材料科学与工程系固体化学与无机膜研究所,Ch.3 化学气相淀积系统中的质量输运 原理和和技术,3。1 CVD系统中物质输运过程及其作用 3。2 气体的一些性质(1)气态方程(2)输运性质 3。3开管气流系统中的质量输运(1)水平反应管中的气流状态(2)气态组分向生长表面的转移(3)实例:Ga HCl-NH3-H2 体系3。4 封管系统中的质量输运(1)系统总压和输运机制(2)输运速率的计算(3)实验验证,前驱物
2、气体,衬底,托架,卧式反应器,衬底,立式反应器,气相外延砷化镓单晶薄膜,Reaction system:Ga AsCl3 H2Ga source AsCl3+3/2H2=1/4 As4+3 HCl reactions:Ga+HCl=GaCl+H2Deposition:1/4 As4+GaCl+1/2 H2=GaAs+HCl,SiHCl3+H2=Si+3HCl,Low-Pressure CVD System,Plasma-Enhanced CVD,ECR-CVD(ECR:electron cyclotron resonance),PECVD(plasma enhanced CVD),LPCVD(
3、low pressure CVD),End-feed LPCVD,Distributed-feedLPCVD,CVD反应器设计,CVD装置设计包括:1)源物质(先躯物)的供应、调节系统(载气、阀门、气路、源区、流量调节等)2)反应器(构型、尺寸、衬底支撑体、加热和附加能量 方式等)设计3)尾气排除或真空产生系统4)自动控制系统,Ch.3 化学气相淀积系统中的质量输运 原理和和技术,3。1 CVD系统中物质输运过程及其作用 3。2 气体的一些性质(1)气态方程(2)输运性质 3。3开管气流系统中的质量输运(1)水平反应管中的气流状态(2)气态组分向生长表面的转移(3)实例:Ga HCl-NH3-
4、H2 体系3。4 封管系统中的质量输运(1)系统总压和输运机制(2)输运速率的计算(3)实验验证,3。2 气体的一些性质(1)气态方程,理想气体的状态方程(2.1)n为气体克分子数;N为阿伏伽德罗常数;R是气体常数;k是玻耳兹曼常数,由此可得到气体的密度,式中M为分子量。实际气体状态方程 范德瓦尔方程:(2.2)许多气体的a、b值有表可查26。在化学气相淀积实践中,总压力不很高,仅封管过程有时达数大气压。这种情况下,采用理想气体方程不会引入多大误差。例如:氯气在50大气压下按理想气体计算,误差仅有-2.6。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(),粘度系数 由分子运动论可以导出粘度系数的 理
5、论表达式:式中为气体密度;为单位体积(毫升)中的分子数;而;、M、d分别为气体分子的平均速度、平均自由程、分子量和有效直径。可见,与气体的压力或密度无关,与绝对温度T呈平方根的关系。事实上,随温度的变化满足如下经验关系28 与温度的关系式(2.4)如果已知某温度下的粘度系数1,利用该式可估算使用温度下的2值。纯组分的值一船有表可查29,也有一些经验计算公式。在化学气相淀积实践中,经常涉及到气体混合物,它们的值可用Reid等所推荐的经验公式求算27。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(),Wilke计算法(2.5)式中为低压混合气体的粘度(厘泊);i、j分别为纯组分i和j的低压粘度(匣泊);
6、yI、yJ分别为i、j的克分子分数;用该式计算了许多二元气体混合物体系,跟实验值相比,偏差一般在1以内,最大偏差为34。Herning和Zipperer计算法:(2.6)该式用于富氢混合气体(开管气流CVD系统多半如此),其精度在3以内,但不能用于粘度-组成曲线上有极大值的混合物。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(D),扩散系数D 只要有浓度梯度存在,气体就会沿梯度方向迁移。令J为单位时间内通过单位等浓面的物质量,J又称为“扩散流密度”或“扩散流”,则有费克第一定律:(2.7)式中负号表示物质向着浓度减小的方向扩散。浓度c一般为时间和位置的函数。在稳态情况下,c不随时间变化;扩散系数D为
7、常数,其单位为厘米2/秒,数值上等于单位浓度梯度时的“扩散流”。从分子运动论出发,用统计的方法,同样可求得D的理论表达式(2.8)因分子数与压力成正比,所以一定温度下扩散系数与压力成反比,与温度成反比:(2.9)(2.10),3。2 气体的一些性质(2)输运性质(D),在化学气相淀积实践中,考虑到各种因素对扩散系数的影响,常常采用一些经验计算公式。二元扩散系数的经验公式30(2.10)对于气体A和B的二元扩散,Gilliland公式是计算扩散系数最简单而又广泛应用的方法:(2.11)式中DAB为二元扩散系数;T、P分别为温度和总压(大气压);MA、MB为A、B的克分子量;VA、VB为正常沸点下
8、,凝聚志气体A和B的克分子体积。上式指出扩散系数正比于T3/2,这与(2.10)式是一致的。经过更严格的处理,可得到一个比 3/2 大的指数。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(D),sutherland推荐了一个公式,可得到更精确的结果(2.12)CAB是只与气体对AB有关的常数,称sutherland常数。Arnold提出了计算CAB的方便方法,用在工程计算中求扩散常数(2.13)式中(2.14)TsA、TsB分别为组分A、B的正常沸点。尽管Arnold的公式比Gilliland的公式发表早,但前者的公式(2.13)在描述温度影响方面更为精确。而应用式(2.11)、(2.12)计算DA
9、B,则需要测定或计算克分子体积VA、VB值。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(D),许多化学气相淀积体系,都是采用氯化物的氢气还原法,其中氢气大大过量,又兼做载气。反应产物是氯化氢,HCl-H2气体对的扩散常数的实验数据如表3所示。TsHCl168.13K;VsHCl30.64厘米3克分子 TsH220.39K;VsH214.3厘米3克分子由式(2.14)可得到CHClH2 84.03,从表3可知,DHClH2(294K)0.795匣米2秒;按式(2.13)可计算出DHClH2(523K)2.09匣米2秒,而表3所列实验值为2.10,两者相当一致。若令用D的实测值代人,可计算得m 1.6
10、70。若按式(2.12)计算可得m1.678,二者基本于一致。于是,可把式(2.12)简化为(2.15)m值由式(2.12)计算,一般在1.52.0之间。,3。2 气体的一些性质(2)输运性质(D),气体混合物中扩散系数的修正 事实上个别组分总是在一稀释的气体混合物中扩散,这与在纯组分中扩散有一定差别。若能得到足够的数据,则可用Wilke32近似公式进行修正,其准确度相当高:(2.16)式中DA是组分A在混合物A+BCD中的扩散系数;yA、yB、yC、yD分别为A+B+C+D中的克分子分数;DAB、DAC、DAD是二元混合物A-B、A-C、A-D中的相互扩散系数。气体产物分解时扩散系数的修正
11、如果有几个组分在界面层内分解,势必改变质量转移系数。这是因为随着气体产物的分解,界面层的浓度梯度就增加,结果也增加了它的质量转移系数。如果可以得到某些实验数据,那么在许多情况下,根据流体中物料平衡的情况,使用某些简化步骤,将扩散系数加以计算修正则是可能的。,3。3开管气流系统中的质量输运(1)水平反应管中的气流状态,层流和紊流 通常可以用流体的雷诺数(Re)加以判断。雷诺数的定义是(2.17)式中v、分别为流体的线流速、密度和粘度系数d为圆管的直径;Re是一个无量纲量,对于一般流体它仅仅是流速的函数。实验表明,光滑圆管,R上临1200013000;R下临19002000。当某一流体的雷诺数低于
12、雷诺数时,流体为层流;高于R上临时则为紊流。若处于二者之间时则两种状态都有可能,这取决于流动是如何开始的。若原来为高速流动,则一般仍为紊流;原来为低速流动,则一般仍处于层流。这些判别条件可以推广到非圆管的流动,这时只要将式(2.17)中的d用非圆管的特征长度L代替即可。,这种情况也为在重掺杂的锗片上外延硅时的自掺杂效应所证实,如图2-1所示。由于基座前端1015厘米处形成紊流,衬底中施主杂质被卷人气流,比较难于再回到外延层中,所以此段外延层呈现高阻。,3。3开管气流系统中的质量输运(1)水平反应管中的气流状态,界面层或附面层 表面对气体的摩擦滞留作用减缓了气体流速,在固体表面上气体流速为零。随
13、着离固体表面垂直距离的增加,气体流速逐渐增大Bradshaw33在处理硅外延生长过程的质量输运时,提出了如图2-2所示的附面层模型。Eversteyn34曾通过向反应器中引入Ti02微粒并用拍照其流动状态的方法,研究过衬底区的气流状态。事实上,化学气相淀积反应器内部几何形状一般比较复杂,而且存在着温度和浓度梯度,所以,其气流状态不仅可以有层流、紊流之别,也可以存在着垂直于生长表面的定向流动对流。为了恰当地设计和使用反应器,必须尽可能全面地了解输运现象。,3。3开管气流系统中的质量输运(1)水平反应管中的气流状态,.3。3开管气流系统中的质量输运(2)气态组分向生长表面的转移,气态组分通过附面层
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