微电子技术发展的.ppt
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1、微电子技术发展的规律及趋势北京大学,Moore定律,Moore定律,1965年Intel公司的创始人之一Gordon E.Moore预言集成电路产业的发展规律集成电路的集成度每三年增长四倍,特征尺寸每三年缩小 倍,Moore定律,10 G1 G100 M10 M1 M100 K10 K1 K0.1 K,1970,1980,1990,2000,2010,存储器容量 60%/年 每三年,翻两番,1965,Gordon Moore 预测半导体芯片上的晶体管数目每两年翻两番,1.E+91.E+81.E+71.E+61.E+51.E+41.E+3,70 74 78 82 86 90 94 98 2002
2、,芯片上的体管数目 微处理器性能 每三年翻两番,Moore定律:,i8080:6,000,m68000:68,000,PowerPC601:2,800,000,PentiumPro:5,500,000,i4004:2,300,M6800:4,000,i8086:28,000,i80286:134,000,m68020:190,000,i80386DX:275,000,m68030:273,000,i80486DX:1,200,000,m68040:1,170,000,Pentium:3,300,000,PowerPC604:3,600,000,PowerPC620:6,900,000,“Ita
3、nium”:15,950,000,Pentium II:7,500,000,微处理器的性能,100 G10 GGiga100 M10 MMegaKilo,19701980199020002010,8080,8086,80286,80386,80486,Pentium,PentiumPro,集成电路技术是近50年来发展最快的技术微电子技术的进步,按此比率下降,小汽车价格不到1美分,Moore定律 性能价格比,在过去的20年中,改进了1,000,000倍在今后的20年中,还将改进1,000,000倍很可能还将持续 40年,等比例缩小(Scaling-down)定律,等比例缩小(Scaling-do
4、wn)定律,1974年由Dennard基本指导思想是:保持MOS器件内部电场不变:恒定电场规律,简称CE律等比例缩小器件的纵向、横向尺寸,以增加跨导和减少负载电容,提高集成电路的性能电源电压也要缩小相同的倍数,漏源电流方程:由于VDS、(VGS-VTH)、W、L、tox均缩小了倍,Cox增大了倍,因此,IDS缩小倍。门延迟时间tpd为:其中VDS、IDS、CL均缩小了倍,所以tpd也缩小了倍。标志集成电路性能的功耗延迟积PWtpd则缩小了3倍。,恒定电场定律的问题,阈值电压不可能缩的太小源漏耗尽区宽度不可能按比例缩小电源电压标准的改变会带来很大的不便,恒定电压等比例缩小规律(简称CV律)保持电
5、源电压Vds和阈值电压Vth不变,对其它参数进行等比例缩小按CV律缩小后对电路性能的提高远不如CE律,而且采用CV律会使沟道内的电场大大增强CV律一般只适用于沟道长度大于1m的器件,它不适用于沟道长度较短的器件。,准恒定电场等比例缩小规则,缩写为QCE律CE律和CV律的折中,世纪采用的最多随着器件尺寸的进一步缩小,强电场、高功耗以及功耗密度等引起的各种问题限制了按CV律进一步缩小的规则,电源电压必须降低。同时又为了不使阈值电压太低而影响电路的性能,实际上电源电压降低的比例通常小于器件尺寸的缩小比例器件尺寸将缩小倍,而电源电压则只变为原来的/倍,微电子技术的三个发展方向,硅微电子技术的三个主要发
6、展方向特征尺寸继续等比例缩小集成电路(IC)将发展成为系统芯片(SOC)微电子技术与其它领域相结合将产生新的产业和新的学科,例如MEMS、DNA芯片等,微电子技术的三个发展方向,第一个关键技术层次:微细加工目前0.25m和0.18 m已开始进入大生产0.15 m和0.13 m大生产技术也已经完成开发,具备大生产的条件当然仍有许多开发与研究工作要做,例如IP模块的开发,为EDA服务的器件模型模拟开发以及基于上述加工工艺的产品开发等在0.13-0.07um阶段,最关键的加工工艺光刻技术还是一个大问题,尚未解决,微电子器件的特征尺寸继续缩小,第二个关键技术:互连技术铜互连已在0.25/0.18um技
7、术代中使用;但是在0.13um以后,铜互连与低介电常数绝缘材料共同使用时的可靠性问题还有待研究开发,微电子器件的特征尺寸继续缩小,互连技术与器件特征尺寸的缩小(资料来源:Solidstate Technology Oct.,1998),第三个关键技术新型器件结构新型材料体系高K介质金属栅电极低K介质SOI材料,微电子器件的特征尺寸继续缩小,传统的栅结构,重掺杂多晶硅,SiO2,硅化物,经验关系:LTox Xj1/3,栅介质的限制,随着 tgate 的缩小,栅泄漏电流呈指数性增长,超薄栅氧化层,栅氧化层的势垒,G,S,D,直接隧穿的泄漏电流,栅氧化层厚度小于 3nm后,tgate,大量的晶体管,
8、限制:tgate 3 to 2 nm,栅介质的限制,栅介质的限制,等效栅介质层的总厚度:Tox 1nm+t栅介质层,Tox,t多晶硅耗尽,t栅介质层,t量子效应,+,+,由多晶硅耗尽效应引起的等效厚度:t多晶硅耗尽 0.5nm,由量子效应引起的等效厚度:t量子效应 0.5nm,限制:等效栅介质层的总厚度无法小于1nm,栅介质的限制,SOI(Silicon-On-Insulator:绝缘衬底上的硅)技术,SOI技术:优点,完全实现了介质隔离,彻底消除了体硅CMOS集成电路中的寄生闩锁效应速度高集成密度高工艺简单减小了热载流子效应短沟道效应小,特别适合于小尺寸器件体效应小、寄生电容小,特别适合于低
9、压器件,SOI材料价格高衬底浮置表层硅膜质量及其界面质量,SOI技术:缺点,L,源,漏,栅,Tox,p 型硅,n+,n+,多晶硅,NMOSFET,栅介质层,新一代小尺寸器件问题,0.1m,Sub 0.1m,2030年后,半导体加工技术走向成熟,类似于现在汽车工业和航空工业的情况,诞生基于新原理的器件和电路,集成电路走向系统芯片,集成电路走向系统芯片,IC的速度很高、功耗很小,但由于PCB板中的连线延时、噪声、可靠性以及重量等因素的限制,已无法满足性能日益提高的整机系统的要求,IC设计与制造技术水平的提高,IC规模越来越大,已可以在一个芯片上集成108109个晶体管,分立元件,集成电路 I C,
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