晶体硅太阳电池.ppt
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1、1,晶体硅多晶硅太阳电池,目前的商业化太阳电池中,晶体硅占九成以上。随着其它不同材料的太阳电池应用,晶体硅的使用比例会略减,但它在未来仍然会是太阳电池的主流。原因之一是随着半导体工业的发展,晶体硅的技术成熟度高,间接地降低了生产成本。,2,最早的晶体硅太阳电池是使用P型的CZ硅单晶做基板,随着价格较低的多晶硅片出现,多晶硅太阳电池已成为占有率最高的主流技术。但多晶硅太阳电池的效率低于单晶硅太阳电池,所以,从单位成本的发电效率(Watt per dollar)来看,两者实际上非常接近。本章介绍晶体硅太阳电池的基本结构、制作太阳电池的基本流程及模组化技术,3,晶体硅太阳电池,一、基本结构二、制作太
2、阳电池的基本流程三、模组化技术 四、薄膜型微晶硅太阳电池,4,一、太阳电池基本结构,太阳能之应用系统的最基本单位是太阳电池(cell)。一般来说,一个单一的晶体硅电池输出电压在0.5V左右,而其最大输出功率则与太阳电池效率和表面积有关。如,一个接受光面积约为100cm2,效率为15%的太阳电池的最大输出功率仅为1.5W左右。,5,为达到一般应用要求,必须将许多太阳电池串联及并联在一起,形成所谓的模组(module)。并联的目的是为了增加输出功率,串联的目的在于提高输出电压,进一步的串联或并联则可形成阵列安排(array)。,6,电池(cell);模组(module);阵列(array),7,在
3、一把的太阳电池应用系统上,还包括蓄电池(storage battery)、功率调节器(power conditioner)和安装固定结构(mounting structures)等周边设施,统称为平衡系统(balance of system)。随材料和制造技术不同,太阳电池的架构会有不同变化,但最基本的结构可分为基板、PN二极管、抗反射层、表面粗糙结构化和金属电极等五个主要部分。,8,基本的晶体硅太阳电池结构,9,为达到最佳的转换效率,主要考虑的因素有:减低太阳光的表面反射;减低任何形式的载流子再结合(carrier recombination);金属电极接触最优化。,10,1 基板,在晶体硅
4、太阳电池中,以单晶硅能达到的能量转换效率最高。要达到最优的能量转换效率,所使用的基板的品质最为关键,这里的品质指基板应具有很好的结晶完美性、最低的杂质污染等。就品质的完美性而言,所有的结晶硅中以FZ硅片(Float Zone Silicon)最佳,而CZ硅片次之。在低成本的要求下,多晶硅片(multicrystalline)甚至比单晶硅更为广泛使用。多晶硅片中的内部缺陷,例如晶界(grain boundaries)及差排(dislocation),使得能量转换效率不如CZ单晶硅片。,11,少数载流子的寿命是影响能量转换效率的重要因素之一。而晶体硅中少数载流子的寿命主要受金属杂质的影响,金属杂质
5、越高,寿命越短,能量转换效率越低。除了起始基板本身的金属杂质外,太阳电池的高温制备过程中也会引入杂质。除了严格控制制备过程以去除杂质污染外,另一重要技术是引入去疵技术(Gettering technology),去降低金属杂质对少数载流子寿命的影响。此外,利用氢气钝化处理(passivation),也是提高能量转换效率的有效方法。,12,最常用的晶体硅基板,是P型掺杂,即添加硼(Boron)。当然,N型晶体硅也可以被用来当作基板,只不过现有的太阳电池技术大多采用P型硅而设计。使用电阻率较低的晶体硅基板,会降低太阳电池的串联电阻(series resistance)而导致的能量损耗,目前工业界常
6、用的晶体硅基板的电阻率为0.530ohmcm。晶体硅基板的厚度也会影响太阳电池的效率。,13,晶体硅基板的厚度与太阳电池效率的关系(Ld为扩散长度),14,2 表面结构粗糙化(Texturing),由于硅具有很高的反射系数(reflection index),它对太阳光的反射程度在长波区域(1100nm)可达到54%,在短波长区域(400nm),可达到34%。因此将晶体硅基板表面做粗糙化处理的目的,在于降低太阳光自表面反射损失的几率,进而提高电池的效率。所谓的粗糙化,是将电池的表面,蚀刻成金字塔(pyramid)或角锥状的形状,这使得太阳入射光至少要经过两次以上的表面反射,因此降低了来自表面反
7、射损失的太阳光比例。,15,利用表面的粗糙结构可以降低光线的反射程度原理图,16,逆金字塔(倒金字塔)状的凹槽,一般是利用NaOH或KOH碱性液对硅晶体表面进行蚀刻。蚀刻反应的速度与晶面方向有关(antisotropical),以硅而言,(111)面的反应速度最慢,所以会被蚀刻出逆金字塔状的凹槽。此形状的凹槽具有最佳的光封存效果,被广泛使用在太阳电池的制造流程上,成为基本的制造步骤之一。,17,利用NaOH或KOH的碱性蚀刻液,产生出的逆金字塔状凹槽,18,3 P-N二极体,PN二极体是光伏效应的来源,由高温扩散产生。在P型晶体硅基板上做N型扩散,或是在N型基板上做P型扩散而产生的。一般的N型
8、扩散只有约0.5m左右的厚度,而且是在基板做完粗糙化处理后才进行的。,19,4 抗反射层(Antireflection Coating),除了将晶体硅表面做粗糙织构化之外,在表面涂布抗反射层是降低反射损失的另一有效方式,即在硅晶体表面涂布一层低折射系数的透明材料。常用TiO2、SiN、SiO、Al2O3、SiO2、CeO2等。折射率为硅折射率的平方根最好,厚度d=n/4最好,反射的情况可被降至最低。,20,5 金属电极(下次课会详细讲到),在太阳电池中,金属接触必须被用来取出产生光电的载流子,而且这种作用必须是选择性的,即只允许一种形态的载流子由硅表面流向金属,但阻止另外一种形态的载流子流通。
9、如果直接将硅及金属接触在一起,并不具有这种选择性流通的目的。为达到选择性目的,一般的做法是在金属电极下方先制造出一个N+的区域以取出电子,或制造出一个P+的区域以取出空穴。,21,在这样的结构中,多数载流子可以顺利地由硅表面流到金属,不会有太大的电压损失;而由于重掺杂区域的影响,少数载流子的浓度已被降到最低,因此产生的流通自然被被抑制到最小的程度。在金属电极的划分上,接收少数载流子的电极通常都放在正面,也就是受光的那一面,位于金属电极下方的重掺区域,被称为发射区(emitter)。硅基板背面则通常全部涂上一层所谓的back surface field(BSF)金属层。,22,23,一般而言,太
10、阳电池的正面与背面,都有两道较宽的白色垂直线,称为Bus Bar,提供与外界电路的焊接。在正面的条状金属电极,还会往侧边伸展出一系列很细的金属手指(finger),一般称为格子线gridlines。格子线的设计,除了要能够有效收集载流子外,还必须降低金属线遮蔽入射光的比例。格子线的宽度一般在50m以下,Bus bar的宽度约在0.5mm左右。一般而言,正面的金属线会遮掉35%的入射光面积。金属电极材料一般为铝或银合金。,24,二、太阳电池之制造流程,成本与效率的综合平衡考虑。如使用埋入式的电极(buried contact)虽比网印(screen printing)方式的电极,更能提高太阳电池
11、的平均效率,但因为制造成本较高,所以并未被广泛使用。,25,基本的太阳电池制造流程示意图,26,1 表面结构粗糙化(Texturization),首先是利用NaOH的方向性蚀刻,在硅基板上产生逆金字塔状凹槽。NaOH须与异丙基醇IPA(isopropyl alcohol)混合在一起。IPA的作用在于湿化硅基板表面,以获得更均匀的蚀刻效果(表面活性剂)。利用方向性蚀刻的方法来产生逆金字塔状凹槽的技术,在单晶硅上得到最佳的效果。虽然也可用在多晶硅上,但所得到的凹槽效果比单晶硅要差许多,这也是多晶硅电池效率比单晶硅低的原因之一。,27,Scanning electron microscope pho
12、tograph of a textured multicrystalline silicon surface,28,29,这是因为多晶硅表面存在着许多不同方向性的晶粒,这些晶粒的蚀刻速率快慢不一,不像(100)单晶硅的均匀蚀刻效果。为解决此问题,也有人采用机械切割的方式来制造出V型凹槽,接着用碱蚀刻来去除因机械加工所造成的表面损伤层。一般的V型凹槽的深度为50m左右。,30,利用机械切割方式制造出的V型凹槽,可以降低多晶硅电池的表面反射程度,31,2 磷扩散制作(Phosphorous Diffusion),完成表面粗糙织构化之后,硅基板要利用高温扩散来形成P-N二极管。由于一般的太阳电池是使
13、用P型硅片做基板,所以后续使用磷扩散来形成P-N二极管。由于为高温操作,对金属离子的污染必须注意。依据所使用的扩散炉管的类型,扩散工艺可分为:(1)石英炉管(2)传输带式炉管(Belt furnace),32,(1)石英炉管,石英管扩散炉示意图,33,反应历程:后处理:经过扩散炉处理完的硅晶片表面会产生一层二氧化硅,通常必须利用氢氟酸来去除表面的二氧化硅:特点:商业扩散炉为批式流程(bach)。石英扩散炉是比较干净的方法,在炉管内没有其它金属暴露在高温下。,34,石英管扩散炉实际照片,35,(2)传输带式炉管(Belt furnace),传输带式炉管示意图,36,制作过程:先将含磷的膏状化合物
14、(如磷酸)涂抹在硅晶片表面,待干燥后,利用传输带将晶片带入炉管内,进行扩散。炉管内的温度可设计为几个区域,在较低的温度区域内(600)先将膏状化合物的有机物烧掉,接着进入约950的高温区域进行扩散过程。缺点:由于外界空气可进到炉内,再加上传输带含有金属成分,所以金属污染的几率比石英扩散炉大。,37,扩散装置示意图,38,影响扩散的因素,管内气体中杂质源的浓度扩散温度扩散时间,39,影响扩散的因素,管内气体中杂质源浓度的大小决定着硅片N型区域磷浓度的大小。但是沉积在硅片表面的杂质源达到一定程度时,将对N型区域的磷浓度改变影响不大。扩散温度和扩散时间对扩散结深影响较大。N型区域磷浓度和扩散结深共同
15、决定着方块电阻的大小。,40,太阳电池磷扩散方法,三氯氧磷(POCl3)液态源扩散喷涂磷酸水溶液后链式扩散丝网印刷磷浆料后链式扩散,41,POCl3 简介,POCl3是目前磷扩散用得较多的一种杂质源无色透明液体,具有刺激性气味。如果纯度不高则呈红黄色。比重为1.67,熔点2,沸点107,在潮湿空气中发烟。POCl3很容易发生水解,POCl3极易挥发。,42,POCl3磷扩散原理,POCl3在高温下(600)分解生成五氯化磷(PCl5)和五氧化二磷(P2O5),其反应式如下:生成的P2O5在扩散温度下与硅反应,生成二氧化硅(SiO2)和磷原子,其反应式如下:,由上面反应式可以看出,POCl3热分
16、解时,如果没有外来的氧(O2)参与其分解是不充分的,生成的PCl5是不易分解的,并且对硅有腐蚀作用,破坏硅片的表面状态。但在有外来O2存在的情况下,PCl5会进一步分解成P2O5并放出氯气(Cl2)其反应式如下:生成的P2O5又进一步与硅作用,生成SiO2和磷原子,由此可见,在磷扩散时,为了促使POCl3充分的分解和避免PCl5对硅片表面的腐蚀作用,必须在通氮气的同时通入一定流量的氧气。,在有氧气的存在时,POCl3热分解的反应式为:POCl3分解产生的P2O5淀积在硅片表面,P2O5与硅反应生成SiO2和磷原子,并在硅片表面形成一层磷-硅玻璃,然后磷原子再向硅中进行扩散。,POCl3液态源扩
17、散方法具有生产效率较高,得到PN结均匀、平整和扩散层表面良好等优点,这对于制作具有大面积结的太阳电池是非常重要的。,46,扩散层薄层电阻及其测量,在太阳电池扩散工艺中,扩散层薄层电阻(方块电阻)是反映扩散层质量是否符合设计要求的重要工艺指标之一。方块电阻也是标志进入半导体中的杂质总量的一个重要参数。,47,方块电阻的定义,考虑一块长为l、宽为a、厚为t的薄层如右图。如果该薄层材料的电阻率为,则该整个薄层的电阻为,当l=a(即为一个方块)时,R=/t。可见,(/t)代表一个方块的电阻,故称为方块电阻,特记为R=/t(/),48,扩散层薄层电阻的测试,目前生产中,测量扩散层薄层电阻广泛采用四探针法
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