压力容器中的薄膜应力弯曲应力和二次应力.ppt

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1、1,第七章 压力容器中的薄膜应力、弯曲应力和二次应力,2,一 回转壳体的薄膜应力 二 圆形平板的弯曲应力 三 边界区内的二次应力 四 强度条件,3,第一节 回转壳体中的薄膜应力薄膜理论简介一 基本概念与基本假设 1 基本概念容器：化工生产所用各种设备外壳的总称。（贮罐、换热器、蒸馏塔、反应器、合成炉）,4,回转曲面：由任何直线或平面曲线为母线，绕其同平面内的固定轴旋转3600而成的曲面。,(2)容器的几何特点,5,回转壳体：据内外表面之间，且与内外表面等距离的面为中间面，以回转曲面为中间面的壳体。,6,回转壳体的纵截面与锥截面,纵截面,锥截面,横截面,7,横截面,8,2.基本假设：,（1）小位

2、移假设。壳体受压变形，各点位移都小于壁厚。简化计算。（2）直法线假设。沿厚度各点法向位移均相同，即厚度不变。（3）不挤压假设。沿壁厚各层纤维互不挤压。,9,二 回转壳体中的拉伸应力及其应力特点 化工容器和化工设备的外壳，一般都属于薄壁回转壳体：S/Di 0.1 或 D0/Di 1.2 在介质压力作用下壳体壁内存在环向应力和经（轴）向应力。,10,环向薄膜应力：在介质均匀的内压作用下，壳壁的环向“纤维”受到拉伸，在壳壁的纵截面上产生的环向拉伸应力。经向薄膜应力m：在介质均匀的内压作用下，壳壁的经向“纤维”受到拉伸，在壳壁的锥截面上产生的经向拉伸应力。,11,薄膜理论与有矩理论概念：,计算壳壁应力

3、有如下理论：（1）无矩理论，即薄膜理论。假定壳壁如同薄膜一样，只承受拉应力和压应力，完全不能承受弯矩和弯曲应力。壳壁内的应力即为薄膜应力。,12,（2）有矩理论。壳壁内存在除拉应力或压应力外，还存在弯曲应力。在工程实际中，理想的薄壁壳体是不存在的，因为即使壳壁很薄，壳体中还会或多或少地存在一些弯曲应力，所以无矩理论有其近似性和局限性。由于弯曲应力一般很小，如略去不计，其误差仍在工程计算的允许范围内，而计算方法大大简化，所以工程计算中常采用无矩理论。,13,三 几种常见回转壳体上的薄膜应力,（一）圆筒形壳体上的薄膜应力1 环向薄膜应力,作用在筒体纵截面上的 的合力T：,14,介质内压力p作用于半

4、个筒体所产生的合力N为:,结论:由作用于任一曲面上介质压力产生的合力等于介质压力与该曲面沿合力方向所得投影面积的乘积,而与曲面形状无关。,15,由力的平衡条件可得：,环向薄膜应力:,16,2 经向薄膜应力,介质内压力p作用于封头内表面所产生的轴向合力 为:,17,作用在筒壁环形横截面上的内力 为：,其中:中径,根据力的平衡条件 可得：,经向薄膜应力:,18,环向薄膜应力:,经向薄膜应力:,中径公式,19,结论：（1）内压圆筒筒壁上各点的薄膜应力相同，就某一点，该点环向薄膜应力是径向薄膜应力的二倍。（2）,决定应力水平高低的截面几何量是圆筒壁厚与直径的比值，而不是壁厚的绝对值。,20,（二）圆球

5、形壳体上的薄膜应力,结论：内压圆球形壳体上各点的薄膜应力相同，就某一点，该点环向薄膜应力等于径向薄膜应力。,21,横截面,知识回顾:,22,环向薄膜应力：在介质均匀的内压作用下，壳壁的环向“纤维”受到拉伸，在壳壁的纵截面上产生的环向拉伸应力。经向薄膜应力m：在介质均匀的内压作用下，壳壁的经向“纤维”受到拉伸，在壳壁的锥截面上产生的经向拉伸应力。,23,环向薄膜应力:,经向薄膜应力:,中径公式,1、圆筒形壳体上的薄膜应力,2、圆球形壳体上的薄膜应力,24,1 球形壳体和椭球形壳体的区别,（三）椭球形壳体上的薄膜应力,球形壳体,椭球形壳体,25,（1）球形壳体上各点处薄膜应力相同。（2）椭球形各点

6、处薄膜应力不同，与椭球形壳体长短轴半径a,b有关。,区别：,26,(1)a/b2，顶点处应力最大(2),2 椭球形壳体顶点B处的薄膜应力的特点,27,(1)直径不变：(2)直径不变：,3 椭球形壳体赤道C处的薄膜应力的特点,28,(1)a/b=2(2),4 标准半椭球形封头特点,结论：标准半椭球内的最大薄膜应力值与同直径、同厚度的圆筒形壳体内的最大薄膜应力值相等。,29,（四）圆锥形壳体中的薄膜应力,1.圆锥形壳体的锥截面与横截面不是同一截面,经向薄膜应力与回转轴相交成角。,半锥角,横截面,2.圆锥形壳体上的薄膜应力大端小端不同。,30,圆锥薄膜应力：,31,圆筒形壳体薄膜应力：,球形壳体薄膜

7、应力：,标准椭球形壳体薄膜应力：,圆锥形壳体薄膜应力：,本节小结：,32,薄膜应力通式：,33,第二节圆形平板承受均布载荷时的弯曲应力,一 平板的变形与内力分析,图a,图b,34,1 环形截面的变形及由此而产生的环向弯曲应力,M,35,环向弯曲应力,M：伴随平板弯曲变形产生的环向“纤维”的每个点沿该点切线方向的拉伸应力或压缩应力。（径向截面内）,承受载荷,中性圆,36,，M,r,M,37,径向弯曲应力r,M：圆平板弯曲时，平板的径向纤维发生了程度不等的伸长或缩短，这样平板内的每一个点在其径向产生沿板厚呈线性分布的拉伸和压缩应力。（环截面内）,2 相邻环形截面的相对转动及产生的径向弯曲应力r,M

8、,38,3,M与r,M的分布规律及它们的最大值,最大弯曲应力出现在板的中心处：“”：圆板上表面的应力“”：圆板下表面的应力,39,最大弯曲应力出现在板的四周：“”：圆板上表面的应力“”：圆板下表面的应力,40,结论：直径较小的容器 平板 压力容器 回转壳体,二 弯曲应力与薄膜应力的比较和结论,41,薄膜应力通式：,弯曲应力:,42,一 边界应力产生的原因,第三节 边界区内的二次应力,边界应力：筒体与封头在连接处所出现的自由变形不一致，导致在这个局部的边界地区产生相互约束的附加内力。,43,结论：（1）封头限制了筒体端部直径的增大 环向压缩（薄膜）应力（2）封头限制了筒体端部横截面的转动 轴向弯

9、曲应力,44,薄壁圆筒和厚平板形封头在封头不变形的情况下，横截面的最大弯曲应力：,二 影响边界应力大小的因素,结论：边界效用引起的附加弯曲应力比内压引起的环向薄膜应力大54%。,45,筒体和半球形封头连接：,结论：半球形封头与筒体的二次薄膜应力对整体强度影响很小。,46,结论：当半球形封头与筒体厚度相同时，封头和筒体连接的横截面内没有弯曲应力。,47,结论：1 不同形状的封头与筒体连接，由于二者间的相互限制不同，产生的边界应力大小也不同。2 一般封头采用半球形封头，而不用圆形平板。,48,1 两个概念一次应力：载荷直接引起的应力。二次应力：由于变形受到限制引起的应力。,三 边界应力的性质,49

10、,2 边界应力的特点,（1）局部性：边界应力的最大值出现在两种形状壳体的连接处，离开连接处，边界应力会迅速衰减。,（2）自限性：施加的限制增大到使应力达到材料的屈服限，相互限制的器壁金属发生局部的塑性变形，限制就会缓解，相互限制所引起的应力自动地停止增长。,50,四 对边界应力的处理,1.利用局部性特点局部处理如：改变边缘结构，边缘局部加强，焊缝与边缘离开，焊后热处理等。,2.利用自限性保证材料塑性,可以使边界应力不会过大，避免产生裂纹。,51,低温容器，以及承受疲劳载荷的压力容器，更要注意边缘的处理。对大多数塑性较好的材料，如低碳钢、奥氏体不锈钢、铜、铝等制作的压力容器，一般不对边缘作特殊考

11、虑。,52,3.边界应力的危害性 边界应力的危害性低于薄膜应力。（1）薄膜应力无自限性，正比于介质压力。（2）边界应力具有局部性和自限性。,53,五 回转壳体内部的边界应力,54,薄膜应力通式：,知识回顾：,圆筒形和标准椭圆形壳体：K=1球壳:K=0.5圆锥形壳体：K=1/cos,弯曲应力：,55,二次应力产生的原因，二次应力和一次应力的区别，二次应力的两个特性。,56,一 对薄膜应力的限制1 薄膜应力的相当应力,第四节 强度条件,强度条件：,57,双向薄膜应力的相当应力：根据强度理论对双向薄膜应力进行某种组合后得到。,58,回转壳体强度条件：,相当应力,制造容器的钢板在设计温度下的许用应力,

12、焊逢系数,59,（1）一点处应力状态：构件某点的各截面上的应力,2 强度理论简介,表示方法：单元立方体上六个平面内的三对应力,60,单向应力状态：,61,二向应力状态：,62,三向应力状态：,63,主平面：只作用正应力，没有剪应力。主应力：主平面上的正应力。,64,最大拉应力理论（第一强度理论）前提：最大拉应力 是引起材料脆断破坏的因素最大拉应力理论：当作用在构件上的外力过大时，其危险点处的材料就会沿最大拉应力所在截面发生脆性断裂。,（2）强度理论,65,前提：最大剪应力是引起材料屈服破坏的因素。最大剪应力理论：当作用在构件上的外力过大时，其危险点处的材料就会沿最大剪应力所在截面滑移而发生屈服

13、破坏。,最大剪应力理论（第三强度理论）,66,回转壳体：据第三强度理论：按第三强度理论剪力的薄膜应力条件：,3.按第三强度理论建立的薄膜应力强度条件,67,一次弯曲应力强度条件：,二 对一次弯曲应力的限制,许应弯曲应力值,68,二次应力强度条件：,三 对二次应力的限制,材料屈服限的两倍,69,1.三种性质不同的应力，一次薄膜应力，一次弯曲应力，边界应力。2.薄膜应力：（1）和（2）圆筒形壳体和圆球形壳体上各点薄膜应力相同，锥形壳体和椭球形壳体各点处的薄膜应力不相同。,本章小结：,70,（3）四种壳体（筒、球、锥、椭）的最大薄膜力：圆筒形和标准椭圆形壳体：K=1球壳:K=0.5圆锥形壳体：K=1/cos（4）决定薄膜应力大小的因素：压强和截面几何量/D(/D0.2),71,3.一次弯曲应力影响因素是（/D）24.二次应力产生的原因，二次应力和一次应力的区别，二次应力的两个特性。,