交直流电流探头原理.ppt
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1、磁电传感器,磁电效应,将材质均匀的金属或半导体通电并置于磁场中,所产生的各种变化称为电磁效应。在金属或半导体薄片中通以控制电流I,并在薄片的垂直方向上施加磁感应强度为B的磁场,则在垂直于电流和磁场的方向上会产生电动势(霍尔电势)。这种现象称为霍尔效应。若给通有电流的金属或半导体薄片加以与电流方向垂直的外磁场,不但产生霍尔效应,而且试件的电阻值会变大。即产生磁阻效应。,霍尔效应,若将通有电流的导体置于磁场B之中,磁场B(沿z轴)垂直于电流IH(沿x轴)的方向,如图所示,则在导体中垂直于B和IH的方向上出现一个横向电位差UH。1,IH,UH,霍尔效应的机理(一),将一块厚度为d、宽度为b、长度为L
2、的半导体薄片(霍尔片)放置在磁场B中,磁场B沿Z轴正方向。当电流沿X轴正方向通过半导体时,若薄片中的载流子(设为自由电子)以平均速度v沿X轴负方向作定向运动,所受的洛伦兹力为fB=ev*B.在fB的作用下自由电子受力偏转,结果向板面“I”积聚,同时在板面“”上出现同数量的正电荷。这样就形成一个沿Y轴负方向上的横向电场,使自由电子在受沿Y轴负方向上的洛伦兹力fB 的同时,也受一个沿Y轴正方向的电场力fE。设E为电场强度,UH为霍尔片I、面之间的电位差(即霍尔电压),则fE 将阻碍电荷的积聚,最后达稳定状态时有即或,霍尔效应的机理(二),设载流子浓度为n,单位时间内体积为vdb里的载流子全部通过横
3、截面,则电流强度IH与载流子平均速度v的关系为 将 代入 得式中 即为霍尔系数RH。考虑霍尔片厚度d的影响,引进一个重要参数KH,则 式可写为KH称为霍尔元件的灵敏度。,霍尔电压的特性,1.在一定的工作电流IH下,霍尔电压UH与外磁场磁感应强度B成正比。这就是霍尔效应检测磁场的原理。2.在一定的外磁场中,霍尔电压UH与通过霍尔片的电流强度IH(工作电流)成正比。这就霍尔效应检测电流的原理。,霍尔效应的副效应(一),在测量霍尔电压时,会伴随产生一些副效应,影响到测量的精确度,这些副效应是:1.不等位效应 由于制造工艺技术的限制,霍尔元件的电位极不可能接在同一等位面上,因此,当电流IH流过霍尔元件
4、时,即使不加磁场,两电极间也会产生一电位差,称不等位电位差U。显然,U0只与电流IC有关,而与磁场无关。2.埃廷豪森效应(Etinghausen effect)由于霍尔片内部的载流子速度服从统计分布,有快有慢,由于它们在磁场中受的洛伦兹力不同,则轨道偏转也不相同。动能大的载流子趋向霍尔片的一侧,而动能小的载流子趋向另一侧,随着载流子的动能转化为热能,使两侧的温升不同,形成一个横向温度梯度,引起温差电压UE,UE的正负与IH、B的方向有关。,霍尔效应的副效应(二),3.能斯特效应(Nernst effect)由于两个电流电极与霍尔片的接触电阻不等,当有电流通过时,在两电流电极上有温度差存在,出现
5、热扩散电流,在磁场的作用下,建立一个横向电场EN,因而产生附加电压UN。UN的正负仅取决于磁场的方向。4.里纪-勒杜克效应(Righi-Leduc effect)由于热扩散电流的载流子的迁移率不同,类似于埃廷豪森效应中载流子速度不同一样,也将形成一个横向的温度梯度而产生相应的温度电压URL,URL的正、负只与B的方向有关,和电流IH的方向无关。,霍尔效应的副效应的消除方法,由于附加电压的存在,实测的电压,既包括霍尔电压UH,也包括U0、UE、UN和URL等这些附加电压,形成测量中的系统误差来源。但我们利用这些附加电压与电流IH和磁感应强度B的方向有关,测量时改变IH和B的方向基本上可以消除这些
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