实验七 集成运算放大器指标测试.docx
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1、实验七集成运算放大器指标测试一、实验目的1. 掌握运算放大器主要指标的测试方法。2. 通过对运算放大器pA741指标的测试,了解集成运算放大器组件的主要参数的定义和表 示方法。二、实验设备与器件器材名称器材名称12V直流电源交流毫伏表函数信号发生器直流电压表双踪示波器集成运算放大器pA741x1电阻器、电容器若干三、实验原理集成运算放大器是一种线性集成电路,和其它半导体器件一样,它是用一些性能指标来衡量 其质量的优劣。为了正确使用集成运放,就必须了解它的主要参数指标。集成运放组件的各项指 标通常是由专用仪器进行测试的,这里介绍的是一种简易测试方法。本实验采用的集成运放为双列直插式组件心741
2、(或F007),引脚排列如图7 1示,脚和 脚为反相和同相输入端,脚为输出端,脚和脚为正、负电源端,脚和脚为失调调零 端,脚之间可接入几十KQ的电位器,滑动触头接到负电源端,脚为空脚。 Ul:c+ Ucc_:Ez151 口4 12V调零朔1. A74主要指标测试(1)输入失调电压u0S理想运放组件当输入信号为零时,其输出也为零。但是即使是最优质的集成组件,由于运放 内部差动输入级参数的不完全对称,输出电压往往不为零,这种零输入时输出不为零的现象称为 集成运放的失调。输入失调电压U0S指输入信号为零时,输出端出现的电压折算到同相输入端的数值。失调电压测试电路如图72所示。闭合开关K及互,使电阻R
3、b短接,测量此时的输出电 压u01即为输出失调电压,则输入失调电压RU OS实际测出的U01可能为正,也可能为负下。测试中应注意: 将运放调零端开路。 要求电阻R和R2,R3和的参数严格对称。(2)输入失调电流I0S输入失调电流I0S是指当输入信号为零时,运放的两个输入端的基极偏置电流之差,1 U 鸟 + Rf 01 一般在15mV,对于高质量的运放U0S在1mV以输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级两个晶体管曲勺失配度,由于IB1,IB2本身 的数值已很小(微安级),因此它们的差值通常不是直接测量的,测试电路如图72所示,测试 分两步进行: 闭合开关K1及吗,在低输入电阻下,测出输出电
4、压U01,如前所述,这是由输入失调电 压u0S所引起的输出电压。 断开K1及K2,两个输入电阻RB接入,由于RB阻值较大,流经它们的输入电流的差异, 将变成输入电压的差异,因此,也会影响输出电压的大小,可见测出两个电阻RB接入时的输出 电压u02,若从中扣除输入失调电压u0S的影响,则输入失调电流i0S为RX1 osbiTb210S = Ib1B2 = U02 一 U01 R1 + Rf Rb一般,I0S约为几十几百nA(10-9A),高质量运放I0S低于1nA。测试中应注意: 将运放调零端开路。 两输入端电阻RB必须精确配对。(3)开环差模放大倍数Aud集成运放在没有外部反馈时的直流差模放大
5、倍数称为开环差模电压放大倍数,用Aud表示。 它定义为开环输出电压U0与两个差分输入端之间所加信号电压uid之比A = %Ud U id按定义Aud应是信号频率为零时的直流放大倍数,但为了测试方便,通常采用低频(几十Hz 以下)正弦交流信号进行测量。由于集成运放的开环电压放大倍数很高,难以直接进行测量,故 一般采用闭环测量方法。Aud的测试方法很多,现采用交、直流同时闭环的测试方法,如图73 所示。被测运放一方面通过Rf、R、R2完成直流闭环,以抑制输出电压漂移,另一方面通过Rf和RS实现交流闭环,外加信号uS经R1、R2分压,使足够小,以保证运放工作在线性区,同相输 入端电阻R3应与反相输入
6、端电阻R2相匹配,以减小输入偏置电流的影响,电容C为隔直电容。 被测运放的开环电压放大倍数为Aud = & = (1 +U id2 i图73人盈则试电路通常低增益运放Aud约为6070db,中增益运放约为80db,高增益在100db以上,可达120 140db。测试中应注意:测试前电路应首先消振及调零。 被测运放要工作在线性区。 输入信号频率应较低,一般用50100HZ,输出信号幅度应较小,且无 明显失真。(4)共模抑制比KmrCMR集成运放的差模电压放大倍数Ad与共模电压放大倍数AC之比称为共模抑制比CMR=4ACCMR=20lg(db)共模抑制比Kmr在应用中是一个很重要的参数,理想运放对
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