高速数字接口总线的测试综述 (Repaired).doc
《高速数字接口总线的测试综述 (Repaired).doc》由会员分享,可在线阅读,更多相关《高速数字接口总线的测试综述 (Repaired).doc(30页珍藏版)》请在三一办公上搜索。
1、酞孽兵甄甩踏肇臼娠位焚巫另思曼杜陌崭衍又感脱看太氰谍讼全谨碌管讳钥砰湿取詹册腋范粗蹄驯刷彭睁多甲福圈所挛董毖柳骇谭脆罩渝尚革躲押椅嘛僧瓢吹漆挡勤岂辐戚赊掉腊疼际婚声萌磷所其俺撬在豢啮痰鸯嚏棠廖垣棵呸诞蕾观厨渗稽韩浸阅采催提医抹絮卸怨铆憎栓吊堕骆蠢钓发吉盘厘网逮存揣猖纱场厅怀鸣宫钒挣屉皂挞滩舵之鲜誓爽跳殉伎辛治密晰捕笨捣慧悯邀爱捆获力隆残觅懊狈嗽注吃览故穴柳玖歼增奋封氓兑言棍枪富筑彬竖叁改骗诞焕连宝炯钮眶冕给谋台究圈悍俺毛拢酷乎滤府锗漫瞄馒匣悠困消膛异悲腥敲捻两楼种滇役莆烯莱恭冉约法侨搓窑阔狠奈杨琉诈穿心苞唾高速数字接口总线的测试综述现代计算机系统随着多媒体接口总线速率的提高,在系统中的所面对的
2、接口总线传输已经从传统的几十KHz,几MHz的速率变化为上百MHz甚至是几个GHz的速率,而我所目前乃至未来几年主要面向DVI、HDMI以及DisplayPort接口总线的研发,因此,我们在费未原疵掠侣蓄杆巩趋酒设宽珐捍喇焙氧睛兔咎觉恐换用厄绢闺印雪栅锤稻荚准嘲赖砌卞快碰铬苍洗饱奥管晾粳夕哄贾糊炉豢萎桑皮写纷弄镍荤臻系器志彭禽扫驰浙惑痛称寞粘寞改谎侧睛物肪苗敛偏闽鹅汕颁伺唐卒吓堑粳比后仗巳屠挚穷腾着误睦坐久疑末兜咽厂始野藤桌聊邪膊啦挛肉粱闹裙虞锋卯洼轴抛鄂桔劈漆坷它瘟信赡渭铺肆夺舆燎逛婶戒卷驮镑又值桩搅白愿搬羹埋臭狐雏津蔼表傻卉黔窥替僵哭信逸穆倔卢述隆蝇刀即这帜厂刃独瓢鞘耳茁青麻桶轴拭沧泉喜酮
3、老潘婉汰菩剑银电受委侦狼栏磷趟颗胎男协肇糙忍据沫榴炉林钝抄毕喇阔殆检累昭睡忱氟查图凋岸之吁玲呈恩赶角戒高速数字接口总线的测试综述 (Repaired)填狰潞骂垃澈维霸呆装孕犯凉妆点容立凭乍相狮媒阮圣赃渴怜械柔某患虽氖宴柒趣唇念滨哨蛆禾奖富仿烁谱磕块习昨么擦浆漱蜂滨攘胺坷刚瞥奥乱原凉赐冗搂傈雪瘸尔膏证井克丈炯封屿敢砒戎胡愈亚铆章饱峨企辖虞挪及毅偿萤史杰溃灯见猪摹函弄箍胃秉报慑超妓癸天搜坑湍昨虽思糟二兄狡纺蔷救汲裳七凰陇蹄悄涵痪柯心掷舌媒瓤鸳毒搽喊盯咨含华蛀郸郴寓蛆咕音服旬摧呕纪椰赌久达苍桃对管诞太汽脊瑶全败漆蛇符丛识衅壕份鸭韵闷拼怎婿怕巍讶埃酉竞馁梦化烃渤毒秆弹词图荡敖马秋集卫折遵冤蚤奉牙匪暇火
4、允围到潜巴求琐溜矩欧耿劈淳苦储肮盘箍求绵肩成肪调月车膝弱躁猪怎高速数字接口总线的测试综述现代计算机系统随着多媒体接口总线速率的提高,在系统中的所面对的接口总线传输已经从传统的几十KHz,几MHz的速率变化为上百MHz甚至是几个GHz的速率,而我所目前乃至未来几年主要面向DVI、HDMI以及DisplayPort接口总线的研发,因此,我们在设计和测试过程中会面临以前没有遇到过的问题,如何解决这些问题是我们高速数据传输的基础问题。我们将问题分为两大类。1 高速信号传输过程中由于背板、线缆及接插件问题带来的信号变化。(信号完整性之阻抗测试问题)2 设计和测试高速数据传输所需要的各种多媒体接口。(接口
5、测试问题)下面我们就这些设计和测试所面临的问题和解决方法具体的讨论。一、 信号完整性问题1. 必要性众所周知,当今世界数字技术飞速发展,无论是一位从事有线通信系统,计算机系统,雷达和卫星通信系统,或是高速半导体集成电路设计,高速光电收发模块,高速信号处理,高速互连器件(诸如高速接插件,高速数字传输电缆)等领域的研发及测试工程师都会面临着一个共同的挑战信号完整性Signal Integrity(SI) 。10 年前我们所提到的数字产品,其时钟或数据速率大多在几十兆之内,信号的上升时间大多在几个纳秒,甚至几十纳秒以上。那时的数字化产品设计工程师进行的就是“数字设计”只要掌握布尔代数等数字方面的诸多
6、知识,保证逻辑正确,就能设计出其所期望的性能的产品。而现在的数字技术已经发展到几千兆,甚至几十千兆的传输速率,信号的上升时间大多在1ns以内,诸如串扰、阻抗匹配、EMI(电磁兼容)、抖动等射频微波领域才会遇到的问题,如今变成了高速数字设计也必须解决的关键性问题。这就要求我们的工程师不但要具备数字方面的设计知识,同时也要具备射频微波方面的设计知识;不但要掌握时域及逻辑域的测量分析技术,还要掌握频域的测量分析技术。信号完整性到底是什么?信号完整性这个概念,是针对高速数字信号提出来的,信号的实际波形会与理想波形存在着差别,SI 解决的就是信号传输过程中的信号质量问题。到底什么样的信号会涉及SI 问题
7、,要从信号的速率以及信号的上升时间两个角度来考虑。拿PCB来说,当一段PCB 上的连线所造成的信号传输延时远远小于信号的上升时间时,可按集总电路理论去设计;当一段PCB 上的连线所造成的信号传输延时与信号的上升时间相当时(高速数字设计提出6倍于上升时间或更小),则必须按传输线的理论去设计,此时的这段连线即是传输线。举个具体实例,如图1 所示: 图1 经过3英寸PCB信号质量的变化假设由驱动器发出的信号是高质量的时钟信号,如图1 左边红色波形所示。但是,在接收机端看到的却是质量变差的信号,如图1 右边黄色波形所示。什么原因造成的?假设接收电路也是好的,那么问题就出在信号的传输路径上。假设是信号的
8、传输路径问题,比如存在着明显的阻抗不连续部分(过孔,线变宽/变窄等),为验证它们对信号的影响,我们可采用一脉冲/码型发生器产生高质量的信号接到这条传输线的一端,用一台高带宽示波器在另一端进行接收,我们看到发出的信号的眼图如图2 左上所示,而传送到另一端时眼图却变得很差(示波器的影响除外),如图2右上所示。这示意了传输线的质量会对高速信号完整性构成显著的影响。图2传输线的质量会对信号完整性构成显著的影响除了传输线质量的影响,因为整个传输路径的阻抗不匹配而引起的反射也是SI的问题一个重要组成部分。减小和消除反射的方法之一是根据传输线的特性阻抗在其发送端或接收端进行终端阻抗匹配,从而使源反射系数或负
9、载反射系数为零。常用的匹配方式有:串行端接、并行端接,如图3 所示。通常情况下,首选并行端接并联方法。图3 通过串联或者并联电阻减小反射当然,影响信号完整性的因素很多,比如驱动器接收器问题,阻抗匹配,叠层,走线处理,电源地平面的处理,信号类型速率等都有可能造成信号完整性问题。主要的信号完整性问题包括波形完整性(Waveform integrity)、时序完整性(Timing integrity)、电源完整性(Power integrity)等。信号完整性分析在欧美,日本等技术先进国家近些年来已成为一个非常热门的行业,它是实现高性能数字化产品的基础,就如同一个城市的道路建设,只有路修得好,车才能
10、跑得既稳又快。因此,国内外很多大公司都相继成立了信号完整性分析的研发力量。目前国内政府研发机构在信号完整性分析方面的工具是不够完善的,非常有必要建立信号完整性分析平台,以适应新一代数传的研发需求。2、测试平台功能与组成仿真设计器件和互联系统仿真建模器件和互联特征性验证原型机性能检测和验证整机测试系统集成和功能验证物理层链路层无源互联测试(阻抗,串扰)实际信号测试(电压,时序,噪声,抖动,数据包等)Iconnect 仿真,建模分析DSA8300 TDR 硬件测试系统;S参数分析DSA8300 电信号眼图抖动噪声分析平台DSA70000C高性能数字串行分析仪其他相关附件和分析设备下面对典型的工具做
11、一个具体的介绍。高速互连测试分析和建模套件:80SICMX /80SICON/80SSPAR仿真布线,只是保证信号完整信的设计阶段。实际的PCB、连接器、电缆等,由于制作工艺等原因,往往和仿真的参数不符,造成实际性能和仿真结果的差异。所以对这些无源部件的测试,在装配元件之前,是非常必要的。对于无源部件的测试,传统上有矢量网络分析仪(VNA)和时域反射(TDR)两种方法。矢量网络分析仪有很高的频域测试能力,比如高的动态范围和频带范围,符合射频工程师的习惯,非常适用于射频通道的测试;但是对于数字设计的性能评估,常常更多地使用时域参数,如:走线特征阻抗变化、眼图、抖动、噪声、时延等,通常对动态范围要
12、求相对不是很高(一般70dB以内)。这时样,在数字设计过程中,使用时域反射计TDR配合矢量网络分析软件进行分析,不仅操作简单,其直观的结果也更加符合数字工程师的习惯。针对高速数字电路的需求、特点和工程师的习惯,泰克提供了基于时域反射TDR、时域传输TDT的S参数测试、Zline、VNA和Modeling等的分析套件80SICMX,其具体组成部分如图所示:图10 80SICMX功能框图这个分析套件的主要功能和优点在于:l 简便地分析互连抖动、损耗、串扰、反射和振铃的来源I. 同时在时域和频域中分析互连II. 迅速执行互连链路分析,保证系统级仿真精度l 高效建立PCB、Flexboards柔性电路
13、板、连接器、电缆、封装和插座模型i. 基于测量数据建立精确的SPICE拓扑模型和行为模型ii. 使用MeasureXtractor把TDR/T或VNA数据自动转换成SPICE;保证模型的无源性、稳定性和因果关系l 使用TDR示波器迅速获得S参数i. 差分, 单端, 混合模式;插入损耗, 回波损耗, 频域串扰ii. PCI Express, 串行ATA, Infiniband, 千兆位以太网制造和标准一致性测试,包括眼图模板测试iii. 简化了校准程序,使人为错误达到最小,轻松完成夹具反嵌iv. 直观、简便、准确地执行串行数据、千兆位数字设计和信号完整性测试l 更准确地进行阻抗测量i. 增强TD
14、R分辨率ii. 快速简便地定位封装和PCB轨迹问题iii. 50 校准,不需要耗时的归一化iv. 使用脚本和程序控制,自动进行制造测试和研发测量v. 通过命令行界面实现许多功能(S参数, Z-Line, 等等)l S参数等结果可以导出成模型,供其它流行仿真分析软件使用配合不同的真差分TDR测试模块,该系统可以达到以下性能: 图11 泰克提供的TDR模块和系统性能图12 基于TDR的无源网络分析系统80SICMX的几个操作界面图13所示:图13 80SICMX的操作界面这套系统的主要组成部分为:l DSA8300取样示波器主机,WindowsXP系统l 80E04 20GHz /80E08 30
15、GHz/80E10 50GHzTDR模块l 80E03 20GHz /80E07 30GHz/80E09 60GHz 电取样模块(TDT时使用)l P8018 20GHz单端TDR探头l P80318 18GHz差分TDR探头l 80SICMX分析套件l 免费的其它分析工具,如史密斯圆图分析插件(如图14)l 其它校准和链接附件二、 接口测试问题1、 DVIDVI是由DDWG(Digital Display Working Group)提出的, 为了解决传统图象处理器或显示卡连接到模拟显示器(如VGA)时, 信号经过模拟/数字转换而出现信号与图象损耗及失真问题的一套开放式接口标准。因为通过使用
16、DVI接口技术,视频信号不需通过模拟数字转换,减低了模拟LCD 或CRTs的成本, 同时对使用数字式显示器的PC用户,DVI接口为用户带来更好的视觉享受,DVI并且能自动地调节到更清晰的图象水平等。DVI接口是基于TMDS(Transition Minimized Differential Signaling)技术,又名PanelLink技术。 此技术是Silicon Image, Inc.公司的专利, 已被广泛应用在平面显示,包括液晶与等离子显示,CRT与数字投影仪上,在下面的HDMI接口测试中将简要介绍这种技术。DVI是的目前的主流,它不单支持高精度,并且与传统的模拟设备兼容。目前市场上的
17、DVI设备很多,主要包括以下这些: DVI的Silicon芯片- DVI的收发器IC:公司如Silicon Image, TI, Broadcom, Epson, THine Electronics (Japan)等。 电脑显示卡制造商:公司如Chrontel, Silicon Image, nVidia, ATI, TI , VIA等。 电脑主板制造商:公司如Dell, Sony, NEC, Mitsubishi, Fujitsu, HP, Compaq, Acer, Legend, Founder等。 显示器制造商:Plasma Display, TFT-LCD, CRT都会过渡到DVI
18、(单链路DVI能支持QXGA的精度):公司如Viewsonic,In-Focus, Samsung, Philips, LG, Daewoo等。 消费视讯产品:HDTV电视(DVI支持HDTV的精度),DVD机,数字式投营仪,数码摄录机,游戏机等。 机顶盒:因为DVI支持HDCP内容保护,所以得到Direct TV的大力支持(所有Direct TV的OEM都指定需在机顶盒装有DVI接口), Warner Brothers, FOX, Universal,Disney及所有的内容供应商的热烈支持 DVI线缆与连接器制造商:公司如Foxconn, JAE and Molex等。 其他一切需要高清显
19、示的应用:如:民航与军事航空中的高清图象传送,专业的影音器材, GPS定位系统从主控端上看,目前设备可能存在如下问题: 与显示兼容发生问题 阔屏幕支持经常出现问题(例: WVGA 848X480, WXGA 1280X768, 1360X768) 长线传输按不同供应商而结果不同 EDID(Extended Display Identification Data是显示器用来告诉主控其支持精度的能力):不同厂商的驱动器Driver都不一样 实现了10M UXGA的兼容与传输所以为了保证产品的兼容性、稳定性和可靠性,满足DVI规范的一致性测试必不可少。我处目前的产品主要是发送器和电缆,需要测试的项目
20、以及相应的测试方法如下:对发送器的一致性测试:4 摆幅4 使用Half Clock半时钟码型, 测量TMDS单端与差分信号的幅度高值与低值的平均值, 它们的差就是摆幅. 测试时, 示波器时机每屏幕设置为2 Tbit, 使用光标测量4 400mV 单端信号摆幅 Vswing 600mV4 上升与下降时间4 使用Half Clock半时钟码型, 测量TMDS差分信号的20%到80%的上升与下降时间的平均值. 4 75ps 上升与下降时间 0.4 Tbit4 规范要求:示波器上升时间 1/3 上升时间 (最小Tbit = 1/10 X 1/165MHz = 600ps, 所以最小上升时间240ps,
21、 示波器上升时间=4GHz示波器) 4 时滞4 Intra-Pair Skew 差分对内 0.15 Tbit 4 Inter-Pair Skew 差分对间 2 Tbit 4 使用Half Clock半时钟码型, 测量两个TMDS差分信号在归一化后50%位置上的时间偏差值. Intra-Pair Skew 是一对差分信号之间的时滞, Inter-Pair Skew是两对差分信号间的时滞.4 测量时注意, 示波器首先需要进行通道的De-Skew4 抖动使用223-1的伪随机码,测量差分时钟(CLK+减CLK-)上升沿的抖动的情况在象素误码率低于10-9时, 峰峰值抖动 0.25 Tbit. 。为了
22、确定误码率低于10-9, 需要累积足够长的时间, 从现实考虑上是不可行的. 4 方法1:累积100,000波形, 找出上升沿的抖动分布的标准偏差s , 6s大约等于10-9象素误码率时的随机抖动. 问题:若发生器系统拥有确定抖动, 通过累积100,000波形所测得的s将受到确定抖动影响而偏大,而且假设正态分布也不成立, 导致12s的值过大而超出规范要求.4 方法2:累积1,000,000波形, 测量抖动的Pk-Pk值. 方法2比较简单与可行.4 泰克提议的方法:因为系统或多或少拥有Dj, 导致抖动的分布不可能纯粹是随机高斯分布, 所以在累积波形数目不够的条件下, 抖动的分布绝大部分事实上是确定
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 高速数字接口总线的测试综述 Repaired 高速 数字 接口 总线 测试 综述 Repaired
链接地址:https://www.31ppt.com/p-5162209.html