《无损检测技术》PPT课件.ppt
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1、无损检测(NDT):在不破坏工件的前提下,检查工件宏观缺陷或测量工件特征的各种技术方法的统称。常规无损检测方法有:超声检测 Ultrasonic Testing(缩写 UT)射线检测 Radiographic Testing(缩写 RT)磁粉检测 Magnetic particle Testing(缩写 MT)渗透检验 Penetrate Testing(缩写 PT)涡流检测Eddy current Testing(缩写 ET),7.无损检测技术,无损检测有哪些应用?应用时机:设计阶段;制造过程;成品检验;在役检查。应用对象:各类材料(金属、非金属等);各种工件(焊接件、锻件、铸件等);各种工
2、程(道路建设、水坝建设、桥梁建设、机场建设等)。,7.1 声学诊断7.1.1 声振检测7.1.2 噪声检测7.1.3 超声波检测7.1.4 声发射检测,声振检测是激励被测件,使其产生机械振动,发出声波,通过测量声波的特征,例如振幅(振动的强弱)、频率(振动的快慢)、损耗(振动持续时间)、振动形式(单频或多频振动、谐振)以及与物体振动方式有关的力阻抗等,来判定被测件的状况。如果响应声波发生改变,说明被测件出现异常。,7.1.1 声振检测,最常用的声振检测方法:敲击法(声冲击法)由检测者利用敲击工具敲击被检工件,在工件上有缺陷与无缺陷区域的回声将因自然频率不同而有差异,从而可以辨别缺陷的存在。这种
3、方法有点类似我们日常生活中用拍击法挑选西瓜、用敲击法挑选瓷器等。,敲击法简便易行,但在很大程度上依赖检测人员的经验,多用作其他无损检测方法的补充手段或粗略检查(例如铁路车辆的车轴、弹簧等在行车途中的检查)。也可用专用的电子敲击器敲击,用传感器拾取声波。,机器设备在运行过程中,如果零部件发生故障或出现缺陷,往往会产生强烈振动,发出噪声。这种振动和噪声,一方面反映了设备内部状态的变化,一方面也污染环境。通过检测噪声,可以找出噪声的原因和部位,以便采取措施抑制故障,并对噪声进行有效控制。,7.1.2 噪声检测,噪声听诊器,监听噪声异响的方法较多,如直接用耳朵监听,这是用得最多的;借助于听棒、螺丝刀、
4、胶管和听诊器等工具监听某部细微声音,可收到直接用耳朵听听不到的声音。,例如:运用机械听诊器对16V240ZJC型柴油机主机油泵轴承、高温水泵轴承、低温水泵轴承、柴油机控制端板上的中间齿轮轴承、左右过轮轴承、曲轴主轴承进行振动监测。当发现异常时,再利用轴承振动诊断仪进行精密诊断。,超声波检测是先用发射探头向被检物内部发射超声波声波,用接收探头接收缺陷处反射(或透射)的超声波,并将其显示在屏幕上。通过观测反射波(或透射波)的时延与衰减情况来判断缺陷的类型、大小、数量及位置。,7.1.3 超声波检测,超声波检测的优点是:适用范围广(可检查厚度100cm钢材内部裂纹和其他缺陷,也可检测表面裂纹)、灵敏
5、度高、设备简单、操作方便,并可以现场检测。其缺点是:不好检测结构复杂的零件、需要标样、一些组织结构对回波花样有影响。,一、超声波基础超声波是一种频率高于20kHz的机械波,指向性好、穿透能力强。无损检测用的超声波频率一般为0.2M25MHz。,1.超声波的分类超声波可分为纵波、横波、表面波(瑞立波)和板波(兰姆波)。纵波:质点的振动方向与波的传播方向平行。质点受交变的拉压应力时产生。可在任何弹性介质(固体、液体、气体)中传播。可检测几何形状简单的工件的内部缺陷。横波:质点的振动方向与波的传播方向垂直。质点受交变的剪切应力时产生。只能在固体中传播。可以探测管件、杆件和其他几何外形复杂工件的内部缺
6、陷。在同样工作频率下,横波检测的分辨率要比纵波几乎高一倍。表面波:沿介质表面传播,表面质点做椭圆运动,可看作纵波与横波的合成。只能在固体中传播。适宜于探测表面缺陷。板波:在厚度与波长相当的弹性波板中传播。,2超声波的传播超声波在媒介中传播,有波的叠加、反射、折射、透射、衍射、散射及吸收衰减等特性,一般遵循几何光学的原则。纵波的传播速度大于横波的传播速度。,波形转换:当纵波倾斜入射到异质界面时,除产生反射纵波和折射纵波之外,还可能产生反射横波和折射横波。横波入射时也一样。波形转换只在固体介质中产生。,第一临界角I、第二临界角II:当纵波入射的入射角L小于I时,第二介质中存在折射纵波和折射横波;当
7、L介于I和II之间时,第二介质中只存在折射横波;当aL大于II时,第二介质中只存在表面波。,二、超声波检测设备超声波检测设备包括:超声波检测仪、探头、试块、耦合剂。,1超声波检测仪超声波检测仪是检测的主体设备,作用是产生电振荡作用于探头,使之发射超声波,同时将探头送回的电信号进行滤波、检波、放大等,并以一定的方式显示出来。,超声波检测仪按发射超声波的方式分为脉冲波检测仪、连续波检测仪和调频波检测仪。其中使用最广的是脉冲波检测仪,它向工件周期性地发射频率固定的超声波。,超声波检测仪按显示方式分为:A超探伤:是一种波型显示,在显示屏幕上以横坐代表声波的传播时间(距离),纵坐标代表反射波的幅度。B型
8、探伤:是一种图像显示,可显示工件纵截面的图像。C型探伤:也是一种图像显示,可显示工件平行截面的图像。,目前使用最广的是A型脉冲反射式检测仪。,2探头超声波检测一般采用压电型探头,其作用是利用压电晶片,在高频电振荡激励下产生高频机械振动发射超声波(发射探头),或在超声波作用下产生机械变形,并因此产生电荷(接收探头)。,超声波探头按结构形式分为:直探头:用于交替地发射和接收纵波,波束垂直于工件表面。斜探头:利用楔块将声束倾斜于工件表面而射入工件。一般用于横波探伤。,斜探头的标称方式有三种:1)以纵波入射角标称:常用的有30、45、50、55。2)以横波折射角标称:常用的有40、45、50、60、7
9、0。3)以折射角的正切值K标称:常用的有K1、K1.5、K2、K2.5、K3。,3试块试块是具有标准反射体的试件,其作用有:1)确定探伤灵敏度2)标定探测距离、评价缺陷的大小3)测试仪器和探头的性能(如扫描特性、盲区、分辨率、探头波束特性等)。4)辅助测定材料的声学性能(如声速、材料衰减程度等),以便选择合适的探伤方法。试块按制定的来历可分为标准试块和参考试块;按用途可分为检验试块和定量试块。,4耦合剂耦合剂的作用是排除探头与工件之间的空气。使超声波有效地传入工件。常用的耦合剂有机油、甘油、水玻璃、水。,三、超声波检测方法超声波探伤按其原理可分为:脉冲反射法、穿透法和共振法。,1.脉冲反射法脉
10、冲反射法利用超声波探头发射脉冲到被检测试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷。,其基本原理为:当试件完好时,超声波可顺利传播到达底面,探伤图形中只有表面发射脉冲T及底面回波B两个信号;若试件中存在缺陷,在探伤图形中,底面回波前有表示缺陷的回波F。脉冲反射法灵敏度较高。,2.穿透法根据超声波能量变化情况来判断工件内部状况的。,穿透法是将发射探头和接收探头分别置于工件的两相对表面。发射探头发射的超声波能量是一定的,在工件不存在缺陷时,超声波穿透一定工件厚度后,在接收探头上所接收到的能量也是一定的。而工件存在缺陷时,由于缺陷的反射使接收到的能量减少,从而断定工件存在缺陷。,穿透法探伤的灵敏度不如脉冲
11、反射法高,且受工件形状的影响较大,但较适宜检查成批生产的工件。如板材一类的工件,可以通过接收能量的精确对比而得到高的精度,宜实现自动化。,3共振法:共振法是根据声波(频率可调的连续波)在工件中呈共振状态来测量工件厚度或判断有无缺陷的方法。这种方法主要用于表面较光滑的工件的厚度检测,也可用于探测复合材料的粘合质量和钢板内的夹层缺陷检测。,声波在工件内传播时,如入射波与反射波同相位(即工件厚度为超声波波长的一半或成整数倍时),则引起共振。共振法测厚的公式为:,在测得共振频率f和共振次数n后,便可计算材料的厚度。共振法的特点是:1可精确的测厚,特别适宜测量薄板及薄壁管;2工件表面光洁度要求高,否则不
12、能进行测量。,四、缺陷评定1缺陷的定位缺陷的定位是根据缺陷反射波在荧光屏时间扫描线上出现的位置来确定缺陷在工件中的位置。,对于纵波探伤,缺陷定位比较简单:假定仪器已按1:n调节好扫描速度,而缺陷波对应的水平刻度为SF,则缺陷至探头的垂直距离为x=nSF。或者x=hSFSB,h为工件厚度,SB为底波的水平刻度。,对于横波探伤,若探头中心至缺陷的声程为S,探头折射角为B,则:,2缺陷的定量缺陷的定量指确定缺陷的大小和数量。定量方法大致可分为两类:当量法:用于缺陷小于声束截面的情况。测长法:用于缺陷大于声束截面的情况,1)当量法当量法根据缺陷波高度来对缺陷进行定量。目前的超声波探伤并不能确定缺陷的实
13、际大小,而一般采用“当量”的概念。当量法有当量试块比较法、底波高度百分比法、AVG曲线法等。,当量试块比较法:用标准反射体的反射波高度作为基准对缺陷进行定量。由于需要大量试块,现在己很少使用。,底波高度百分比法:用缺陷波和底面反射波的高度相比较。底波高度可以是有缺陷与无缺陷时的两种情况。这种方法不需要试块,只给出相对高度,不给出缺陷的当量大小。由于缺陷距离对百分比有影响,所以存在不足。,AVG曲线法:根据超声场的特性,用数学物理计算的方法,得出声程距离(A)、增益(V)和缺陷当量大小(G)三者之间关系的一组曲线。根据AVG曲线即可确定缺陷的当量大小。,AVG曲线,2)测长法缺陷大于声束截面时,
14、缺陷波高度不会再随缺陷的增大而增加,这时一般根据缺陷波高度和探头移动距离来对缺陷进行定量,即所谓的测长定量法。,测量缺陷的指示长度的基本原理是建立在声束指向性上的。当缺陷与声束中心轴相遇时,放射波较强。随着探头的移动,缺陷逐渐偏离声束中心,缺陷波也就随之降低直到消失。测长法有:半波高度法、两端6dB法、绝对灵敏度测长法等。,半波高度法(6dB测长法):用探头移动过程中,缺陷波高降低6dB(即一半)时,探头中心线之间的距离Lu作为缺陷的指示长度。,两端6dB法:当缺陷不规则时,探头移动时,可能出现很多峰值,应用半波高度法就有困难,因为无法确定用哪个峰值作为最大反射波。端点6dB法的做法是:以最靠
15、两端的峰值为基准。,以上为相对绝对灵敏度测长法。绝对灵敏度测长法:绝对灵敏度是在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向移动时,当缺陷波高度降到规定位置时,探头移动的距离即为缺陷的指示长度。,3缺陷的定性缺陷的定性指确定缺陷的类型(如裂纹、气孔、夹渣、白点等)。目前在实际检测中尚有一定困难。,DF4D型机车车轴超声波检测小修机车探伤检查:将8纵波探头分别放置在车轴两侧端面上,将6纵波探头放置在齿轮侧车轴端面上。中修机车探伤检查:将K1横波斜探头放置在车轴轴身上,将K1.8横波斜探头放置在车轴抱轴颈上。,一、原理与特点材料受力作用,产生变形或断裂时,以弹性波的形式放出应变能的现象称为声发射(简
16、称AE)。用仪器探测、记录、分析声发射信号和利用声发射信号推断声发射源的技术称为声发射检测技术(AET)。,7.1.4 声发射检测,声发射波的频率范围很宽,从次声频、声频直到超声频,可包括数Hz到数MHz;其幅度从微观的位错转动到大规模宏观断裂在很大的范围内变化,按传感器的输出可包括数V到数百mV,不过多数为只能用高灵敏传感器才能探测到的微弱振动。用最灵敏的传感器,可探测到约为10-11mm 表面振动。,声发射源发出的弹性波,经介质传播到达被检体表面,引起表面的机械振动。声发射传感器将表面的瞬态位移转换成电信号。声发射信号在经放大、处理后,其波形和特性参数被纪录与显示。最后,经数据的分析与解释
17、,评定出声发射源的特性。,AET技术的主要目的是:确定声发射源的部位;分析声发射源的性质;确定声发射发生的时间或载荷;按照有关的声发射标准评定声发射源的严重性。,AET技术具有以下特点:1)声发射法适用实时动态监控检测。2)缺陷定位时不需要使传感器在被检物体表面扫描。3)受材料的性能和组织的影响要小些。可以检测复合材料。5)使用比较简单,检测费用较低。缺点和不足:受噪声干扰大;不能给出声发射源处缺陷的性质和大小。,二、声发射信号的表征参数1.声发射事件:指一个声发射脉冲激发声发射传感器所形成的一个完整振荡波型。2.声发射振幅:一个完整的声发射振荡波型中的最大幅度。它反映声发射事件释放能量的大小
18、。3.事件持续时间:一个声发射事件所经历的时间,通常用振荡波型与门槛值的第一个交点到最后一个交点所经历的时间来表示。它反映声发射事件规模的大小。单个声发射事件持续时间一般很短(0.01100s)。4.上升时间:振荡波型与门槛值的第一个交点到最大幅度所经历的时间。它反映声发射事件的突发程度。,三、影响声发射特性的因素声发射来自材料的变形与断裂机制,因而所有影响变形与断裂机制的因素均构成影响声发射特性的因素,主要包括:1.材料,包括成分、组织、结构,例如金属材料中的晶格类型、晶粒尺寸、夹杂、第二相、缺陷,复合材料中的基材、增强剂、接口、纤维方向、残余应力等。2.试件,包括尺寸与形状。3.应力,包括
19、应力状态、应变率、受载历史。4.环境,包括温度、腐蚀介质。,四、声发射检测仪声发射检测仪由传感器、信号处理器(前置放大器、滤波器、主放大器、门槛值检测器、声发射计数器等)和信号显示器组成。,声发射传感器:通常用压电材料,利用压电效应,把声发射信号转换为电信号。,门槛值检测器:是一种幅度鉴别装置,它把低于门槛值的信号遮蔽掉,而把大于门槛值的信号变成一定幅度的脉冲,供计数器计数用。,四、声发射信号的分析方法1.事件计数法和振铃计数法事件计数法用事件数或单位时间内的事件数来处理声发射信号。常与振铃计数法一起使用。振铃计数法对声发射信号中超越门槛值的峰值数进行计数。该法应用广泛,特别适用于疲劳裂纹扩展
20、的研究。也可用单位时间内的振铃数来表示。,2能量分析方法能量分析法是直接度量传感器振荡信号的振幅(或有效值)和信号的持续时间。检测振动能量:R为电压测量电路的输入电阻。能量分析法通常以二种数据型式给出,即能量值和能量率。能量值指在给定的测量时间内所测量到的能量,能量率则为单位时间的能量值。能量分析法比振铃计数更能反映裂纹开裂特征。,3振幅分布分析振幅分布按信号峰值的大小范围对声发射信号进行计数。它可以从能量角度来观察不同材料声发射特性的差异,或同种材料在不同阶段声发射特性的变化。,4.频谱分析法前面几种方法中,声发射信号的振幅是测量的主要参数,因为它表征了声发射的能量大小。但许多研究者认为声发
21、射的频率成分和振幅一样,也包含着声发射微观过程的重要信息,也应作为测量的参数之一。这样便产生了声发射信号处理的频谱分析法。,五、缺陷的定位与评定1.声发射源的定位进行声发射源的定位时,要求将传感器布置成一定的阵列形式。对一维问题,采用两个传感器。声发射源的位置为:x(s十vt)2s为两个传感器之间的距离,t为AE信号到达两个传感器的时间差,v为AE信号在材料中的传播速度。,对于二维问题,可采用正方形、三角形、菱形等形式布置传感器。同样根据s、v、t可确定声发射源的位置。,2缺陷的评定声发射缺陷的评定目前尚无标准,下面以压力容器为例介绍。1)按升压过程声发射频度分类评价只考虑升压过程声发射信号出
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