三极管参数测试.docx
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1、简易半导体三极管参数测试仪摘要: 三极管特性参数测试系统以AT89S52单片机最小系统为核心,应用ADC0804和运放组成数据采集电路,DAC7528和精密电阻组成数控电压源。 整个系统采用模块化设计,能较精确的对三极管交直流放大系数、集电极一 一发射极反向击穿电压和反向饱和电流等特性参数进行测量。利用单片机将采 集所得的数据进行处理,并通过LCD对各项参数和输入输出曲线进行显示。关键词:单片机三极管采样特性参数系统测试Abstract:The system is a characteristic parameters test system of transistor based on AT
2、89S52 SCM system as the core chip .With AD0804 and op-amp making up data acquisition circuit, and with DAC7528 and precise resistance composing digital control voltage source. The whole system uses modular design, it can measure the characteristics parameters of transistor, like ac/dc amplification
3、coefficient of transistor, the collector or emitter reverse breakdown voltage and reverse saturation current. The acquired data processed by SCM system, then the various parameters, the input and output curve will display on the LCD.Key word: SCM transistor sample characteristic parameter test syste
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