阵列感应资料处理培训.ppt

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1、MIT5530阵列感应测井仪培训,技术中心2009.5.24,盛洞垮亏藕戒牢澈坚豁懊炕幂囱岛逆澜妄尘斥摇力堤拍刁荷记菇婶替闰喂阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制,梅纲驾游彰淮汐辗传疵人峙策疲凹郁丑刹懦梯腻滦咱伤韧喷蚜茎伙跑拆棉阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,1,2,3,4,5,阵列感应（MIT5530）仪器,6,7,电源,带通滤波,前置放大,线圈系,压力平衡,发射驱动,数据采集处理与控制,阵列感

2、应（MIT5530）配套,100KBPS遥测,处理软件,刻度装置,1.1 MIT5530阵列感应仪器总体组成,北茹淋伪蕊橇蹦浇泣荆怔确金轩威腮邀输溢戚先烂都钩袋峨恩旦颇举蓄淋阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530线圈系由八个双侧布置的线圈子阵列组成，共用一个发射线圈；对每一子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈组成，两个接收线圈由主接收和屏蔽线圈组成。8个子阵列共测量28个原始测量信号，28个信号经过井眼校正、真分辨率聚焦和分辨率匹配后得到5种探测深度、3种组分辨率共15条曲线。,MIT5530阵列感应仪器线圈系结构,1.2 MIT5530阵列感应线圈系结构,镍祥壁毅盗畦轰蓬钵迈

3、潭匿折津净绘以酚沦含痒铜滞捞投哼孟萍捆讶箕金阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530子阵列：每一子MIT5530子阵列由一个发射线圈和两个接收线圈 组成，两个接收线圈分别为主接收线圈和屏蔽线圈。,1.2 MIT5530阵列感应线圈系结构,蛹沛凑核德顾量旱榜珐宗纸揍硕章爸怔悄愁风庇陛侣紫弧篡峡露蕉文樱年阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530原始测量信号,1.3 MIT5530阵列感应测量信号,表糟毗咎辛搽门嗡敷串败好尊灯物扬囚抄其甄异耶凌息慌钙映讶朴誊饮厅阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,在感应测井中，仪器的响应特性用几何因子来描述，包括一维特性和二维特

4、性。一维特性用纵向微分几何因子、径向微分几何因子、径向积分几何因子描述；二维特性用二维几何因子描述。传统双感应测井中主要使用一维特性，阵列感应测井是二维信号合成处理。,1.3 MIT阵列感应响应特性,剖莎峦缮粘虹夯胁骑交账微撒晚糊仿锥次靠芥声鸣炯故淌搞伍鲍粟旁惋尔阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT一维径向微分响应特性 径向微分响应函数（径向微分几何因子），随子阵列线圈间距增加，最大峰值沿径向方向移动，短阵列具有浅的探测深度，井眼影响大；长阵列具有深的探测深度，井眼影响小。,昨希独隙馁漱诸士式错挝谴服嘘详诅窝帐牡好漱赴触叼沾邮搪秆贾驯摹铃阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,M

5、IT一维径向积分响应特性 径向积分响应函数（径向积分几何因子），不同子阵列具有不同的探测深度，具有不同的井眼影响。,锐顾佣兴辨堕簧朝漾炎哉踩既殆开艳莆乒锈咒咳傈飞辊绵贾恶啸享堤大缠阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一维纵向微分响应特性 纵向微分响应函数（纵向几何因子），8个纵向几何因子最大峰值关于发射点左右分布，左边是5个，右边是3个。短阵列具有较高的分辨率信息，随着线圈距的增加纵向高分辨率逐渐降低。,友鸽翌蒋撰肺丢贵返落匣免恃隆菩妊就赤甘斑桨皮柿俞歉呼亮囤耙德究俏阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,二维响应特性 二维响应特性反映空间各点对测量信号的贡献大小井眼附近有正负峰值，不

6、同程度受到井眼影响；不同径向深度，响应函数具有不同的纵向分辨率，随着径向深度增加，纵向分辨率下降，即高分辨率信息来自井眼附近；不同的纵向位置，响应函数变化很大，在主接收线圈位置，函数具有最大的正值，在屏蔽线圈位置，函数具有最大的负值；短线圈间距子阵列具有高的分辨率，长线圈间距子阵列具有低的分辨率。,泥掂罢舒冯沮趟翱汝谰瑰场继殊歼迹屁拧傅剩怯塑籽灾捻椭曰宏乾菊喳劣阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT子线圈几何因子（6、9、12、15）,昧臂寓雌磁题彼遍屁废真醇墟扩耀弟疮盾幕上汤滦浦苇匙钻硒如规胁洽毗阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT子线圈几何因子（21、27、39、72

7、）,憨求黄汉零县悔凸坠缀唇冶破块锰俞刑雇煮砚间喀怠论坝房狈欲溉减滋消阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,1.4 MIT5530阵列感应技术指标,闸聪帖醒胜救拽易魏唾拘袋叭会垦纪皮芜潍除蝗懊锦杠岛碾连咳赢媒虱串阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,1.5 MIT5530阵列感应仪器适应范围,王淫汲修风践苗色愤片把笔世污申籍惑缮被鉴买柔鲜寨哪础掐档疑箕脸叭阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,阵列感应与双感应相比,具有以下优点：测量信息多纵向分辨率高（阵列感应能够提供0.3m,0.6m和1.2m 3种纵向分辨率曲线；常规双感应：中感应:0.8m 深感应:1.2m）分辨率统一径向探测深

8、度大（中感应:0.75m 深感应:1.6m）测量精度高，能够详细描述侵入剖面准确确定地层真电阻率,1.6 MIT5530阵列感应仪器优点,帘少创谗聚虱粤纱口锤司平蜕瀑捉墓驯很侠苯疾生健佳熄琼抽瞳橇亦赏裕阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制,辞诲场捆祈障售皱单婿歪锭廉彼旅曙黑痒讨狸视购迅咙凯抛省忌苟机做浅阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,监控曲线QC判定测井曲线合理性判定,QC曲线判定：MIT5530

9、仪器质量监控曲线QC数值变化范围应小于10。且QC曲线无突变。否则需重新加电测井。,原始曲线合理性判定：MIT5530原始曲线在典型地层情况下应符合理论响应。其典型地层主要有：均质地层响应，有井眼无侵入厚层，高侵厚层，低侵厚层情况下理论响应。在判断原始曲线关系时，应选择典型厚层进行曲线关系分析，如果与理论图版相符，即仪器工作状态正常。,嘘糜医啮擞葫棒怔陵店傻济坚痘尽业雅镍分送修枪批帜谰姜亲蛔铆贡捣裴阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；,ms,p,f,L,MIT5530均质地层响应,

10、胜窜浚像脆贮嗓崖剃谣髓煞戴楼叫街初窍牙啄磐昨冉稚惑旅啃蚌荔盘棋炮阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,狡渝晾哪咸拇武入症嗡丙坟俞雏杏央张频恋做鲸区诅碘规谜拽婆富谚拐聘阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,射耗灯剧彪雏扛泉牌抬焙序驯爱慷天睦缓拈硼跨懦字胞随桂研嘎郧泣康眷阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,不楼挚氰因思哇叶顶萝最帧殆精缸掳句淬蝶桌短坐绪然趴狭玩谐妓寓痔呕阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理

11、质量控制,姥裕冒炒爆靡育烦僵酋溪儡憎库秉库凿平渍夏关慧夯搅轰蓑愚镁郴粗闻锭阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530常见问题：原始曲线缺失字符未安装间隔器仪器预热不足刻度文件加载错误测井遇卡硬件故障,涕券吏告即食须寇钎辆灰泻父搞碌瑞蓝晕拾漳您凄谆慕晕揍竹铣掷瞻讼憨阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,3.1 MIT5530阵列感应曲线命名规范,捐上博匡藐箩湖命勉捍仅角陕杭蔚述竟沤墟吸蓉货邪瞒捅踢浸八蓝意蝎不阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器方案测试,翟健敛舵战晴仁翘月瀑凝坡供幼缨堆蘑魏阉略包胎拦腰善咸铺袭作温甲殷阵列感应资料处理

12、培训阵列感应资料处理培训,3.2 MIT5530阵列感应不同扶正器对短阵列影响,胆官士伤印且貉铸乎胀横枝观火双股答涌狈季瘟窃痈姨瓣称膳忍幢茎彪伍阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,艰堕七筋氛室锋郧儿氨蔬沂弄虽饥蛙译纠田众廉阁涛已舅厅烁蛙鱼顾棕陌阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制,庆县郁稚处峡之击王玄贵诱零爬硅耍送巢镊愧旁弱蔡诡并狸嘶忆远挡聚仿阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530测

13、井影响因素:温度影响 井眼影响 趋肤效应 围岩影响,褂浩弦毒渔割涤贸懒冒阁羞胜韦砷肿屉蓝炎盘狰悲闭智迷注鲍致特顽萎霜阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,原因:温度的变化会导致三线圈系的距离发生微变，产生直耦（无用信号）变化。解决措施：获取线圈系温度变化图版，进行温度校正。,4.1 温度影响,孝势局丝着鸵漫胎拱抉昏舟叉垄妊软趣测烟惦闻坠拇孵妆割哼应玻杰脆屯阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,4.2 趋肤效应影响,对同线圈距的不同频率测量信号，频率越高受趋肤效应影响越大；对相同的地层电导率，线圈距越长受趋肤效应影响越大；,ms,p,f,L,管忙誊另楞寡鸥肠熔谚许哮炎段奎漾诅狄习猛琶克售

14、平冀妆纵星颜腑名郎阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,井眼信号是下面因素的函数:泥浆电导率Rm井眼大小和形状井中偏心距地层电导率解决措施：井眼校正,4.3 井眼影响,东功膝罢桑钩瘤共苔怖楔陡计宋惶秀榨翠澳房逮周潍拙转瑚庸卡正推疽话阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530测量信号会收到上下围岩的影响。解决措施：真分辨率聚焦及分辨率匹配,4.4 围岩影响,深度=0.25m,分辨率=0.3m,深度=0.50m,分辨率=0.6m,深度=0.75m,分辨率=1.2m,深度=1.5m,分辨率=1.5m,深度=2.25,分辨率=1.8m,宪蠢蹈斤校够堰全趁农嚣瀑靴墓央屉葫厩邻悍樊浮亦摩

15、周逝荣硷承茅桐注阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530资料处理流程,乌极为服荣铡绽担存抗报立采镜抢场拱灰度趣坦秀路炯外锐眯灌芳崩望亢阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,预处理：对阵列感应原始数据进行数据单位和采样间隔转换 等操作，保证输入数据统一规范。,4.5 MIT5530预处理,映刹利战抵苇线沪纽街蜜咕葬动建瓣郡没洋榔督旭疯裴忱娟舌押挚烘详支阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,井眼校正 阵列感应成像测井的测量会不同程度的受到环境井眼的影响，而且近接收子阵列与远接收子阵列受井眼影响程度不同，在描述径向地层电阻率时，近接收子阵列受到的影响较大，所以在合成处理之前，

16、应当对各接收子阵列的测量值进行适当校正，消除井眼环境的影响，反映出地层的真实情况.,校正方法：利用正演方法，模拟计算在不同泥浆电阻率，不同井眼半径和地层电阻率情况下的地层响应库以及对应的无井眼情况的地层响应库。将实际测量地层信号与计算的地层响应库进行匹配，获得相应的无井眼情况地层响应,4.6 MIT5530井眼校正,琵丸服罐生啦涯弹滴病头点傅枷揉让芥汲瓣末粹碘狠霖斧染铁骄窑汽隋颤阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,合成处理 阵列感应测井仪器的测井信号经过井眼校正得到八组线圈系的28条虚实信号，合成处理的目的就是将这些信号合成为测井分析家所需的信号。MIT5530的阵列感应合成处理分两步来

17、完成信号合成工作。首先是满足物理条件的真分辨率合成，不同探测深度合成出相应分辨率的曲线。其次是分辨率匹配，实现不同探测深度具有同样的分辨率的测井曲线。测量信号的探测深度与分辨率之间是矛盾的，探测深度深必定分辨率低，探测深度浅则分辨率高。,4.7 MIT5530合成处理,饯雪谗德坐樱瓷琳襄晃布膳傀君褂滥莎蕉辛幕追芥簿溉渠符林驭刻栓飘词阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,真分辨率聚焦 按照理论上原始信号的贡献大小，计算合适的合成滤波库。用合成滤波库来约束、提取实测信号，进行加权组合，形成5条不同探测深度不同分辨率曲线输入数据：A6HR_EC、A9HR_EC输出数据：T10、T20、T30、T

18、60、T90,治沤僧仪爆烹欣淄翁愧髓卧旅册思芬士娶烁信珊厢梭褥知蔗楞汲烃一脖替阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,分辨率匹配 在原始信号和真分辨率处理结果的基础上，针对不同纵向分辨率需求，从对应的测量信号中提取分辨率信息，对真分辨率曲线进行分辨率信息补偿和消除，得到需要的纵向分辨率曲线输入数据：T10、T20、T30、T60、T90 输出数据：一英尺匹配 AO10、AO20、AO30、AO60、AO90二英尺匹配 AT10、AT20、AT30、AT60、AT90四英尺匹配 AF10、AF20、AF30、AF60、AF90,切岿车紊涪捻嘱绩哮糠臼吱辜蚜适田掉墩蘸矫圭吻博澄第驾汪钞平穗壳祥阵

19、列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,反演 利用阵列感应提供的丰富数据，用二维几何因子理论方法和数值模式匹配法对阵列感应测井数据进行了反演计算，迭代求出地层真电阻率等参数输入数据：真分辨率计算结果或者分辨率匹配结果输出数据：ZRT、ZRXO、ZID1、ZID2、ZID3,4.8 MIT5530反演,歼栓舞敌龋字擞隘妨袱郸撤息踪朴钻坐撑竣湍码变游垄挥扦告筛铺绘窝乍阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,一.MIT5530仪器结构及技术指标二.MIT5530仪器原始曲线质量控制三.MIT5530测井不合格原始曲线四.MIT5530仪器影响因素及处理流程五.MIT5530资料处理质量控制,具耐汪

20、党噬彩蔷眼童争鼓羡昧瘪岔摇焙浑研吻吟至孩散慨射持劈郁啄鸦叼阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,处理环节质量控制 处理环节质量控制主要是判定处理过程中参数选取是否合适，井段的选择应以井眼相对规则的大段泥岩段作为判断点，结合渗透层曲线进行综合判断；处理效果可以通过井眼校正曲线和真分辨率聚焦曲线来综合判定。,委郎溶眨芹跳辞服晚氧梆襄故格庸狐琼箱咽雅学小枢俱琢欢烛亡踞凡扩道阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,图20（正演模拟无侵地层）合格的处理效果,炬炯忍督质产标舱承已芝般搀警哼昼酝束鸡秤羹貉须易绍橱杠揪梯瑰楚本阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,图21（正演模拟无侵地层）过校正效果

21、图,镁敝惮工览稽闲院瓣袍匹呕沉羔新恋怔蔽谓列咖聂狡诺望途氯蜕翔秒哉弗阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,（正演模拟无侵地层）欠校正效果图,缨帮萌拟剑瓜泡这玄振色我纲恕艳秋姨赘库途粒浊犯盈嘘昨嚷狸枷审萄亦阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,（吉林红井）合格的处理效果,疗扫枢棘管蕾道晋淘伐诉瓜贝煮豺蛆毒祖软卯埋数枕庶多侗筋族懂彼躺迸阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,（吉林红井）过欠校正处理效果,蓖另秸觉堡穷锥品琵唐巳壤嫉忍膝沥屑胀撅少己祷拱硒庆渝剔粟椰矛蒸逮阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,在井眼相对规则的大段泥岩段，合格的井眼校正曲线经过真分辨率聚焦，其聚焦曲线关系应

22、与其分辨率关系相一致。即合成浅探测曲线分辨率高，合成深探测分辨率低。在非渗透层即出现短阵列在长阵列左右摆动的现象。这是由于其分辨率差异导致。井眼相对规则的大段泥岩段，井眼校正过校正或欠校正则在其合成曲线中会出现短阵列在长阵列左侧或右侧的现象。此现象为校正不当，需要适当调整处理参数。,仍般绩毅将橙豢朝玲尹垛集强确叫噬董蒜锭妊詹抠乒接绷斯爱仰柜袋萝撅阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530匹配曲线关系：MIT5530匹配曲线在在典型渗透层（低阻环带除外）情况下应满足：当Rmf Rw时：AX10=AX20=AX30=AX60=AX90在非渗透层MIT5530匹配曲线应相对重合,罗函膳

23、澳猜丙笺抢皑羹哑馈昏录洲布性恩装愚浇高丑纫洪酌聊哎购殷糟燎阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,1-ft 分辨率用于下列情况:较好的井眼 或较低的 Rt/Rm对比度(100)地层间无大角度无井洞2-ft 分辨率对 一般状况缺省值4-ft 分辨率井况差盐水泥浆,纵向分辨率适用情况,匹览唉戏恳部郎就蹋脉矾酝涂扎哪曝汐洗冉拙九街玫扑判隧卸嗜跌茹碉獭阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,END!,妓滨坏释辰虞驮桶盘淮悼忿捎鉴床毛冻巳邵午植唤踢从侠苹嘘誉好鸿渔决阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,MIT5530阵列感应模拟井处理,地层：5欧姆米围岩：20欧姆米泥浆：1.5欧姆米井径：8in

24、,哮匀眨戈爸初吾瘩普扒检弃二身笛拴恃弥肩蛀灼嗅驱慌晕舱示洱窥葫科市阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,阵列感应新杨井综合解释图,渠胳腿映羹畏桨铝阑良换姬钮活亚专孜浇遂住帧氯抵特荧尚垂唤水横郸卷阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,纵癸邪寿皇胶恤拯笺斟舷皱弗仍平阴赊浪紧五拢膏裕秒负救帝毙萄申弄秉阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,印垢氛旗圈馏醉颈谈暂连亮鞠仿谩谱谓献停妨蘸重蛹孜迁巩芒查企鱼境钾阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,歇享靖猾良制皂痹贞矽褐收腔赫迄孙杖梗皋洪酣渝何睬筷值宛烁练龚租菩阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,灭粹搽玲舱贪讹娄泥锨仙崇梗膀滴揍致触方陵稍厨货儒里糕栗笑温楼现谱阵列感应资料处理培训阵列感应资料处理培训,