SAMPLEM 软件使用说明v1.docx

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1、SABPLE1 for lacF lie Edit Aljoutf El&m.Mq le Rat? 、Elem.1CuILI2n 0123m o1340F o14J侣s !L16117LI8118L919CharMaximum Number of El&meritsElements： and omppsitions2010Rati口CalculateWeight for pawder ;feampleCU*： RMU1 =37.87. RMU2=288.9CE： RMU1=284.87；31 n RMU1 =149.0785 0： RM U1 =8.015159RMU=10200.88RMft

2、S=90.6S26RMUA=130.0809RMUB=1124899衅* CoiriD leted *Remark fW冬a triplePrint以 Cu01Ce01Ti08O2 为例，1 . 在左侧填入元素及相应摩尔比；并选中吸收原子，见黑色框中的绿色点;2 .在右侧选中进行实验的吸收边；见红色框3, 在右侧选中样品类型（未知密度、需求称重压片选powder，适用于通常的 压片实验，已知密度、需求合适厚度选solution，适用于液体或薄膜样品）；以上图powder为例，填入鸦片选用模具的直径（10mm），也可以在在optional 中填入预期或已知的数量（powder为质量，soluti

3、on为mm，设定值反应在 左侧下方results下的最后两行中）见红色框4. 点击calculate得到结果，见左下土色框结果说明：前两行不知道什么意思，欢迎大家补充；第三行：固定跳高（Delta muT前后吸收系数差值）为1的计算结果；XAFS 实验透射模式要求跳高在（0.8-1.2内为最优）；以当前样品为例；此时压片需 要的样品量为44.648mg；如何利用SAMPLEM软件协助判定XAFS实验时，样品做透射或是荧光：可以从第三行得到一定的提示，观察High MuT可以看到此时的值为7.395代表 入射X射线经过样品后光强衰减为原有光强的EA（-7.395）约等于6X10A-4;透射模式下

4、，通常前电离室会吸收20%的光，后电离室吸收的光强为入射光强 *80%*High MuT，由于电离室探测得到的光强信号为弱电流信号，通过外部的弱 电流放大器将电流放大后读出；通常入射光强引起的电流在无样品时可以达到 10-6（BSRF），弱电流放大器有最大放大倍数的限制，目前BSRF推荐使用最大为 109,其线性工作区，在1-10之间，即电流信号不能低于10-9；也就意味着样品 对光强的吸收不能大于103以上，转换为e指数即为8 （以衰减3000倍计算）， 因此可以看到该样品要达到跳高为1时处在一个比较尴尬的情况，此时可以在右 侧红色框中，weight optional选项中，根据大概的比例设

5、定估算的值，看设定样 品重量下，此时的理论跳高；红色框中，设定值为25mg，40mg；分别对应0.56, 0.9的跳高；透射跳高的要 求为08-12,可以放松到0.6-1.2；因此该样品建议调整至跳高为0.6-0.7之间（通 过改变optional设定值得到）；以下几种情况时，建议采用荧光：情况1当将跳高调整至0.5，而此时High MuT仍然大于8,建议采用荧光模式； 情况2 （少见）：设定直径10mm时当样品量超过100mg，而跳高无法达到0.5, 且High MuT也远小于8时，建议采用荧光模式；（在此仅以BSRF为例；在其他光源时，请咨询线站人员，确定常规电离室放大 倍数与最大放大倍数

6、;）透射比荧光信号好，因此如果可以做透射优先透射；下载地址：http:/pfwww.kek.jp/nitani/xafsZsoftware.html； 请勿用于商业;还有问题请截图发email给*.cn以下有几个实际计算的例子:例1高浓度样品说明：此种情况通常采用抹胶带，或样品量少时进行压片;例2低浓度样品说明，此类样品为低浓度样品，建议采用荧光法，进行压片即可，(60-100mg)例3高背底样品说明：此类样品从浓度上说在5%以上，但由于其他元素造成的高背底造成实验 困难，根据HighMuT判定是透射还是荧光；例4薄膜样品说明：薄膜样品通常其厚度已知，密度已知；可以利用solution计算模式，来判 定透射或荧光；如例4,可以看到需要33um才可以进行透射，按0.6计算，也 需要20um才能得到较好的EXAFS数据；当薄膜厚度仅有20nm时可以估算跳高 为 0.0006；例5溶液样品说明：1mol/L的cucl2溶液，通过计算我们可以看到，该溶液应该进行透射实验， 样品池厚度，需要控制在0.65mm厚度；