(完整版)多晶硅生产工艺学.docx
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1、多晶硅生产工艺学绪论一、硅材料的发展概况 半导体材料是电子技术的基础,早在十九世纪末,人们就发 现了半导体材料,而真正实用还是从二十世纪四十年代开始的, 五十年代以后锗为主,由于锗晶体管大量生产、应用,促进了半 导体工业的出现,到了六十年代,硅成为主要应用的半导体材料, 到七十年代随着激光、发光、微波、红外技术的发展,一些化合 物半导体和混晶半导体材料:如砷化镓、硫化镉、碳化硅、镓铝 砷的应用有所发展。一些非晶态半导休和有机半导休材料(如萘、 蒽、以及金属衍生物等)在一定范围内也有其半导休特性,也开 始得到了应用。半导休材料硅的生产历史是比较年青的,约 30 年。美国是从19491951年从事
2、半导体硅的制取研究和生产的。几年后其产量 就翻了几翻,日本、西德、捷克斯洛伐克,丹麦等国家的生产量 也相当可观的。从多晶硅产量来看,就 79 年来说,美国产量 1620 1670 吨 日本 420440 吨。西德 700 800 吨。预计到 85 年美国的产量将 达到 2700 吨、日本 1040 吨、西德瓦克化学电子有限公司的产量 将达到 3000 吨。我国多晶硅生产比较分散, 真正生产由 58 年有色金属研究院 开始研究, 65 年投入生产。从产量来说是由少到多,到七七年产 量仅达7080吨,预计到85年达到300吨左右。二、硅的应用 半导体材料之所以被广泛利用的原因是:耐高压、硅器件体
3、积小,效率高,寿命长,及可靠性好等优点,为此硅材料越来越 多地应用在半导体器件上。硅的用途:1、作电子整流器和可控硅整流器,用于电气铁道机床,电解食 盐,有色金属电解、各种机床的控制部分、汽车等整流设备上, 用以代替直流发电机组,水银整流器等设备。2、硅二极管,用于电气测定仪器,电子计算机装置,微波通讯装 置等。3、晶体管及集成电路,用于各种无线电装置,自动电话交换台, 自动控制系统,电视摄相机的接收机,计测仪器髟来代替真空管, 在各种无线电设备作为放大器和振荡器。4、太阳能电池,以单晶硅做成的太阳能电池,可以直接将太阳能 转变为电能。三、提高多晶硅质量的措施和途径: 为了满足器件的要求,硅材
4、料的质量好坏,直接关系到晶体 管的合格率与电学性能, 随着大规模集成电路和 MOS 集成电路的 发展而获得电路的高可靠性,适应性。因此对半导体材料硅的要 求越来越高。1、提高多晶硅产品质量的措施: 在生产过程中,主要矛盾是如何稳定产品的质量问题,搞好 工艺卫生是一项最重要的操作技术,在生产实践中要树立 “超纯 ” 观念,养成严格的工艺卫生操作习惯,注意操作者,操作环境及 设备材料等方面夺产品的污染和影响,操作环境最好有洁净室。 洁净室一般分为三级,它是以 0。 5U 以上和 5U 以下的粒子在单 位容积中的个数来分级的。a 、100 级,平均每单位体积(立方英尺) (1 英尺 =30。 48c
5、m)中以0。5U以上大小粒子,不超过100个,5U以上的粒子全 部没有。b 、10000 级:平均单位体积(立方英尺)中,0。 5U 以上的大小粒子个数不超过 10000个, 5U 以上的粒子在 65个以小。c 、100000 级:平均单位体积中 0。 5U 以上的大小粒子不超过 100000 个, 5U 以上的粒子在 700 个以小。2、提高原料纯度: 决定产品质量的因素很多,其中原料,中间化合物如硅铁、 液氯、氢气、三氯氢硅等的杂质的存在,对产品的质量好坏是起 决定性的因素。 (原料纯度越高,在制备过程中尽量减少沾污,就 能制得高质量的多品硅。 )因此,在制备过程中尽量减少杂质的沾 污,提
6、高原料有纯度。3、强化精馏效果: 在工业生产中,原料的提纯几乎成为提高产品纯度的唯一手 段。精馏法是化学提纯领域的重点,如何提高精馏效果和改进精 馏设备,乃是精馏提纯的中心课题,近年来发展了加压精馏,固 体吸附等化学提纯方法。采用加压精馏右明显降低三氯氢硅中磷的含量、络合提纯效 果明显,鉴于络合剂的提纯及经济效果尚未很好的解决,因此至 今未能投入大规模生产之中。在改进精馏设备方面,国内外也作了相当研究,为了强化汽、 液传热、传质的效果,采用高效率的塔板结构如浮动塔板,柱孔 式塔板的精馏塔等。为了减少设备材质对产品的沾污,采用含钼 低磷不锈钢塔内壁喷涂或内衬 F46及氟塑料材质,最近我国以 采用
7、了耐腐蚀性能更好的镍基合金,来提高产品质量。4、氢还原过程的改进及发展趋势:在三氯氢硅氢还原中,用优质多晶硅细棒作沉积硅的载体, 这对提高多晶硅的质量有很重要的作用。采用钯管或钯膜净化器获得高纯氢,除去其中的水和其它有 害杂质,降低多晶硅中氧含量和其它杂质含量。为了防止在还原过程中引进杂质而沾污产品,采用含钼低磷 不锈钢或镍基合金不锈钢,或炉内设置石英钟罩来防止不锈钢对 产品的沾污。5、加强分析手段提高分析灵敏度:为了保证多晶桂的质量,就必须要保证原料的纯度,就得要 加强化学、物理的分析检测,一般采用光普、极普、质普和气相 色普等分析手段进行检测。随着原料纯度的提高,分析检测的灵 敏度也要相应
8、地提高。如何了解高纯物质的纯度呢?高纯物质的纯度常用主体物质 占总物料的重量的百分数来表示。如99。 999%的高纯三氯氢硅,就是每单位重量物质中占三氯氢硅99。999%,在分析过程中,是从物料中取出小量的物料来测定其中的杂质含量,因此高纯物质 的纯度可用下式来表示:纯度 =试料重量杂质的重量 /试料重量X100%在分析中,同一物质硅中若要求分析的杂质越多,相对分析 检出来的杂质元素越少,其纯度就越高。 表示纯度的方法形式不外乎下列几种:a 、重量百分含量:纯度=(体积X比重-杂质重量)/体积x比重X100%b、ppm=10-4%=1/1000000(可以是重量比也可以是体积比 )百万分之一。
9、c、ppb=10-7%=1/1000000000(十亿万分之一)d、ppba 是用杂质原子数与主体原子数的比来表示纯度的。四、硅的物理化学性质;1 、硅的物理性质: 硅是周期表中的四族元素,在自然界中含量非常丰富,仅次于氧而居二位。由于硅氧键很稳定,在自然界中硅无自由状态, 主要以 SiO2 及硅酸盐的形式存在。硅有结晶型和无定型两种,结晶硅是一种有灰色金属光泽的 晶体,与金刚石具有类似的晶格,性质硬而脆,有微弱的导电性,属于半导体,硅的固有物理性质。见表1表1硅的物理性质性质数量性质数量原子量28.080本征载流子浓度1.5 010 cm 2/伏秒原子密度5.0 1022 原子 /cm 3硅
10、单晶本征电阻率230000O- cm密度2.33 克/cm 3界电常数11.7 .2结构检查金刚石型晶格沸点3145 C晶格常数5.42A熔点14164C禁带宽度1.115 .008eV临界温度4920 C电子迁移率1350 00 cm 2/伏秒比热(18100C)0.186卡/克度比热0.219卡/克度表面张力720达因/厘米烝发热71千卡/克分子硬度7.0莫氏硬度升华热(18+2) 03焦耳/克折射率3.420熔解热12.1千卡/克分子凝固时的膨胀10%熔融潜热425 64 卡/克线型热胀系数(2.6 .3 )0-6/C热传导率卡/秒厘米粉1450大气压临界压力空穴迁移率480 15cm2
11、/伏秒2.硅的化学性质:硅一般呈四价状态,其正电性较金属低,在某些硅化合物中 硅呈阴离子状态,硅的许多化合物及在许多化学反应中的行为与 磷很相似。硅极易与卤素化合,生成 SiX4型的化合物,硅在红热温度下 与氧反应生成SiO2,在1000 C以上与氮反应,生成氮化硅。晶体硅的化学性质很不活泼,在常温下很稳定,不溶于所有 的酸(包括氢氟酸在内)。但能溶于HNO3HF的混合溶液中。其 反应如下:Si+4HNO3 SQ2+4NO2T +2HOSiO2+6HiH 2SiFo+2H2O综合反应式为Si+4HNO3+6HF=H 2SiF6+4NO2+4H 2O硅和烧碱反应则生成偏硅酸钠和氢。Si+2NaO
12、H+H 2S Na 2SQ3+2H2 T硅在高温下,化学活泼性大大增加。硅和熔融的金属如Mg、Cu、Fe、N2等化合形成硅化物。第一章 气体的净化1-1 常用气体及气体净化的意义在半导体材料中,最常用的气体是氢气、氮气、氩气。制备半导体材料生产过程中,材料的质量好坏,取决于气体净化的好坏,是一个重要的因素。而硅材料生产中常常用气体作为载流气体及利用氢气做还原剂,不公需要的量大,而且对气体的纯度要求也越来越高,在多晶硅生产中一般要求气体的纯度在99。999%以上。其中含氧量要小于 5ppm,水的露点要低于-50C 以下,(39ppm),硅外延生长对气体纯度的要求更高。目前工业气体的纯度都有比较低
13、,杂质含水量量较高,中很 多工厂生产的氢气几乎都是用电解水的方法,其纯正度一般只有 98%,还有 2%的杂质如水、氧、二氧化碳、一氧化碳等杂质。这 些杂质的存在对多、单晶硅及外延影响很大,某些分析证明,氢 气中含氧大于20ppm,水的露点大于-30C时,在硅棒的生长方向 (径向)上生成了数量不等的分层结构,即多晶硅夹层现象,严 重者用肉眼可以直接从硅棒的横断面上看到一圈一圈的象树木生 长“年轮 ”一样的明显图像,这些夹层的存在对单晶硅的生长带来 大的影响, 在真空条件下生长单晶硅时, 会造成熔融硅从熔区 (或 坩埚)中溅出,轻者有 “火焰”一样往外冒花(即所谓的 “放花”现象) , 严重者会崩
14、坏加热线圈(或加热器和石英坩埚) ,甚至造成生产无 法进行下去(这些现象称为硅跳现象) ,而一般常见现象为熔区表 面(或熔体表面)浮渣很多,致使多次引晶不成等等。对硅外延层的影响,当氢气中含氧量为 75ppm时,生长出质 地低劣的多坑外延层。而氢中含水量在100ppm时(即露点-42 C), 将使外延层生长多晶材料。氢中含有CO2、CO时使衬底氧化,硅在氧化的衬底上沉积生长成 多晶硅。在硅材料生产中,常用氮气和氩气作保护气体或载流气体。其工业气体的纯度比较低,这些气体中的的杂质存在,同样会造 成硅材料的氧化。由上所述,气体的净化对于提高半导体材料的质量是有着十分重要的意义的。1-2常用气体的种
15、类及简单性质气体的种类及简单性质在半导体工业中,常用的气体有氢气、氮气、氩气等。其简单性质见表2表2几种常用气体的简单性质气分分子在0C及比重在0 C及760mm温密度体子量760mm(对760mmHg柱下度Kg/I名式Hg下的空气)Hg的克的沸点称密度g/l分子体积氢气H22.0160.08990.0695222.43-252.7-2520.0709氮N228.011.25070.967322.3-196-190.808气66氩Ar39.941.7841.379922.39-185.7-181.402气245氧O232.001.4291.105322.39-183.-181.14气3.空02
16、8.951.293122.66-192*-190.86气-195*2*空气的冷凝温度*组成相同的液态空气的沸点常用气体中,氢气是最常用的气体之一。在自然界中,主要 以化合物状态存在,是一种无色无嗅的气体,在元素周期表中排 第一位,比一切元素轻,能被金属吸收,透过炽热的铁、铂等。 在240 C时能透过钯,常温下能透过带孔和橡皮而放出, 还能透过 过玻璃;在镍、钯和铂内溶解度大,一个体积的钯能溶解几百体 积的氢气,具有较大的扩散速度和很高的导热性。氢气能自然,但不助燃,在高温时能燃烧,易爆炸,遇火或700 C高温时产生爆炸,产生大量的热。、氢气的制备制取氢气的方法较多,一般用电解水和电解食盐水来制
17、得氢气,用此两种方法所得的氢气其杂质含量各不相同。详见表3、表4。表3电解水制得的氢中杂质含量杂质种类H2O02CO2N2Ar2CH4杂质含过饱和0.5%51017046711量ppm2600表4电解食盐水制得的氢中杂质含量杂质种类H2O02CO2COC12BPAs杂质过饱0.5%0.6%100.080.42.240.56含量和20ppm从3、4表看出电解水水制得的氢其杂质含量少。三、气瓶的存放及安全使用1、气瓶标记:为了安全的使用和更快的识别气体,对于不同的气体,所用气瓶的类型及瓶的输气管道的标记也不同。其规定如表5。表5几种气体的气瓶类型及气瓶管道标记气体名称气瓶及输气管道颜字样字样颜色线
18、条颜色气颜类型色氢气深绿氢红/甲氮气里八、氮黄棕甲工业氩气里八、工业氩天兰白甲高纯氩气灰纯氩灰白甲氧气天兰氧黑省/甲空气里八、空气白/甲一氧化碳里八、一氧化碳黄/乙2、 气瓶的存放及安全使用对于装有相互接触时能够引起燃烧或爆炸的气体(如氢、氧 气瓶),必须分别存放在单独房间内;严禁在存放气瓶附近处堆放 易燃物及使用明火,在夏季时,不应将气瓶放在日光下曝晒。室 内温度不宜太高,应定时的排风。在堆放气瓶时不应有大的振动。使用气瓶之前,必须装好氢气表(或氧气表),使气体通过表 而输送到使用地方;气瓶嘴上不应沾染油脂;在开关气瓶时人应 站在氢气表的侧面,瓶内气体不应用完,乖余气体的压力应保持 在 0.
19、55Kg/cm2。氢气与其它气体按一定比例混合将发生爆炸。爆炸极限如表6。表6氢气的爆炸极限爆炸极限空气氧气一氧化碳一氧化氮氯气下限4.5%4%52%13.5%87%上限75%95%80%4.9%5%*数据均为氢气体积百分比从表看出,氢气是一易燃爆气体,因此在使用时应注意以下 几点:a、氢气瓶与氧气瓶分开存放,更不能混用。b、使用设备与氢气之间须安装回火装置。c、通氢气前,先用保护气体(如氮气、氩气)赶净设备中的空 气,并检查是否漏气,不漏气时方能通入氢气。d、当操作完毕时,应先通保护气体,后关闭氢气,当设备中的 氢气赶净后关闭保护气体。1-3气体净化的基本常识一、气体净化的基本常识由于气体杂
20、质的存在,对半导体材料的危害也是很大的,为 了得到高质量的多晶硅和单晶硅,因此在使用气体前必须将气体 进行净化。净化的方法很多,在气体净化技术中,经常综合地运 用以下几个方面的知识。1、 用吸湿性液体干燥剂(液碱、硫酸等),进行吸收。2、 用固体干燥剂:KOH、CuS04、CaCl2过氯酸镁等进行化学吸收。 用硅胶、分子筛等进行物理吸收。3、用催化剂(105分子筛等)进行化学催化。4、用冷媒或冷剂(液态氮等)进行低温冷冻。二、吸收 吸收多指被吸收的物质从气相转入液相,以物理溶解于液体 中或与气体起化学反应。某些化工厂在氢气净化中,常采用液碱或硫酸作为吸湿性液体,液碱用于吸收酸性气体如:C02、
21、CO、Cl2,硫酸用于吸收水分。如:Na2CO3+CO2+H2S 2NaHCO 3Na2CO3+H2S NaHs+NaHCONaOH+CO2+H2O Na2CO3+2H2OH2SO4+H2OH 2SO4 H2O+Q从反应式可以看出硫酸的吸收能力很强,吸附过程中放出大 量的热,所以用硫酸吸收氢气中的水是不合适的。因为硫酸不仅 严重的腐蚀管道,同时挥发出的 SO2 而增加气体的杂质,这种含 S 杂质的存在会造成物理吸附剂中毒的现象。三、吸附:1、吸附现象 吸附一般是指较稀疏的物质被吸附剂(多半为固体)的表面 所吸收的现象,吸附一般为放热过程,该热量称为吸附热。什么叫吸附呢?在某些物质的接口上从周围
22、介质中把能够降 低接口张力的物质自动地聚集到自己的表面上来,使得这种物质 在相表面上的浓度大于相内部的浓度,叫做吸附。如何解释吸附现象呢?固体表面的原子和固体内部原子的处境不同,内部原子所受的力是对称的,表面所受的力是不对称的, 表面上的力是不饱和的,因而有乖余力,气体分子碰撞固体表面 时,受到这种力的影响而停止,就产生吸附。2、吸附的种类气体吸附的种类概括起来, 不外乎物理吸附和化学吸附两种。 a 、物理吸附,是无选择性的吸附,任何固体都有可能吸附 气体,吸附量会因吸附剂及被吸附的物质的种类的不同相差很多, 易于液化的气体易被吸附,吸附可以是单分子层或多分子层的, 脱附也较容易。吸附热与液化
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