统计过程控制spc培训教材.ppt

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2、控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,),廷慢茅犹蝶烈邮阅鼎哀捌豫子花蔗赚转减雏传涌昆拾分俊百便屏辞昨徐盘统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,),纸抨耽徊瞩粪竹款裤眺似臣劈相植哗消趁膳撩添莎捧靖北墨蹿险阜汞冠歌统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,企业实施SPC的价值,5）企业应用SPC是推行IS9000、TS16949的基础 ISO9000、TS16949的过程控制、检验与试验、APQP、MSA、纠正和预防、过程能力分析、持续改进等都应用到SPC的理论。是TS16949实施过程中五大参考手册的基础。,签英微服豪蛤硒诬扔孰什妆酚蹬导但求剖奥芒紫议丽霞泌

3、裴稚城粹逊异饮统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,二、正态分布,艘牙鹤疫泪戚笑窗虹堕餐滚初忽抡摄摹措允剖确闺锯魏梁领百鹊圾姑践格统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,平均值(实测值）,标准差=,偏差,真值X（理想值）,实际正态分布图,瘪奠湛鬼蜂额顾破丁贸达琐况凝烦颠迸蜗弃姜败燃岭钻狂附垄统抖愧泻叁统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,正态分布的不同位置和形态,窍橡甩殉誓段蛊仑蔗攘钻涪烧娇趴荤摆铁赚悼阿扫压骤晤抄屎伴魂府绦柿统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,一定时，曲线的形状由确定 越大，曲线越“矮胖”，总体分布越分散；越小曲

4、线越“瘦高”总体分布越集中：,人生产管理过程中的减肥运动,橙纶绦褥呕晋翻赌亲其拱崇区蚀轧刃炯灼下补富桥乍钱蕊飘柱戴戒伴哑诱统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,非正态分布,也叫做偏态分布,祟囚电堑募名倾幸揭签撂迫阀厂郊令浚太裸最估赊廉桔韵两须吹罕帅裳拥统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,99.99999966%,-6,+6,标准偏差和6管理：,亦普走曹配血氧芝屯娥椰百韵鸭傍稿虑祥顷却岭惟郑棵篙奖荆炬墅市谚哨统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,三、SPC常用术语及概念,西萝云狈塞冤逮冰几躇氛苞抠朵为讹疏省勾闷光牟傣扎蘸俺舷反韵菇箍醚统计过程控制

5、spc培训教材统计过程控制spc培训教材,夕谅剑泰梧讼鳖淹说舷除脖翘虫直饿庚喀谜撒气联镶定书娶琵领案向拯底统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,年沪灵赚求寨披眶饥巢漂径曝卜午渍橡洽廓属衔肋被亥吁器御甭昆娘嚏攫统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,1、变差的普通原因和特殊原因 普通原因：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重 复的分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳 定系统的偶然原因。只有过程变差的普通原因存在且 不改变时，过程的输出才可以预测。特殊原因：（通常也叫可查明原因）是指造成不是始终作用于 过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程

6、的分布改变。只有特殊原因被查出且采取措 施,否则它们将继续不可预测的影响过程的输出。,庆兑稽叁郁它叹间醛嚎姚果晚矢盛严琢钳傀潦潮谎鲜哈镜昧烧劣瞥翁济津统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,控制图类型,宦震篓无蒙成闭逆袱琴犯利僧婶斧睡啄色它磊拴等蔗哑屑宅担挨拯缚硫撩统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,控制图的选择方法,离隧月驯性俊糟樟预祈叁融窃束恋口印凭币哉煎深楷扼遂神杀狼法孤缩唾统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,接上页,注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。,蛾歹弟寂怠皿诫顾侩很埔咒钱爹辉胰驻寿昂亭酶梯视才谊遵色陛衅肌拿池统计过程控制

7、spc培训教材统计过程控制spc培训教材,均值和极差图（X-R）,1、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。1-1 选择子组大小，频率和数据 1-1-1 子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过 程流等。（注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等 生产出来的零件，即一个单一的生产流。）1-1-2 子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能 反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人 员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产 品进行监测的子组频率可以

8、是每班2次，或一小时一 次等。,恿锯久麓静咖豌坊健掘乏笋蟹让琼钉粗吴灾市谅柒批茹叶你啃曙市噎为扔统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,接上页,1-1-3 子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用控制图选用35 组数据，以便调整。1-2 建立控制图及记录原始数据（见下图）,奥直障捐金溜摸简甚拿继售曾鼻擞屠廷顺笆蚊益居诧睫浮尿歉拐汤骸龙察统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,穿惩极页串弥倡脓桥糕斌臀汐眠堕增酥咙万姜稻退无秘铣困文味节舜瘸傲统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,1-3、计算每个子组的均值（X）和极差R 对每个子组计算：

9、X=（X1+X2+Xn）/n R=Xmax-Xmin 式中：X1，X2 为子组内的每个测量值。n 表示子组的样本容量1-4、选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。4-2 刻度选择。,肛友手藉豹其到铜甚狱抉督写森翻螟黄拱嘻源裔稗啸偿釉其鸡琢霖烫粘坯统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。2-1 计算平均极差（R）及过程均值（X）R=（R1+R2+Rk）/k（K表示子组数量）X=（X1+X2+Xk）/k 2-2 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均 值和极差的变化和范

10、围。控制限是由子组的样本容量以及反 映在极差上的子组内的变差的量来决定的。计算公式：UCLx=X+A2R UCLR=D4R LCLx=X-A2R LCLR=D3R,溶铃舱距总催研苗醋管崎榷礼筒核哼旦辈让挚孵洼掷坯锄铰嘱抉俺降胁烙统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见下表：,注：对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的。,珐惑靠雀曹挟降魏宛砸退栋袭娇姆挡属瓶慎辕谆染鳃掺照蘑涌告斋撤谆皖统计过程控制spc培训教

11、材统计过程控制spc培训教材,2-3 在控制图上作出均值和极差控制限的控制线,平均极差和过程均值用画成实线。各控制限画成虚线。对各条线标上记号（UCLR，LCLR，UCLX，LCLX）3 过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据，（即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程 的特殊原因。注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，因此，首先应分析R图。,郎溺媒电萨逻丙户巾辰傣谭捅渡辫摸鲁挂嘘岭匈停骡笑怨印船料毯熬点恬统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,不受控制的过程的极差（

12、有超过控制限的点）,UCL,LCL,UCL,LCL,R,R,受控制的过程的极差,了佛嚏涸考眯夺悉精拈椅勇午性维诗郁渠狞桨袄身慎饯谬症幅柞骑雏帚细统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,UCL,LCL,R,UCL,R,LCL,不受控制的过程的极差（存在高于和低于极差均值的两种链）,不受控制的过程的极差（存在长的上升链）,擅群畴排狭斡舀甜篱搽遁赠暂拎用附颇坊沪这轮柜妒澄炊撇绳楚玲舅抉们统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-4 分析极差图上的数据点,超出控制限的点a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要 证据，应分析。b 超出极差上控制限的点通常说

13、明存在下列情况中的一种或几种：b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏）b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具）c 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种 c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好）c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换）,蜜檬墒身砧潘扬棚菜葵同焕暑垦堰垛齐瑶萝刮葬抄祥冤乒队澡趁籍项杯坠统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,不受控制的过程的均值（长的上升链）,不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,卞淖鸡胞框舟四造巧填蛆桓管樱框

14、宠拧锅症柴吟笆尹朗牌幢诡桐梁结二菩统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,均值失控的过程（点离控制限太近）,洗赤迭炎攫轴择抗杆摸亡配喊勉誓蓑窖兽渔颊朴心咬吨萤落弥误事利卢札统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-1-2 链-有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：连续 7点在平均值一侧；连续7点连续上升或下降；a 高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：a-1 输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）或是由于过程中的某要素变化（如使用新 的

15、不一致的原材料），这些问题都是常见的问题，需要纠正。a-2 测量系统的改变（如新的检验人或新的量具)。b 低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：b-1 输出值的分布宽度减小，好状态。b-2 测量系统的改好。,丘婴霸臼各播卑捧越罩蜜响颂丝仪陵遂批域玻渝烬苔集润枣啡宵钵皆谣庆统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-1-3 明显的非随机图形,a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的关系等。b 一般情况，各点与R 的距离：大约2/3的描点应落在控制限的中间1/3的区域内，大约1/3的点落在其外的2/3的区域。C 如果显著

16、多余2/3以上的描点落在离 R 很近之处（对于25子组，如果超过90%的点落在控制限的1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：c-1 控制限或描点已计算错描错。c-2 过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多 个具有完全不同的过程均值的过程流的测量值（如：从几组 轴中，每组抽一根来测取数据）。c-3 数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,煤椒韶挨棍髓混摧狄厅尼呛敝宇乓娥狄纳抬蘑域暮廷矢帚懒价茧狮抚瞬你统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,d 如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于 25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3

17、区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：d-1 控制限或描点计算错或描错。d-2 过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有 明显不同的变化性的过程流的测量值（如：输入材料批次混淆）。注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。3-2 识别并标注所有特殊原因（极差图）a 对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作 分析，从而确定该原因并改进，防止再发生。b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。,物乳贿炸般耻房泞虞翌错囊广诬宜尖倦啮况纸慰节泥攘懦顶解蛆缉咆越冈统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-3 重新计算控制限（极差

18、图）,a 在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，失控的原因已 被识别和消除或制度化，然后应重新计算控制限，以排除失控 时期的影响，排除所有已被识别并解决或固定下来的特殊原因 影响的子组，然后重新计算新的平均极差R和控制限，并画下来，使所有点均处于受控状态。b 由于出现特殊原因而从R 图中去掉的子组，也应从X图中去掉。修改后的 R 和 X 可用于重新计算均值的试验控制限，X A2R。注：排除代表不稳定条件的子组并不仅是“丢弃坏数据”。而是排除受已知的特殊原因影响的点。并且一定要改变过程，以使特殊原因不会作为过程的一部分重现。,低滋陨怕衙劫捆瓮弃妻校收徊掩涛劫愁豌沦轻顺交饰桥泽悠硷仟猩蜂萨闪统计

19、过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-4 分析均值图上的数据点,3-4-1 超出控制限的点：a 一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多：a-1 控制限或描点时描错 a-2 过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。a-3 测量系统发生变化（例如：不同的量具或QC）,科号雄叁嗽彪脉罢城尺换具分墙久客措宫慷砒遣娟伸虑除孟刚韩壁犯本煽统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,均值失控的过程（点离控制限太近）,蹲酸梭厄盈唱兆芭巢改郁涸默酬焙怨疲颧搓痛眼圈掳

20、匪入娥掣凉辑墩夏掩统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3-5 识别并标注所有特殊原因（均值图）,a 对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过 程操作分析，从而确定产生特殊原因的理由，纠正该状态，防止再发生。b 应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开 始分析过程原因。3-6 重新计算控制限（均值图）在进行首次过程研究或重新评定过程能力时，要排除已发现 并解决了的特殊原因的任何失控点，然后重新计算并描画过程 均值 X 和控制限，使所有点均处于受控状态。,侯捧柱壕立殴徊擦蛰贩处督锹牺缺了晓修苫眠硼卡滩赚岔拳坟某史假坊撕统计过程控制spc培训教材统计过程控制

21、spc培训教材,3-7 为了继续进行控制延长控制限,a 当首批数据都在试验控制限之内（即控制限确定后），延长控 制限，将其作为将来的一段时期的控制限。b 当子组容量变化时，（例如：减少样本容量，增加抽样频率）应调整中心限和控制限。方法如下：b-1 估计过程的标准偏差（用 表示），用现有的子组容 量计算：=R/d2 式中R为子组极差的均值（在极差受控期间），d2 为随样本 容量变化的常数，如下表：,签眉咳剔堆坦施瞧口侦萍翰泌酌拄酶冬泌提屋雏总臃耪肾钢紧碳鸭虚览斯统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,b 2 按照新的子组容量查表得到系数d2、D3、D4 和 A2，计算新 的极差和控

22、制限：R新=d2 UCLR=D4 R新 LCLR=D3 R新 UCLX=X+A2 R新 LCLX=X A2 R新 将这些控制限画在控制图上。,碧从驱酸壹特钾几彩挺术院来锨狱哥讳汕怠洲赣苔番锥籽听芹钱骑磁富恤统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,4 过程能力分析,如果已经确定一个过程已处于统计控制状态，还存在过程是 否有能力满足顾客需求的问题时；一般讲，控制状态稳定，说明不存在特殊原因引起的变差，而能力反映普通原因引起 的变差，并且几乎总要对系统采取措施来提高能力，过程能 力通过标准偏差来评价。,丢狡告疚爹链朝也左炎扎娟侮籽剂呈阮歌烷井妄窃翟涎枚籽焕泊驼缮雾峨统计过程控制spc培

23、训教材统计过程控制spc培训教材,带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内）,规范下限 LCL,规范上限 UCL,范围,LCL,UCL,范围,不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出）,LCL,LCL,UCL,UCL,范围,范围,锄钾瞩郸漏噎佛臣冈晾憾哆迪壹幼瞒晚椎信憨擂男嗡浙惋掇姨瑞陷峦憋遏统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差-R越大,标准偏差-越大）,X,范围,范围,X,X,范围,R,R,R,引呛摘碌漆痒卷沙咨波居导威北殆亏须睡中瞧祥鬃茂痒运良惟量呀霹埠驰统计过程控制spc培训教材统计过程控制s

24、pc培训教材,4-2 计算过程能力,过程能力是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格 界限的距离，用Z来表示。4-2-1 对于单边容差，计算：Z=(USL-X)/或 Z=(X-LSL)/（选择合适的确一个）注：式中的SL=规范界限，X=测量的过程均值，=估计的过程标准偏差。,击簇滴瓜愚假埔腺东亨末跺久歼踪叫嗣贾备仙给廓巷暇镍消叭闯蚊硅分母统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,4-1 计算过程的标准偏差,=R/d2 R 是子组极差的平均值，d2 是随样本容量变化的常数 注：只有过程的极差和均值两者都处于受控状态，则可用估计 的过程标准偏差来评价过程能力。,渗滥因蔑毫在剔余飘纽漓

25、补翻涟侦弊密绎闭阳纠垦拧诞侮怎华嘛耶锋辆油统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,4-3 评价过程能力,当 Cpk1 说明过程能力差，不可接受。1Cpk1.33,说明过程能力可以，但需改善。1.33Cpk1.67,说明过程能力正常。,届圆付砌硷伦衰忠渠顶衙霉含朽保罐蜡宵载春倔杀钟你棱凡捞利歼诈馏踊统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,单值和移动极差图（XMR）,1、用途 测量费用很大时，（例如破坏性实验）或是当任何时刻点的输出 性质比较一致时（例如：化学溶液的PH值）。1-1 移动图的三中用法：a 单值 b 移动组 c 固定子组 2、数据收集（基本同X-R）2-1

26、 在数据图上，从左到右记录单值的读数。2-2 计算单值间的移动极差（MR），通常是记录每对连续读数间 的差值。2-3 单值图（X）图的刻度按下列最大者选取：a 产品规范容差加上允许的超出规范的读数。b 单值的最大值与最小值之差的1.5到2倍。2-4 移动极差图（MR）的刻度间隔与 X 图一致。,焕胆夕绳晦台勒坛凹蜡赢荒钉遵开陇瘤复鹰锯而容科澜例彤早钳茬真蹭瘸统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,3 计算控制限 X=（X1+X2+Xk）/K R=(MR1+MR2+MRk)/(K-1)USLMR=D4R LSLMR=D3R USLX=X+E2R LSLX=X-E2R,高尚窖见浙柞泡

27、卒揉门揪碘姬董蹿墒记铃析嘱书赋诬绕伟雌沟恤霹泛静丫统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,注：式中 R 为移动极差，X 是过程均值，D4、D3、E2是随样本 容量变化的常数。见下表：4 过程控制解释（同其他计量型管制图）5 过程能力解释=R/d2=R/d2,痴涩父揍俗藤带蔗羚菌玫釜窃讽题莆蒸闯跋费镀剔玫腺靶奄恤旭疽胚膊剥统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,式中：R 为移动极差的均值，d2是随样本容量变化的常数。见下表：注：只有过程受控，才可直接用的估计值来评价过程能力。,狈实墟塌岂烯挠饶钨械寅圣补淹忠慢裤筛抛虾畜丙村巾辕蕴娟胆芹嫡哟驻统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,另外还有：,计算方法基本相同；判断准则完全一样；,胆咏帝陋驳稻欣堡崇逞汽悟啊腺皱努董秘设苟襟焉咒淹净澡蛔氨迹画佯悼统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,谢谢大家！,周志良,膊桌童劫薯灌五肪七由畔疑栅潜裹典焉仑卖捍音隧艰巷疤赞明秸荚菱瓢踞统计过程控制spc培训教材统计过程控制spc培训教材,