组合逻辑电路分析与设计实验报告.doc
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1、实验二 组合逻辑电路分析与设计一、 实验目的1.掌握组合逻辑电路的分析方法与测试方法;2.掌握组合逻辑电路的设计方法。二、实验预习要求1.熟悉门电路工作原理及相应的逻辑表达式;2.熟悉数字集成电路的引脚位置及引脚用途;3.预习组合逻辑电路的分析与设计步骤。三、实验原理通常,逻辑电路可分为组合逻辑电路和时序逻辑电路两大类。电路在任何时刻,输出状态只决定于同一时刻各输入状态的组合,而与先前的状态无关的逻辑电路称为组合逻辑电路。1组合逻辑电路的分析过程,一般分为如下三步进行:(1)由逻辑图写出输出端的逻辑表达式;(2)画出真值表;(3)根据对真值表进行分析,确定电路功能。2组合逻辑电路的一般设计过程
2、为图实验2.1所示。设计过程中,“最简”是指电路所用器件最少,器件的种类最少,而且器件之间的连线也最少。 实际逻辑问题真值表卡诺图化简最简逻辑表达式逻辑电路图逻辑代数化简逻辑抽象图实验2.1 组合逻辑电路设计方框图四、实验仪器设备1TPEAD实验箱(+5V电源,单脉冲源,连续脉冲源,逻辑电平开关,LED显示,面包板数码管等)1台;2 四两输入集成与非门74LS00 2片;3. 四两输入集成异或门74LS86 1片;4. 两四输入集成与非门74LS20 3片。五、实验内容及方法1分析、测试74LS00组成的半加器的逻辑功能。 (1)用74LS00组成半加器,如图实验2.2所示电路,写出逻辑表达式
3、并化简,验证逻辑关系。根据图实验2.2所示电路,可得出逻辑表达式为:进位:和:(2)列出真值表。真值表如下:ABSiCi+10000011010101101(3)分析、测试用异或门74LS86与74LS00组成的半加器的逻辑功能,自己画出电路,将测试结果填入自拟表格中,并验证逻辑关系。 图实验2.2 由与非门组成的半加器电路2分析、测试全加器电路,设计用74LS86和74LS00组成全加器电路,用异或门、与门和或门组成的全加器如图实验2.3所示,将测试结果填于真值表内,验证其逻辑关系。全加和: 进 位:图实验2.3 全加器电路图全加器真值表:AiBiCi-1Ci+1Si000000010101
4、00101110100011011011010111113设计:用“与非门”设计一个表决电路。当四个输入端中有3个或4个“1”时输出为“1”其步骤如下。(1) 写出真值表。表实验2.1 真值表输入输出输入输出ABCDZABCDZ00000100000001010010001001010000110101110100011000010101101101100111010111111111(2) 用卡诺图化简。10110100CDAB0001111111101化简后的逻辑函数表达式:Z = ABC + BCD + ACD + ABD(3) 写出逻辑表达式。Z=ABC+BCD+ACD+ABD(4)
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