钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级GB 11345 能源.doc
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1、GB 11345-89 钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果分级 Method for manual ultrasonic testing and classification of testing results for ferritic steel wdlds1 主题内容与适用范围本标准规定了检验焊缝及热影响区缺陷确定缺陷位置、尺寸和缺陷评定的一般方法及探伤结果的分级方法.本标准适用于母材厚度不小于 8mm 的铁素体类钢全焊透熔化焊对接焊缝脉冲反射法手工超声波检验.本标准不适用于铸钢及奥氏体不锈钢焊缝外径小于 159mm 的钢管对接焊缝内径小于等于 200mm 的管座角焊缝及外径小于 250
2、mm 和内外径之比小于 80的纵向焊缝.2 引用标准ZB Y 344 超声探伤用探头型号命名方法ZB Y 231 超声探伤用探头性能测试方法ZB Y 232 超声探伤用 1 号标准试块技术条件ZB J 04 001 A 型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法3 术语3.1 简化水平距离 l从探头前沿到缺陷在探伤面上测量的水平距离.3.2 缺陷指示长度l焊缝超声检验中按规定的测量方法以探头移动距离测得的缺陷长度.3.3 探头接触面宽度 W环缝检验时为探头宽度纵缝检验为探头长度见图 1.3.4 纵向缺陷大致上平行于焊缝走向的缺陷.3.5 横向缺陷大致上垂直于焊缝走向的缺陷.3.6 几何临界角 筒
3、形工件检验折射声束轴线与内壁相切时的折射角.3.7 平行扫查在斜角探伤中将探头置于焊缝及热影响区表面使声束指向焊缝方向并沿焊缝方向移动的扫查方法.3.8 斜平行扫查在斜角探伤中使探头与焊缝中心线成一角度平等于焊缝方向移动的扫查方法.3.9 探伤截面串列扫查探伤时作为探伤对象的截一般以焊缝坡口面为探伤截面见图 2.3.10 串列基准线串列扫查时作为一发一收两探头等间隔移动基准的线.一般设在离探伤截面距离为 0.5 跨距的位置见图 2.3.11 参考线探伤截面的位置焊后已被盖住所以施焊前应予先在探伤面上离焊缝坡口一定距离画出一标记线该线即为参考线将作为确定串列基准线的依据见图 3.3.12 横方形
4、串列扫查将发、收一组探头使其入射点对串列基准线经常保持等距离平行于焊缝移动的扫查方法见图 4.3.13 纵方形串列扫查将发、收一组探头使其入射点对串列基准线经常保持等距离垂直于焊缝移动的扫查方法见图 4.4 检验人员4.1 从事焊缝探伤的检验人员必须掌握超声波探伤的基础技术具有足够的焊缝超声波探伤经验并掌握一定的材料、焊接基础知识.4.2 焊缝超声检验人员应按有关规程或技术条件的规定经严格的培训和考核并持有相 考核组织颁发的等级资格证书从事相对应考核项目的检验工作.注:一般焊接检验专业考核项目分为板对接焊缝管件对接焊缝管座角焊缝节点焊缝等四种.4.3 超声检验人员的视力应每年检查一次校正视力不
5、得低于 1.0.5 探伤仪、探头及系统性能5.1 探伤仪使用 A 型显示脉冲反射式探伤仪其工作频率范围至少为 1-5MHz探伤仪应配备衰减器或增益控制器其精度为任意相邻 12dB 误差在1dB 内.步进级每档不大于 2dB 总调节量应大于 60dB水平线性误差不大于 1垂直线性误差不大于 5.5.2 探头5.2.1 探头应按 ZB Y344 标准的规定作出标志.5.2.2 晶片的有效面积不应超过 500mm2且任一边长不应大于 25mm.5.2.3 声束轴线水平偏离角应不大于 2.5.2.4 探头主声束垂直方向的偏离不应有明显的双峰其测试方法见 ZB Y231.5.2.5 斜探头的公称折射角
6、为 45、60、70或 K 值为 1.0、1.5、2.0、2.5折射角的实测值与公称值的偏差应不大于 2K 值偏差不应超过0.1前沿距离的偏差应不大于 1mm.如受工件几何形状或探伤面曲率等限制也可选用其他小角度的探头.5.2.6 当证明确能提高探测结果的准确性和可靠性或能够较好地解决一般检验时的困难而又确保结果的正确推荐采用聚焦等特种探头.5.3 系统性能5.3.1 灵敏度余量系统有效灵敏度必须大于评定灵敏度 10dB 以上.5.3.2 远场分辨力a.直探头:X30dBb.斜探头:Z6dB.5.4 探伤仪、探头及系统性能和周期检查5.4.1 探伤仪、探头及系统性能除灵敏度余量外均应按 ZB
7、J04 001 的规定方法进行测试.5.4.2 探伤仪的水平线性和垂直线性在设备首次使用及每隔 3 个月应检查一次.5.4.3 斜探头及系统性能在表 1 规定的时间内必须检查一次.6 试块6.1 标准试块的形状和尺寸见附录 A试块制造的技术要求应符合 ZB Y232 的规定该试块主要用于测定探伤仪、探头及系统性能.6.2 对比试块的形状和尺寸见附录 B.6.2.1 对比试块采用与被检验材料相同或声学性能相近的钢材制成.试块的探测面及侧面在以 2.5MHz 以上频率及高灵敏条件下进行检验时不得出现大于距探测面 20mm 处的 2mm 平底孔反射回来的回波幅度 1/4 的缺陷回波.6.2.2 试块
8、上的标准孔根据探伤需要可以采取其他形式布置或添加标准孔但应注意不应与试块端角和相邻标准孔的反射发生混淆.6.2.3 检验曲面工件时如探伤面曲率半径 R 小于等于 W2/4 时应采用与探伤面曲率相同的对比试块.反射体的布置可参照对比试块确定试块宽度应满足式1: b2 S/De 1式中 b-试块宽度mm-波长mmS-声程mDe-声源有效直径mm6.3 现场检验为校验灵敏度和时基线可以采用其他型式的等效试块.7 检验等级7.1 检验等级的分级根据质量要求检验等级分为 A、B、C 三级检验的完善程度 A 级最低B 级一般C 级最高检验工作的难度系数按 A、B、C 顺序逐级增高.应按照工件的材质、结构、
9、焊接方法、使用条件及承受载荷的不同合理的选用检验级别.检验等级应接产品技术条件和有关规定选择或经合同双方协商选定.注:A 级难度系数为 1B 级为 5-6C 级为 10-12.本标准给出了三个检验等级的检验条件为避免焊件的几何形状限制相应等级检验的有效性设计、工艺人员应考虑超声检验可行性的基础上进行结构设计和工艺安排.7.2 检验等级的检验范围7.2.1 A 级检验采用一种角度的探头在焊缝的单面单侧进行检验只对允许扫查到的焊缝截面进行探测.一般不要求作横向缺陷的检验.母材厚度大于 50Mm 时不得采用 A 级检验.7.2.2 B 级检验原则上采用一种角度探头在焊缝的单面双侧进行检验对整个焊缝截
10、面进行探测.母材厚度大于 100mm 时采用双面双侧检验.受几何条件的限制可在焊缝的双面半日侧采用两种角度探头进行探伤.条件允许时应作横向缺陷的检验.7.2.3 C 级检验至少要采用两种角度探头在焊缝的单面双侧进行检验.同时要作两个扫查方向和两种探头角度的横向缺陷检验.母材厚度大于 100mm 时采用双面侧检验.其他附加要求是:a.对接焊缝余高要磨平以便探头在焊缝上作平行扫查b.焊缝两侧斜探头扫查经过的母材部分要用直探头作检查c.焊缝母材厚度大于等于 100mm窄间隙焊缝母材厚度大于等于 40mm 时一般要增加串列式扫查扫查方法见附录 C.8 检验准备8.1 探伤面8.1.1 按不同检验等级要
11、求选择探伤面.推荐的探伤面如图 5 和表 2 所示.8.1.2 检验区域的宽度应是焊缝本身再加上焊缝两侧各相当于母材厚度 30的一段区域这个区域最小 10mm最大 20mm见图 6.8.1.3 探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他外部杂技.探伤表面应平整光滑便于探头的自由扫查其表面粗糙度不应超过 6.3m必要时应进行打磨:a.采用一次反射法或串列式扫查探伤时探头移动区应大于 1.25P: P2tg 2 或 P2K 3式中 P-跨距mm-母材厚度mmb.采用直射法探伤时探头移动区应大于 0.75P.8.1.4 去除余高的焊缝应将余高打磨到与邻近母材平齐.保留余高的焊缝如焊缝表面有咬边较大的
12、隆起凹陷等也应进行适当的修磨并作圆滑过渡以影响检验结果的评定.8.1.5 焊缝检验前应划好检验区段标记出检验区段编号.8.2 检验频率检验频率 f 一般在 2-5MHz 范围内选择推荐选用 2-2.5MHz 公称频率检验.特殊情况下可选用低于 2MHz 或高于 2.5MHz 的检验频率但必须保证系统灵敏度的要求.8.3 探头角度8.3.1 斜探头的折射角 或 K 值应依据材料厚度焊缝坡口型式及预期探测的主要缺陷来选择.对不同板厚推荐的探头角度和探头数量见表 2.8.3.2 串列式扫查推荐选用公称折射角为 45的两个探头两个探头实际折射角相差不应超过 2探头前洞长度相差应小于 2mm.为便于探测
13、厚焊缝坡口边缘未熔合缺陷亦可选用两个不同角度的探头但两个探头角度均应在 35-55范围内.8.4 耦合剂8.4.1 应选用适当的液体或糊状物作为耦合剂耦合剂应具有良好透声性和适宜流动性不应对材料和人体有作用同时应便于检验后清理.8.4.2 典型的耦合剂为水、机油、甘油和浆糊耦合剂中可加入适量的“润湿剂”或活性剂以便改善耦合性能.8.4.3 在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的耦合剂.8.5 母材的检查采用 C 级检验时斜探头扫查声束通过的母材区域应用直探头作检查以便探测是否有有探伤结果解释的分层性或其他缺陷存在.该项检查仅作记录不属于对母材的验收检验.母材检查的规程要点如下:a.方法:接触式
14、脉冲反射法采用频率 2-5MHz 的直探头晶片直径 10-25mmb.灵敏度:将无缺陷处二次底波调节为荧光屏满幅的 100c.记录:凡缺陷信号幅度超过荧光屏满幅 20的部位应在工件表面作出标记并予以记录.9 仪器调整和校验9.1 时基线扫描的调节荧光屏时基线刻度可按比例调节为代表缺陷的水平距离 l简化水平距离 l深度 h或声程 S见图 7.9.1.1 探伤面为平面时可在对比试块上进行时基线扫描调节扫描比例依据工件工和选用的探头角度来确定最大检验范围应调至荧光屏时基线满刻度的 2/3以上. 29.1.2 探伤面曲率半径 R 大于 W /4 时可在平面对比试块上或与探伤面曲率相近的曲面对比试块上进
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