MSA分析--最简单的教程解读课件.ppt
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2、调整制造过程,因此应用以数据为基础的方法的收益,很大程度上决定于所用测量数据的质量。测量数据质量是由在稳定条件下运行的某一测量系统得到的多次测量结果的统计特性确定。例如:假定用在稳定条件下运行的某测量系统,得到某一特性的多次测量数据。如果这些测量数据与这一特性的标准值都很“接近”,那么可以说这些测量数据的质量“高”,反之则认为“低”。,目标,MSA 术 语,定义,测量:赋值(或数)给具体事物以表示他们之间关于特定特性的关系。可以认为是一种过程用来对被测特性赋值的过程,所赋予的值称为测量值或测量结果,定义,量具:任何用来获得测量结果的装置,经常用来特指用在车间的装置,包括通过/不通过装置。,定义
3、,测量系统:用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合;用来获得测量结果的整个过程。,定义 标准,用于比较的可接受的基准用于接受的准则已知数值,在表明的不确定度界限内,作为真值被接受基准值。一个标准应该是一个可操作的定义:由供应商和顾客应用时,在昨天、今天和明天都具有同样的含义,产生同样的结果。,基本的设备,定义 分辨力、可读性、分辨率,别名:最小的读数的单位、测量分辨率、刻度限度或探测限度 有设计决定的固有特性 测量或仪器输出的最小刻度单位 总是以测量单位报告 1:10经验法则,基本的设备,分辨率,不适当的分辨率导致错误的圆整,单位:0
4、.001英寸,单位:0.01英寸,基本的设备,定义 基准值、真值,基准值人为规定的可接受值 需要一个可操作的定义 作为真值的替代真值 物品的实际值 未知的和不可知的,基本的设备,定义 偏倚和重复性,正 确,错 误,精 确,不精确,位置变差,定义 偏倚,偏倚的定义为对一个被测特性的多次测量值的平均值与基准值的差值,位置变差,定义 稳定性,偏移随时间的变化一个稳定的测量过程是关于位置的统计受控,稳定性(或飘移),是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值的总变差,位置变差,定义 线性,许多量具都有一定的工作范围,即量程。当用量具在工作范围上测量不同大小的特性时,其偏倚可能是
5、不同的。整个操作范围的多个并且独立的偏移误差的相互关系测量系统的系统误差分量,位置变差,定义 精密度,精密度重复读数彼此之间的“接近度”测量系统的随机误差分量,宽度变差,定义 重复性,重复性定义:同一评价人,采用同一测量仪器,多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差在固定和规定的测量条件下连续(短期)试验变差通常指E.V.-设备变差仪器(量具)的能力或潜能系统内变差基准不是必须的影响所有的随机测量结果,宽度变差,定义 再现性,由不同的评价人,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差对于产品和过程条件,可能是评价人、环境(时间)或方法的误差通常指A.V.评价人变差系统间(
6、条件)变差包括重复性、实验室、环境及评价人影响,宽度变差,定义 GRR或量具R&R,量具重复性和再现性:测量系统重复性和再现性合成的评估,宽度变差,定义 测量系统能力、性能,测量系统能力测量系统变差的短期评估,如:“GRR”包括图形测量系统性能测量系统变差的长期评估,长期控制图法,宽度变差,MSA 测量过程,关键词,测量系统的分辨率偏倚重复性再现性线性稳定性,测量标准体系,国家标准,一级标准,二级标准,三级标准,准确度下降、成本降低、对环境更加稳健,公司标准由公司的计量部门保持和使用,工作标准,也称为生产标准,由生产人员保持和使用,用来校准在生产设备中使用的测量系统,合格的测量系统,足够的分辨
7、率和灵敏度为了测量的目的,相对于过程变差和规范控制限,测量的增量应该很小。通常所知的十进位或10-1法则,表明仪器的分辨率应把公差(过程变差)分为十份或更多。这个规则是选择量具期望的实际最低起点。测量系统应该是统计受控的在可重复条件下,测量系统的变差只能是由于不同原因而不是特殊原因造成的。这可称为统计稳定性且最好由图形法评价,合格的测量系统,产品控制要求对于产品控制,测量系统的变异性与公差相比必须小。依据特性的公差评价测量系统过程控制要求对于过程控制,测量系统的变异性应该显示有效的分辨率并且与制造过程变差相比要小。根据6过程变差和/或来自MSA研究的总变差评价测量系统,基本概念,每个过程都制造
8、一个“产品”每个产品都拥有质量每个质量特性都能够测量变差总和=产品变差+测量变差一些变差是系统内在固有的一些变差是系统执行过程中过失所带来的,测量过程,什么是测量过程的产品?这个产品的质量特性有哪些?我们用什么来测量这些特性?,测量过程示意图,设备(量具:制造误差)人员(熟练程度、认真程度、读数等差别)原材料(被测对象:内部差别)操作规程 环境(温度、湿度、灰尘、振动),共同作用,输出,顾客测量值,变差源,测量系统受随机和系统变差源影响。这些变差源由普通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统变差:识别潜在的变差源。排除(可能时)或监控这些变差源,测量系统变差,测量,样本准备,材料,操作者,方法,
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