开题报告 通用集成电路测试.doc

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1、 毕业设计(论文)开题报告所在学院： 电子与信息工程学院 专 业： 电子信息 设计(论文)题目： 通用集成电路测试 指导教师： 毕 业 设 计（论 文）开 题 报 告一结合毕业设计（论文）课题情况，根据所查阅的文献资料，每人撰写2000字左右的文献综述：文 献 综 述1.本课题的理论及意义集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备，集成电路的分类很多，主要大的分类有数字集成电路和模拟集成电路等，按集成电路的分类，集成电路测试仪也可以分为：数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪。按功能分类：可以分为集成电路功能测试仪和集成电路参数测试仪；按形式分：便携式集成电路测试仪和台式集成电路测试仪。

2、功能测试：是对集成电路的功能进行判定，看是否功能失效。参数测试：是对集成电路的各项参数进行测试，看测试读取的参数是否符合集成电路的设计要求。市场上常见的便宜的集成电路测试仪大多是功能测试，由于参数测试仪的生产成本较高，一般参数测试仪的价为都在几万，在实验里， 数字集成电路的测试是一件经常性的工作实验做完后电路是好是坏从表面上是看不出来的如用简单办法给电路加直流电源用万用表测试则是一非常麻烦的事，因为一块电路有好多脚按照真值表一拍一拍的测试是一件非常费时费力的事，在一般实验室条件下数字电路只需进行功能测试即可，所以这里要设计一个体积小，重量轻，携带使用方便的集成电路测试仪。2.集成电路功能测试仪

3、的发展集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一。因此，集成电路测试仪（或测试系统，下同）作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来，随着集成电路发展到第四代，集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路，到了八十年代，超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。 集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。 第一代始于1965年，测试对象是小规模集成电路，可测管脚数达16只。用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法，编制自动测试序列，仅仅测量IC外部管脚的直流参数。 第二代

4、始于1969年，此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度 ，测试对象扩展到中规模集成电路，可测管脚数24个，不但能测试IC的直流参数，还可用低速图形测试IC的逻辑功能。这是一个飞跃。 第三代始于1972年，这时的测量对象扩展到大规模集成电路（LSI），可测管脚数达60个，最突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。从1975年开始，测试对象为大规模、超大规模集成电路（LSI/VLSI），可测管脚剧增到128个，功能测试图形速率提高到20MHz。不但能有效地测量CMOS电路，也能有效地测量TTL、ECL电路。此时作为独立发展的半导体自动测试设备，无论其软件、硬件都相当成熟。 1980年

5、测试仪进入第四代，测量对象为VLSI，可测管脚数高达256个，功能测试图形速率高达100MHz，测试图形深度可达256K以上。测试仪的智能化水平进一步提高，具备与计算机辅助设计（CAD）连接能力，利用自动生成测试图形向量，并加强了数字系统与模拟系统的融合。有些系统实现了与激光修调设备连机工作，对存储器、A/D、D/A等IC芯片进行修正。从1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以来，继而形成系列的还有泰克公司的3200系列，泰瑞达(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤电气的8000系列、爱德万的T3100、T320、T3700系列以及美国Megate

6、st公司的Q-11系列，都取得较好的效益。 现在，测试仪的功能测试速率已达500MHz以上，可测管脚数多达1024个，定时精度55ps，测试仪的发展速度是惊人的。 我国在70年代初就开始了集成电路测试仪的研制工作，80年代后期国产集成电路测试仪的水平，特别是自行设计能力有较大提高，测试理论、测试方法、测试系统的研究试验工作受到国家重视，初步形成一支科研、设计、制造的技术队伍。国内研究或制造集成电路测试仪的研究所与工厂主要有中国科学院计算技术研究所、半导体所、北京自动测试技术研究所、光华无线电仪器厂、北京无线电仪器厂、北京科力公司等。1986年科学院计算技术研究所研制成功ICT-2 LSI/VI

7、SI综合测试系统，功能测试速率10MHz/20MHz，通道数48，OTA(系统总定时精度)2ns。1987年北京自动测试技术研究所研制成功BC3170存储器测试系统，功能测试速率20MHz，通道数32个。同期光华无线电仪器厂推出GH3123型集成电路自动测试仪，北京自动测试技术研究所BC3110X型集成电路测试仪研制成功。这两种采用CAT技术的中小规模集成电路测试系统，标志着国产中小规模集成电路测试仪的技术水平进入新的发展时期和走向实用阶段。继而北京科力公司研制和生产测试速率12.5MHz、64通道大规模数字集成电路测试系统。此后不久，光华无线电仪器厂又研制成功功能测试速率为10MHz的16M

8、位RAM存储器测试仪，大规模测试系统获得长足的发展。参考文献1 康华光，陈大钦，张林电子技术基础-模拟部分（第五版）M. 北京：高等教育出版社，2006.12 赵忠文，曾峦，熊伟LVDS技术分析和设计应用R学报：指挥技术学院学报，2001.123 李荣正，刘启中，陈学军PIC单片机原理及应用IMIM北京：北京航空航天大学出版社，20054 中国计量出版社组编新编电子电路大全M北京：中国计量出版社，2001.15 何希才著常用电子电路应用365例M北京：电子工业出版社，2006.96 刘辉主编电子测量仪器与测量技术M安徽：中国科学技术大学出版社，19927 郭茂生等. 电子仪器原理M北京：国防工

9、业出版社，19898 全新实用电路集粹丛书委员会编. 科教，娱乐应用电路集粹M北京：机械工业出版社， 2005.29 任为明 主编. 电子技术基础M北京：中央广播电视大学出版社， 1997.510 秦曾煌 主编. 电工学 电子技术M北京：高等教育出版社，2009.611 吴春辉主编. 电力电子技术M北京：清华大学出版社 ，200512 李娟. 电力电子与电力传动M数据库：万方数据 ，200513 廉海涛. 仪器科学与技术M西安：西安交通大学， 200414 朱立文 何祥林. 黄冈师范学院学报R学报：万方数据学术期刊 ，200415 任明冰. 测试计量技术与仪器M南京：南京理工大学， 20041

10、6 Abel Raynus美. 电子设计技术J：学术期刊， 2009. 5，（9）125130. 毕 业 设 计（论 文）开 题 报 告二本课题要研究或解决的问题和拟采用的研究手段（途径）：1. 本课题要研究的问题伴随着集成电路的大量应用，许多假冒伪劣产品进A市场直接影响产品质量。同时，在电子产品的维修过程中，常常需对集成电路功能的好坏进行判别在电子产品的引进、消化过程中，也需对未知型号集成电路进行功能识别。如果能在集成电路使用中，对其功能进行测试则会使整个研制、生产和维修过程达到事半功倍的效果2. 工作原理目前集成电路测试电路种类繁多，其功能、引脚数、输人输出引脚、电源和地的位置各不相同。所

11、以要在同一个测槽上对其进行功能测试，第一必须建立集成电路测试算法和相应的数据库第二，硬件上必须提供一个灵活的测试环境。即测槽上每个脚的状态可依据不同的集成电路由软件随意设置成电源或地或输人或输出状态。系统原理框图如下图所示。在下图的测试统中，数据从串口进入判断数据是否介于0x11和0x1b之间如果是则根据数据库逐一比较，然后则对所有器件进行比对完或找到匹配，如果找不到匹配则再次返回数据库进行比较，如果找到了匹配则发送测试结果到串口。 开始串口接收数据数据介于0x11和0x1b数据库逐一比较所有器件比对完或找到匹配发送测试结果是是否 毕 业 设 计（论 文）开 题 报 告指导教师意见：1对“文献综述”的评语：2对本课题的深度、广度及工作量的意见和对设计（论文）结果的预测： 指导教师： 年 月 日所在专业审查意见： 负责人： 年 月 日