材料的功能性分析课件.ppt
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1、第10章 材料的功能特性,固体材料从性能角度大体可分成两类:结构材料和功能材料。结构材料是以其强度和韧性为主要应用指标,而功能材料是以其某一的特殊功能性,如电性能,热性能,磁性能或光性能等为主要应用指标。功能材料的性能与结构材料不同,取决于原子中的电子结构和电子的运动(旋转、散射、激发和跃迁等),而结构材料的性能不涉及电子的运动,取决于原子间的键合(如金属键,离子键,共价键,氢键等)和微观结构(包括晶体结构、晶粒尺寸、组织形态、位错亚结构和第二相特性等)。因此,本章将对材料功能特性的固体物理基础进行简单的讲解,注重论述功能材料的电、热、磁和光行为的表现描述、起因和影响因素。,10.1 功能材料
2、的物理基础概述,10.1.能带理论 能带理论是目前研究固体中电子运动的一个主要理论基础。对固体而言,主要涉及能带而不是每个原子中的能级。1.单个原子中电子处在分离的能级(energy level)上,根据泡利不相容原理(Pauli exclusion principle)每个能级只含有二个电子;例如,单原子的2s能级包含一个能级和2个电子;2p能级含有3个能级,共有6个电子。2.由N个原子组成的固体,泡利原理仍要求在固体中只有两个电子具有同样的能量。不同分裂的电子能级集合形成能量连续的能带(energy band),而且,每个能带中含有N个分裂的能级和2N个电子。例如:在固体中,2s能带含有N
3、个分离的能级和2N个电子;3个2p能带中含有3N能级和6N电子。该规律如图所示。,10.1 功能材料的物理基础概述,1011 能带理论,图101中示意地表示出能级和能带的对应关系。,图101原子能级与能带之间的对应,1011 能带理论,图显示出钠能带结构的理想图,钠具有1s22s22p63s1的电子结构。能带内的能量取决于原子的间距,图中垂线表示固体钠当中平衡原子间距。3s能级是价带,空的3s能级与3s能带之间被能隙分开,它形成导带。在钠的3s价带的一半被电子占据。在绝对零度下,仅仅最低能级被占据,其中最高的能级能量就是费密能。,与经典电子论不同,密度比一般气体分子高104倍的自由电子服从费米
4、狄拉克(Fermi-Dirac)分布,即在热平衡情况下自由电子处于能量状态E的几率为,10.1.2 费密能,式中f 为费米狄拉克分布函数,EF 为T温度下的费密能,即体积不变时系统增加一个电子的自由能的增量,k为波尔兹曼常数。绝对零度时f随E的变化如图102中的实线所示。,由图可知,绝对零度时,若EEF,则f=1;若EEF,则f=0。绝对零度时,凡能量小于费米能的所有能态,全部为电子所占据(f=1)。电子按泡利原理,由最低能量开始逐一填满EF以下的各个能级,而费米能则是绝对温度下自由电子的最高能级。对于E大于EF的各个能态均不出现电子(f=0),为空能态(或简称空态)。当T0K时,若E=EF,
5、则f=1/2;若EEF,则1/2f 1;若EEF,则0f 1/2,如图10-2中的虚线所示。由此表明:有少量能量与费密能接近的电子可以通过吸收热能而跃迁到较高的能态。,所谓材料的电性能就是它们对外电场的响应。我们从电导的表象描述开始,然后论述电导的机制和材料的电子能带结构如何影响它的电导能力。这些原理扩展到金属、半导体和绝缘体,注重是半导体的特征,也涉及绝缘材料的介电性质。固体材料最重要的电性能之一是容易传送电流。欧姆定理把电流与外加电压相连系:V=IR(102)式中 R为电阻。V和I分别为外加电压和电流。电阻受样品形状影响,而对于大多数材料而言,它独立于电流。电阻率是与样品几何形状无关,但通
6、过下式与电阻相关:=RA/l(103),10.2 电性能,1021电性能的表现描述,式中l 是电压测量两端间的距离,A是垂直于电流方向的横截面积。从欧姆定理和上式可得:=VA/Il(104)有时用电导率来描述材料的电特性,它与电阻率成反比,即,(105),电导率表示一种材料传导电流的能力。它的单位是欧姆-米的倒数,因此用电阻率和电导率两者来讨论电性能是等同的除(102)式外,欧姆定理也可表达为,(106),式中J是电流密度,即样品单位面积的电流(I/A),是电场强度或两点间的电压除以距离,即,(107),固体材料呈现令人惊讶的电导率变化范围,最高可超过27个数量级。固体材料的一种分类方法就是根
7、据它们的导电难易程度分为三类:导体,半导体和绝缘体。电流起因于电荷粒子的运动,它是对外电场作用力的响应。正的电荷粒子沿电场方向加速运动,负的电荷则沿相反方向加速运动,在极大多数材料中,电流是由电子的流动所引起,这称为电子传导。除此外,对于离子材料,离子的净运动可能产生电流,这种情况称为离子传导。本节只讨论电子传导。,1022 基于能带理论的传导,仅当具有能量大于费密能的电子可以被电场所作用,这些参加导电过程的电子称为自由电子。在半导体和绝缘体中发现了另一种电荷电子缺位,称为空穴。空穴具有小于费密能的能量,也参加电子的传导。因此,电导率是自由电子和空穴数目的函数。而且,导体和非导体(半导体,绝缘
8、体)的区别就在于自由电子和空穴的数目。在金属中要成为自由的电子,它必须被激发到高于EF的能态。对于具有任何一种能带结构的金属,如图103所示,在EF最高填充态附近存在空态.因此,只需极小能量就可激发电子进入低位空态,由电场提供的能量通常足够激发大量电跃迁入低位空态进行电传导。,图103 固体在0K时可能存在的电子能带结构。(a)在金属(如铜)的电子能带结构;(b)满价带与导带重叠的金属(如镁)电子能带结构;(c)满价带与导带被带隙(2eV)分隔的绝缘体电子能带结构;(d)满价带与导带被带隙(2eV)分隔的半导体电子能带结构。,对于绝缘体和半导体,不存在临近满价带顶部的空态。因此,要成为自由电子
9、,必须被激发并越过带隙(band gap)或称能隙,而进入导带低部的空态。这种事件发生的条件是给一个电子提供两态能差,即近似等于带隙能Eg。对于许多材料,该带隙是几个电子伏的宽,这意味着非常大的电场被需要来激发一个电子越过带隙。激发能经常不是来自电场,而是热或光,通常是前者。由热激发而进入导带的电子数取决于能隙宽度和温度。在给定的温度下,能隙越宽,价电子能被激发进入导带的几率就越小。换言之,能隙越宽,在某温度下的电导率越低。因此,半导体和绝缘体的区分就在于能隙的宽度,对于半导体,它的能隙窄,而绝缘体相对宽。显然,增加半导体或绝缘体的温度可使电子激发的热能增加,因此更多的电子被激发到导带,这引起
10、电导率的增强。,10.23 电子迁移率,散射现象被表示为一种对电流通道的阻力,几个参数被用于描述散射的程度,它们包括漂移速度和电子迁移率。漂移速度表示外场作用力方向上的平均电子速度,它与电场()成正比:(108)比例常数 称为电子迁移率,它的单位是平方米每伏特-秒(m2/Vs)。,图(a)电子电荷被原子和缺陷所散射,从而以不规则路径通过导体,故其速度以平均速度表达。(b)金属键中的价电子容易流动,故有高的迁移率。(c)在半导体和绝缘体中的共价键必须破断才能使电子流动,故它们有低的迁移率。,大部分材料的电导率可描述如下:(109)式中n是单位体积的自由(传导)电子的数目,而e是一个电子的电荷量的
11、绝对值(1.610-19C)。因此,电导率是正比于自由电子数和电子迁移率。,1024 金属的电阻率,正如前述,大部分金属是良导电体,几种常用金属的室温电导率列在表101中。金属具有高导电率是因为大量电子可被激发到费密能上面的空态而成为自由电子,因此,在电导率(109表达式)中n有大的值。,表10.1 八种常用金属和合金的室温电导率,金属的总电阻率是热振动,杂质和塑性形变三者的加和,因为散射机制互相是独立的。这在数学上可表达如下:,式中、分别表示温度,杂质 和形变对电阻率的贡献,分别表示温度,杂质 和形变对电阻率的贡献,上式有时被称为马基申定律(Matthiessens rule)。每个 变量对
12、总电阻率的影响被显示在图104中。该图描述了退火态和形变态的铜和铜镍合金,它们的电阻率随温度的变化曲线,并在-100演示出每种电阻率贡献的叠加特征。,图104 铜和三种Cu-Ni合金的电导率与温度的关系,1025 本征和非本征半导体中的电导率,本征半导体是一种其电行为基于高纯材料中的固有电子结构的材料。当电性受杂质原子支配时,这样的半导体称谓非本征半导体。本征半导体可用图10-3(d)中所示的0K时的电子能带结构来表征,该能带结构是完全充满的阶带,并被一个相对窄的带隙(一般小于2eV)与空导带相隔离。某些化合物半导体材料也显示本征行为。在IIIA和VA 组之间的元素就形成这样一组化合物,例如,
13、砷化镓(GaAs)和锑化铟(InSb)。IIB 和VIA 中元素构成的化合物也呈现半导体行为,它们包括硫化镉(CdS,)和碲化锌(ZnTe)。由于形成这些化合物的两种元素在周期表中的相对位置被分得更远,因此原子键合变得更离子性和带隙能量增加,即材料变得更绝缘性。表102列出了某些化合物半导体的带隙能量。,材料 带隙能量(eV)电导率()1 电子迁移率(m2/Vs)空位迁移率(m2/Vs),元 素Si 1.11 410-4 0.14 0.05Ge 0.67 2.2 0.38 0.18IIIV 化合物GaP 2.25 0.05 0.002 GaAs 1.35 10-6 0.85 0.45InSb
14、0.17 2104 7.7 0.07II VI 化合物CdS 2.40 0.03 ZnTe 2.26 0.03 0.01,表 102 半导体材料在室温时的带隙能量、电子迁移率、空穴迁移率和本征电导率,在半导体中,每个被激发到导带中的电子均会在共价带的键中逃逸一个电子而留下一个空缺的位置,即在能带框架下价带中出现一个空缺电子态,如图105b所示。在电场的作用下,晶体中逃逸电子的位置(空穴)可以认为是运动的,其通过其他价电子不断的填充不完整键来实现的(图105c)。,图10-5 在本征Si中电导的电子键合模型。(a)激发前;(b)和(c)激发后的电子和空穴在外电场下的运动,空穴可以认为是具有与电子
15、同样的电荷量,但符号相反。因此,在半导体中电子和空穴都会被点阵缺陷所散射。显然,由于在本征半导体中存在电荷粒子(自由电子和空穴),表示电导的(109)式必须加入一项说明空穴电流的贡献来加以修正,即式中p是每立方米中的空穴数,而k是空穴迁移率。对于本征半导体每个被激发的电子越过带隙,在其后的价带中留下一个空穴,因此,n=p,则,(1011),(1012),为了说明非本征半导性是如何完成的,再次考虑基本的半导体硅。一个硅原子有四个价电子,它们中的每一个都与4个相邻原子中的各一个价电子共价结合。现在假设有一个5价的杂质置换硅,它们可能来自周期表中VA族列中,如P,As和Sb。这些杂质原子的5个价电子
16、只有4个可参与共价结合,因为相邻原子只有4个可能的键。剩下未参与键合的电子被弱的静电吸引在杂质原子周围,如图106a所示。这个电子的键能是相对的小(0.01电子伏特数量级),因此它很容易脱离杂质原子,从而成为自由电子或传导电子。,这样一个电子的能态可从电子能带模型中得知。对于每一个弱键电子都存在单个能级即能态,该能态位于恰在导带底部下的带隙中(图107a)。电子的键能对应于把电子从某杂质态激发到导带中某能态所需的能量。每个激发事件贡献出一个单电子到导带中去(这类的杂质称为施主(donor)。由于每个施主电子是从杂质能态激发出来,因此在价带中没有对应的空穴产生。,图106 本征 n-型半导体电子
17、键合模型。(a)5价磷原子取代硅原子;(b)多余电子激发后成为自由电子;(c)自由电子在电场下的运动。,图107 施主和受主,室温所获得的热能足以从施主态激发大量的电子;而且,本征传导中逃逸的电子是极其少的,如图10.5 b所示。因此,导带中的电子数目远超过价带中的空穴数(即np(逃逸的电子数),则(1011)式中右边的第一项远大于第二项,则,(1013),这类材料就称为n-型非本征半导体,它们的导电性主要由电子浓度所决定的。,若在硅和锗中加入三价的置换杂质,如元素周期表IIIA 中的Al,B,Ga,相反的效应就会发生。它们可以通过相邻键中的电子转移来逃脱杂质原子的束缚(图108),本质上,是
18、电子和空穴的互换位置。,图108 本征p-型半导体电子键合模型。(a)3价电子的硼取代硅;(b)空穴在电场下的运动。,产生空穴的非本征激发也可用能带模型来表示。这类激发的每个杂质原子引入一个带隙的能量,但其非常接近价带顶部的能量(图107b)。对于这类非本征传导,空穴的浓度远高于电子浓度(即pn),因为空穴既可由受主的非本征激发产生又可由本征激发产生,这种材料称为 p-型半导体,因为正电荷粒子主要控制着电导,而电子仅由本征激发产生。此时,电导率为 在非本征半导体中,大量的电荷携带者(电子或空穴,取决于杂质类型)可在室温由热激活产生。因此,非本征半导体具有相对高的室温电导率,这些材料的大部分被设
19、计用于在常温下使用的电子器件。,(10-14),10.2.6 绝缘体的电导率和介电性,事实上,所有的陶瓷材料和共价键高分子是绝缘体。表103列出了室温下各种陶瓷和高分子的电导率。,介电材料通常是指电阻率大于108 m的一类在电场中以感应而非传导方式呈现其电学性能的非金属的材料。在电场的作用下介电材料呈现电偶极结构,即在分子或原子水平上存在正、负电荷的分离。由于偶极与电场的交互作用,介电材料常被用于电容器。当电压被加载于电容器上,电容器中的一个板呈现正电荷,另一板呈现负电荷,其对应于电场从正到负的方向。电容C与储存在任一板上的电量相关,可表达为:式中V为加载于电容器上的电压。现在考虑一个平行板电
20、容器,板间为真空,电容可从下面关系式计算:,(1015),(1016),式中A为板的面积,l为板距,参数0称为真空介电常数(电容率),是一个普适常数,其为8.8510-12法拉/米(F/m)。如果介电材料插入到两板之间,那么:式中为介质介电常数,它远大于0,相对介电常数r等于两者之比:r大于1,其表现出在板间插入介电材料后电荷储存容量的增加。上述效应是法拉第于1873年首先研究的(图109)。,(1016),(1017),(1018),电容的增加可以用介电材料中极化的简化模型加以解释。考虑如图(a)所示的电容器,在真空的情况下Q0电荷储存在板的顶部,而Q0储存在底部。当介电材料被引入并存在外电
21、场,在板内的整个固体被极化,由于这种极化在接近正电荷板的介电材料表面累积负的电荷量(Q0),而在负电荷板的介电材料表面累积正的电荷量(Q0)。因此每个板的电荷量就是Q0 Q,即由于介电材料的存在增加了电荷量Q。在两者之间的区域没有净电荷产生,此区域不对电荷的增加产生作用。,图109 平行板电容,解释电容现象最好的方法是借助于场矢量。首先,对每个偶极,存在正、负电荷的分离。电偶极动量(或极化强度)P与每个偶极的关系如下:P=qd(1019)式中q是每个偶极电荷的大小,d是正、负电荷分离的距离。在电容器上,表面电荷密度D,即电容板上单位面积的电荷量,是正比于电场()的。在真空状态时,则:式中0是正
22、比系数。介电质情况下具有类似的表达:有时,D也称为介电位移。,(1020),(1021),电容的增加,或介电常数的增加可运用介电材料中极化简单模型加以解释。考虑图109中的电容器,真空状态,这里正电荷Q0是储存在板的顶部,而负电荷在板的底部。当介电材料被引入和电场被施加时,在板内的整个固体内将被极化。由于这种极化,在接近正电荷板的介电材料表面处存在负电荷净的累积Q,类似的方法,在接近负电荷板的介电材料表面处存在正电荷的累积+Q,导致正负电荷板上电荷的增加。在介电材料存在的情况下,电容器两板上表面电荷密度可表达为:式中P是极化场强,即由于介电材料的存在而增加的电荷密度。极化也可被认为是介电材料单
23、位体积总偶极矩,或者是由于在外场的作用下许多原子或分子偶极相互之间调整而导致介电材料中的极化电场。对许多介电材料,P是正比于电场强度,即:,在这种情况下,r与电场大小无关。表104(表18.5)列出了几种介电参数及其单位。,(10-22),(10-23),介电常数 介电强度(V/km)材 料 60 HZ 1 HZ 陶 瓷钛酸盐陶瓷-15-10,000 80-483云母-5.4-8.7 1609-3218冻石(MgO-SiO2)-5.5-7.5 322-563钙钠玻璃 6.9 6.9 402熔融氧化硅 4.0 3.8 402瓷器 6.0 6.0 64-644 高分子酚醛 5.3 4.8 483-
24、644尼龙6,6 4.0 3.6 644聚苯乙烯 2.6 2.6 805-1126聚乙烯 2.3 2.3 724-805聚四氟乙烯(PTFE)2.1 2.1 644-805,表104 11种介电材料的介电常数和介电强度,例题:考虑一个平行板电容器,板的面积1 in2(6.4510-4m2)和板间距为0.08in(210-3m),施加在板上的电压为10V。若具有相对介电常数为6.0的材料置于两板之间区域内,计算:(a)电容;(b)储存在每个板上的电荷量;(c)介电位移D;(d)偏振。解:(a)r0=(6.0)(8.8510-12F/m)=5.3110-11F/m电容(b)(c)(d),10.3
25、热性能,所谓热性能就是材料对热作用的响应。当固体以热的形式吸收能量,它的温度就会提高,它的尺寸也会增大。如果温度梯度存在,热能就会传到试样较冷的区域,最终,试样可能熔化。热容、热膨胀和热导率是固体材料实际应用的至关重要的热性能。,热力学参数和弹性力学参数,式中dQ是产生dT温度变化所需的能量。根据热传递的环境条件,有二种真实的方法可以测定热容。一种是样品体积不变时的热容Cv,另一种是外部压力不变的热容Cp,Cp的值总是大于Cv,但是,这种差异对于室温及以下温度时的固体材料是非常小的。对许多晶体结构较简单的固体,当它体积恒定时,振动对定容热容Cv的贡献随温度的变化规律显示在图1010。,10.3
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