电离辐射吸收剂量的测量.ppt

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1、,第三章 电离辐射吸收剂量的测量,电离辐射,沉积能量,人体组织,生物效应,吸收剂量,X(),电子束,1 剂量学中的辐射量及其单位2 电离室测量吸收剂量的原理3 电离辐射质的确定4 吸收剂量的校准6 吸收剂量的其它测量方法,1 剂量学中的辐射量及其单位国际辐射单位与测量委员会(ICRU)第33号报告（International Commission on Radiation Units and Measurements)一、粒子注量（particle fluence)辐射场中以某一点为球心的一个小球，进入该小球的粒子数dN与其截面da的比值,单位:m-2,粒子注量率,二、能量注量（energy

2、fluence）进入辐射场内某点处单位截面积球体的粒子总动能，它等于dR除以da所得的商。,单位J.m-2,能量注量率,粒子注量和能量注量之间的关系：,单能,非单能,E为粒子能量,为同一位置粒子注量的能谱分布,三、照射量（exposure）X（）辐射在质量为dm的空气中释放的全部次级电子（正负电子）完全被空气阻止时，在空气中形成的同一种符号的离子总电荷的绝对值（不包括因吸收次级电子发射的轫致辐射而产生的电离）dQ与dm的比值，即,单位为C.kg-1。曾用单位为伦琴（R），1R2.5810-4C.kg-1。,照射（量）率：单位时间内照射量的增量。,注意：1、照射量和照射量率只对空气而言，只是从电

3、离本领的角度说明X射线或射线在空气中的辐射场性质，仅适用于X射线或射线。2、根据照射量的定义，dQ中不包括次级电子发生轫致辐射被吸收后产生的电离，这在X（）射线能量较高时会有明显意义。,在单能光子辐射场中，同一点上的照射量X与能量注量之间的关系：,W=33.97eV,四、吸收剂量（absorbed dose）,dm为被照射物质的质量，为其吸收的辐射能。吸收剂量的国际单位（SI）为：Jkg-1。国际单位专用名称是戈瑞（Gy），旧有专用单位为拉德（rad）,1Gy=100rad。,吸收剂量适用于任何类型和任何能量的电离辐射，以及适用于受到照射的任何物质。,数值上吸收剂量可表示为:,五、比释动能（k

4、inetic energy released in material，kerma）不带电电离粒子在质量为dm的介质中释放的全部带电粒子的初始动能之和。,K的单位为J.kg-1；专用名为Gy。,比释动能用以衡量不带电电离粒子与物质相互作用时，在单位物质中转移给次级带电粒子初始动能的总和的多少的一个量，因此与吸收剂量不同，比释动能只适用于间接致电离辐射，但适用于任何介质。,六、当量剂量（equivalent dose）当量剂量HT等于某一组织或器官T所接受的平均剂量DT，R，经辐射质为R的辐射权重因子（radiation weight factor）wR加权处理后的吸收剂量。,单位为J.kg-1，

5、专用名为希沃特（Sievert），符号为Sv，1SvJ.kg-1。当量剂量是辐射防护剂量学的基本的量，是在严格意义上的吸收剂量。辐射权重因子代表特定辐射在小剂量照射时诱发随机性效应的相对生物效应（RBE）的数值。,Radiation Weighting factors,ICRU 60,1991,七、照射量、吸收剂量、比释动能的关联和区别（一）间接致电离辐射的能量转移和吸收 在放射性治疗中主要指X（）辐射，其与介质相互作用损失能量，可以分为两步：,（a）全部或部分能量转移，次级电子；（b）大部分次级电子以电离或激发的形式损失能量；而少数次级电子与介质原子的原子核作用，发生轫致辐射产生X射线。,光

6、子能量在（a）点释放出次级电子的损失，即光子的能量转移，以比释动能来度量；沿径迹（b）的损失，即光子的能量被介质吸收，以吸收剂量来度量。,只有当次级电子的射程很短，能量很低时，此时介质作用点（a）处体积元内所吸收的次级电子能量，即吸收剂量，在数值上恰好等于入射光子释放给作用点（a）处的比释动能。,（二）电子平衡 电子平衡或广义的带电粒子平衡是利用比释动能计算吸收剂量必须附加的最重要条件之一。,“电子平衡”：在O点处，所有离开小体积V的次级电子带走的能量，恰好等于进入小体积V的次级电子带入的能量。,电子平衡成立的条件：（1）小体积V周围的X（）辐射场必须均匀，以使V周围X（）光子释放的次级电子的

7、注量率保持不变。这不仅要求V周围的辐射强度和能谱不变，而且要求V周围（图中虚线以内部分）的介质是均匀的。（2）小体积V在各个方向离开介质边界的距离d要足够大，至少要大于次级电子的最大射程。,严格讲，上述条件难以实现，特别是近辐射源处，辐射强度随位置变化显著；以及两种不同介质的交界处，为非均匀介质，都不可能满足电子平衡的条件。但在实践中，需对某些条件作些处理，以使在一定的精度范围内，可认为电子平衡成立。如当X（）射线能量较低时，由于次级电子射程相对较短，X（）光子的衰减可以忽略，则在某些受照射的介质中，可认为近似存在电子平衡。,（三）照射量和比释动能 在电子平衡条件下，并且由次级电子产生的轫致辐

8、射可以忽略时，两者的关系为：,实际上，在低原子序数介质如空气、水、软组织中，比释动能可以分成两部分，即,因此，空气介质中照射量和比释动能的关系实际为,（四）照射量和吸收剂量当满足电子平衡条件时，在空气介质中，照射量和吸收剂量数值上的关系,照射量和吸收剂量的转换关系式：,（五）吸收剂量和比释动能 在满足电子平衡条件下，且由次级电子产生的轫致辐射可以忽略时，介质中某一点的吸收剂量和比释动能在数值上是相等的。在电子平衡条件不满足时，引入一个电子平衡系数qe。电子平衡系数定义：表示X（）光子辐射在一小体积单位内沉积的能量Edep与在同体积内电离过程中释放的能量Ecol之比，即 qeEdep/Ecol,

9、满足电子平衡时,对几个区域的说明：在建成区域内某一体积单元，X()射线产生次级电子的能量并未在此小体积中全部被沉积。即：qe1.0,吸收剂量,比释动能,照射量,电子平衡次级电子的韧致辐射可以忽略,DK,小结：基本概念照射量、吸收剂量、比释动能（定义、单位）电子平衡及其成立的条件照射量、吸收剂量、比释动能的关联和区别,2 电离室测量吸收剂量的原理确定吸收剂量的主要和常用方法：用剂量计测量在介质内设一个充气空腔。如果知道空腔内的带电粒子注量与空腔周围介质中的带电粒子注量之间的关系，就可以由空腔内的电离电荷来确定介质中的吸收剂量。,利用电离电荷测量剂量的方法称为电离法。,一、电离室的工作机制基本过程

10、：通过测量电离辐射在与物质相互作用过程中产生的次级粒子的电离电荷量，由计算得到吸收剂量。,（一）电离室的基本原理电离辐射在灵敏体积内与空气介质相互作用产生次级电子。这些电子在其运动径迹上使空气原子电离，产生正、负离子对。,在灵敏体积内的电场作用下，正、负离子向两极漂移在外电路形成电流。在电离平衡条件下，测量到的电荷，理论上应该为次级电子所产生的全部电离电荷量。根据这一原理制成自由空气电离室。一般为国家一级或二级剂量标准实验室所配置，作为标准，主要用于对现场使用的电离室型剂量仪进行校准，并不适合现场如医院使用。,电离室的基本结构,高压极(K)：正高压或负高压；,收集极(C)：与测量仪器相联的电极

11、，处于与地接近的电位；,保护极(G)：又称保护环，处于与收集极相同的电位；,负载电阻(RL)：电流流过时形成电压信号。,自由空气电离室基本结构,（二）指形电离室（thimble chamber）,图（a）：设想空气外壳，中心空气气腔。外壳的半径等于空气中次级电子的最大射程，满足电子平衡。与自由空气电离室具有相同功能。,（二）指形电离室（thimble chamber）,图（b）：将图（a）的空气外壳压缩，而形成固态的空气等效外壳。该种材料中达到电子平衡的厚度可远小于自由空气的厚度。,（二）指形电离室（thimble chamber）,图（c）：指形电离室的剖面图。壁材料一般选石墨，内表面涂有导

12、电材料，形成一个电极。中心 收集极由原子序数较低的材料制成。室壁与空气外壳等效。,（二）指形电离室（thimble chamber）,Farmer型电离室,二、电离室的工作特性 实际使用时，必须了解电离室本身所具有的特性，注意掌握正确的使用方法和给予必要的修正。（一）电离室的方向性 电离室的灵敏度会受到电离辐射入射方向的影响。正确的使用方法：平行板电离室应使其前表面垂直于射线的中心轴；指形电离室应使其主轴线与射线束中心轴的入射方向相垂直。,（二）电离室的饱和性 在电离室电压较低时因热运动导致带电离子由密度大处向密度小处扩散，正负离子在到达收集极前可能相遇复合成中性原子或分子，影响电离效应和电离

13、室信号之间对应关系。电离室工作电压逐渐增加，离子漂移速度增加，复合和扩散基本消除，电离室输出信号不再随工作电压而变化。电离室工作在电离室的饱和区。电压继续增高，碰撞电离使离子数目增殖，输出电流急剧上升，超出正常工作电压。,OA段：逐渐克服复合与扩散的影响，电流。AB段：复合与扩散消除，电流基本保持恒定。BC段：产生碰撞电离，电流。,（三）电离室的杆效应 电离室的金属杆和绝缘体及电缆，在辐射场中，会产生微弱的电离，叠加在电离室的信号电流中，影响电离室的灵敏度，这一效应称为杆效应。电离室的杆效应一般较小（1%），但也有的电离室会高达10，在实际应用中应尽量避免并给予校正。,（四）电离室的复合效应

14、电离室工作在饱和区中也还是存在复合效应，可采取“双电压法”作校正。电离室分别在两个电压V1和V2下，收集的电荷分别为Q1和Q2。V1为正常工作电压，V1和V2的比值要大于3。利用二次多项式计算复合校正因子PS。,对脉冲式或脉冲扫描式辐射，不同的(V1/V2)有不同的ai 值。,（五）电离室的极化效应（polarity effect）对于给定的电离辐射，电离室收集的电离电荷会随收集极工作电压极性的变化而变化，这种变化现象称为极化效应。引起极化效应的主要原因是：（1）对指型电离室，因电离室结构造成空间电荷分布依赖于电离室收集极的极性，又因正负离子迁移率不同造成收集效率的差异，这种差异可通过提高收集

15、电压而减少，但不能完全消除。（2）电离室灵敏体积以外收集到的电流也会引起电离室极化。消除极化效应的影响可通过改变电离室工作电压极性，取其测量平均值。极化效应应在0.5%。,（六）温度气压效应 对非密闭电离室，电离室空腔中的空气密度随环境的温度和气压而变化。对温度和气压的校正公式为：,此处，t和p分别为测量现场的温度和气压，t的量纲为 0C，p的量纲为 mbar(毫巴)，T为国家标准实验室校准该电离室时(包括静电计)的温度，一般都转换为20 0C。,三、电离室测量吸收剂量的原理原理：电离室可以用来测量电离辐射在空气或空气等效壁中产生的次级粒子的电离电荷。另外，在空气中产生一对正负离子对所消耗的电

16、子动能，基本为一常数，即平均电离能为W/e33.97J/C。用电离室测量吸收剂量分两步：（1）用电离室测量由电离辐射产生的电离电荷；（2）用空气的平均电离能计算并转换成电离辐射沉积的能量，即吸收剂量。,（一）中低能X（）射线吸收剂量的测量 低于2MV-X射线或钴-60 射线能量时，电离室的室壁可以满足电子平衡条件，介质中的吸收剂量可以用相同位置的照射量转换。空气中和介质中吸收剂量之间关系：,或,令：A=(m/a)为传输系数，表示能量通过室壁的份额，其值略小于1。,（二）高能电离辐射吸收剂量的测量 电子平衡条件不满足，根据布拉格格雷（BraggGray）空腔理论，电离辐射在介质中沉积的能量即吸收

17、剂量，可以通过测量其置放在介质中的小气腔内的电离电荷量转换得到。在气腔的直径远远小于次级电子的最大射程时，气腔的引入不会对次级电子的分布产生影响。这样介质吸收电离辐射的能量Em与气腔中所产生的电离量Ja应有以下关系：,式中，(S/)m/(S/)a为介质与空气的平均质量阻止本领之比。此式为“布喇格-格雷”公式。,综合低能X（）射线和高能电离辐射（包括电子、X（）射线等）的测量原理，需注意以下几点：（1）中低能X（）射线，首先测量照射量，但电离室壁材料不仅空气等效，而且室壁厚度要满足电子平衡条件；（2）利用布拉格格雷理论测量吸收剂量时，就不需要电子平衡条件，因为根据空腔电离理论，气腔中产生的电离电

18、荷量只与介质实际吸收的能量有关。,（3）对中低能X（）射线测量时，只要电离室壁材料和空气等效，对空腔的大小并没有实际的限制。如在空气中测量低水平辐射时，电离室的体积往往较大。用空腔理论测量高能电离辐射的吸收剂量时，气腔应足够小，一般要小于次级电子的最大射程，但也不能过分小，以致造成由次级电子电离产生的电子大量跑出气腔，而使布拉格格雷关系式失效。,小结：1、电离室基本工作原理2、指形电离室的工作特性（六点）3、电离室测量中低能光子吸收剂量原理4、电离室测量高能电离辐射原理（布拉格格雷空腔理论）,3 电离辐射质的确定 电离辐射质的定义：电离辐射穿射物质的本领。一、X（）射线质的确定 放射性治疗中所

19、用的X（）射线又分中低能X射线、高能X射线、放射性核素产生的射线，它们的射线质确定的方法不尽相同，需分别对待。,（一）中低能X射线 通过X射线穿过某种介质时衰减的程度来定义，通常用半价层(HVL)表示。X射线穿过某种介质时遵循指数衰减规律。,式中，N0：为入射的光子数，l：为吸收体的厚度，：为线性衰减系数。半价层HVL为：HVL=ln2/=0.693/临床剂量学中，半价层通常按X射线机的球管电压的大小和使用的过虑板，分别用铝或铜材料的厚度来表示，如2mm Al，0.5mm Cu等。,（二）放射性核素产生的射线 射线由放射性核素特定能级衰变而来，因此能量是固定的，对钴-60，衰变过程中释放二条射

20、线，其能量为1.17MeV和1.33MeV，且概率相同。因此平均能量为1.25MeV。对能谱较为复杂的放射性核素，须对不同能量的射线的衰变概率加权取平均。一般用其核素名和辐射类型表示，如钴-60射线、铯-137射线等。,（三）高能X射线（1）标称加速电位。高能X射线的射线质原则上也可以用半价层来表示，但是因高能X射线的穿透力较强，线性衰减系数随射线质的变化比较小，因此高能X射线的射线质通常用电子的标称加速电位（nominal acceleration potential）表示，单位为百万伏或兆伏（MV）。电子的标称加速电位应该等于电子击靶前的电子束能量，但实际测量该值比较困难。,（2）用辐射质

21、指数（radiation quality index)表示 定义方法有两种：（a）保持源到探测器的距离（SDD）等于源-轴距离（SAD），用水体模中20cm处与10cm处的组织体模比TPR的比值表示。（b）保持源到水体模表面的距离（SSD）等于源-轴距离（SAD），用水体模中20cm处与10cm处的百分深度剂量PDD的比值表示。,二、高能电子束射线质的确定 由于电子束是带电粒子，它的能谱随着射线在介质中的穿行而连续变化。,对于高能电子束，主要关心的是模体表面和水中特定深度处的能量定义和表示方法。（一）模体表面的平均能量 高能电子束在模体表面的平均能量，是表示电子束穿射介质的能力和确定模体中不同

22、深度处电子束平均能量的一个重要参数。确定方法：由高能电子束在水中的百分深度剂量曲线或百分深度电离曲线的半峰值剂量深度R50（cm）表示。,若R50,d由固定源探测器距离来测定，平均能量为：,若R50,d或R50,i 由固定源体模表面距离来测定，平均能量为：,或:,（二）模体表面的最大可几能量 模体表面的最大可几能量EP,0是一个常用的参数，由电子在水中的射程Rp确定。射程的测量应在较大的射野和源体模表面的距离SSD=100cm条件下进行。,式中系数为：C1=0.22MeV,C2=1.98MeVcm-1,C3=0.0025MeVcm-2 该值根据测量和蒙特卡罗方法计算得出，在150MeV能量范围

23、内，误差为2。,（三）不同深度处的平均能量 随模体深度的增加，电子束的能量发生变化。在深度z处的电子束的平均能量，可近似用其表面平均能量 和射程 来表示：,此式，仅对低能电子束（E010MeV)或较高电子束能量时较小深度处时成立。,小结：1、X()射线辐射质的确定2、高能电子束辐射质的确定,4 吸收剂量的校准 校准的必要性：理论上设想的电离室，实际设计和制作是很困难的，现场使用的电离室（指形电离室和平行板电离室），为了能适应实际测量需要，往往对有些条件作了近似处理。因此，将现场电离室直接用于测量各种类型的电离辐射的吸收剂量之前，必须进行校准，并选择和确定与之相适应的相关系数。,校准完成单位：国

24、家级的计量监督部门，作为一级国家标准实验室，或由其授权并经计量标准传递的地方计量监督部门，作为次级标准实验室。校准执行的技术规程：IAEA和WHO发表的277号技术报告及其修订版推荐的X（）射线和电子束吸收剂量测量的技术规程。我国国家技术监督局根据这一技术规程，于1991年颁布了国家计量技术规范，并于1992年实施。光子和高能电子束吸收剂量测定方法 中国计量出版社 1991,一、吸收剂量测量用电离室、模体、几何条件的技术要求 由有照射量基准或空气比释动能基准的标准实验室，负责对现场使用的测量仪表（电离室和静电计）进行校准和检验，给出相关的照射量校准因子Nx或空气比释动能校准因子Nk。,一般都是

25、在水模体（简称水箱）中进行的。因为人体组织接受的电离辐射的吸收剂量，是通过在水模体中测得的吸收剂量转换后得到的。,不同辐射质有效测量点Peff的位置，r为电离室气腔半径辐射质 Peff中能X射线 几何中心 60Co 射线 0.6r 高能X射线 0.6r高能电子线 0.5r,有效测量点Peff，修正电离室气腔内电离辐射注量的梯度变化。,在水中测量吸收剂量，需规范测量的几何条件，如为了克服水中吸收剂量梯度变化对剂量校准的影响，电离室应置于一特定深度，此为校准深度。,固体体模中X()吸收剂量的测量如果在测量位置处，射线的能谱分布和原射线和散射线的注量在两种介质中相同，则固体体模中吸收剂量转换到水中吸

26、收剂量公式为：,因水和固体体模对射线的吸收不完全相同，需对测量深度进行校正：其中，为平均质能吸收系数；ESC为散射校正因子（因固体材料的电子密度比水的要大，需作额外散射校正）；为平均线性衰减系数。,固体体模中电子束吸收剂量的测量 如果在固体材料和水体模中，最大剂量深度dmax处电子的能谱和注量相同，则在水和固体中的吸收剂量为：,为平均非限制质量阻止本领，在0.150MeV能量范围内是常数。如下表：水/聚苯乙烯 水/有机玻璃 1.030 1.033,一般在dmax处电子的能谱和注量不相同，水和介质中吸收剂量关系为：w和m为dmax处水和介质的电子注量。水和聚苯乙烯中深度dmax处的电子注量比值（

27、MeV）5 1.039 7 1.033 10 1.025 13 1.017 16 1.009,二、中低能X射线吸收剂量校准,IAEA的方法：先将现场使用的电离室，经国家标准实验室的照射量基准或空气比释动能基准校准后，得,校准因子NK，,仪表读数，角标c表示校准时使用的辐射质。根据它们的定义，在中低能X射线能量范围内，两,到照射量校准因子Nx，,，或空气比释动能,M为校准时电离室剂量仪的,个校准因子的关系为,在用户现场如医院，测量均匀水模体中用户点P的吸收剂量，将经过照射量或空气比释动能基准校准的电离室置放在水模体中，电离室的中心 与P相重合。剂量仪仪表读数为Mu（U为用户所用电离辐射的辐射质）

28、，则 点的照射量为：,表示以 点为中心、直径等于电离室外径的一空气腔置换电离室后的照射量。,K为辐射质校正因子 当用户现场使用的辐射质与电离室作校准时的辐射质不同时，对电离室的能量响应的校准。在中低能X射线的能量范围内，电离室壁对射线的吸收校正和室壁材料不完全等效的校正，均包含在照射量校准因子NX之中。,均匀水模体中P点的吸收剂量DW为,如用空气比释动能校准因子NK，DW为,校正因子以修正空气和电离室壁材料置换水后，对辐射场的扰动影响，也称为置换校正因子。,为水与空气质能吸收系数之比，Pu为扰动,三、高能电离辐射吸收剂量校准 IAEA方法,大致可分成三个步骤：第一步，将用户电离室置于国家标准实

29、验室的钴-60射线空气辐射场中。为满足电子平衡，电离室应戴有标准厚度的电子平衡帽，得出空气比释动能校准因子NK或照射量校准因子NX。,第二步，定义用户电离室的空气吸收剂量校准因子ND：,式中,为校准条件下，电离室空腔内的吸收,与空气比释动,和照射量,的关系分别为：,剂量。此条件下的吸收剂量,能,式中 g为次级电子在空气中以轫致辐射形式损失的能量份额，对于钴-60射线，g0.003；Km为电离室材料空气不完全等效的校正因子；Katt为电离室材料（包括平衡帽）对射线吸收和散射的校正因子。,和,考虑应用方便，常用电离室的Km和Katt的数值以表格形式给出。,可以得出，以空气比释动能校准因子NK或照射

30、量校准因子NX计算得到的空气吸收剂量校准因子ND为：,更适合国内应用,第三步，应用于用户辐射场中时，将经标准实验室校准过的电离室置放在标准水模体中进行测量。根据布拉格格雷理论和关系式，水中特定位置高能X（）射线和电子束的吸收剂量，即电离室的有效测量点处的吸收剂量DW应等于,Pcel为电离室中心收集极空气不完全等效的校正因子。对由石墨、塑料制成的中心收集极，Pcel1。不同半径铝收集极的电离室Pcel因子查相应表格得到。,小结：1、吸收剂量校准的技术要求（了解）2、不同辐射质有效测量点的位置（记忆）中低能X射线 几何中心 60Co射线 0.6r 高能X射线 0.6r 高能电子束 0.5r3、中低

31、能X射线吸收剂量校准（掌握）1）NX 或 NK 2）,对低能X射线（管电压低于100kV）,4、高能电离辐射吸收剂量校准（掌握）1）NX 或 NK 2）,3）,空气吸收剂量校准因子,除电离室方法以外，实践中还使用量热法、化学剂量计法等。有些场合下，更常用热释光、胶片、半导体等剂量测量方法。,6 吸收剂量的其它测量方法,一、量热法 最直接、最基本的方法。量热计的基本原理：当介质受到电离辐射照射后，介质所吸收的辐射能量，除少部分可能引起化学反应外，主要会转换成热能，从而导致该介质温度的升高，温度的变化直接反映了介质吸收辐射能量的程度，由此可确定介质的吸收剂量。,热敏材料（吸收体）：石墨、聚苯乙烯等

32、（过去）水（现在）量热法的特点：直接测量吸收剂量，具有良好的能响特性和极高的精度。一般在国家标准实验室里作为吸收剂量的测量基准。,二、化学剂量计法原理：测定物质吸收电离辐射的能量会引起化学变化。硫酸亚铁化学剂量计（弗瑞克剂量计）：使用最普遍、测量精度最高。弗瑞克剂量计基本原理：硫酸亚铁水溶液经电离辐射照射，溶液中的Fe2被氧化成Fe3。Fe3的浓度正比于硫酸亚铁水溶液所吸收的辐射能量，用紫外分光光度计在波长为244nm和304nm处测量三价铁离子的浓度，即可确定吸收剂量。,三、热释光剂量计原理：根据固体能带理论，具有晶体结构的固体，因含有杂质，造成晶格缺陷，称为“陷阱”，当价带上的电子获得电离

33、辐射的能量，迁跃到导带，不稳定而落入“陷阱”，如对该物质加热，会使电子重新回到价带上，并将电离辐射给予的能量，以可见光的形式辐射出去。发光强度与“陷阱”所释放的电子数成正比。而电子数又与物质吸收辐射能量有关。经过标定，可测量吸收剂量。,常用的热释光材料为氟化锂(LiF，TLD-100)，有效原子序数为8.2，与软组织（,)比较接近，适合临床应用。,热释光剂量计读出系统框图,热释光剂量计的测量精度：经过严格校准和对热释光材料的精心筛选，精度可达9597。,应用：选择使用发光效率高、发光曲线简单和易于加工成型、物理和化学性能稳定的热释光材料。剂量建成区 近距离治疗放射源周围的剂量分布 患者剂量监测

34、和剂量比对 等特别需要场合。,四、胶片剂量仪 放射照相用胶片组成：片基（厚度约0.2mm厚，透明）、乳胶（覆盖在片基双面或单面的含溴化银晶体颗粒）、乳胶保护涂层。当胶片受可见光或电离辐射照射时，溴化银(AgBr)晶体颗粒中的银离子（Ag）还原为银原子（Ag），数个银原子就形成所谓的“潜影”。洗片时，洗片液分子促使晶体颗粒的Ag还原为Ag，这种转变在含有“潜影”的晶体颗粒中进行得更迅速，因此选择合适的洗片时间就形成高黑度差别的影像。,光学密度用来定量胶片黑的程度，用符号OD表示，定义为,式中：I0是光线入射强度，It是光线透过强度。没有曝光的胶片也能阻止少量光线，形成本底密度，测量密度扣除本底密

35、度称为净密度。,胶片在剂量学中的应用主要有三个方面：（1）检查射野的平坦度和对称性；（2）获取临床常用剂量学数据，如高能 X（）射线的离轴比、电子束的百分深度剂量和离轴比；（3）验证剂量分布，如相邻射野间剂量分布的均匀性、治疗计划系统剂量计算的精确度。,与其他类型剂量仪相比，胶片剂量仪的优点是：（1）同时测量一个平面内所有点剂量，可以减少照射时间和测量时间；（2）有很高的空间分辨率；可以测量不均匀固体介质中的剂量分布。,银卤化物胶片灵敏度显著地受X（）射线能量和洗片条件的影响；GAF新型胶片不采用溴化银作为感光剂，具有较好的组织等效性，并且不需要暗室操作，不需要显影、定影，可以克服银卤化物胶片

36、的缺点。但也存在一些缺陷，如灵敏度受环境温度和湿度的影响，同一张胶片不同位置的灵敏度差别较大。,胶片剂量仪的缺点是：,五、半导体剂量仪 半导体剂量仪使用的探测器实际上是一种特殊的PN型二极管。通过特殊的制作工艺把P型晶体和N型晶体结合起来，在PN结区，N型晶体一侧由于电子向P型晶体扩散而显正电，P型晶体一侧由于空穴向N型晶体扩散而显负电。,界面附近呈现的正、负电性统称空间电荷，由于这种空间电荷的存在，就在界面两边很小的PN结区域里形成静电场和电位差。当这种探测器受到电离辐射照射时，会产生新的载流子电子和空穴对，在电场作用下，它们很快分离开分别被“拉”到正极和负极，形成脉冲信号。因此，有的学者将

37、半导体探测器称为“固体电离室”。,当前，硅晶体半导体探测器主要应用：测量高能X（）射线：与空气电离室相比较，具有极高的灵敏度。半导体探头可以做得非常小（0.30.7mm3)。常用于测量剂量梯度比较大的区域。,测量电子束的剂量：由于硅与水的质量阻止本领之比基本不随电子束的能量而变化，使其有独特的优点，它可直接以深度电离曲线表示百分深度剂量曲线。同时在小照射野条件下，应用半导体探头测量较低能量的电于束剂量分布，也优于平行板电离室，这主要是后者对较低能量电子束较高的侧向散射反应不灵敏。,半导体探测器在实际使用中受到的限制：（1）由于硅的原子序数（Z=14）比水的有效值高，对中低能X射线(200keV

38、以下)的反应截面大，这样在大照射野的边缘或较大的深度处测量等剂量分布，会受到一定的影响，为克服这一缺陷，往往在探头的侧面及底部增加一层屏蔽材料，起滤过低能光子的作用。不过这样做会导致半导体探头的方向性效应的变化。,（2）由于热效应的影响，半导体探测器即使工作在无偏压状态，也会产生“暗”电流，这一现象在低剂量率辐射场中较为明显。这种效应对N型半导体探测器的影响比对P型半导体探测器的影响要大，这也是在放射治疗中常选用P型半导体探测器作患者治疗中剂量测量的主要原因之一。,（3）辐射损伤的影响。高能辐射轰击硅晶体，会使晶格发生畸变，导致探头受损，灵敏度下降。对于给定的探头，受损程度依赖于辐射类型和受照历史，如20MeV电子束对探头的损伤要比8MV X射线的损伤大20倍左右。,（4）半导体探测器的灵敏度还受到环境温度、照射野大小以及剂量率的影响。对于每一个具体的探头，其数值也有较大的差异。因此，在实际使用中，对每一个半导体探头，都应做上述诸多因素的修正，并定期校验。,小结：1、量热法、化学剂量计（了解原理）2、热释光剂量计、胶片剂量计、半导体剂量计（了解原理、掌握优缺点及应用情况）,